本发明专利技术属于电压互感器检测技术领域，提供了一种电压互感器局部放电故障诊断方法、装置及电子设备，包括以下步骤：S1：采集各种缺陷模型在耐压试验下的局放数据一，并根据局放数据一获取各缺陷模型的特征数据；S2：根据特征数据和缺陷模型的缺陷类型对应建立特征识别模型；S3：采集待检电压互感器在耐压试验下的局放数据二；S4：根据局放数据二与特征识别模型，获取待检电压互感器的缺陷类型。该诊断方法可以方便快速的确定待检电压互感器的缺陷类型，方便生产厂家就可以针对性地对缺陷产品进行维修，从而节约成本。从而节约成本。从而节约成本。
【技术实现步骤摘要】
一种电压互感器局部放电故障诊断方法、装置及电子设备
[0001]本专利技术涉及电压互感器检测
，具体涉及一种电压互感器局部放电故障诊断方法、装置及电子设备。
技术介绍
[0002]电器设备局部放电(Partial Dischargs,PD)是指当电器设备存在绝缘缺陷时，若对电器设备施加电压，电器设备绝缘缺陷处产生重复击穿和熄灭的现象。在电器设备运行过程中，当局放量不大时并不会立即导致击穿，但长时间工作将使得绝缘缺陷更加劣化，最终造成击穿。由于电器设备的局放与绝缘情况有很大关系，所以定期对电器设备特别是高压电器设备进行局放检测、分析可以大幅度降低电器设备的事故发生概率。
[0003]目前，在电压互感器的出厂检测中，局部放电是一个必须检测的项目，局部放电水平可以有效反映一个被试品的绝缘缺陷情况。目前生产厂家在出厂试验时如果发现局放结果异常时，一般都需要对被试品进行剖解处理，操作繁琐且会造成很大的成本浪费。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种电压互感器局部放电故障诊断方法、装置及电子设备，对局放检测仪测试到的局放信号进行分析，诊断出绝缘缺陷的类型，从而针对性地对缺陷产品进行维修，方便维修操作且节约成本。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种电压互感器局部放电故障诊断方法，包括以下步骤：
[0006]S1：采集各种缺陷模型在耐压试验下的局放数据一，并根据所述局放数据一获取各所述缺陷模型的特征数据；
[0007]S2：根据所述特征数据和所述缺陷模型的缺陷类型对应建立特征识别模型；
[0008]S3：采集待检电压互感器在所述耐压试验下的局放数据二；
[0009]S4：根据所述局放数据二与所述特征识别模型，获取所述待检电压互感器的缺陷类型。
[0010]上述实施例有益效果在于：该诊断方法可以方便快速的确定待检电压互感器的缺陷类型，方便生产厂家就可以针对性地对缺陷产品进行维修，从而节约成本。
[0011]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述缺陷模型包括：尖端放电模型、绝缘缺陷放电模型、气隙放电模型、微粒放电模型。缺陷模型由人工制作包含常见缺陷类型，缺陷模型也可由确定类型的缺陷电压互感器替代，通过确定的缺陷模型采集对应缺陷类型的特征数据。
[0012]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述步骤S1，具体包括以下步骤：
[0013]S1.1:将所述缺陷模型和标准电压互感器并联后接入所述耐压试验的试验电路；
[0014]S1.2:获取所述缺陷模型的起始放电电压Ua和击穿电压Ub，设定实验电压为Um，其中Ua<Um<Ub；
[0015]S1.3:保持实验电压稳定，采集所述局放数据一，并对所述局放数据一进行归一化处理获取所述特征数据，所述特征数据包括经归一化处理后的所述局放数据一和当前所述实验电压Um；
[0016]S1.4:存储所述特征数据，同时对所述特征数据添加对应标签，所述标签为当前所述缺陷模型的缺陷类型；
[0017]S1.5:调节所述实验电压Um并重复所述步骤S1.3
‑
S1.4；
[0018]S1.6:更换所述缺陷模型并重复所述步骤S1.1
‑
S1.5。
[0019]通过上述方式采集确定的缺陷模型对应的特征数据，从而形成样本库，为后续建立特征识别模型提供支持。
[0020]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述步骤S2具体包括以下步骤：
[0021]S2.1:将所有存储的所述特征数据分为两份，一份为学习数据，一份为评估数据；
[0022]S2.2:采用随机梯度下降算法对所述学习数据进行拟合形成所述特征识别模型；
[0023]S2.3:通过所述评估数据判断所述特征识别模型的正确率，若正确率达标则完成所述特征识别模型的建立。
[0024]将学习数据通过神经网络形成特征数据对应其标签的特征识别模型，再将评估数据内的特征数据代入特征识别模型，输出的缺陷类型与实际标签进行比对，若正确率超过设定值则认为特征识别模型正确，拖正确率低于设定值则调整参数重新进行特征识别模型的建立。
[0025]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述步骤S2.1中：所述学习数据和所述评估数据的数量比为8:2。
[0026]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述步骤S3具体为：
[0027]S3.1:将所述待检电压互感器接入所述耐压试验的试验电路；
[0028]S3.2:获取所述待检电压互感器的起始放电电压Ua和击穿电压Ub，设定实验电压为Um，其中Ua<Um<Ub；
[0029]S3.3:调节实验电压Um至局放值大于设定值时，保持实验电压稳定，采集所述局放数据二。
[0030]根据本专利技术实施例的一种具体实现方式，所述步骤S4具体为：
[0031]获取经归一化处理后的所述局放数据二和当前所述实验电压Um，并代入所述特征识别模型，获取所述待检电压互感器的缺陷类型。
[0032]第二方面，本专利技术实施例提供了一种电压互感器局部放电故障诊断装置，包括：
[0033]采集模块一，所述采集模块一用以采集各种缺陷模型在耐压试验下的局放数据一，并根据所述局放数据一获取各所述缺陷模型的特征数据；
[0034]建立模块，所述建立模块用以根据所述特征数据和所述缺陷模型的缺陷类型对应建立特征识别模型；
[0035]采集模块二，所述采集模块一用以采集待检电压互感器在所述耐压试验下的局放数据二；
[0036]获取模块，所述获取模块用以根据所述局放数据二与所述特征识别模型，获取所述待检电压互感器的缺陷类型。
[0037]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括：
[0038]至少一个处理器；以及，
[0039]与该至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0040]该存储器存储有可被该至少一个处理器执行的指令，该指令被该至少一个处理器执行，以使该至少一个处理器能够执行前述任第一方面或第一方面的任一实现方式中的诊断方法。
[0041]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，该非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，该计算机指令用于使该计算机执行前述第一方面或第一方面的任一实现方式中的诊断方法。
[0042]本专利技术实施例提供的一种电压互感器局部放电故障诊断方法、装置及电子设备、非暂态计算机可读存储介质，为用户提供一种无需剖解即可确定待检电压互感器的故障类型的方式，该诊断方法可以方便快速的确定待检电压互感器的缺陷类型，方便生产厂家就可以针对性地对缺陷产品进行维修，从而节约成本。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电压互感器局部放电故障诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：采集各种缺陷模型在耐压试验下的局放数据一，并根据所述局放数据一获取各所述缺陷模型的特征数据；S2：根据所述特征数据和所述缺陷模型的缺陷类型对应建立特征识别模型；S3：采集待检电压互感器在所述耐压试验下的局放数据二；S4：根据所述局放数据二与所述特征识别模型，获取所述待检电压互感器的缺陷类型。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷模型包括：尖端放电模型、绝缘缺陷放电模型、气隙放电模型、微粒放电模型。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤S1，具体包括以下步骤：S1.1:将所述缺陷模型和标准电压互感器并联后接入所述耐压试验的试验电路；S1.2:获取所述缺陷模型的起始放电电压Ua和击穿电压Ub，设定实验电压为Um，其中Ua<Um<Ub；S1.3:保持实验电压稳定，采集所述局放数据一，并对所述局放数据一进行归一化处理获取所述特征数据，所述特征数据包括经归一化处理后的所述局放数据一和当前所述实验电压Um；S1.4:存储所述特征数据，同时对所述特征数据添加对应标签，所述标签为当前所述缺陷模型的缺陷类型；S1.5:调节所述实验电压Um并重复所述步骤S1.3
‑
S1.4；S1.6:更换所述缺陷模型并重复所述步骤S1.1
‑
S1.5。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括以下步骤：S2.1:将所有存储的所述特征数据分为两份，一份为学习数据，一份为评估数据；S2.2:采用随机梯度下降算法对所述学习数据进行拟合形成所述特征识别模型；S2.3:通过所述评估数据判断所述特征识别模型的正确率，若正确率达标则完成所述特征识别模型的建立。5.根据权利要求4所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：高海春，陈忠伟，祁雪，
申请(专利权)人：江苏新亚高电压测试设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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