【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于3
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D IC用途的可激光剥离的结合材料
技术介绍
[0001]相关申请
[0002]本申请要求2019年01月22日提交的题为“用于3
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D IC用途的可激光剥离的结合材料”的美国临时专利申请系列第62/795,092号的优先权,其通过引用全文纳入本文。
专利
[0003]本专利技术涉及在临时晶片结合工艺中使用的、或在再分布层形成期间作为堆积层使用的可激光剥离的组合物。
[0004]相关领域的描述
[0005]临时晶片结合(“TWB”)通常是指通过聚合物结合材料使器件晶片或微电子基材附着到载体晶片或基材上的工艺。在结合后,通常可以将器件晶片打薄至小于50μm和/或对其进行加工,以在其背面创建透硅通孔 (through
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silicon vias,“TSV”)、再分布层、接合焊盘和其他电路特征件。在对背面进行加工期间,载体晶片对脆弱的器件晶片进行支承,而该过程可能需要经受环境温度与高温(>250℃)之间的反复循环、晶片处理和转移步骤所带来的机械冲击、以及强大的机械力(例如在用于将器件晶片打薄的晶片背磨加工过程中施加的机械力)。当这样的加工全部完成后,通常将器件晶片连接到膜框架上,之后使其与载体晶片分离(即脱结合)并在进行进一步操作之前进行清洁。
[0006]大多数TWB工艺在器件基材和载体基材之间使用一层或两层。根据 TWB工艺,器件和载体基材可以通过多种分离方法进行分离,例如化学脱结合、热滑动脱结合、机械脱结合或激 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种临时结合方法,其包括:提供一种堆叠体,其包含:第一基材,其具有后表面和前表面;结合层,其与所述前表面相邻;第二基材,其具有第一表面;和剥离层,其在所述第一表面与所述结合层之间,所述剥离层包含聚酮胺;以及使所述剥离层暴露于激光能量,以促进所述第一基材和第二基材的分离。2.如权利要求1所述的方法,其中,所述聚酮胺是交联的。3.如权利要求1所述的方法,其中,所述聚酮胺是包含胺官能团、酮官能团和芳族部分的单体的聚合物,其中,所述胺官能团和所述酮官能团与所述芳族部分结合。4.如权利要求3所述的方法,其中,所述重复单体为4
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氨基苯乙酮。5.如权利要求1所述的方法,其进一步包括以下内容之一或两者:所述前表面为器件表面,其包含一系列选自下组的器件:集成电路;MEMS;微传感器;功率半导体;发光二极管;光子电路;中介层;嵌入式无源器件;以及制造在硅、硅锗、砷化镓、氮化镓及其组合上或由硅、硅锗、砷化镓、氮化镓以及其组合制造的微器件;或所述第一表面为器件表面,其包含一系列选自下组的器件:集成电路;MEMS;微传感器;功率半导体;发光二极管;光子电路;中介层;嵌入式无源器件;以及制造在硅、硅锗、砷化镓、氮化镓及其组合上或由硅、硅锗、砷化镓、氮化镓以及其组合制造的微器件。6.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一基材或所述第二基材之一或两者包含玻璃或其他透明材料。7.如权利要求1所述的方法,其进一步包括以下内容之一或两者:所述前表面为器件表面,其包含至少一种选自下组的结构:焊接突起;金属杆;金属柱;以及由选自硅、多晶硅、二氧化硅、(氧)氮化硅、金属、低k电介质、聚合物电介质、金属氮化物、金属硅化物、以及上述物质组合的材料所形成的结构;或所述第一表面为器件表面,其包含至少一种选自下组的结构:焊接突起;金属杆;金属柱;以及由选自硅、多晶硅、二氧化硅、(氧)氮化硅、金属、低k电介质、聚合物电介质、金属氮化物、金属硅化物、以及上述物质组合的材料所形成的结构。8.如权利要求1所述的方法,其进一步包括在使所述第一基材和第二基材分离之前,使所述第一基材和第二基材分离之前,对所述堆叠体实施选自下组的处理:后研磨、化学机械抛光、蚀刻、金属化、电介质沉积、图案化、钝化、退火、及其组合。9.如权利要求1所述的方法,其中,所述提供包括使所述第一基材和第二基材结合在一起以形成所述堆叠体。10.一种微电子结构,其包含:第一基材,其具有后表面和前表面;结合层,其与所述前表面相邻;第二基材,其具有第一表面;和剥离层,其在所述第一表面与所述结合层之间,所述剥离层包含聚酮胺。11.如权利要求10所述的结构,其中,所述聚酮胺是交联的。12.如权利要求10所述的结构,其中,所述聚酮胺是包含胺官能团、酮官能团和芳族部
分的单体的聚合物,其中,所述胺官能团和所述酮官能团与所述芳族部分结合。13.如权利要求12所述的结构,其中,所述重复单体为4
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氨基苯乙酮。14.如权利要求10所述的结构堆叠体,其进一步包括以下内容之一或两者:所述前表面为器件表面,其包含一系列选自下组的器件:集成电路;MEMS;微传感器;功率半导体;发光二极管;光子电路;中介层;嵌入式无源器件;以及制造在硅、硅锗、砷化镓、氮化镓、及其组合上或由硅、硅锗、砷化镓、氮化镓、以及其组合制造的微器件;或所述第一表面为器件表面,其包含一系列选自下组...
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