光学检测方法技术

一种光学检测方法包含：通过两个光源在不同时间点，分别对待测物的表面投射亮场照明及暗场照明；通过影像撷取单元对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得对应的亮场影像及暗场影像；通过处理单元根据公式W1*P1+W2*P2＝P3，将所述亮场影像及所述暗场影像合成为组合影像，其中，W1及W2分别是亮场权重及暗场权重，P1、P2、及P3分别是所述亮场影像、所述暗场影像、及所述组合影像在相同位置的画素值；通过所述处理单元对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵；进而能够避免将所述表面上的粒子误判为所述表面内的瑕疵。所述表面上的粒子误判为所述表面内的瑕疵。所述表面上的粒子误判为所述表面内的瑕疵。

【技术实现步骤摘要】
光学检测方法


[0001]本专利技术涉及一种检测方法，特别是指一种避免误判表面上粒子的光学检测方法。

技术介绍

[0002]现有的一种自动光学检测(Automated Optical Inspection，AOI)方法应用在一待测物的生产制造过程中，以检测该待测物内是否具有瑕疵，该待测物例如是智慧型手机的保护玻璃。该自动光学检测方法通过一处理单元、一影像撷取单元、及一光源来实施。该处理单元控制该光源投射灯光至该待测物，并控制该影像撷取单元撷取包含该待测物的一影像，进而对该影像作影像辨识，以在判断该待测物内具有瑕疵时，将该待测物判定为不良品。然而，现有的自动光学检测方法对于在该待测物的表面上的粒子，如灰尘，往往会判断为该待测物内的瑕疵，而导致误判的情形发生。也就是说，该待测物的表面上的粒子可以通过后续的清洁步骤而去除，不应该被判定为该待测物内的瑕疵，因此而成为一个待解决的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种避免误判表面上粒子的光学检测方法。
[0004]于是，本专利技术提供一种光学检测方法，适用于待测物、影像撷取单元、两个光源、及处理单元，所述待测物包含呈平面状的表面，其特征在于：所述光学检测方法包含步骤(a)～(d)。
[0005]于步骤(a)，通过所述光源在不同时间点，分别对所述待测物的所述表面投射两种光场照明，所述光场照明分别是亮场照明及暗场照明。
[0006]于步骤(b)，通过所述影像撷取单元分别在所述亮场照明及所述暗场照明的情况下，对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得亮场影像及暗场影像。
[0007]于步骤(c)，通过所述处理单元根据公式W1*P1+W2*P2＝P3，将所述亮场影像及所述暗场影像合成为组合影像，W1及W2分别是亮场权重及暗场权重，所述亮场权重及所述暗场权重都大于0且小于1，P1、P2、及P3分别是所述亮场影像、所述暗场影像、及所述组合影像在相同位置的画素值。
[0008]于步骤(d)，通过所述处理单元对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵。
[0009]在一些实施态样中，所述两个光源分别是对应所述亮场照明的亮场光源，及对应所述暗场照明的暗场光源，其中，在步骤(a)中，所述影像撷取单元的拍摄方向与所述待测物的所述表面的法向量间的夹角为拍摄夹角，所述亮场光源的照射方向与所述待测物的所述表面的所述法向量间的夹角为亮场夹角，所述暗场光源的照射方向与所述待测物的所述表面的所述法向量间的夹角为暗场夹角，所述拍摄夹角大于零，所述暗场夹角大于所述亮场夹角。
[0010]在一些实施态样中，其中，所述拍摄夹角等于10度，所述亮场夹角等于10度，所述
暗场夹角等于45度，且所述影像撷取单元的所述拍摄方向与所述亮场光源的所述照射方向间的夹角等于20度，所述影像撷取单元的所述拍摄方向与所述暗场光源的所述照射方向间的夹角等于55度。
[0011]在另一些实施态样中，其中，在步骤(c)中，所述暗场权重小于所述亮场权重。
[0012]在一些实施态样中，其中，在步骤(c)中，所述暗场权重等于0.2，所述亮场权重等于0.8。
[0013]在另一些实施态样中，其中，在步骤(c)中，所述画素值是画素的灰阶亮度值。
[0014]在另一些实施态样中，其中，所述待测物的所述表面能够反射光线，所述待测物的材质为玻璃、金属、或陶瓷。
[0015]于是，本专利技术提供另一种光学检测方法，适用于检测待测物是否有瑕疵，其特征在于：所述光学检测方法包含包含步骤(a)～(d)。
[0016]于步骤(a)，通过不同光源分别对所述待测物的表面投射两种光场照明，所述光场照明分别是亮场照明及暗场照明。
[0017]于步骤(b)，通过相机分别在所述亮场照明及所述暗场照明的情况下，对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得亮场影像及暗场影像。
[0018]于步骤(c)，将所述亮场影像及所述暗场影像分别取不同权重而合成为组合影像。
[0019]于步骤(d)，对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵。
[0020]于是，本专利技术提供另一种光学检测方法，适用于检测待测物是否有瑕疵，其特征在于：所述光学检测方法包含包含步骤(a)～(d)。
[0021]于步骤(a)，通过光源分别对所述待测物的表面以不同的拍摄夹角投射两种光场照明，所述光场照明分别是亮场照明及暗场照明。
[0022]于步骤(b)，通过相机分别在所述亮场照明及所述暗场照明的情况下，对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得亮场影像及暗场影像。
[0023]于步骤(c)，将所述亮场影像及所述暗场影像分别取不同权重而合成为组合影像。
[0024]于步骤(d)，对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵。
[0025]于是，本专利技术提供另一种光学检测方法，适用于检测待测物是否有瑕疵，其特征在于：所述光学检测方法包含包含步骤(a)～(d)。
[0026]于步骤(a)，通过光源分别对所述待测物的表面投射两种光场照明，所述光场照明分别是亮场照明及暗场照明。
[0027]于步骤(b)，通过相机分别在所述亮场照明及所述暗场照明的情况下，对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得亮场影像及暗场影像。
[0028]于步骤(c)，将所述亮场影像及所述暗场影像分别取不同权重而合成为组合影像，且所述暗场影像取的权重小于所述亮场影像取的权重。
[0029]于步骤(d)，对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵。
[0030]本专利技术的有益的效果在于：通过所述两个光源的亮场照明及暗场照明，以获得对应的所述亮场影像及所述暗场影像，再通过所述处理单元根据所述公式W1*P1+W2*P2＝P3合成所述组合影像，使得所述处理单元对所述组合影像作影像辨识时，不会对所述待测物的所述表面上粒子产生误判，进而解决现有技术的问题。
附图说明
[0031]图1是一个示意图，说明本专利技术光学检测方法所适用的一个检测系统及一个待测物；
[0032]图2是一个流程图，说明本专利技术光学检测方法的一个实施例；
[0033]图3是一个示意图，辅助图1说明该实施例的一个暗场光源的态样；及
[0034]图4是一个示意图，辅助图1说明该实施例的一个亮场光源的态样。
具体实施方式
[0035]下面结合附图及实施例对本专利技术进行详细说明。
[0036]在本专利技术被详细描述的前，应当注意在以下的说明内容中，类似的元件是以相同的编号来表示。
[0037]参阅图1与图2，本专利技术光学检测方法的一个实施例，适用于一个检测系统及一个待测物9。检测系统包含一个影像撷取单元2、一个亮场光源31、一个暗场光源32、一个处理单元1、一个承载平台81、及一个轨道82。待测物9包括呈平面状的一个表面91，表面91能够反射光线，在本实施例中，待测物9例如是智慧型手机的保护玻璃，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测方法，适用于待测物、影像撷取单元、两个光源、及处理单元，所述待测物包含呈平面状的表面，其特征在于：所述光学检测方法包含：(a)通过所述光源在不同时间点，分别对所述待测物的所述表面投射两种光场照明，所述光场照明分别是亮场照明及暗场照明；(b)通过所述影像撷取单元分别在所述亮场照明及所述暗场照明的情况下，对所述待测物的所述表面撷取影像，以分别获得亮场影像及暗场影像；(c)通过所述处理单元根据公式W1*P1+W2*P2＝P3，将所述亮场影像及所述暗场影像合成为组合影像，W1及W2分别是亮场权重及暗场权重，所述亮场权重及所述暗场权重都大于0且小于1，P1、P2、及P3分别是所述亮场影像、所述暗场影像、及所述组合影像在相同位置的画素值；及(d)通过所述处理单元对所述组合影像作影像辨识，以判断所述待测物内是否有瑕疵。2.根据权利要求1所述的光学检测方法，所述两个光源分别是对应所述亮场照明的亮场光源，及对应所述暗场照明的暗场光源，其特征在于：在步骤(a)中，所述影像撷取单元的拍摄方向与所述待测物的所述表面的法向量间的夹角为拍摄夹角，所述亮场光源的照射方向与所述待测物的所述表面的所述法向量间的夹角为亮场夹角，所述暗场光源的照射方向与所述待测物的所述表面的所述法向量间的夹角为暗场夹角，所述拍摄夹角大于零，所述暗场夹角大于所述亮场夹角，所述影像撷取单元的所述拍摄方向与所述亮场光源的所述照射方向间的夹角等于所述拍摄夹角加上所述亮场夹角。3.根据权利要求2所述的光学检测方法，其特征在于：所述拍摄夹角等于10度，所述亮场夹角等于10度，所述暗场夹角等于45度，且所述影像撷取单元的所述拍摄方向与所述亮场光源的所述照射方向间的夹角等于20度，所述影像撷取单元的所述拍摄方向与所述暗场光源的所述照射方向间的夹角等于55度。4.根据权利要求2所述的光学检测方法，其特征在于：在步骤(c)中，所述暗场权重小于所述亮场权重。5.根据权利要求4所述的光学检测方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：林义雄，张根豪，颜鹏洲，
申请(专利权)人：捷普电子新加坡公司，
类型：发明
国别省市：