一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备，包括：获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；从预设的模拟光谱库中提取与待识别的蚀变相关的模拟光谱；预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应的模拟光谱，模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。由此，不仅降低了蚀变模拟光谱的获取难度，也丰富了蚀变光谱的种类，提升了蚀变识别的准确度。提升了蚀变识别的准确度。提升了蚀变识别的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备


[0001]本专利技术涉及图像处理领域，尤其涉及一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]矿物组合是在空间上共同存在的矿物的组合，利用矿物组合规律可以预测某些地质环境中可能找到的有用矿物，以指导找矿。其中，不同蚀变类型的矿物组合即是由多种矿物通过共生的方式组合而成的。在识别蚀变的类型时，通过组合矿物的光谱对组合矿物的高光谱影像进行分析，从而提取不同的蚀变的矿物组合，但是组合矿物对应完备的光谱非常难测量得到，并且，即使测得一些已知的组合矿物的光谱，也无法对其他未知的蚀变的类型进行分析。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例公开了一种识别蚀变类型的方法及装置，解决了现有技术中由于难以测得蚀变的光谱，从而难以对蚀变的类型进行识别。
[0004]本专利技术实施例公开了一种识别蚀变类型的方法，包括：
[0005]获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；
[0006]从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变相关的模拟光谱；
[0007]所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；
[0008]通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。
[0009]可选的，所述模拟光谱库中模拟光谱的计算过程，包括：
[0010]确定目标矿物的物理参数；所述目标矿物为任何一种单一矿物；
[0011]通过所述目标矿物的物理参数和Shkuratov模型，计算所述目标矿物的消光系数；
[0012]确定目标蚀变的矿物组合；所述目标蚀变为任何一种蚀变类型；
[0013]基于所述目标蚀变的矿物组合包含的每种矿物的物理参数、复折射率、观测参数和预设的Hapke模型，计算所述目标蚀变的模拟光谱。
[0014]可选的，所述目标矿物的物理参数包括：
[0015]折射率、反射率、粒度和充填度；
[0016]每种目标矿物对应至少一种类型的物理参数，每种类型的物理参数是由折射率、反射率和不同粒度、不同填充度组成的。
[0017]可选的，所述观测参数包括：入射角、出射角和消光系数；每种蚀变类型对应一种观测参数，每种观测参数表征不同观测角度对应的参数信息。
[0018]可选的，所述模拟光谱库中的不同蚀变类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同类型的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的。
[0019]可选的，所述通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变
的蚀变类型，包括：
[0020]对预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法进行权重判决，确定预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法的权重；
[0021]基于预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方法的权重，结合光谱诊断方法、光谱匹配方法，从待处理的蚀变的高光谱影像中识别待识别的蚀变的蚀变类型。
[0022]本专利技术实施例公开了一种识别蚀变类型的装置，包括：
[0023]获取单元，用于获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；
[0024]第一提取单元，用于从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变矿物相关的模拟光谱；
[0025]所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应的模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；
[0026]第二提取单元，用于通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。
[0027]可选的，还包括：
[0028]确定单元，用于确定目标矿物的物理参数；所述目标矿物为任何一种单一矿物；
[0029]第一计算单元，用于通过所述目标矿物的物理参数和Shkuratov模型，计算所述目标矿物的消光系数；确定目标蚀变的矿物组合；所述目标蚀变为任何一种蚀变类型；
[0030]第二计算单元，用于基于所述目标蚀变的矿物组合包含的每种矿物的物理参数、复折射率、观测参数和预设的Hapke模型，计算所述目标蚀变的模拟光谱。
[0031]可选的，所述模拟光谱库中的不同蚀变的类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同类型的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的。
[0032]本专利技术实施例公开了一种电子设备，包括：
[0033]存储器和处理器；
[0034]所述处理器用于存储程序，所述处理器用于执行所述存储器中的程序时执行上述权利要求1
‑
6中任意一项所述的识别蚀变类型的方法。
[0035]本专利技术实施例公开了一种识别蚀变类型的方法、装置及电子设备，该方法包括：获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变相关的模拟光谱；所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。其中，基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定不同蚀变类型的模拟光谱，并且，还可以通过不同的组合方式，得到一些未知的蚀变的模拟光谱，由此，不仅降低了蚀变的模拟光谱的获取难度，也丰富了蚀变的光谱的种类。
[0036]进一步的，模拟光谱库中的不同蚀变的类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同种类的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的，进一步的细化了蚀变矿物的粒度，丰富了蚀变矿物及其组合的模拟光谱库，间接提升了对蚀变类型识别的准确度。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0038]图1示出了本专利技术实施例提供的一种识别蚀变类型的方法的流程示意图；
[0039]图2示出了本专利技术实施例提供的蚀变的模拟光谱的计算方法的流程示意图；
[0040]图3示出了本专利技术实施例提供的一种识别蚀变类型的装置的结构示意图；
[0041]图4示出了本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图；
[0042]图5示出了紫苏辉石的Shkuratov模型模拟得到的消光系数光谱；
[0043]图6示出了不同入射角下紫苏辉石的Hapke模型模拟反射率光谱；
[0044]图7示出了橄榄石低钛玄武岩的线性混合光谱和非线性混合光谱；
[0045]图8示出了端元矿物的光谱；
[0046]图9示出了不同方式下得到的光谱的对比示意图。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种识别蚀变类型的方法，其特征在于，包括：获取包含待识别的蚀变的高光谱影像；从预设的模拟光谱库中提取与所述待识别的蚀变相关的模拟光谱；所述预设的模拟光谱库中包含不同蚀变类型对应模拟光谱，所述模拟光谱是基于构成蚀变的每种矿物的消光系数、物理参数和观测参数确定的，其中，每种矿物的消光系数是通过对每种矿物的物理参数进行分析得到的；通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟光谱库中模拟光谱的计算过程，包括：确定目标矿物的物理参数；所述目标矿物为任何一种单一矿物；通过所述目标矿物的物理参数和Shkuratov模型，计算所述目标矿物的消光系数；确定目标蚀变的矿物组合；所述目标蚀变为任何一种蚀变类型；基于所述目标蚀变的矿物组合包含的每种矿物的物理参数、复折射率、观测参数和预设的Hapke模型，计算所述目标蚀变的模拟光谱。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标矿物的物理参数包括：折射率、反射率、粒度和充填度；每种目标矿物对应至少一种类型的物理参数，每种类型的物理参数是由折射率、反射率和不同粒度、不同填充度组成的。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述观测参数包括：入射角、出射角和消光系数；每种蚀变类型对应一种观测参数，每种观测参数表征不同观测角度对应的参数信息。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述模拟光谱库中的不同蚀变类型是通过组成蚀变的各个矿物的不同类型的物理参数、不同观测角度的观测参数区分的。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过提取到的模拟光谱，识别出所述高光谱影像中的待识别的蚀变的蚀变类型，包括：对预设的光谱诊断方法和预设的光谱匹配方...

【专利技术属性】
技术研发人员：李庆亭，潘洁，鹿琳琳，陈正超，张兵，
申请(专利权)人：中国科学院空天信息创新研究院，
类型：发明
国别省市：