本实用新型专利技术公开了一种绝缘性能检测装置，包括：第一采样负载和第二采样负载，第一采样负载和第二采样负载用于与待检测件串联；第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的放大倍数小于第二运算放大器的放大倍数；第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，第二运算放大器连接至第二采样负载的两端；检测控制单元，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端均与检测控制单元相连接，检测控制单元用于根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果。通过实施该实用新型专利技术，能够实现对连接至该绝缘检测装置中的待检测件的常规绝缘性能以及是否产生过火花的检测，满足检测需求。足检测需求。足检测需求。
【技术实现步骤摘要】
一种绝缘性能检测装置
[0001]本技术涉及电路性能检测
，尤其涉及一种绝缘性能检测装置。
技术介绍
[0002]在现代电子工业中，电路板已经得到了非常广泛的使用，同时随着对电子产品多功能化以及小型化的发展，电路板线宽线距不断缩小，层数不断增加，对电路板的质量检测也提出了更高的要求。为了保证电路板的质量，必须对电路板上的所有线段进行导通测试和绝缘测试，其中的绝缘测试实际上就是测量电路板不导通的线段与线段之间的电阻值，而绝缘电阻是电气设备和电气线路最基本的绝缘指标。在目前的电子工业中，常使用电路板的接触式检测测量绝缘电阻，通过与三极管开关阵列中的测试节点相连的探针和焊盘或者孔充分接触，并在测试所需高压施加在两条原本绝缘的线路上经过一段时间(电路测试条件进入稳态)后，分别测试各节点间的电流与电压的关系，从而求得各节点相应阻值。
[0003]但是，正是由于电路板线宽线距不断缩小，当出现刻蚀不良或者电路污染的情况下，在进行高压绝缘检测时(电路测试条件进入稳态前或者进入稳态后)可能会出现火花现象，此类电路板在使用过程中很可能会由于使用环境变化而发生离子迁移，最终使绝缘线路之间开始电连接，电路板出现故障，而基于火花现象的瞬时发生的特性，仅在电路测试条件进入稳态后进行一次或者多次数据采集一般很难检测到火花现象，无法满足检测需求；或者即使连续采集绝缘检测过程中的电流电压，但是由于产生火花时和未产生火花时的电路板线路之间的电流差距很大，难以通过现有的检测绝缘的器件装置同时检测到是否有火花产生。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题在于解决现有技术中的电路板绝缘检测可能会导致检测线路之间出现火花现象，而现有绝缘检测装置不能检测到火花现象，无法满足检测需求的问题。
[0005]为此，本技术提供了一种绝缘性能检测装置，包括：
[0006]第一采样负载和第二采样负载，第一采样负载和第二采样负载用于与待检测件串联；
[0007]第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的放大倍数小于第二运算放大器的放大倍数；第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，第二运算放大器连接至第二采样负载的两端，第一运算放大器和第二运算放大器用于在第一采样负载和第二采样负载与待检测件串联并连接至检测电源后，分别采集并放大第一采样负载和第二采样负载两端的电压；
[0008]检测控制单元，第一运算放大器和第二运算放大器的输出端均与检测控制单元相连接，检测控制单元用于根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果。
[0009]可选地，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；
[0010]检测控制单元还用于在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。
[0011]可选地，绝缘性能检测装置还包括：
[0012]分压负载和第三采样负载，分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路连接至第一采样负载；第二采样负载在与待检测件串联后形成第二并联支路连接至第一采样负载；
[0013]检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，检测控制单元用于在第一采样负载连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压；
[0014]检测控制单元用于根据第一电压值、第二电压值和检测电源的输出电压得到待检测件的绝缘性能检测结果。
[0015]可选地，绝缘性能检测装置还包括：
[0016]分压负载和第三采样负载，分压负载和第三采样负载串联形成第一并联支路；第一采样负载和第二采样负载用于在与待检测件串联后形成第二并联支路；
[0017]检测控制单元与第三采样负载的高电平端相连接，检测控制单元用于在第一并联支路和第二并联支路连接至检测电源后，监测检测电源的输出电压；
[0018]检测控制单元用于根据第一电压值、第二电压值和检测电源的输出电压得到待检测件的绝缘性能检测结果。
[0019]可选地，检测控制单元用于当检测电源的电压稳定后，第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；
[0020]检测控制单元还用于在串联的第一采样负载、第二采样负载和待检测件连接至检测电源后的预设时间内，存在第一电压值高于预设火花阈值且同时检测电源的输出电压跌落时，得到待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。
[0021]可选地，在预设时间内，检测电源包括电压上升状态和电压稳定状态两种状态。
[0022]可选地，第三采样负载为可调负载。
[0023]可选地，第二运算放大器的放大倍数是第一运算放大器的放大倍数的至少千倍。
[0024]可选地，第二运算放大器与检测控制单元之间设置有信号调理电路。
[0025]本技术提供的绝缘性能检测装置，具有如下优点：
[0026]1、本技术提供的绝缘性能检测装置，通过设置用于与待检测件串联的第二采样负载作为绝缘检测(待检测件的阻抗)的检测客体，同时，基于待检测件(电路板中两条待检测绝缘性能的线路)在常规情形下的阻抗很大(一般为MΩ级别)，在使用常用恒压源(电压值一般在50V～250V的范围内)作为检测电源时，整个负载电路(第一采样负载、第二采样负载和待检测件串联形成的电路)的电流较小(为μA级别)，也即第二采样负载两端的电压较小，因此通过设置与该第二采样负载的两端相连接的第二运算放大器采集并放大第二采样负载两端的电压；通过设置第一采样负载作为火花检测的检测客体，同时，基于产生火花现象的瞬间，整个负载电路的电流突变(一般突变至mA级别，且仅在产生的火花的能量足够大，使整个负载电路的电流达到预设火花电流阈值时，如12.5mA、6mA等，才会导致待检测件
中两条线路之间的绝缘介质被击穿碳化，影响待检测件的绝缘性能)，因此，对应于两种情形下电流的变化，设置放大倍数小于第二运算放大器的第一运算放大器连接至第一采样负载的两端，采集并放大第一采样负载两端的电压；再通过设置与第一运算放大器和第二运算放大器相连接的检测控制单元，根据第一运算放大器输出的第一电压值和第二运算放大器输出的第二电压值得到待检测件的绝缘性能检测结果，实现对连接至该绝缘检测装置的待检测件的常规绝缘性能(阻抗)以及是否产生过影响待检测件绝缘性能的火花的检测，能够满足检测需求，防止仅通过绝缘阻抗检测被确定为绝缘的待检测件，由于在检测过程中产生过火花现象且被击穿，在客户使用过程中由于使用环境变化而发生离子迁移，最终使绝缘线路之间开始电连接，电路板出现故障。
[0027]2、本技术提供的绝缘性能检测装置，由于在绝缘性能检测装置连接至检测电源后的整个过程中，除了待检测件产生火花使第一运算放大器采集到的第一电压值突然增大以外，在刚连接至检测电源时还会由于分布电容充电而导致整个电路的电流突然增大(也即本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种绝缘性能检测装置，其特征在于，包括：第一采样负载和第二采样负载，所述第一采样负载和所述第二采样负载用于与待检测件串联；第一运算放大器和第二运算放大器，所述第一运算放大器的放大倍数小于所述第二运算放大器的放大倍数；所述第一运算放大器连接至所述第一采样负载的两端，所述第二运算放大器连接至所述第二采样负载的两端，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器用于在所述第一采样负载和所述第二采样负载与所述待检测件串联并连接至检测电源后，分别采集并放大所述第一采样负载和所述第二采样负载两端的电压；检测控制单元，所述第一运算放大器和所述第二运算放大器的输出端均与所述检测控制单元相连接，所述检测控制单元用于根据所述第一运算放大器输出的第一电压值和所述第二运算放大器输出的第二电压值得到所述待检测件的绝缘性能检测结果。2.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，所述检测控制单元用于当所述检测电源的电压稳定后，所述第二电压值大于预设绝缘阈值时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果；所述检测控制单元还用于在串联的所述第一采样负载、所述第二采样负载和所述待检测件连接至所述检测电源后的预设时间内，存在所述第一电压值高于预设火花阈值时，得到所述待检测件的绝缘性能不合格的检测结果。3.根据权利要求1所述的绝缘性能检测装置，其特征在于，还包括：分压负载和第三采样负载，所述分压负载和所述第三采样负载串联形成第一并联支路连接至所述第一采样负载；所述第二采样负载在与所述待检测件串联后形成第二并联支路连接至所述第一采样负载；所述检测控制单元与所述第三采样负载的高电平端相连接，所述检测控制单元用于在所述第一采样负载连接至所述检测电源后，监测所述检测电源的输出电压；所述检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄韬，蔡友良，
申请(专利权)人：南京泊纳莱电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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