一种用于光束视角的测量设备制造技术

本申请涉及一种用于光束视角的测量设备，包括成像组件和镜头，成像组件具有一感光面，镜头具有一用于安置余弦辐射体的安置点，镜头用于将余弦辐射体发出的光束调制成平行光，并投射在成像组件的感光面上；成像组件用于对投射在感光面上的光束进行成像，并获得各光束在图像中对应的像素点的光谱信息。本申请通过一个成像组件接收投射的光束，形成面覆盖，而非离散的多个点，因此，从空间上能够对余弦辐射体在不同视角下的光强度分布进行连续测量；由于通过成像组件接收投射的光束，无需移动成像组件，当余弦辐射体发光时，不同视角下的光束会时投射到成像组件，因此，从时间上能够对余弦辐射体在不同视角下的光强度分布进行连续测量。测量。测量。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光束视角的测量设备


[0001]本申请涉及光束检测
，特别涉及一种用于光束视角的测量设备。

技术介绍

[0002]随着技术发展，发光源的特性评估对产品的特性越来越重要。常见的发光源，包括LED（发光二极管）、microLED、miniLED和LD等不同类型。 其组成的产品包括消费电子产品（如手机屏幕，电视显示器等），也包括激光雷达。
[0003]对于这种发光体，其发光特性的评估对于其产品的质量评价显得很重要。例如，屏幕发光的视角特性是影响其使用性能的一个重要评估项。一般而言，LED（或LD和microLED等）被认为是余弦辐射体。余弦辐射体是发光强度的空间分布符合余弦定律的发光体(不论是自发光还是反射光)，其在不同角度的辐射强度会依余弦公式变化，角度越大强度越弱。但是由于LED制程及工艺技术的原因，不能表现为理想的余弦辐射特性。其具体发光强度随视角的特性，需要进行严格的测量分析。
[0004]同样的，对于激光雷达，其一般使用激光发射，激光的视角特性，对于其测量距离、测量范围、性能品质也有很显著的影响。激光光束的发散角越大，其能量衰减越快。但是其照射的范围越大。在汽车、无人设备里面，雷达本身的测量特性，也很大程度上受激光光束本身的特性所影响。
[0005]因此，测量评估分析发光体（光束，显示灯珠等）的视角特性，对于评价相关应用设备是很重要的。
[0006]在一些相关技术方案中，如图1所示，发光体2`的光从各个角度发出，利用不同角度的光电探测器1`，对准发光体2`，且距离保证一样。不同光电探测器1`测量得到的不同视角下的光强度值，利用计算机处理，就可以分析得到发光体2`随视角分布下的光强度特性。该方案存在的弊端是：每一个光电探测器1`相当于一个测量点，只能进行离散测量，在相邻两个光电探测器1`之间的光线不能被探测到，因此，无法在空间上进行连续测量，同时，由于光电探测器1`较多，测量麻烦且成本高。
[0007]在另一些相关技术中，利用一种弧形导轨结构，弧形导轨圆心为被测发光体。利用一个光电探测器，在弧形导轨上移动，不同时刻测量不同角度下强度特性。该方案存在的弊端是：因为要移动光电探测器，移动到不同位置，测量不同时刻、不同角度下强度特性，而目前导轨和相应的移动设备的精度无法满足相邻两个位置之间是绝对的无级调节，因此，该方案在时间上和空间上都无法进行连续测量，同时测量时间长。

技术实现思路

[0008]本申请实施例提供一种用于光束视角的测量设备，以解决相关技术中无法进行连续测量的问题。
[0009]本申请实施例提供了一种用于光束视角的测量设备，其包括：
[0010]成像组件，所述成像组件具有一感光面；
[0011]镜头，所述镜头具有一用于安置余弦辐射体的安置点，所述镜头用于将余弦辐射体发出的光束调制成平行光，并投射在所述成像组件的感光面上；以及，
[0012]所述成像组件用于对投射在所述感光面上的光束进行成像，并获得各光束在图像中对应的像素点的光谱信息。
[0013]一些实施例中，所述镜头采用F
‑
theta镜头。
[0014]一些实施例中，所述镜头采用凹面镜或凸透镜。
[0015]一些实施例中，所述平行光大致垂直地投射在所述感光面上。
[0016]一些实施例中，所述安置点为所述镜头的焦点。
[0017]一些实施例中，所述成像组件包括图像传感器和图像处理系统，所述感光面位于所述图像传感器上，所述图像处理系统与所述图像传感器相连接，并用于对所述图像传感器所生成的图像中的各个像素点进行处理，以获得光谱信息。
[0018]一些实施例中，所述图像传感器采用CCD图像传感器或CMOS图像传感器。
[0019]一些实施例中，所述余弦辐射体采用LED、microLED、miniLED和LD中的一种或多种。
[0020]一些实施例中，所述光谱信息包括各个像素点的像素值，以及各个像素点的位置。
[0021]一些实施例中，所述镜头采用F
‑
theta镜头，所述安置点为所述镜头的焦点，所述像素点的位置记为像素点的高度，所述像素点的高度等于F
‑
theta镜头的焦距与该像素点对应的光束的入射角的乘积。
[0022]本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：
[0023]本申请实施例提供了一种用于光束视角的测量设备，在本实施例中，余弦辐射体发出的光束呈发散状，通过镜头后，镜头将发散的光束调制成平行光之后，投射在感光面上以进行成像，本申请通过一个成像组件接收投射的光束，形成面覆盖，而非离散的多个点，因此，从空间上能够对余弦辐射体在不同视角下的光强度分布进行连续测量；同时，由于通过成像组件接收投射的光束，无需移动成像组件，当余弦辐射体发光时，不同视角下的光束会同时投射到成像组件，因此，从时间上能够对余弦辐射体在不同视角下的光强度分布进行连续测量。
[0024]相对于采用多个探测器或者采用导轨移动的方式，本申请提供的测量设备结构简单，操作方便，测量耗时短。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为相关技术中的测量设备；
[0027]图2为本申请实施例提供的用于光束视角的测量设备（镜头采用F
‑
theta镜头）；
[0028]图3为本申请实施例提供的用于光束视角的测量设备（镜头采用凹面镜）；
[0029]图4为本申请实施例提供的用于光束视角的测量设备（镜头采用凸透镜）。
[0030]图中：1`、光电探测器；2`、发光体；1、成像组件；2、镜头；3、余弦辐射体。
具体实施方式
[0031]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]本申请实施例提供了一种用于光束视角的测量设备，其能解决相关技术中无法进行连续测量的问题。
[0033]参见图2所示，本申请实施例提供的一种用于光束视角的测量设备，该测量设备包括成像组件1和镜头2，成像组件1具有一感光面，镜头2具有一用于安置余弦辐射体3的安置点，余弦辐射体3可以采用LED、microLED、miniLED和LD中的一种或多种，镜头2用于将余弦辐射体3发出的光束调制成平行光，并投射在成像组件1的感光面上，成像组件1用于对投射在感光面上的光束进行成像，并获得各光束在图像中对应的像素点的光谱信息，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光束视角的测量设备，其特征在于，其包括：成像组件（1），所述成像组件（1）具有一感光面；镜头（2），所述镜头（2）具有一用于安置余弦辐射体（3）的安置点，所述镜头（2）用于将余弦辐射体（3）发出的光束调制成平行光，并投射在所述成像组件（1）的感光面上；以及，所述成像组件（1）用于对投射在所述感光面上的光束进行成像，并获得各光束在图像中对应的像素点的光谱信息。2.如权利要求1所述的用于光束视角的测量设备，其特征在于：所述镜头（2）采用F
‑
theta镜头。3.如权利要求1所述的用于光束视角的测量设备，其特征在于：所述镜头（2）采用凹面镜或凸透镜。4.如权利要求1所述的用于光束视角的测量设备，其特征在于：所述平行光大致垂直地投射在所述感光面上。5.如权利要求1所述的用于光束视角的测量设备，其特征在于：所述安置点为所述镜头（2）的焦点。6.如权利要求1所述的用于光束视角的测量设备，其特征在于：所述成像组件（1）包括图...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪志坤，杨坤涛，欧昌东，郑增强，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：