一种探针中部架空式全检治具制造技术

本发明专利技术公开了一种探针中部架空式全检治具，包括：底座，所述底座内设置有滑槽，所述滑槽内至少设置有一个凸台，底座靠近其内侧的上表面以及每个所述凸台的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽；检测板，所述检测板上设置有与凸台相匹配且等数量的限位孔，每个所述限位孔的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽。该探针中部架空式全检治具，解决了现有光学检测机检测测试探针的外径时，存在难以获取测试探针两端外径尺寸信息的问题。探针两端外径尺寸信息的问题。探针两端外径尺寸信息的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种探针中部架空式全检治具


[0001]本专利技术属于探针检测设备
，具体涉及一种探针中部架空式全检治具。

技术介绍

[0002]测试探针又称半导体探针，由针管、弹簧和针头组成。测试探针组装完毕后，需要对其外径的尺寸进行检测，确保其达标后才能确定为合格产品。
[0003]由于测试探针的外径较小，一般为几毫米，使用现有量尺进行测试时，其测试结果往往误差较大，目前主要采用光学检测机进行测量。但是现有光学检测机没有专门针对测试探针获取其尺寸信息的辅助设备，因此设计一款匹配光学检测机进行测量，起辅助作用的检测装置就变得十分重要了。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种探针中部架空式全检治具，解决现有光学检测机检测测试探针的外径时，存在难以获取测试探针两端外径尺寸信息的问题。
[0005]为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种探针中部架空式全检治具，包括：底座，所述底座内设置有滑槽，所述滑槽内至少设置有一个凸台，底座靠近其内侧的上表面以及每个所述凸台的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽；检测板，所述检测板上设置有与凸台相匹配且等数量的限位孔，每个所述限位孔的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽。
[0006]作为本专利技术的一种优选的技术方案，还包括限位框，所述限位框设置在所述底座上，所述检测板位于所述限位框内。
[0007]作为本专利技术的一种优选的技术方案，所述凸台的数量为三。
[0008]作为本专利技术的一种优选的技术方案，所述底座和限位框的边上均设置有螺孔，每对螺孔中设置有螺栓。
[0009]作为本专利技术的一种优选的技术方案，所述底座和限位框的边上布置的螺孔数量为二，并分别布置在两相对边上。
[0010]本专利技术的有益效果是：（1）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，底座、检测板和限位框组装在一起时，可以将测试探针装入底座和凸台上对应的第一限位槽和第二限位槽中，此后取出装满测试探针的检测板放置在光学检测机的信息采集区，当光从检测板的下方照入时，光照在测试探针的两端，此时光学检测机可从上方拍摄出带有测试探针两端轮廓的照片，光学检测机对照片就行分析，测定出图片中测试探针的两端外径尺寸，通过对比确定该尺寸是否达标；（2）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，检测板上设计有多个第二限位槽，每对第二限位槽中均可放置一个测试探针，因而一次可检测多个测试探针的两端外径尺寸，具有较高的检测效率；（3）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
附图说明
[0011]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术的一种探针中部架空式全检治具的分解图；图2为本专利技术的一种探针中部架空式全检治具的组装图；图3为图1去除限位框后的结构示意图；图4为本专利技术的一种探针中部架空式全检治具中限位框的结构示意图。
[0012]图中：1.底座，2.第一限位槽，3.限位孔，4.限位框，5.第二限位槽，6.检测板，7.凸台。
具体实施方式
[0013]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0014]在本专利技术的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0015]本专利技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本专利技术中的具体含义。
[0016]如图1至图4所示，本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，包括底座1、检测板6和限位框6。其中：底座内1设置有滑槽，滑槽内至少设置有一个凸台7，底座1靠近其内侧的上表面以及每个凸台7的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽2；检测板6上设置有与凸台7相匹配且等数量的限位孔3，每个限位孔3的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽5；限位框4设置在底座1上，检测板6位于限位框4内。
[0017]本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，底座1、检测板6和限位框4组装在一起时，可以将大量测试探针倒入限位框4中，此后摇动底座1、检测板6和限位框4组成的整体装置，直至底座1和凸台6上对应的第一限位槽2和第二限位槽5中都填入测试探针。之后取下限位框4，将检测板6取出并放置在光学检测机的信息采集区，当光照从检测板6的下方照射过来时，测试探针的两端未放置在第二限位槽5的部分将形成轮廓，光学检测机可从上方拍摄出该轮廓的照片，光学检测机对照片就行分析，测定出图片中测试探针两端的外径尺寸，通过对比确定该尺寸是否达标。
[0018]如图1所示，在本专利技术的一种探针中部架空式全检治具中，凸台7的数量为三，限位孔3的数量也为三。
[0019]每个检测板6可以一次性装载三组测试探针进行测试，大大提高了检测的效率。
[0020]如图1所示，在本专利技术的一种探针中部架空式全检治具中，底座1和限位框4的边上均设置有螺孔，每对螺孔中设置有螺栓。
[0021]底座1和限位框4之间通过多个螺栓连接，这样设计便于进行拆装。
[0022]如图1所示，在本专利技术的一种探针中部架空式全检治具中，底座1和限位框4的边上
布置的螺孔数量为二，并分别布置在两相对边上。
[0023]通过两个螺栓将底座1和限位框4固定在一起，不仅可以完成两者的固定，满足摇动装入测试探针时不会散架，也便于后续进行拆卸，提高工作效率。
[0024]因此，1）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，底座、检测板和限位框组装在一起时，可以将测试探针装入底座和凸台上对应的第一限位槽和第二限位槽中，此后取出装满测试探针的检测板放置在光学检测机的信息采集区，当光从检测板的下方照入时，光照在测试探针的两端，此时光学检测机可从上方拍摄出带有测试探针两端轮廓的照片，光学检测机对照片就行分析，测定出图片中测试探针的两端外径尺寸，通过对比确定该尺寸是否达标；（2）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，检测板上设计有多个第二限位槽，每对第二限位槽中均可放置一个测试探针，因而一次可检测多个测试探针的两端外径尺寸，具有较高的检测效率；（3）本专利技术的一种探针中部架空式全检治具，结构简单，操作方便，制造成本较低，具有较好的市场推广使用前景。
[0025]上述说明示出并描述了专利技术的若干优选实施例，但如前所述，应当理解专利技术并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述专利技术构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针中部架空式全检治具，其特征在于，包括：底座（1），所述底座内（1）设置有滑槽，所述滑槽内至少设置有一个凸台（7），底座（1）靠近其内侧的上表面以及每个所述凸台（7）的上表面两侧沿均设置有多个第一限位槽（2）；检测板（6），所述检测板（6）上设置有与凸台（7）相匹配且等数量的限位孔（3），每个所述限位孔（3）的上表面两侧沿均布置有多个第二限位槽（5）。2.根据权利要求1所述的探针中部架空式全检治具，其特征在于，还包括限位框（4），所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞龙，付盼红，申啸，张明海，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：发明
国别省市：