发光显示装置的显示方法制造方法及图纸

技术编号:3021302 阅读:148 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种发光显示装置的显示方法。抑制像素的影像残留以改进显示面板的寿命。在具有显示面板的发光显示装置中,在显示面板中,布置了各自具有至少一个子像素(11a、11b和11c)的多个像素,以可控制的方式组合第一显示方法和第二显示方法,第一显示方法仅用用作发光中心的像素P(i,j)发射光,第二显示方法将用作发光中心的像素P(i,j)的亮度分配到该像素周围的邻近像素。根据图像输入数据的空间变化或时间变化、发光时间、劣化速率、温度、发光亮度和显示时间在高分辨率模式和长寿命模式之间切换,高分辨率模式具有高比率的第一显示方法,长寿命模式具有高比率的第二显示方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种使用有机EL装置的,更具体地讲,涉及一种以像素结构的控制方法为特征的。
技术介绍
在诸如有机EL显示器的平板图像显示装置(平板显示器)中,当在长时间段内显示相同的静止图像时,称为“影像残留(sticking)”的现象发生。这里采用的术语“影像残留”是指显示屏幕的仅一部分劣化(发光亮度降低)而产生视觉上可识别的残留图像(余像)。影像残留易于在静止图像的边缘部分等处发生。 在具有不同发光波长的多个子像素的有机EL显示器中,存在对于每种发光颜色而言劣化特性不同的许多情况。另外,由于显示在显示屏幕上的图像的内容不均匀,所以劣化易于在局部发展。在这种情况下,由于对于每种颜色而言发光亮度的降低不同,所以发生所谓的“颜色偏移”,在“颜色偏移”中,白平衡偏离,从而白色图像显现出彩色。 此外,加速劣化的因素的示例包括固定图案的显示、各个子像素的发光时间的不一致性、发射光的时间段、环境温度和发光亮度的幅度,这些是造成影像残留现象的原因。 为了抑制影像残留现象,优选改进组成材料的发光寿命。然而,很难说仅通过改进材料就可充分地抑制影像残留现象。以下描述公开用于抑制影像残留现象的技术的文档。 首先,公开了这样一种技术,该技术基于累积发光时间控制每种颜色的发光亮度以确保各种颜色的劣化的一致发展,从而使影像残留不明显(第2000-356981号日本专利申请公布)。 其次,公开了这样一种技术,该技术检测由于高亮度发光而引起劣化的像素的亮度,并将其它像素的亮度调整为劣化的像素的亮度,从而使影像残留不明显(第2001-175221号日本专利申请公布)。 然而,根据第2000-356981号日本专利申请公布所公开的技术,仅基于显示时间长度降低整个显示屏幕的亮度,因此,不可能本质上避免“影像残留”现象的发生。而且,由于其它像素的亮度被调整为由于高亮度发光而引起劣化的像素的亮度,所以在第2001-175221号日本专利申请公布中公开的技术具有抑制颜色偏移的效果。然而,对于抑制像素自身劣化的亮度没有效果。此外,需要另外的传感器用于检测亮度,从而导致生产成本增加和分辨率下降。 在有机EL显示器中,当在长时间段内显示相同的静止图像时,显示屏幕的仅一部分劣化,从而引起影像残留现象。此外,在具有不同发光波长的多个子像素的有机EL显示器中,由于对于每种发光颜色而言劣化特性不同,所以在许多情况下引起颜色偏移。
技术实现思路
鉴于上述问题实现本专利技术。因此,本专利技术的一个目的在于提供一种,其可抑制像素的影像残留以改进显示面板的寿命。 为了实现上述目的,本专利技术包括以下特定特征。本专利技术提供一种包括显示面板的,在显示面板中,布置了各自具有至少一个子像素的多个像素。假设用“i”表示垂直方向上的坐标,用“j”表示水平方向上的坐标。然后,执行子像素Spa(i,j)的图像输入数据Da(i,j)的显示,子像素Spa(i,j)构成位于位置(i,j)上的像素P(i,j)并且具有显示颜色“a”。在这种情况下,存在两种显示方法。第一显示方法仅使用子像素Spa(i,j)来执行图像输入数据Da(i,j)的显示。第二显示方法用邻近子像素组Spa(i′,j′)来执行图像输入数据Da(i,j)的显示,邻近子像素组Spa(i′,j′)是各自具有显示颜色“a”并被包括在围绕像素P(i,j)布置的邻近像素组P(i′,j′)中的子像素的组。在根据本专利技术的发光显示装置中,将第一显示方法和第二显示方法组合起来用于显示控制,以可控制的方式使得它们之间的组合比率可变。 在根据本专利技术的中,在具有高比率的第一显示方法的高分辨率模式和具有高比率的第二显示方法的长寿命模式之间切换所述高分辨率模式和长寿命模式,以使得可抑制像素的影像残留,从而提高显示面板的寿命。 从参考附图对示例性实施例的以下描述,本专利技术的进一步的特征将变得清楚。 附图说明 图1是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图2是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图3是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图4是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图5是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图6是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图7A和图7B每个是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图8A和图8B每个是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图9是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图10是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图11是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图12是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图13是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图14是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图15是示出本专利技术的第一实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图16是示出本专利技术的第二实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图17是示出本专利技术的第二实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图18是示出本专利技术的第二实施例中使用的发光显示装置的像素结构的示意图。 图19是在本专利技术的实施例中使用的发光显示装置被应用于实际设备的情况下的亮度劣化曲线图。 图20是在根据本专利技术的实施例的应用于实际设备的情况下的亮度劣化曲线图。 图21是在根据本专利技术的实施例的应用于实际设备的情况下的亮度劣化曲线图。 图22是在根据本专利技术的实施例的应用于实际设备的情况下的亮度劣化曲线图。 图23是示出在根据本专利技术的实施例的应用于实际设备的情况下的像素结构的示意图。 图24是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图25是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图26是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图27是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图28是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图29是示出具体解释根据本专利技术的实施例的的效果的像素结构的示意图。 图30是示出本专利技术的实施例中使用的发光显示装置的结构的框图。 具体实施例方式 以下,参考附图描述根据本专利技术的示例性实施例的。 应用根据本专利技术的示例性实施例的显示方法的每个发光显示装置包括显示面板,在显示面板中,布置了各自具有至少一个子像素的多个像素。假设用“i”表示垂直方向上的坐标,用“j”表示水平方向上的坐标。然后,执行与子像素Spa(i,j)对应的图像输入数据Da(i,j)的显示,子像素Spa(i,j)构成位于位置(i,j)上的像素P(i,j)并具有显示颜色“a”。此时,存在两种显示方法。第一显示方法仅使用子像素Spa(i,j)来显示图像输入数据Da(i,j)。第二显示方法通过使用邻近子像素组Spa(i′,j′)来显示图像输入数据Da(i,j),子像素组Spa(i′,j′)是各本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种包括显示面板的发光显示装置的显示方法,在所述显示面板中布置各自具有至少一个子像素的多个像素,所述显示方法包括: 当用“i”表示垂直方向上的坐标以及用“j”表示水平方向上的坐标时,当执行关于子像素Sp↑[a](i,j)的图像输入数据D↑[a](i,j)的显示时,其中所述子像素Sp↑[a](i,j)构成位置(i,j)上的像素中的像素P(i,j)且具有显示颜色“a”, 仅用子像素Sp↑[a](i,j)来执行图像输入数据Da(i,j)的显示的第一显示方法;和 用邻近子像素组Sp↑[a](i′,j′)来执行图像输入数据D↑[a](i,j)的显示的第二显示方法,邻近子像素组Sp↑[a](i′,j′)是各自具有显示颜色“a”且被包括在围绕像素P(i,j)布置的邻近像素组P(i′,j′)中的子像素的组。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:衣幡隼一福田浩一
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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