显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示装置。自发光显示板（１５）内的自发光元件（４８）的检测电压经由像素检测开关（４７）和双向信号线（１０’）而经过数据线驱动电路（９）内的选择开关（４４），在检测电路（４５）中进行检测。该检测动作利用电源接通时和回描期间来进行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及安装有EL (electroluminescence:电致发光)元件
技术介绍
在EL (electroluminescence)元件、有机EL元件等所代表的自 发光元件中，具有其发光亮度与流过自发光元件的电流量成比例的性 质，能够通过控制流过自发光元件的电流量来进行灰度显示。能够配 置多个这样的自发光元件来制作显示装置。但是，这种显示装置具有如下特征在长时间使用自发光元件时， 随时间变化自发光元件逐渐劣化，其发光亮度降低，该劣化的程度依 赖于发光时间。因此，按照每个像素的发光状态(显示图案)将会产 生余像状的图案。在日本特开2004- 287345号公报中记载了测量作为自发光元件 的有机EL元件的发光特性并修正显示数据的技术。在此，发光特性 是指测量流过元件的电流量并将其值进行A/D转换后存储于存储电 容中。通过将与存储的电流量对应的修正量与显示数据相加来修正发 光特性的标准离差。这样，在有机EL显示板的像素间，为了确保稳 定的发光亮度，将通过电流测量所得到的测量结果进行A/D转换，基 于所得到的数字数据对发光元件的驱动信号进行反馈。
技术实现思路
但是，在日本特开2004- 287345号公才艮中记载有检测显示时的 电流量这一内容，但没有考虑到检测时间、因检测时的显示状态而引 起的美观性、便利性的问题。另外，当检测时变为特定显示例如白显示，检测时间变长时，能够预想到将会令用户持续看到这种显示的情形。在本专利技术中，根据有机EL元件的劣化特性可知，对该有机EL 元件施加了恒定电流时的电压在劣化时上升，因此将会检测上述的电 压上升。此时，恒定电流的施加经由信号线来进行，因此需要使显示 和检测分开，在检测时将会无法进行显示。另外，也存在利用回描期间进行检测的方法，但该时间受到限制， 因此即使检测对显示的影响很小，也会耗费直到完成整个画面的检测 为止的时间、即直到余像修正结束为止的时间。例如，在电源接通时，是处于未进行余像修正的状态，因此电源 接通后用户能够看到余像直到修正结束为止。相反，当电源接通时停 止显示、并集中检测来进行时，能够缩短直到余像修正结束为止的时 间，但由于其间不进行显示，因此即使接通电源也不能立刻显示。这 种情况的出现将会使用户在利用具有该有机EL元件的便携电话、数 字照相机等装置时感到紧张。本专利技术的目的在于，在电源接通时，不是在整个画面进行检测， 而是留有所需最小限度的区域，在剩余部分利用回描期间来进行检 测，以使得不对显示产生影响。在此，所需最小限度的区域是指若修 正上述剩余部分的余像则人眼就难以看到余像的区域。作为所需最小限度的区域，例如考虑图符等始终显示固定图案的 区域、仅画面的偶数(或奇数)点、仅画面的偶数(或奇数)线、每 任意点数、每任意线数等。以上，根据本专利技术，通过使电源接通时的检测区域为最小限度来 使起动时的检测时间最短。另外，利用在回描期间的检测，也可应对 温度变化等引起的特性变化。因此，在起动时，能够以短时间实现无 余像的显示，而且即使长时间显示时也能够实现因余像、温度引起的 特性变化少的显示。附图说明图1是本专利技术的显示装置的整体结构图。图2是示出了自发光显示装置的余像现象的图。 图3是示出了自发光元件的劣化特性的图。图4是图1所示的数据线驱动电路9和自发光显示板15的结构图。图5是图4所示的数据线驱动电路9和自发光显示板15的详细 结构图。图6是示出了以与图5相同的结构检测时的动作的图。图7是显示数据的写入动作时的时序波形图。图8是对1行检测期间的时间方向进行放大后的时序波形图。图9是仅在回描期间进行检测时的时序波形图。图10是进4亍起动时的;险测和回描期间的;^测情况下的时序波形图。图11是示出了将余像检测限定在显示区域内的特定区域的情况 的图。标号说明l…垂直同步信号2…水平同步信号3...数据使能信号4..显示数据5...同步时钟6..显示控制电^各7…数据线控制信号8…扫描线控制信号9..数据线驱动电路10...双向信号10'…双向信号线11...发光用电源12...发光用电源电压 13…扫描线驱动电^各14…扫描线驱动信号15...自发光显示板20…检测线30…R选择开关31…G选择开关32…B选择开关33…R选择信号34…G选择信号35…B选择信号36…R信号线37…G信号线38…B信号线43…数据控制电路44…选择开关45…才全测电3各46...检测用电流源47…像素检测开关48…自发光元件49…像素控制电路51…像素52...像素选择信号 53…显示选择开关 54…检测选择开关 55…显示选择信号 56…检测选择信号具体实施方式以下，使用附图说明本专利技术的实施例。图1是本专利技术的显示装置的整体结构图。本实施例采用与以往的自发光显示装置大致相同的结构，但不同点是对数据线驱动电路9内 置余像检测功能。与此相适应，数据线驱动电路9和自发光显示板15 之间的信号为双向信号IO,在显示时，与以往相同是数据线驱动信号， 在检测时，是来自反向的自发光元件的检测电压。在图1中，1是垂直同步信号，2是水平同步信号，3是数据使能 信号，4是显示数据，5是同步时钟。垂直同步信号1是用于显示显 示数据4的1个画面周期(1帧周期)的信号，水平同步信号2是1 个水平周期的信号，数据使能信号3是表示显示数据4有效的期间(显 示有效期间)的信号，所有的信号与同步时钟信号5同步地输入。另外，在图1中，6是显示控制电路，7是数据线控制信号，8 是扫描线控制信号，显示控制电路6根据垂直同步信号1、水平同步 信号2、数据使能信号3、显示数据4、同步时钟信号5来生成数据线 控制信号7、扫描线控制信号8。另外，9是数据线驱动电路，IO是双向信号，数据线驱动电路9 根据数据线控制信号7生成写入到由自发光元件构成的像素的信号电 压，将数据线驱动信号作为双向信号IO输出到自发光显示板15。ll是发光用电源，12是发光用电源电压，发光用电源ll生成提 供用于使自发光元件发光的电流的电源电压，并将发光用电源电压12 输出到自发光显示板15。13是扫描线驱动电路，14是扫描线驱动信号，15是自发光显示 板，在自发光显示板15上配置有使用了呈矩阵状配置的多个发光二 极管、有机EL等的自发光元件。自发光显示板15的显示动作如下对根据从扫描线驱动电路13 输出的扫描线驱动信号14所选择出的像素写入与从数据线驱动电路 9作为双向信号IO输出的数据线驱动信号相对应的信号电压，使构成 像素的自发光元件发光。另外，自发光显示板15的检测动作如下从自发光显示板15向数据线驱动电路9输出构成像素的自发光元件的检测电压作为双向信 号10。发光用电源电压12作为驱动自发光元件的电压被提供给自发 光显示板15。在自发光显示板15中，根据流过自发光元件的电流量和自发光 元件的发光时间来调整自发光元件发光的亮度。流过自发光元件的电 流量越大，自发光元件的亮度越高。自发光元件的发光时间越长，自 发光元件的亮度越高。图2是示出了自发光显示装置的余像现象的图。在图2的左侧所 示的显示部的相同位置，例如在长时间显示了 ABCDEF这样的白显 示时，仅该自发光元件发生劣化、亮度降低，其结果，如图2的右侧 所示，劣化的自发光元件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示装置，其特征在于：在显示板上具有呈矩阵状配置的自发光元件、驱动上述自发光元件的扫描线驱动电路和数据线驱动电路、以及连接上述数据线驱动电路和上述显示板的信号线，在上述显示装置起动或接通电源时，上述数据线驱动电路通过信号线检测上述自发光元件的状态，并且在显示动作时的回描期间检测上述自发光元件的状态。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：笠井成彦，石井雅人，宫本光秀，河野亨，秋元肇，
申请(专利权)人：株式会社日立显示器，
类型：发明
国别省市：JP[日本]