能够提供精准参考电压的芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统，其包括测试板和测试机，测试板包括分压电路，测试机与分压电路连接以为分压电路提供输入电压，分压电路包括多个串联的电阻，以及设置在相邻两电阻之间的第一分压节点和第二分压节点，第一分压节点和第二分压节点分别连接至被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚以为被测芯片提供电压参考值，被测芯片根据电压参考值产生输出电压，测试机将被测芯片产生的输出电压与设定电压值进行比较。采用本实用新型专利技术能够提供精准参考电压的芯片测试系统，能够保持较高的测试准确性，有效地提高良品率和产能。地提高良品率和产能。地提高良品率和产能。

【技术实现步骤摘要】
能够提供精准参考电压的芯片测试系统


[0001]本技术涉及一种芯片测试
，尤其涉及一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统。

技术介绍

[0002]在芯片的测试过程中，需要为芯片提供一个精准的参考电压，现有的技术为测试机使用两个DPS源来为芯片提供一个正电压和一个负电压，以得到参考电压，但是其中一个DPS源产生了误差浮动，就会导致参考电压不精准，从而影响芯片输出电压的准确性，进一步会导致良品率的下降而影响到产能，所以急需一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统来解决上述问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统，能够保持较高的测试准确性，有效地提高良品率和产能。
[0004]为了实现上述目的，本技术公开了一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统，其包括：
[0005]测试板，所述测试板包括分压电路，所述分压电路包括多个串联的电阻，以及设置在相邻两所述电阻之间的第一分压节点和第二分压节点，所述第一分压节点和所述第二分压节点分别连接至被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚以为被测芯片提供电压参考值，所述被测芯片根据电压参考值产生输出电压；
[0006]测试机，所述测试机与所述分压电路连接以为所述分压电路提供输入电压，所述测试机将所述被测芯片产生的输出电压与设定电压值进行比较。
[0007]与现有技术相比，本技术利用串联的电阻之间的第一分压节点和第二分压节点分别为被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚提供电压参考值，被测芯片根据电压参考值产生输出电压。串联的电阻使得即便是测试机提供的电压存在偏差，提供至被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚的电压也能够同步发生浮动，进而仍然能够为被测芯片提供符合要求的精准电压。相应的，测试机通过将被测芯片产生的输出电压与设定电压值进行比较，可以对被测芯片的输出电压是否符合要求进行准确的测试。本技术能够保持较高的测试准确性，有效地提高良品率和产能。
[0008]较佳地，串联的所述电阻的数量为三个，分别为第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一分压节点设置在所述第一电阻和所述第二电阻之间，所述第二分压节点设置在所述第二电阻和所述第三电阻之间，所述第一电阻与所述测试机连接，所述第三电阻接地。
[0009]较佳地，所述分压电路还包括多个串联的电容，多个串联的所述电容的两端接地，所述电容用于滤除所述分压电路中的杂波；多个串联的所述电容之间形成的两个节点分别与所述第一分压节点和所述第二分压节点连接。
[0010]较佳地，还包括芯片传送机，所述芯片传送机用于携带所述被测芯片并使所述被
测芯片与所述测试板连接。
[0011]较佳地，所述芯片传送机与所述测试机进行TTL通信。
附图说明
[0012]图1为本技术实施例中被测芯片的结构示意图。
[0013]图2为本技术实施例测试机、分压电路以及被测芯片的示意框图。
[0014]图3为本技术实施例中能够提供精准参考电压的芯片测试系统的示意框图。
具体实施方式
[0015]为详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
[0016]请参阅图1，其显示了利用本技术芯片测试系统进行测试的一种特定芯片，其包括有第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1，在第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1接收到相应的电压信号时，芯片会根据第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1的具有电压差的电压信号产生一个输入电压。当然，图1显示的仅是利用本技术芯片测试系统进行测试的一个示例性的芯片，本技术芯片测试系统还可以适用于其他类型芯片的测试。
[0017]参考图2，本技术公开了一种芯片测试系统，其能够为如图1所示的被测芯片4提供精准的参考电压。该芯片测试系统包括测试板1和测试机2，测试板1包括分压电路10，测试机2与分压电路10连接以为分压电路10提供输入电压，分压电路10包括多个用于分压的串联的电阻R，以及设置在相邻两电阻R之间的第一分压节点11和第二分压节点12。
[0018]本技术利用串联的电阻R之间的第一分压节点11和第二分压节点12分别为被测芯片4的第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1提供电压参考值，被测芯片4根据电压参考值产生输出电压。即便是测试机2提供的电压存在偏差，提供至被测芯片4的第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1的电压会同步发生浮动，进而仍然能够为被测芯片4提供符合要求的精准电压，相应的，测试机2通过将被测芯片4的输出电压与设定电压值进行比较，可以对被测芯片4的输出电压是否符合要求进行准确的测试。本技术能够保持较高的测试准确性，有效地提高良品率和产能。
[0019]参考图2，分压电路10中串联的电阻R的数量为三个，分别为第一电阻R1、第二电阻R2和第三电阻R3，第一分压节点11设置在第一电阻R1和第二电阻R2之间，第二分压节点12设置在第二电阻R2和第三电阻R3之间，第一电阻R1与测试机2连接，第三电阻R3接地。具体地，在本实施例中，第一电阻R1、第二电阻R2以及第三电阻R3的阻值依次为10K、5.1K和10K。测试机2与分压电路10连接的端口为第一端口21，测试机2通过第一端口21向分压电路10输入5V的电压，串联电路中电流相同，经过第一电阻R1和第二电阻R2分压，使得第一分压节点11的电压参考值为3V，而通过第三电阻R3分压，使得第二分压节点12的电压参考值为2V。被测芯片4第一输入引脚AIN0接收到的电压参考值为3V；被测芯片4的第二输入引脚AIN1接收到的电压参考值为2V。通过计算第一输入引脚AIN0和第二输入引脚AIN1的压差，能够得到精准的1V参考电压，被测芯片4根据1V参考电压产生输出电压。
[0020]参考图2，分压电路10中还包括多个串联的电容C，串联的电容C的两端接地，电容C用于滤除分压电路10中的杂波，多个串联的电容C之间形成的两个节点分别与第一分压节
点11和第二分压节点12连接。具体地，在本实施例中，串联的电容C的数量为三个，分别为第一电容C1、第二电容C2以及第三电容C3，而第一电容C1、第二电容C2以及第三电容C3的容量依次为47pF、0.1uF、47pF。第一电容C1和第二电容C2之间所形成的第一节点13与第一分压节点11连接；而第二电容C2和第三电容C3之间所形成的第二节点14则与第二分压节点12连接。第一电容C1和第三电容C3均接地。利用电容C滤除分压电路10中的杂波，能够提升第一分压节点11和第二分压节点12所提供的电压参考值的精度。
[0021]参考图2，在本实施例中，被测芯片4还包括引脚VS和VDD，该两引脚分别与第四电容C4和第五电容C5相连接，第四电容C4和第五电容C5均接地，第四电容C4和第五电容C5用于滤除引脚VS和VDD的杂波，具体地，第四电容C4和第五电容C5的容量分别为1uF和0.1uF。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种能够提供精准参考电压的芯片测试系统，其特征在于，包括：测试板，所述测试板包括分压电路，所述分压电路包括多个串联的电阻，以及设置在相邻两所述电阻之间的第一分压节点和第二分压节点，所述第一分压节点和所述第二分压节点分别连接至被测芯片的第一输入引脚和第二输入引脚以为被测芯片提供电压参考值，所述被测芯片根据电压参考值产生输出电压；测试机，所述测试机与所述分压电路连接以为所述分压电路提供输入电压，所述测试机将所述被测芯片产生的输出电压与设定电压值进行比较。2.根据权利要求1所述的能够提供精准参考电压的芯片测试系统，其特征在于：串联的所述电阻的数量为三个，分别为第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一分压节点设置在所述第一电阻和所述第二电阻之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢克展，陈勇，周彬，辜诗涛，袁俊，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：