本实用新型专利技术公开了一种杠杆式测试导通装置，包括与测试设备固定的基座、设于所述基座上的导向连接座、穿设于所述基座和导向连接座中的微型探针组件及与所述微型探针组件电连接的信号转接PCB板，所述导向连接座的上端面具有供所述微型探针组件的上端穿出的开口，所述导向连接座活动的设于所述基座的上端且能够沿竖向方向上下移动，所述信号转接PCB板与所述微型探针组件的下端连接；还包括具有上部开口的底盒及设于所述底盒内的下压杠杆机构，所述底盒的上端与所述基座的下端连接，所述下压杠杆机构包括设于所述底盒内的一侧的能够绕自身轴心转动的转轴、设于所述转轴上的固定架以及设于所述底盒上位于所述固定架的内侧的部分的第一弹性件。的部分的第一弹性件。的部分的第一弹性件。
【技术实现步骤摘要】
杠杆式测试导通装置
[0001]本技术涉及电子部件测试领域，特别涉及一种杠杆式测试导通装置。
技术介绍
[0002]在聚合物电池等电子部件模块制造工序中，往往需要对相应的电子部件(例如3C电池或其他需测试的电子部件)进行导通检测等过程，这通常需要采用测试设备通过测试导通装置与电子部件的接触电极对应连接，由测试设备读取相关的数据。
[0003]传统的测试导通装置通常采用弹片式微型探针组件作为导通介质，而弹片式微型探针包括一体成型的第一接触部、弹性部以及第二接触部，第一接触部与测试设备电连接，第二接触部与被测试的电子部件电连接，弹性部位于所述第一接触部及第二接触部之间。在对被测试的电子部件进行导通测试时，被测试的电子部件轻压于所述弹片式微型探针的第二接触部上，所述弹片式微型探针的弹性部由若干“S”状的弹性片组成，其使得所述第二接触部向上伸以紧密与所述被测试的电子部件接触，保证接触稳定性。然而，弹片式微型探针在经过数次压缩后易发生形变，从而导致回弹性较差，机械寿命大大地衰减；若改变微型探针的结构，使其不具有弹性部或者具有微小的弹性，这样虽然可以解决微型探针的形变问题、提高其机械寿命，却无法保证其与被测试的电子部件的接触稳定性。因此，无何能够提高微型探针的机械寿命又能够保证其与被测试的电子部件的接触稳定性是目前亟待解决解决的技术问题。
技术实现思路
[0004]针对上述现有技术的不足，本技术所要解决的技术问题是：提供了一种能够增加微型探针组件机械寿命且能够与被测试的电子部件稳定接触的杠杆式测试导通装置。<br/>[0005]为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种杠杆式测试导通装置，包括用于与测试设备固定的基座、设于所述基座上的导向连接座、穿设于所述基座和导向连接座中的微型探针组件以及与所述微型探针组件电连接的信号转接PCB板，所述导向连接座的上端面具有供所述微型探针组件的上端穿出的开口，所述导向连接座活动的设于所述基座的上端且能够沿竖向方向上下移动，所述信号转接PCB板与所述微型探针组件的下端连接；还包括一具有上部开口的底盒以及一设于所述底盒内的下压杠杆机构，所述底盒的上端与所述基座的下端连接，所述下压杠杆机构包括设于所述底盒内的一侧的能够绕自身轴心转动的转轴、设于所述转轴上的固定架以及设于所述底盒上位于所述固定架的内侧的部分的具有竖向伸缩弹力的第一弹性件；所述信号转接PCB板相应于所述固定架的部分固定于所述固定架上，所述信号转接PCB板相应于所述第一弹性件的部分与所述第一弹性件的上端连接。
[0006]进一步的，在初始状态下，所述微型探针组件的上端面与所述导向连接座的上端齐平或者低于所述导向连接座的上端面。
[0007]进一步的，所述固定架包括一套设于所述转轴上以能够随其转动的底座以及设于
所述底座上端的固定槽座，所述固定槽座的宽度小于所述信号转接PCB的宽度，所述信号转接PCB板上相应于所述固定槽座的部分固定于所述固定槽座中。
[0008]进一步的，所述固定槽座的横截面呈U形，该U形的固定槽座朝向所述信号转接PCB板的方向和远离所述信号转接PCB板的方向均具有与外界连通的开口。
[0009]进一步的，在所述底盒上相应于所述信号转接PCB板、微型探针组件、基座以及导向连接座的两端侧的位置处分别设置有第一定位孔；在所述信号转接PCB板、微型探针组件、基座以及导向连接座上相应于两第一定位孔的位置处分别设置有两第二定位孔、两第三定位孔、两第四定位孔以及两第五定位孔，两第一定位销钉依次向下分别穿设于两第五定位孔、两第四定位孔、第三定位孔、第二定位孔以及第一定位孔中。
[0010]进一步的，所述第一弹性件包括两第一自恢复弹簧，所述两第一自恢复弹簧的下端分别设于两第一定位孔中并套于对应的第一定位销钉上，所述两第一自恢复弹簧的上端顶于所述信号转接PCB板的下端面。
[0011]进一步的，还包括两组第二弹性件，所述两组第二弹性件的下端分别设于所述基座的两侧，所述两组第二弹性件的上端顶于所述导向连接座的下端。
[0012]进一步的，所述微型探针组件包括一针模以及竖向设于所述针模上的若干微型探针，所述微型探针包括一体成型的第一接触部、第二接触部、位于所述第一接触部及第二接触部之间的中部以及设于所述中部上的镂空部，所述第一接触部与所述信号转接PCB板电连接、所述第二接触部穿设于所述导向连接座上并与置于所述导向连接座上的被测试的电子部件的连接部电连接。
[0013]进一步的，所述镂空部从所述中部的一侧方向贯穿所述中部以与外界连通，所述中部的另一侧至所述镂空部的宽度等于或大于所述第一接触部的宽度。
[0014]进一步的，所述导向连接座的上端面相应于所述微型探针组件的位置处围设有仿形壁，所述仿形壁之间的空间形成与所述被测的电子部件的连接部相匹配的仿形槽，在所述仿形槽的底部开设有供所述微型探针组件的上端向上穿出的穿孔。
[0015]本实盘新型杠杆式测试导通装置，用杠杆式顶推方式使微型探针组件与被测的电子部件良好接触，可以适用于多种微型探针，将传统限定的弹簧式微型探针范围扩大，更进一步的，适用于一体直针，解决了原有微型探针因频繁压制而形变、机械寿命短的问题。采用一体式直针方式，可以使多个一体式直微型探针堆叠在一起形成堆叠式的微型探针组件，不必再为弹片式微型探针因堆叠在一起，弹性部易搅在一起、相互干扰、相互影响、易形变，进而导致损坏等问题担忧，解决了一直未解决而又迫切需要解决的问题，同时为极大增加了过载电流提供了更好的基础，过载电流可以达到传统的测试导通装置的3～5倍，并且上述一体式直针的结构设计极大地提高了测试频谱的宽度，能够满足对更多电子部件的测试需求，适用范围广，通用性强。
附图说明
[0016]图1是本技术杠杆式电流测试导通装置一实施例的结构示意图。
[0017]图2是图1的拆分示意图。
[0018]图3是图1中微型探针的结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参见图1至图3，本实施例以电流测试为例进行说明，本实施例的杠杆式测试导通装置，包括用于与测试设备固定的基座1、设于所述基座1上的导向连接座2、穿设于所述基座1和导向连接座2中的微型探针组件3以及与所述微型探针组件3电连接的信号转接PCB板4，所述导向连接座2的上端面具有供所述微型探针组件3的上端穿出的开口，所述导向连接座2活动的设于所述基座1的上端且能够沿竖向方向上下移动，所述信号转接PCB板4与所述微型探针组件3的下端连接；还包括一具有上部开口的底盒5以及一设于所述底盒5内的下压杠杆机构6，所述底盒5的上端与所述基座1的下端连接本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种杠杆式测试导通装置，包括用于与测试设备固定的基座、设于所述基座上的导向连接座、穿设于所述基座和导向连接座中的微型探针组件以及与所述微型探针组件电连接的信号转接PCB板，所述导向连接座的上端面具有供所述微型探针组件的上端穿出的开口，其特征在于：所述导向连接座活动的设于所述基座的上端且能够沿竖向方向上下移动，所述信号转接PCB板与所述微型探针组件的下端连接；还包括一具有上部开口的底盒以及一设于所述底盒内的下压杠杆机构，所述底盒的上端与所述基座的下端连接，所述下压杠杆机构包括设于所述底盒内的一侧的能够绕自身轴心转动的转轴、设于所述转轴上的固定架以及设于所述底盒上位于所述固定架的内侧的部分的具有竖向伸缩弹力的第一弹性件；所述信号转接PCB板相应于所述固定架的部分固定于所述固定架上，所述信号转接PCB板相应于所述第一弹性件的部分与所述第一弹性件的上端连接。2.如权利要求1所述的杠杆式测试导通装置，其特征在于：在初始状态下，所述微型探针组件的上端面与所述导向连接座的上端齐平或者低于所述导向连接座的上端面。3.如权利要求1所述的杠杆式测试导通装置，其特征在于：所述固定架包括一套设于所述转轴上以能够随其转动的底座以及设于所述底座上端的固定槽座，所述固定槽座的宽度小于所述信号转接PCB的宽度，所述信号转接PCB板上相应于所述固定槽座的部分固定于所述固定槽座中。4.如权利要求3所述的杠杆式测试导通装置，其特征在于：所述固定槽座的横截面呈U形，该U形的固定槽座朝向所述信号转接PCB板的方向和远离所述信号转接PCB板的方向均具有与外界连通的开口。5.如权利要求1所述的杠杆式测试导通装置，其特征在于：在所述底盒上相应于所述信号转接PCB板、微型探针组件、基座以及导向连接座的两端侧的位置处分别设置有...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘会龙，陈创，马廷富，操辉，邓李军，
申请(专利权)人：深圳市欧米加智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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