位置推断装置制造方法及图纸

位置推断装置包括修正部和推断部。修正部导出定子的干扰磁通量的推断值。修正部基于干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正。推断部基于修正后的检测值来对转子的位置进行推断。修正部也可以基于定子的电流响应值来导出干扰磁通量的推断值。修正部也可以基于定子的电流指令值或电压指令值来导出干扰磁通量的推断值。位置推断装置也可以还包括存储装置。存储装置也可以对表示定子的电流响应值与干扰磁通量的推断值的对应关系的信息、即干扰磁通量信息进行存储。即干扰磁通量信息进行存储。即干扰磁通量信息进行存储。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】位置推断装置


[0001]本专利技术涉及位置推断装置。

技术介绍

[0002]近年来，不断推进马达的小型化和薄型化。磁传感器与定子之间的间隔对应马达的小型化和薄型化而变窄，因此，马达的磁传感器有时不仅检测到转子的磁体磁通量，还检测到定子的干扰磁通量。因此，为了使位置推断装置高精度地对转子的位置进行检测，需要位置推断装置对转子的磁体磁通量的检测值进行修正。现有技术文献专利文献
[0003]专利文献1：日本专利特开2016
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133376号公报专利文献2：日本专利特开2018
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163177号公报专利文献3：日本专利特开2016
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169981号公报

技术实现思路

专利技术所要解决的技术问题
[0004]然而，为了使位置推断装置对转子的磁体磁通量的检测值进行修正，需要转子包括对转子的位置进行检测的位置传感器用的磁体。因此，不利于马达的小型化和薄型化。
[0005]鉴于上述情况，本专利技术的目的在于提供一种位置推断装置，能在转子不包括位置传感器用的磁体的情况下提高转子的位置的推断精度。解决技术问题所采用的技术方案
[0006]本专利技术的一个方面是一种位置推断装置，包括：修正部，所述修正部导出定子的干扰磁通量的推断值，并基于所述干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正；以及推断部，所述推断部基于修正后的所述检测值来推断所述转子的位置。专利技术效果
[0007]根据本专利技术，能在马达的转子不包括位置传感器用的磁体的情况下提高转子的位置的推断精度。
附图说明
[0008]图1是表示第一实施方式的马达单元的结构的例子的图。图2是表示第一实施方式的、由各传感器检测出的磁通量的检测值的例子的图。图3是表示第二实施方式和第三实施方式的马达单元的结构的例子的图。图4是表示第四实施方式的马达单元的结构的例子的图。
具体实施方式
[0009]参照附图，对本专利技术的实施方式进行详细说明。
(第一实施方式)图1是表示马达单元1的结构的例子的图。马达单元1是对马达的转子的旋转位置进行推断的系统。马达单元1包括马达2、放大装置3、位置推断装置4、控制装置5、驱动装置6和电流传感器7。
[0010]马达2是电动机，例如是无刷马达、步进马达。马达2既可以是内转子型马达，也可以是外转子型马达。图1所示的马达2作为一例是内转子型马达。马达2包括定子20、转子21和检测装置22。
[0011]定子20在U相、V相和W相的各齿(各切槽)上包括绕组。在图1中，定子20包括：四切槽的U相的绕组、四切槽的V相的绕组、四切槽的W相的绕组共计12切槽的绕组。相位各错开120度的三相电流从驱动装置6输入到定子20的齿的绕组中。定子20通过输入到U相、V相和W相的各齿的绕组的三相电流而在转子21和检测装置22的位置产生磁场。
[0012]转子21由于受到定子20的磁力而绕中心轴旋转。转子21包括一个以上的磁极对(N极和S极)。在图1中，转子21作为一例包括四个磁极对。转子21由于磁极对从定子20受到磁力而旋转。对磁极对分配有极对编号。极对编号对应区域和区段而标注。
[0013]检测装置22是对磁场强度进行检测的装置。检测装置22对转子21附近的三处以上的磁场强度进行检测。检测装置22包括三个以上的磁场传感器。在图1中，检测装置22包括传感器220
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U、传感器220
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V和传感器220
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W。磁场传感器例如是霍尔元件、线性霍尔IC(integrated circuit：集成电路)、磁阻传感器。在本实施方式中，对磁场传感器是霍尔元件的情况进行说明。
[0014]传感器220
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U是对包括转子21的磁体磁通量和定子20的U相的绕组(电磁体)的磁通量(干扰磁通量)的U相的磁场强度进行检测的传感器。传感器220
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U将表示U相的磁场强度的差动信号、即U相差动信号输出给放大装置3。
[0015]传感器220
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V是将转子21的V相的磁体磁通量作为V相的磁场强度进行检测的传感器。有时传感器220
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V将V相的磁体磁通量和干扰磁通量作为V相的磁场强度进行检测。传感器220
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V将表示V相的磁场强度的差动信号、即V相差动信号输出给放大装置3。
[0016]传感器220
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W是将转子21的W相的磁体磁通量作为W相的磁场强度进行检测的传感器。有时传感器220
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W将W相的磁体磁通量和干扰磁通量作为W相的磁场强度进行检测。传感器220
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W将表示W相的磁场强度的差动信号、即W相差动信号输出给放大装置3。
[0017]放大装置3是将差动信号的波形的振幅放大的装置。放大装置3包括差动放大器30
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U、差动放大器30
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V和差动放大器30
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W。差动放大器30
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U通过对U相差动信号执行放大处理来生成模拟的U相信号Hu。差动放大器30
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V通过对V相差动信号执行放大处理来生成模拟的V相信号Hv。差动放大器30
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W通过对W相差动信号执行放大处理来生成模拟的W相信号Hw。
[0018]位置推断装置4是对马达的转子的旋转位置进行推断的信息处理装置。位置推断装置4从放大装置3获取模拟的U相信号Hu、模拟的V相信号Hv和模拟的W相信号Hw。位置推断装置4对U相信号Hu、V相信号Hv和W相信号Hw的各波形的多个特征量进行计算。位置推断装置4基于算出的各波形的多个特征量对马达2的转子21的旋转位置进行推断。位置推断装置4将旋转位置的推断结果(极对编号)输出给控制装置5。
[0019]控制装置5是生成控制信号的信息处理装置。控制装置5基于指示信号生成控制信号。控制信号例如是表示与所指示的旋转方向(CW：clckwise：顺时针、CCW：
counterlockwise：逆时针)对应的寄存器值的信号、表示从驱动装置6输出给定子20的电流的电流值的信号。控制信号也可以是例如供给至马达2的检测装置22的电源的电流信号。控制装置5能通过对供给至检测装置22的电源的电流量进行控制以对各传感器220的电源进行控制。
[0020]驱动装置6是驱动马达的转子的装置。控制信号从控制装置5输入到驱动装置6。驱动装置6将由控制信号表示的电流值的三相电流输入给定子20的各绕组。驱动装置6能通过将三相电流输入给定子20的各绕组以使转子21旋转。详细内容将在后文中进行叙述，但在第一实施方式中，在驱动装置6不将三相电流输入给定子20的各绕组的状态下进行转子21的位置推断。即，在第一实施方式中，位置推断装置4对停止过程中的转子21的旋转位置进行推断。另外，位置推断装置4也可以对旋转过程中的转子21的旋转位置进行推断。
[0021]电流传感器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种位置推断装置，其特征在于，包括：修正部，所述修正部导出定子的干扰磁通量的推断值，并基于所述干扰磁通量的推断值对转子的磁体磁通量的检测值进行修正；以及推断部，所述推断部基于修正后的所述检测值来推断所述转子的位置。2.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，所述修正部基于所述定子的电流响应值来导出所述干扰磁通量的推断值。3.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，所述修正部基于所述定子的电流指令值来导出所述干扰磁通量的推断值。4.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，所述修正部基于所述定子的电压指令值来导出所述干扰磁通量的推断值。5.如权利要求1所述的位置推断装置，其特征在于，还包括存储装置，所述存储装置对表...

【专利技术属性】
技术研发人员：村瀬周平，藤田淳，
申请(专利权)人：日本电产株式会社，
类型：发明
国别省市：