一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。DDR芯片测试装置与控制设备连接，DDR芯片测试装置包括测试平台和机械臂；测试平台上设置有至少一个用于测试待测芯片的测试位，控制设备用于控制机械臂将待测芯片放置在测试位，并用于控制测试平台对待测芯片进行测试，以及用于根据测试平台对待测芯片的测试结果控制机械臂将待测芯片移动到与测试类型对应的指定位置。基于本申请提供的DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，可以提高DDR芯片的测试效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]DDR(Double Data Rate)芯片是一种应用于计算机及电子设备的双倍数据速率同步动态随机存储器。随着存储芯片设计和制造水平的不断提高，芯片的测试技术已经成为提高产品质量以及良品率的一个重要因素。芯片设计生产过程中的测试是为了尽可能发现芯片的各种故障，并将有缺陷的芯片筛选出来，确保产品质量。
[0003]现有技术中，一般采用人工检测的方法对DDR芯片进行测试，具体过程为：操作人员将DDR芯片放入测试座中，然后将测试座放入测试主板上，测试主板上电后对DDR芯片进行对应的功能测试，测试完成后将合格与不合格的芯片分别进行人工标记，以选出质量合格的芯片。该方法需要不断地手动取放芯片并对已测试的芯片进行标记，测试效率较低。且基于人工的测试方法可能会出现漏测、错测、错误标记等问题，进而影响芯片测试的良品率。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供了一种DDR芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质，可以提高DDR芯片的测试效率。
[0005]第一方面，本申请提供了一种DDR芯片测试装置，DDR芯片测试装置与控制设备连接，DDR芯片测试装置包括：测试平台和机械臂；测试平台上设置有至少一个用于测试待测芯片的测试位，控制设备用于控制机械臂将待测芯片放置在测试位，并用于控制测试平台对待测芯片进行测试，以及用于根据测试平台对待测芯片的测试结果控制机械臂将待测芯片移动到与测试类型对应的指定位置。
[0006]本申请提供的DDR芯片测试装置通过控制设备控制机械臂将待测芯片放置到测试平台中的测试位，并控制测试平台对待测芯片进行各类测试。测试完成后，控制设备可以根据测试结果控制机械臂将完成测试的芯片移动到与测试类型对应的指定位置。本申请提供的测试装置可以同时对多个待测芯片进行测试，整个测试过程均为全自动化操作，不需要人工取放芯片，可以节约大量的人力并提高芯片的测试效率。
[0007]可选地，测试平台包括盖板，盖板用于压紧放置在测试位上的待测芯片。
[0008]可选地，盖板面向待测芯片的一侧设置有弹簧顶针。
[0009]基于上述可选的方式，测试平台上的盖板闭合时可以压紧放置在测试位上的待测芯片，避免因待测芯片与测试平台中的测试位之间接触不良导致出现误测的现象。盖板闭合时弹簧顶针收缩，测试完成后盖板打开，弹簧顶针伸展的过程中给待测芯片向下的力，避免待测芯片粘在盖板上而使待测芯片丢失。
[0010]可选地，盖板面向待测芯片的一侧设置有加热器和温度传感器；盖板闭合时，温度
传感器与待测芯片接触，加热器用于对待测芯片进行加热，控制设备还用于根据温度传感器获取到的待测芯片的温度调整加热器的加热状态。
[0011]基于上述可选的方式，控制设备可以通过温度传感器实时获取待测芯片的温度，并根据获取的温度调整加热器的加热状态(即加热或停止加热)，使高温测试过程中待测芯片的温度控制在预设的温度范围内。避免待测芯片因温度过高而损坏，或因温度过低导致测试结果不准确。
[0012]可选地，测试结果为通过或不通过，控制设备还用于在测试平台连续出现测试结果为不通过的次数超过预设次数时，关闭所述测试平台。
[0013]基于上述可选的方式，当同一测试平台连续出现测试结果为不通过的次数超过预设次数时，则该测试平台可能出现了故障。控制设备可以关闭该测试平台，从而避免因测试平台出现故障将质量合格的芯片误判为质量不合格的芯片，确保芯片测试的准确性。
[0014]可选地，测试类型包括OST测试、BT测试、FT测试和/或高温测试。
[0015]基于上述可选的方式，OST测试可以检测芯片内部是否存在短路或者短路的现象。BT测试可以检测出芯片因出现DDR地址信号、数据信号等存在干扰导致芯片在测试平台中无法正常开机的问题。通过不同的测试算法对待测芯片进行读写测试，可以检测待测芯片是否存在故障以及故障的类型。基于上述测试可以将有缺陷的待测芯片筛选出来。
[0016]第二方面，本申请提供了一种DDR芯片测试方法，应用于上述第一方面任一项中所述的控制设备，该方法包括：
[0017]控制设备控制机械臂在测试平台的至少一个测试位上放置待测芯片，并控制测试平台对待测芯片进行测试，以及根据测试平台对待测芯片的测试结果控制机械臂将待测芯片移动到与测试类型对应的指定位置。
[0018]本申请提供的DDR芯片测试方法利用控制设备控制机械臂将待测芯片放入测试平台中的测试位，使测试平台同时对多个待测芯片进行测试，测试完成后控制设备可以获取每个待测芯片的每项测试结果，并控制机械臂将测试完成后的芯片放置到与测试类型对应的指定位置。与基于人工检测的方法相比，可以快速地对多个芯片同时进行测试，整个测试过程为全自动操作，可以避免出现漏检、错测和错误标记等问题，提高测试效率。
[0019]可选地，所述测试方法还包括：测试结果为通过或不通过，控制设备在测试平台连续出现测试结果为不通过的次数超过预设次数时，关闭测试平台。
[0020]第三方面，本申请实施例提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第二方面所述的方法。
[0021]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第二方面所述的方法。
[0022]第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述第二方面所述的方法。
[0023]可以理解的是，上述第三方面至第五方面的有益效果可以参见上述第一方面和第二方面的各可能的实施方式的相关描述，在此不再赘述。
Processing Unit，CPU)或者微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)。当然，处理器也还可以是其他类型的处理器，本申请实施例中不再一一列举。
[0034]在一个实施例中，本申请提供的DDR芯片测试装置10中可以设置有至少一个测试平台11，每个测试平台11都设置有至少一个测试位。一个控制设备20可以分别与多个测试平台11建立通信连接，从而控制多个测试平台11对待测芯片进行测试。
[0035]在另一个实施例中，为了节约成本，DDR芯片测试装置10中可以设置有一个机械臂12，利用一个机械臂12分别为每个测试位取放待测芯片。也可以为每个测试平台11配备相应的机械臂12，每个机械臂12均与控制设备20连接。控制设备20可以分别控制每个机械臂12向对应的测试平台11中取放待测芯片，以节约时间，提高测试效率。需要说明的是，在利用机械臂12将待测芯片放置到测试位之前，需要通过操作人员手动或者以其他方式将待测芯片放在固定的位置，以便机械臂本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DDR芯片测试装置，其特征在于，所述DDR芯片测试装置与控制设备连接，所述DDR芯片测试装置包括：测试平台和机械臂；所述测试平台上设置有至少一个用于测试待测芯片的测试位，所述控制设备用于控制所述机械臂将所述待测芯片放置在所述测试位，并用于控制所述测试平台对所述待测芯片进行测试，以及用于根据所述测试平台对所述待测芯片的测试结果控制所述机械臂将所述待测芯片移动到与所述测试类型对应的指定位置。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试平台包括盖板，所述盖板用于压紧放置在所述测试位上的所述待测芯片。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述盖板面向所述待测芯片的一侧设置有弹簧顶针。4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述盖板面向所述待测芯片的一侧设置有加热器和温度传感器；所述盖板闭合时，所述温度传感器与所述待测芯片接触，所述加热器用于对所述待测芯片进行加热，所述控制设备还用于根据所述温度传感器获取到的所述待测芯片的温度调整所述加热器的加热状态。5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试结果为通过或不通过，所述控制设备还用于在所述测试平台连续出...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏佳辉，刘敏，戴洋洋，陈宗廷，李斌，
申请(专利权)人：深圳市宏旺微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：