微型探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微型探针，包括针片、针杆、设于所述针片底部的针底部、设于所述针片上位于所述针底部和针杆之间的位置处的弹性部以及设于所述针杆的顶部的针头部，所述弹性部包括沿所述针片的高度方向设置的多层弹性层，每相邻两弹性层之间具有一第一平衡部，每一弹性层均包括沿所述针片的宽度方向间隔设置的若干弹性片。上述微型探针通过多层的弹性层组合，可以解决过载电流与使用寿命兼顾的问题。每一层的多根弧形弹性片并在一起，可以增大过载电流，提高响应频率；根据压缩量的要求，进行分层设计，确保每层弧形线的压缩量在合理的范围，提高使用寿命。提高使用寿命。提高使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
微型探针


[0001]本技术涉及一种微型探针。

技术介绍

[0002]在聚合物电池等等电子部件模块制造工序中，往往需要对相应的电子部件(例如3C电池或其他需测试的电子部件)进行导通检测等过程，这通常需要采用测试设备通过测试导通装置与电子部件的接触电极对应连接，由测试设备读取相关的数据。
[0003]测试导通装置通常采用弹片式微型探针组件作为导通介质，而弹片式微型探针包括一体成型的针底部、针中部、针头部以及弹性部，针底部与测试设备电连接，针头部与被测试的电子部件电连接，所述弹性部位于所述针中部位置处。在对被测试的电子部件进行导通测试时，被测试的电子部件轻压于所述弹片式微型探针的针头部上，所述弹片式微型探针的弹性部由若干弧形状的弹性片组成，弧形状的弹性片宽度小于探针的厚度，所述弧形状的弹性片使得所述针头部向上伸以紧密与所述被测试的电子部件接触，保证接触稳定性。然而，现有的弹片式微型探针的弧形弹性片均位于同一层，在经过数次压缩后易发生形变，从而导致回弹性较差，机械寿命大大地衰减。若提高微型探针的机械寿命，则需要将弧形弹性片加粗加厚加宽，但是在实现应用场景中，由于被测试的电子部件的接触面积非常小，大多宽度在1.0
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1.5mm，过载电流要求8～20安培，导致提供给微型探针的空间非常小，若将每一弧形弹性片加粗加厚加宽，则无法容纳足够数量的弧形弹性片，进而导致过载电流无法满足需求，同时对测试信号的频率响应低。

技术实现思路

[0004]针对上述现有技术的不足，本技术所要解决的技术问题是：提供了一种微型探针，解决现有技术中机械寿命短、过载电流能力和使用寿命不能同时满足的技术问题。
[0005]为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种微型探针，包括针片、针杆、设于所述针片底部的针底部、设于所述针片上位于所述针底部和针杆之间的位置处的弹性部以及设于所述针杆的顶部的针头部，所述弹性部包括沿所述针片的高度方向设置的多层弹性层，每相邻两弹性层之间具有一第一平衡部，每一弹性层均包括沿所述针片的宽度方向间隔设置的若干弹性片。
[0006]进一步的，在所述针底部设置有波浪型或者锯齿形状的第一接触部，所述第一接触部与测试设备电连接。
[0007]进一步的，所述针头部具有一向下凹陷的弧形槽，所述弧形槽的两侧分别形成竖向的第二接触部，所述第二接触部与被测试的电子设备电连接。
[0008]进一步的，所述多层弹性层将所述针片分为具有所述针底部及针片顶部的镂空状，所述针片顶部形成一第二平衡部。
[0009]进一步的，所述多层弹性层中，靠近所述第二平衡部的顶层弹性层的若干弹性片的上端与所述第二平衡部的下端连接，所述若干弹性片的上端相互间隔，所述顶层弹性层
的若干弹性片的下端与对应的第一平衡部的上端连接，且所述若干弹性片的下端相互间隔，从而使得所述若干弹性片相互间隔。
[0010]进一步的，所述多层弹性层中，靠近所述针底部的底层弹性层的若干弹性片的上端与对应的第一平衡部的下端连接，且所述若干弹性片的上端相互间隔，所述底层的若干弹性片的下端与所述针底部的上端连接，且所述若干弹性片的下端相互间隔，从而使得所述若干弹性片相互间隔。
[0011]进一步的，所述多层弹性层中，位于两第一平衡部之间的中间弹性层的若干弹性片的上端与上一第一平衡部的下端连接，且所述若干弹性片的上端相互间隔，所述中间弹性层的若干弹性片的下端与下一第一平衡部的上端连接，且所述若干弹性片的下端相互间隔，从而使得所述若干弹性片相互间隔。
[0012]进一步的，每一弹性片均为弧形弹性片，每一弧形弹性片的弧形、弧度均一致。
[0013]进一步的，所述镂空状的针片上位于所述针杆的正下方位置处具有竖直向下的竖片，所述竖向位于所述第二平衡部之下，在所述竖片上朝向所述第二平衡部的方向延伸有一横片，所述横片的延伸端面为呈向上且向远离所述针杆的方向倾斜的倾斜端面；所述多层弹性层中，靠近所述第二平衡部的顶层弹性层的若干弹性片由所述针杆方向向远离所述针杆的方向间隔设置于所述第二平衡部与对应的第一平衡部之间，所述若干弹性片的上端由下至上依次连接于所述横片的倾斜端面上。
[0014]进一步的，所述第一平衡部为呈横向片状的第一平衡杆，所述第一平衡杆位于所述第二平衡部的正下方，所述第一平衡杆远离所述针杆的一端呈三角端，位于所述第一平衡杆之上的对应层弹性层的若干弹性片的下端由所述针杆方向向远离所述针杆的方向依次间隔地设置于所述三角端的上倾斜端面上，位于所述第一平衡杆之下的对应层弹性层的若干弹性片的上端由所述针杆方向向远离所述针杆的方向依次间隔地设置在所述三角端的下倾斜端面上。
[0015]本技术的微型探针，通过多层的弹性层组合，可以解决过载电流与使用寿命兼顾的问题。每一层的多根弧形弹性片并在一起，可以增大过载电流，提高响应频率；根据压缩量的要求，进行分层设计，确保每层弧形线的压缩量在合理的范围，提高使用寿命。
附图说明
[0016]图1本技术微型探针第一实施例的结构示意图。
[0017]图2是本技术微型探针第二实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参见图1，图1是本技术微型探针第一实施例的结构示意图。本实施例的微型探针，包括针片1、针杆2、设于所述针片1底部的针底部3、设于所述针片1上位于所述针底部3和针杆2之间的位置处的弹性部以及设于所述针杆2的顶部的针头部4，所述弹性部包括
沿所述针片1的高度方向设置的多层弹性层5，每相邻两弹性层5之间具有一第一平衡部61，每一弹性层5均包括沿所述针片1的宽度方向间隔设置的若干弹性片51。所述针底部3、针片1、弹性部、针杆2、针头部4一体成型为片状结构，所述针片1的宽度大于所述针杆2的宽度，这样使得每一层弹性层5可以设计更多的弹性片51，增加过载电流。所述针杆2的宽度主要根据被测试的电子设备的电接触部的形状而确定，在允许条件下，针杆2的宽度及厚度越宽，过载电流越大。本实施例中，所述弹性片51呈弧形(即弧形弹性片51)，所述弧形弹性片51向远离所述针杆2的方向弯弧。上述多层弹性层5是指具有两层以上的弹性层5，层数可以根据不同实施例的需求而设定。本实施例的微型探针如是设计，与传统探针相比，多层弹性层5在保证弹性的情况下，抗压复位能力更好，向下的压力分摊到每一层弹性层5上，极大地提高了弹性层5乃至整个微型探针的机械使用寿命，同时不用改变所述弧形弹性片51的数量、形状、结构等，满足过载电流的需求。所述第一平衡部61为第一平衡杆，既可以把所有弧形线连成一体，保证弹力，当所述微型探针安装在胶芯内使用时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微型探针，包括针片、针杆、设于所述针片底部的针底部、设于所述针片上位于所述针底部和针杆之间的位置处的弹性部以及设于所述针杆的顶部的针头部，其特征在于：所述弹性部包括沿所述针片的高度方向设置的多层弹性层，每相邻两弹性层之间具有一第一平衡部，每一弹性层均包括沿所述针片的宽度方向间隔设置的若干弹性片。2.如权利要求1所述的微型探针，其特征在于：在所述针底部设置有波浪型或者锯齿形状的第一接触部，所述第一接触部与测试设备电连接。3.如权利要求1所述的微型探针，其特征在于：所述针头部具有一向下凹陷的弧形槽，所述弧形槽的两侧分别形成竖向的第二接触部，所述第二接触部与被测试的电子设备电连接。4.如权利要求1至3中任一项所述的微型探针，其特征在于：所述多层弹性层将所述针片分为具有所述针底部及针片顶部的镂空状，所述针片顶部形成一第二平衡部。5.如权利要求4所述的微型探针，其特征在于：所述多层弹性层中，靠近所述第二平衡部的顶层弹性层的若干弹性片的上端与所述第二平衡部的下端连接，所述若干弹性片的上端相互间隔，所述顶层弹性层的若干弹性片的下端与对应的第一平衡部的上端连接，且所述若干弹性片的下端相互间隔，从而使得所述若干弹性片相互间隔。6.如权利要求5所述的微型探针，其特征在于：所述多层弹性层中，靠近所述针底部的底层弹性层的若干弹性片的上端与对应的第一平衡部的下端连接，且所述若干弹性片的上端相互间隔，所述底层的若干弹性片的下端与所述针底部的上端连接，且所述若干弹性片的下端相互间隔，从而使得所述若干弹性片相互间隔...

【专利技术属性】
技术研发人员：马廷富，刘会龙，陈创，
申请(专利权)人：深圳市欧米加智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：