一种检测系统技术方案

本实用新型专利技术旨在提供一种工作效率高、准确度高且能防止连接错误等情况的检测系统。本实用新型专利技术包括依次电性连接的传感器模块、放大比较模块、信号读取模块、MCU模块以及通信模块，所述传感器模块包括至少两个反射式光电传感器，所述反射式光电传感器对应设置在待测产品槽的一侧，所述待测产品槽中设有与相应的所述反射式光电传感器对应通道的连接器，所述反射式光电传感器还与外部的上位机电连接，所述放大比较模块将所述反射式光电传感器输出的电信号进行放大并对放大后的电信号与预设值比较，进而输出数字高低电平控制所述放大比较模块中的三极管导通或截止，所述信号读取模块将所述三极管的状态转换为高低电平输入所述MCU模块，所述MCU模块通过所述通信模块与外部的上位机通讯。本实用新型专利技术应用于电子产品测试的技术领域。技术领域。技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种检测系统


[0001]本技术应用于电子产品测试的
,特别涉及一种检测系统。

技术介绍

[0002]科技飞速的发展，带给了人类带来各种各样的炫酷的电子产品，这些电子产品已经成为人们生活不可或缺的一部分，其稳定性和可靠性就显得的非常重要，因此消费类电子设备的测试要求也在逐步提高。在电路板的自动化测试过程中通常会采用多个通道同步测试，且为了便于各个环节的测试数据跟踪，产品上均会激光雕刻或者粘贴二维码，由测试人员手动扫码录入上位机，在测试过程中上位机需要将二维码信息写入待测产品的存储器中，因此要求待测产品完成扫码后必须放到二维码对应的测试卡槽中。但是由于操作人员的专注度和熟练度不同，经常出现待测产品的条码和实际测试通道错位的问题，导致重复测试，降低测试效率。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种工作效率高、准确度高且能防止连接错误的检测系统。
[0004]本技术所采用的技术方案是：本技术包括依次电性连接的传感器模块、放大比较模块、信号读取模块、MCU模块以及通信模块，所述传感器模块包括至少两个反射式光电传感器，所述反射式光电传感器对应设置在待测产品槽的一侧，所述待测产品槽中设有与相应的所述反射式光电传感器对应通道的连接器，所述反射式光电传感器还与外部的上位机电连接，所述放大比较模块将所述反射式光电传感器输出的电信号进行放大并对放大后的电信号与预设值比较，进而输出数字高低电平控制所述放大比较模块中的三极管导通或截止，所述信号读取模块将所述三极管的状态转换为高低电平输入所述MCU模块，所述MCU模块通过所述通信模块与外部的上位机通讯。
[0005]由上述方案可见，在测试设备中的每个连接器的一侧设置所述反射式光电传感器，进而通过待测产品反射光束实现触发所述反射式光电传感器，所述反射式光电传感器将光敏电阻的模拟信号转换为电信号，通过所述放大比较模块对转换后的电信号进行放大和比较，将该信号与所述MCU模块预设在所述放大比较模块中的阈值进行比对，进而控制所述三极管的导通或截止。放置产品后所述反射式光电传感器接收到的信号强度大于预设阈值，比较器输出高电平，三极管导通；反之，未放置产品时所述反射式光电传感器接收到的信号强度小于预设阈值，比较器输出低电平，三极管截止。所述信号读取模块读取所述三极管的状态并输出相应的高低电平。所述MCU模块接收到电平后通过所述通信模块反馈相应通道的放置状态至上位机。进而实现精确检测，产品是否到位，提高工作效率，同时与上位机的通道匹配，防止产品放错位置。所述通信模块为常见的USB数据通信模块。
[0006]一个优选方案是，所述放大比较模块还包括依次电性连接的运算放大器、比较器以及DAC芯片，所述DAC芯片与所述MCU模块电性连接。
[0007]由上述方案可见，通过所述运算放大器进行信号放大，所述比较器将信号强度与所述DAC芯片中设置的阈值进行比较，所述MCU模块与所述DAC芯片连接进行阈值的修改和设置。
[0008]一个优选方案是，所述运算放大器的型号为INA826，所述比较器的型号为ADCMP600，所述DAC芯片的型号为AD5667。
[0009]一个优选方案是，所述MCU模块包括型号为STM32F050的微处理器。
附图说明
[0010]图1是所述检测系统的系统框图；
[0011]图2是所述放大比较模块的电路原理图；
[0012]图3是所述信号读取模块的电路原理图；
[0013]图4是所述MCU模块的电路原理图。
具体实施方式
[0014]如图1至图4所示，在本实施例中，所述检测系统包括依次电性连接的传感器模块1、放大比较模块2、信号读取模块3、MCU模块4以及通信模块5，所述传感器模块1包括至少两个反射式光电传感器，所述反射式光电传感器对应设置在待测产品槽的一侧，所述待测产品槽中设有与相应的所述反射式光电传感器对应通道的连接器，所述反射式光电传感器还与外部的上位机电连接，所述放大比较模块2将所述反射式光电传感器输出的电信号进行放大并对放大后的电信号与预设值比较，进而输出数字高低电平控制所述放大比较模块2中的三极管2a导通或截止，所述信号读取模块3将所述三极管2a的状态转换为高低电平输入所述MCU模块4，所述MCU模块4通过所述通信模块5与外部的上位机通讯。所述反射式光电传感器将光敏电阻的模拟信号转换为电信号，通过所述放大比较模块对转换后的电信号进行放大和比较，将该信号与所述MCU模块预设在所述放大比较模块中的阈值进行比对，进而控制所述三极管的导通或截止。放置产品后所述反射式光电传感器接收到的信号强度大于预设阈值，比较器输出高电平，三极管导通；反之，未放置产品时所述反射式光电传感器接收到的信号强度小于预设阈值，比较器输出低电平，三极管截止。所述信号读取模块读取所述三极管的状态并输出相应的高低电平。所述MCU模块接收到电平后通过所述通信模块反馈相应通道的放置状态至上位机。所述通信模块为常见的USB数据通信模块。所述信号读取模块包括光电耦合器，通过光电耦合器实现信号隔离，传输和读取。
[0015]在本实施例中，所述放大比较模块2还包括依次电性连接的运算放大器2b、比较器2c以及DAC芯片2d，所述DAC芯片2d与所述MCU模块4电性连接。
[0016]在本实施例中，所述运算放大器2b的型号为INA826，所述比较器2c的型号为ADCMP600，所述DAC芯片2d的型号为AD5667。
[0017]在本实施例中，所述MCU模块4包括型号为STM32F050的微处理器。
[0018]本技术的工作流程：
[0019]作业员通过扫码枪对待测产品的二维码进行扫码采集，扫码枪采集到二维码信息后反馈至上位机，上位机根据扫码次序匹配一个待测产品槽的测试通道给待测产品；上位机反馈启动信号至所述MCU模块4，所述MCU模块4控制所有所述反射式光电传感器启动；所
述反射式光电传感器检测相应的待测产品槽是否有放置，在一定时间内匹配的待测产品槽中读取到产品置入后开启下一通道的二维码扫描，超出时间未读取到产品置入时上位机提示并重新当前测试通道的扫码；完成一个待测产品与分配的测试通道连接后，开启下一通道的扫码；重复步骤S1至S4直至所有测试通道连接有待测产品，上位机开放测试按钮，作业员通过上位机启动测试，使测试系统对所有待测产品进行测试。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，其特征在于：它包括依次电性连接的传感器模块（1）、放大比较模块（2）、信号读取模块（3）、MCU模块（4）以及通信模块（5），所述传感器模块（1）包括至少两个反射式光电传感器，所述反射式光电传感器对应设置在待测产品槽的一侧，所述待测产品槽中设有与相应的所述反射式光电传感器对应通道的连接器，所述反射式光电传感器还与外部的上位机电连接，所述放大比较模块（2）将所述反射式光电传感器输出的电信号进行放大并对放大后的电信号与预设值比较，进而输出数字高低电平控制所述放大比较模块（2）中的三极管（2a）导通或截止，所述信号读取模块（3）将所述三极管（2a）的状态转换为高低电平输入所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王江，张文，冯磊，田慧敏，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：