一种半导体集成电路检测仪器制造技术

本发明专利技术公开了一种半导体集成电路检测仪器，包括底座,所述底座上设有一竖直的横栏块，将所述底座上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块；本发明专利技术通过将集成电路板固定于托板机构上，将智能电表机构放置于底座上后自动的带动智能电表机构上的检测头在集成电路板上的各个针脚之间进行电路检测，代替了人工的检测工作，并且通过调节检测头的方位与集成电路板的位置以模拟人手的灵活性，使得能够像人工检测一样对集成电路板上各个位置进行检测，并且检测出异常后能够自动在异常位置做标记，使用者能够在检测后取下集成电路板以及智能电表机构以进行后续细化检查，使用方便。使用方便。使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体集成电路检测仪器


[0001]本专利技术涉及集成电路相关领域，具体为一种半导体集成电路检测仪器。

技术介绍

[0002]集成电路板为紧密器件，在使用中会出现很多故障情况，人们对于故障集成电路板首先会选择对其进行检修，目前检修方式主要为人工使用电表在集成电路板上的各个位置的针脚处两两连接，测量电压电流电阻等数值以判断故障点，然后对其维修，但是集成电路板往往元件繁多结构紧密，这种检测方式往往需要大量的时间和工作量，而且针脚一般都细小，对人手的操作稳定性要求高，因此这种检修方式费时费力效率低下。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种半导体集成电路检测仪器，解决了集成电路板人工检修时的效率低下的问题。
[0004]本专利技术是通过以下技术方案来实现的。
[0005]本专利技术的一种半导体集成电路检测仪器，包括底座,所述底座上设有一竖直的横栏块，将所述底座上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块，两个所述活动块通过连接驱动机构相互连接在一起，并且在所述连接驱动机构作用下相互对应移动，所述横栏块另一侧用于放置智能电表机构，所述智能电表机构用于测量电压电流电阻一类的数据，所述活动块上连接设有用于操控所述智能电表机构进行自由测量数据的摆臂机构，所述底座上设置有用于放置以及固定集成电路板的托板机构。
[0006]优选的，所述智能电表机构至少包括电表、导线、探笔以及探针，所述电表放置于所述横栏块另一侧，所述导线设置于所述电表上，其中一个所述导线为正极，一个所述导线为负极，所述探笔固连于所述导线另一端，所述探针固连于所述探笔下端，所述探针用于直接接触集成电路板上元器件的针脚以进行电压电流电阻一类的数据测量。
[0007]优选的，所述连接驱动机构至少包括侧槽、主电机、主螺杆、副电机以及副螺杆，所述侧槽设置于所述横栏块一壁，所述主电机固设于所述侧槽一侧，所述主螺杆动力连接于所述主电机一端，一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述主螺杆且滑动连接于所述侧槽，所述副电机固连于一侧的所述活动块一端，所述副螺杆动力连接于所述副电机一端并且转动贯穿该侧的所述活动块，另一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述副螺杆，所述副螺杆用于调整两个所述活动块之间的相对距离，所述主螺杆用于调整两个所述活动块相对于所述托板机构的相对位置。
[0008]优选的，所述摆臂机构至少包括摆臂、转臂电机、转臂以及固环，所述摆臂转动连接于所述活动块上端，所述转臂电机固设于所述摆臂上端，所述转臂动力连接于所述转臂电机上端，所述固环铰接于所述转臂上端，所述转臂通过所述转臂电机的作用相对于所述摆臂同轴转动。
[0009]优选的，所述探笔通过穿过所述固环以固定于所述固环上，并使所述探针朝下。
[0010]优选的，所述活动块上固连有顶杆，所述顶杆上端滑动连接于所述摆臂下端，所述顶杆的上下伸缩带动所述摆臂的上下摆动。
[0011]优选的，所述转臂上侧设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有滑块，所述滑块与所述滑槽之间固连有推拉杆，所述滑块一端铰接有导杆，所述导杆另一端铰接于所述固环一端，通过所述推拉杆与所述滑块以及所述导杆的作用，使得所述固环沿着其与所述转臂的铰接位置摆动，以调节所述探针的朝向。
[0012]优选的，所述托板机构至少包括侧柱、夹板、托框、顶簧以及托框电机，所述侧柱对称的固连于所述底座上端，所述托框转动连接于所述侧柱之间，所述托框电机固连于一侧的所述侧柱内且动力连接于所述托框一端，所述托框内部贯通，所述夹板对称的设于所述托框内，所述顶簧固连于所述夹板与所述托框之间，集成电路板固定于两个所述夹板之间并通过所述顶簧夹紧以便于检测工作，所述托框电机带动所述托框转动以带动集成电路板转动以便于各位置的检测工作，并且所述托框的内部贯通使得集成电路板正反两面都能受到检测。
[0013]优选的，所述固环下侧一端固设有喷涂标记机，所述喷涂标记机朝向所述探针下端，当所述探针在检测工作时检测到集成电路板上的针脚有故障时，所述喷涂标记机能够朝向故障针脚处喷出定量颜色鲜艳液体以做标记，便于后续人工识别以进行检修。
[0014]本专利技术的有益效果：本专利技术通过将集成电路板固定于托板机构上，将智能电表机构放置于底座上后自动的带动智能电表机构上的检测头在集成电路板上的各个针脚之间进行电路检测，代替了人工的检测工作，并且通过调节检测头的方位与集成电路板的位置以模拟人手的灵活性，使得能够像人工检测一样对集成电路板上各个位置进行检测，并且检测出异常后能够自动在异常位置做标记，使用者能够在检测后取下集成电路板以及智能电表机构以进行后续细化检查，使用方便。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本专利技术实施例的结构示意图；
[0017]图2是本专利技术实施例图1中A处放大示意图；
[0018]图3是本专利技术实施例图1中B方向的结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面结合图1
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3对本专利技术进行详细说明，其中，为叙述方便，现对下文所说的方位规定如下：下文所说的上下左右前后方向与图1本身投影关系的上下左右前后方向一致。
[0020]结合附图1
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3所述的一种半导体集成电路检测仪器，包括底座11,所述底座11上设有一竖直的横栏块，将所述底座11上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块13，两个所述活动块13通过连接驱动机构相互连接在一起，并且在所述连接驱动机构作用下相互对应移动，所述横栏块另一侧用于放置智能电表机构，所述智能电表
机构用于测量电压电流电阻一类的数据，所述活动块13上连接设有用于操控所述智能电表机构进行自由测量数据的摆臂机构，所述底座11上设置有用于放置以及固定集成电路板的托板机构。
[0021]有益地，所述智能电表机构至少包括电表15、导线17、探笔21以及探针27，所述电表15放置于所述横栏块另一侧，所述导线17设置于所述电表15上，其中一个所述导线17为正极，一个所述导线17为负极，所述探笔21固连于所述导线17另一端，所述探针27固连于所述探笔21下端，所述探针27用于直接接触集成电路板上元器件的针脚以进行电压电流电阻一类的数据测量。
[0022]有益地，所述连接驱动机构至少包括侧槽38、主电机36、主螺杆39、副电机37以及副螺杆40，所述侧槽38设置于所述横栏块一壁，所述主电机36固设于所述侧槽38一侧，所述主螺杆39动力连接于所述主电机36一端，一侧的所述活动块13通过螺纹连接于所述主螺杆39且滑动连接于所述侧槽38，所述副电机37固连于一侧的所述活动块13一端，所述副螺杆40动力连接于所述副电机37一端并且转动贯穿该侧的所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体集成电路检测仪器，包括底座，其特征在于：所述底座上设有一竖直的横栏块，将所述底座上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块，两个所述活动块通过连接驱动机构相互连接在一起，并且在所述连接驱动机构作用下相互对应移动，所述横栏块另一侧用于放置智能电表机构，所述智能电表机构用于测量电压电流电阻一类的数据，所述活动块上连接设有用于操控所述智能电表机构进行自由测量数据的摆臂机构，所述底座上设置有用于放置以及固定集成电路板的托板机构。2.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述智能电表机构至少包括电表、导线、探笔以及探针，所述电表放置于所述横栏块另一侧，所述导线设置于所述电表上，其中一个所述导线为正极，一个所述导线为负极，所述探笔固连于所述导线另一端，所述探针固连于所述探笔下端。3.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述连接驱动机构至少包括侧槽、主电机、主螺杆、副电机以及副螺杆，所述侧槽设置于所述横栏块一壁，所述主电机固设于所述侧槽一侧，所述主螺杆动力连接于所述主电机一端，一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述主螺杆且滑动连接于所述侧槽，所述副电机固连于一侧的所述活动块一端，所述副螺杆动力连接于所述副电机一端并且转动贯穿该侧的所述活动块，另一侧的所述活动块通过螺纹连接于所述副螺杆。4.根据权利要求1所述的一种半导体集成电路检测仪器，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫福好，
申请(专利权)人：广州皓景数码科技有限公司，
类型：发明
国别省市：