用于方形芯料方正度测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及玻璃精密加工技术领域，具体而言涉及用于方形芯料方正度测量装置及测量方法，包括：底板，定义一个承载面；两个平行布置的靠板，垂直固定在所述承载面上；滑座，位于两个所述靠板之间，并被固定到两个靠板的侧壁；基准台，被固定到所述滑座的上端面，并垂直于滑座长度方向布置，其上端面定义一个基准面，与万能角度尺能角度检验量具相比，使用本装置可实现对方形芯料的角度进行精确测量，筛选出方正度较高的芯料作为MPO、MPOS的制造材料，提高MPO、MPOS的角分辨率；与三坐标等大型精密测量设备相比，使用本装置可实现对方形芯料的角度的快速测量，且本装置机械结构简单制造成本低便于操作，可配备到方形芯料生产线、检验环节中。节中。节中。

【技术实现步骤摘要】
用于方形芯料方正度测量装置及测量方法


[0001]本专利技术涉及玻璃精密加工
，具体而言涉及用于方形芯料方正度测量装置及测量方法。

技术介绍

[0002]MPO(矩形微孔光学元件)、MPOS(扇形微孔光学元件)由内部数百万个方形微孔二维阵列或辐射状排列组成，结合说明书附图1所示，其制造原理是方形芯料与皮料组合后进过拉丝、排屏、压屏、抛光、腐蚀。方形芯料所处的位置被腐蚀后，在MPO、MPOS内部留下了数百万个方形微孔，皮料构成微孔的壁，因此高精度的方形芯料可用于MPO、MPOS的制造与研发，而方形芯料是被MPO复丝棒拉制形成，即变径过程，目前MPO复丝方正度的控制难度极大，在高温环境下导致拉制出的复丝较难达到技术要求，因此成品芯料中方正度并不确定。
[0003]根据项目组的工艺经验，数百万个方形微孔的方正度将直接影响MPO、MPOS其角分辨率，决定着科学目标的实现程度。因此如何测量方形芯料的方正度，筛选高方正度的方形芯料成为MPO、MPOS的制造的关键技术。目前的三坐标等大型角度设设备虽能精确测量但效率较低，而小型渐变的角度测量检具的精度相对较低而且与使用人员的操作手法有较大关系即重复性精度不佳。

技术实现思路

[0004]本专利技术目的在于提供用于方形芯料方正度测量装置及测量方法，能够以可靠性高，检测速度快的方式，将微孔光学元件(MPO)或者扇形微孔光学元件(MPOS)的方形料芯中方正度低的料芯筛选出来，得到高精度的方形芯料，提高制备微孔光学元件(MPO)或者扇形微孔光学元件(MPOS)的效率和精度。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术提供一种用于方形芯料方正度测量装置，包括：
[0006]底板，定义一个承载面；
[0007]两个平行布置的靠板，垂直固定在所述承载面上；
[0008]滑座，位于两个所述靠板之间，并被固定到两个靠板的侧壁；
[0009]基准台，被固定到所述滑座的上端面，并垂直于滑座长度方向布置，其上端面定义一个基准面，用于放置方形料芯，所述基准面与所述滑座的上下端面平行；
[0010]两个相对布置的L型支架，被设置在基准台的两侧，能相对于滑座的长度方向滑动；
[0011]其中，L型支架包括垂直于滑座布置的表架和平行于滑座布置的表座，所述表架上设有延伸至基准台上方的顶针和千分表；
[0012]所述滑座的下端面设有贴合板，所述贴合板和表座固定连接，使所述表座贴附于滑座上端面滑动，两个贴合板之间设有弹性部件，使两个L型支架具有相互靠近的趋势。
[0013]优选的，两个所述靠板的内侧固定有一根光轴，所述光轴上滑动连接两个滑块，每个所述滑块在滑动方向上设有两个推拉板，所述推拉板与所述贴合板点接触或线接触，所
述弹性部件被设置两个滑块内侧的两个推拉板侧壁
[0014]优选的，所述滑块上不带有弹性部件的一个推拉板上设有拉杆，所述拉杆的另一端贯穿所述靠板形成操作端
[0015]优选的，所述拉杆的操作端设有腰形块，在所述靠板上设有与腰形块配合的腰型槽
[0016]本专利技术提供另一种技术方案，一种用于方形芯料方正度测量的方法，使用上述的用于方形芯料方正度测量装置，包括以下步骤：
[0017]千分表调零：将基准块放置在基准台上，使两个L型支架上的顶针抵住基准块，将千分表归零；
[0018]放置芯料：向外拉腰形块并转动一定角度使其靠在靠板端面，保持两个L型支架被分离状态，将料芯放置在基准台上；
[0019]测量芯料：使腰形块复位至腰型槽中，两个L型支架上的顶针靠近料芯直至抵住料芯，读取千分表数值，并计算出芯料两个侧边的角度。
[0020]应当理解，前述构思以及在下面更加详细地描述的额外构思的所有组合只要在这样的构思不相互矛盾的情况下都可以被视为本公开的专利技术主题的一部分。另外，所要求保护的主题的所有组合都被视为本公开的专利技术主题的一部分。
[0021]结合附图从下面的描述中可以更加全面地理解本专利技术教导的前述和其他方面、实施例和特征。本专利技术的其他附加方面例如示例性实施方式的特征和/或有益效果将在下面的描述中显见，或通过根据本专利技术教导的具体实施方式的实践中得知。
附图说明
[0022]附图不意在按比例绘制。在附图中，在各个图中示出的每个相同或近似相同的组成部分可以用相同的标号表示。为了清晰起见，在每个图中，并非每个组成部分均被标记。现在，将通过例子并参考附图来描述本专利技术的各个方面的实施例，其中：
[0023]图1是方形料芯及其应用的示意图；
[0024]图2是本专利技术本专利技术实施例中对料芯方正度测量的原理图；
[0025]图3是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置的结构示意图；
[0026]图4是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置的剖视图；
[0027]图5是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中测量部件的结构示意图；
[0028]图6是图5的俯视图；
[0029]图7是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中滑座的结构示意图；
[0030]图8是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中表座的结构示意图；
[0031]图9是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中表架的结构示意图；
[0032]图10是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中L型支架的结构示意图；
[0033]图11是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中靠板的结构示意图；
[0034]图12是本专利技术用于方形芯料方正度测量装置中支撑架的结构示意图。
具体实施方式
[0035]为了更了解本专利技术的
技术实现思路
，特举具体实施例并配合所附图式说明如下。
[0036]在本公开中参照附图来描述本专利技术的各方面，附图中示出了许多说明的实施例。本公开的实施例不必定意在包括本专利技术的所有方面。应当理解，上面介绍的多种构思和实施例，以及下面更加详细地描述的那些构思和实施方式可以以很多方式中任意用于方形芯料方正度测量装置及测量方法来实施，这是因为本专利技术所公开的构思和实施例并不限于任何实施方式。另外，本专利技术公开的一些方面可以单独使用，或者与本专利技术公开的其他方面的任何适当组合来使用。
[0037]目前方形芯料是被MPO复丝棒拉丝形成的，成品的芯料方正度难以确定，又由于微孔方正度将直接影响MPO、MPOS其角分辨率，决定着科学目标的实现程度，因此，如何快速准确的挑选出方正度高的芯料是重中之重，本专利技术旨在实现，以可靠性高，快速而准确的方式对芯料进行测试，筛选出高方正度的芯料，提高产品质量。
[0038]结合图2所示，方形料芯可能存在截面为平行四边形或梯形或其他，即，其侧边的上部和下部不再同一个竖直面内，由此，分别使用探针和千分表得到方形料芯侧壁的下部和上部之间的横向位移差H，而高度L已知，因此，得到
[0039]芯料角度：
[0040]θ＝arctan(H/L)。
[0041]基于以上测试原理，结合图3所示，本实施例中提供一种用于方形芯料方正本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.用于方形芯料方正度测量装置，其特征在于，包括：底板，定义一个承载面；两个平行布置的靠板，垂直固定在所述承载面上；滑座，位于两个所述靠板之间，并被固定到两个靠板的侧壁；基准台，被固定到所述滑座的上端面，并垂直于滑座长度方向布置，其上端面定义一个基准面，用于放置方形料芯，所述基准面与所述滑座的上下端面平行；两个相对布置的L型支架，被设置在基准台的两侧，能相对于滑座的长度方向滑动；其中，L型支架包括垂直于滑座布置的表架和平行于滑座布置的表座，所述表架上设有延伸至基准台上方的顶针和千分表；所述滑座的下端面设有贴合板，所述贴合板和表座固定连接，使所述表座贴附于滑座上端面滑动，两个贴合板之间设有弹性部件，使两个L型支架具有相互靠近的趋势。2.根据权利要求1所述的用于方形芯料方正度测量装置，其特征在于，所述基准台的两侧设有限位块，以阻止两个L型支架相互靠近时，顶针相互碰撞。3.根据权利要求1所述的用于方形芯料方正度测量装置，其特征在于，所述滑座的上端面固定有四个垂直于基准台长度方向布置的导向条，四个导向条分别设置在两个表座的两侧，并与表座的侧壁贴合，用于限制表座的滑动方向。4.根据权利要求1所述的用于方形芯料方正度测量装置，其特征在于，所述滑座上设有贯穿其上下端面的滑槽，所述表座和贴合板被贯穿滑座的螺栓所固定，所述滑槽沿所述滑座的长度方向分布，使螺栓能在滑槽中沿所述滑座的长度方向滑动。5.根据权利要求1所述的用于方形芯料方正度测量装置，其特征在于，在所述基准台长度的延长方向设有支...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎龙辉，廖亦戴，金戈，顾燕，张振，王健，吴超，姜博文，徐昭，李玉飞，
申请(专利权)人：北方夜视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：