一种管脚状态的配置电路、配置方法及电子设备技术

本申请提供了一种管脚状态的配置电路、配置方法及电子设备。其中，配置电路包括配置电阻器负载、电压采集单元和比较器；电压采集单元通过第一配置管脚或第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压，并分别采集第一配置管脚和第二配置管脚的电压；比较器根据在通过第一配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压计算第一电压比值，根据在通过第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压计算第二电压比值，根据第一电压比值和第二电压比值确定对应的管脚配置状态。本申请通过对两个配置管脚进行配置可以得到N

【技术实现步骤摘要】
一种管脚状态的配置电路、配置方法及电子设备


[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种管脚状态的配置电路、配置方法及电子设备。

技术介绍

[0002]在集成电路(Integrated Circuit IC)芯片的设计中，管脚(PIN)是用来传输芯片的输入、输出信号，包含数据信号、时钟信号以及电源信号等。为了在同一颗芯片上能够实现更多的功能，提高芯片的性价比，芯片在制造时大都提供了管脚状态的配置功能。根据管脚状态的不同配置，芯片可以处于不同的工作状态，从而可以实现不同的功能或性能。管脚状态的配置一般有两种方式；第一种方式是给管脚配置不同的电压，不同电压表示不同的管脚状态；第二种方式是通过外部处理器来修改芯片内部的寄存器单元的内容，实现对管脚状态的配置。
[0003]参见图1，图1为一种相关技术中管脚状态的配置电路的结构示意图。如图1所示，该配置电路是基于电阻分压策略实现模式配置，利用电阻R01和R02分压配置VCC与GND之间的模式配置管脚MOD的电压。在IC模式检测阶段，读取并锁存启动时刻模式配置管脚MOD上的电压值，再根据读取的电压值确定对应的模式状态，因此配置不同的R01和R02可配置不同的模式。但是在该技术中需要两个管脚才能配置一组状态，且在IC模式配置完成后，电阻R01和R02会持续存在功率损耗，尤其是需要采用多个管脚进行配置时，会带来较大损耗。
[0004]参见图2，图2为另一种相关技术中进行管脚状态配置的工作原理示意图。如图2所示，电阻R01是芯片外部连接电阻，电阻R02是芯片内部的可变电阻，在配置过程中，通过改变R2的电阻值，将电阻R01的电阻值与电阻R02的电阻值的进行比较，从而确定对应的模式，因此配置不同的R01可配置不同的模式。在该技术中，模式配置是基于单个管脚MOD实现一组配置状态，但是由于内外电阻特性差异，因此比较精度较低，导致可配置的状态数量减少。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种管脚状态的配置电路、配置方法及电子设备，用于提高可配置的状态数量。
[0006]第一方面，本申请实施例提供的一种管脚状态的配置电路，包括：配置电阻器负载、电压采集单元和比较器。其中，所述配置电阻器负载用于连接芯片的第一配置管脚和第二配置管脚；所述电压采集单元可以通过所述第一配置管脚或所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压，并分别采集所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压；所述比较器可以根据所述电压采集单元在通过所述第一配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压计算第一电压比值，根据所述电压采集单元在通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压计
算第二电压比值，以及根据所述第一电压比值和所述第二电压比值确定对应的管脚配置状态。
[0007]本申请提供的配置电路通过配置配置电阻器负载中的电阻可以得到N种状态的第一电压比值，N种状态的第二电压比值。从而将第一电压比值和第二电压比值进行结合，可以配置N
×
N种状态，即本申请根据第一电压比值和第二电压比值可以确定N
×
N种管脚配置状态，从而可以对芯片配置N
×
N种模式状态。另外，本申请中的配置电路不工作时，配置电阻器负载是不工作的，因此无功率损耗。
[0008]在具体实施时，配置电阻器负载可以包括可配置的第一电阻、可配置的第二电阻和可配置的第三电阻；第一电阻的第一端子连接第一参考电压，第一电阻的第二端子连接第一配置管脚；第二电阻的第一端子连接第一参考电压，第二电阻的第二端子连接第二配置管脚，第三电阻连接于第一电阻的第二端子和第二电阻的第二端子之间。电压采集单元可以通过第一配置管脚或第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压，当通过第一配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压Vcc时，分别采集第一配置管脚的电压vmod1和第二配置管脚的电压vmod2，此时，第一配置管脚的电压vmod1＝Vcc，第二配置管脚的电压vmod2＝[R2/(R2+R3)]Vcc；当通过第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压时，分别采集第一配置管脚的电压vmod1和第二配置管脚的电压vmod2，此时，第二配置管脚的电压vmod2＝Vcc，第一配置管脚的电压vmod1＝[R1/(R1+R3)]Vcc。比较器可以包括电压比值计算单元和状态机单元，其中，电压比值单元可以根据电压采集单元在通过第一配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压来计算第一电压比值，以及根据电压采集单元在通过第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压来计算第二电压比值；从而状态机单元可以根据第一电压比值和第二电压比值确定对应的管脚配置状态。
[0009]由此，本申请通过配置第二电阻和第三电阻的阻值比例来配置分压可以得到N种状态的第一电压比值，通过配置第一电阻和第三电阻的阻值比例来配置分压可以得到N种状态的第二电压比值。并且，由于本申请是根据电阻分压的比值进行配置因此可以提高状态值的精度。
[0010]示例性的，本申请中的电压采集单元可以包括电压提供电路和电压采集电路。其中，电压提供电路用于分时向第一配置管脚和第二配置管脚提供第二参考电压，以通过第一配置管脚或第二配置管脚向配置电阻器负载提供第二参考电压。电压采集电路用于在电压提供电路向第一配置管脚提供第二参考电压时，分别采集第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压；在电压提供电路向第二配置管脚提供第二参考电压时，分别采集第一配置管脚的电压和第二配置管脚的电压。
[0011]一种实施例中，还可以在所述配置电阻器负载中增加第一电容，所述第一电容与所述第三电阻并联设置；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压时，检测所述第一电容的充电时间或放电时间；所述状态机单元具体用于根据所述第一电压比值、所述第二电压比值以及检测的所述第一电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。通过配置通过第一电容的电容值，可以得到M种状态，从而将第一电容的充电时间或放电时间、第一电压比值以及第二电压比值进行结合来确定对
应的管脚配置状态，可以实现N
×
N
×
M种状态的配置。
[0012]另一种实施例中，还可以在所述配置电阻器负载中增加第一电容和第二电容，其中所述第一电容与所述第一电阻并联设置，所述第二电容与所述第二电阻并联设置；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时，分别检测所述第一电容的充电时间或放电时间和所述第二电容的充电时间或放电时间；所述状态机单元具体用于根据所述第一电压比值、所述第二电压比值以及所述时间检测单元检测的所述第一电容的充电时间或放电时间和所述第二电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。通过配置第一电容的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种管脚状态的配置电路，其特征在于，包括：配置电阻器负载、电压采集单元和比较器；所述配置电阻器负载用于连接芯片的第一配置管脚和第二配置管脚；所述电压采集单元用于通过所述第一配置管脚或所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压，并分别采集所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压；所述比较器用于根据所述电压采集单元在通过所述第一配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压计算第一电压比值，根据所述电压采集单元在通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的所述第一配置管脚的电压和所述第二配置管脚的电压计算第二电压比值，以及根据所述第一电压比值和所述第二电压比值确定对应的管脚配置状态。2.如权利要求1所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载包括：可配置的第一电阻、可配置的第二电阻和可配置的第三电阻；所述第一电阻的第一端子用于连接第一参考电压，所述第一电阻的第二端子用于连接所述第一配置管脚；所述第二电阻的第一端子用于连接第一参考电压，所述第二电阻的第二端子用于连接所述第二配置管脚，所述第三电阻连接于所述第一电阻的第二端子和所述第二电阻的第二端子之间。3.如权利要求2所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载还包括与所述第三电阻并联的第一电容；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压时，检测所述第一电容的充电时间或放电时间，以根据所述第一电压比值、所述第二电压比值以及所述第一电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。4.如权利要求2所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载还包括与所述第一电阻并联的第一电容，与所述第二电阻并联的第二电容；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时，分别检测所述第一电容的充电时间或放电时间和所述第二电容的充电时间或放电时间，以根据所述第一电压比值、所述第二电压比值、所述第一电容的充电时间或放电时间以及所述第二电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。5.如权利要求2所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载还包括可配置的第四电阻和可配置的第五电阻；所述第四电阻的第一端子用于连接第一参考电压，所述第四电阻的第二端子用于与所述芯片的第三配置管脚连接，所述第五电阻连接于所述第四电阻的第二端子和所述第二电阻的第二端子之间；所述电压采集单元还用于在通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压时，采集所述第三配置管脚的电压；所述比较器还用于根据所述电压采集单元在通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时采集的所述第二配置管脚的电压和所述第三配置管脚的电压，计算第三电压比值，以根据所述第一电压比值、所述第二电压比值以及所述第三电压比值确定对应的管脚配置状态。6.如权利要求5所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载还包括与所述第三
电阻并联的第一电容，与所述第五电阻并联的第二电容；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压时，分别检测所述第一电容的充电时间或放电时间和所述第二电容的充电时间或放电时间，以根据所述第一电压比值、所述第二电压比值、所述第三电压比值、所述第一电容的充电时间或放电时间以及所述第二电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。7.一种管脚状态的配置电路，其特征在于，包括：配置电阻器负载、电压采集单元和比较器；所述配置电阻器负载用于连接芯片的第一配置管脚、第二配置管脚和第三配置管脚；所述电压采集单元用于通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压，并分别采集所述第一配置管脚的电压、所述第二配置管脚的电压和所述第三配置管脚的电压；通过所述第一配置管脚和所述第三配置管脚同时向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压，并分别采集所述第一配置管脚的电压、所述第二配置管脚的电压和所述第三配置管脚的电压；所述比较器用于根据所述电压采集单元在通过所述第二配置管脚向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时，采集的所述第一配置管脚的电压、所述第二配置管脚的电压和所述第三配置管脚的电压计算第一电压比值和第三电压比值；根据所述电压采集单元在通过所述第三配置管脚和所述第一配置管脚同时向所述配置电阻器负载提供第二参考电压时，采集的所述第一配置管脚的电压、所述第二配置管脚的电压和所述第三配置管脚的电压计算第二电压比值；以及根据所述第一电压比值、所述第二电压比值以及所述第三电压比值确定对应的管脚配置状态。8.如权利要求7所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载包括：可配置的第一电阻、可配置的第二电阻、可配置的第三电阻、可配置的第四电阻和可配置的第五电阻；所述第一电阻的第一端子用于连接第一参考电压，所述第一电阻的第二端子用于连接所述第一配置管脚；所述第二电阻的第一端子用于连接第一参考电压，所述第二电阻的第二端子用于连接所述第二配置管脚，所述第三电阻连接于所述第一电阻的第二端子和所述第二电阻的第二端子之间；所述第四电阻的第一端子用于连接所述第一参考电压，所述第四电阻的第二端子用于与所述第三配置管脚连接，所述第五电阻连接于所述第四电阻的第二端子和所述第二电阻的第二端子之间。9.如权利要求8所述的配置电路，其特征在于，所述配置电阻器负载还包括与所述第三电阻并联的第一电容，与所述第五电阻并联的第二电容；所述比较器还用于在所述电压采集单元向所述配置电阻器负载提供所述第二参考电压时，分别检测所述第一电容的充电时间或放电时间和所述第二电容的充电时间或放电时间，以根据所述第一电压比值、所述第二电压比值、所述第三电压比值、所述第一电容的充电时间或放电时间以及所述第二电容的充电时间或放电时间确定对应的管脚配置状态。10.一种电子设备，其特征在于，包括芯片和如权利要求1
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9任一项所述的管脚状态的配置电路，所述配置电路用于连接所述芯片的配置管脚。11.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建，刘源俊，张贵平，莫尚林，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：