防伪商标或标志的制造方法技术

防伪商标或标志的制法。使高能重离子或裂变碎片通过成像模具后辐照在透明塑料薄膜上，辐照后可在薄膜上形成具有鲜明对比度的乳白色图案。该图案可作为商标或商品标志使用。由于薄膜上经过辐照的区域具有很多微孔，可以透气透水，故消费者易于鉴别真伪。这样制成的商标或标志不易仿造，而且制造成本低廉。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，特别是涉及利用重离子或裂变碎片辐照成像来制造防伪商标或标志的方法。在当前的商品市场中，经常出现假冒产品，给消费者、生产厂家以至给国家造成重大损失，因此打假防假成为当前商品市场中一个紧迫问题。要达到有效地打假防假，首先要解决商标或产品标志的防伪问题。目前常见的防伪商标或标志，有些易被仿制，有些不易被消费者鉴别，而有些虽不易仿制，但由于成本过高而难以推广。本专利技术的目的是要提供一种既不容易被仿制，同时又易被消费者鉴别，而且造价低廉的。本专利技术人针对现有防伪商标和标志存在的缺点进行了种种研究，结果发现，利用重离子(指质量大于α粒子的离子)或裂变碎片来辐照透明的塑料薄膜，然后用NaOH溶液来处理该薄膜，即可使被辐照的区域变成不透明或半透明的乳白色，并且能够透气透水。如果在重离子或裂变碎片辐照的通道中事先安装具有镂空花纹图案的模具，使得重离子或裂变碎片只能从该模具的镂空部分通过，这样就能在塑料薄膜上形成相应乳白色的并能透气透水的花纹图案。由于这种图案透气透水，因此用它作商标可以很容易被消费者识别。而且，由于产生重离子或裂变碎片需要使用加速器或原子反应堆等大型设备，因此用该方法制造的商标或标志不易被仿造。即使有人仿造也很容易查到出处，因为在国内拥有加速器或原子反应堆的单位为数很少。另外，用这种方法制造商标，成本低于一般的防伪商标，因此易被厂家接受。由于找到了这种制造防伪商标或标志方法，至此便完成了本专利技术。本专利技术方法的原理是利用能量在80MeV以上的高能重离子或裂变碎片来辐照透明的塑料薄膜，重离子或裂变碎片可以使薄膜上被辐照的部分受损伤，当用Na0H溶液将损伤部分腐蚀掉以后，就在塑料薄膜上形成一些不规则的微小孔道，其直径约为0.1μm—12μm，这些孔道的管壁对入射光按不同方向进行反射和折射，因此起一种散射光线的作用，使大部分光线不能透过，于是在透明塑料薄膜上形成了具有所需形状的乳白色图案。本专利技术人在许多实验的基础上，共提出了两种用于制造防伪商标或标志的方法。其中的方法1是利用重离子作为辐照能源，方法2是利用裂变碎片作为辐照能源。下面参考附图来具体地解释本专利技术。附图说明图1是利用重离子成像法来制造防伪商标或标志的示意流程图；图2利用裂变碎片成像法来制造防伪商标或标志的示意流程图。本专利技术的方法1是利用重离子成像法来制造防伪商标或标志，其特征是利用厚度为5—30μm，较佳为8—20μm的透明塑料薄膜为原材料，利用重离子发生器产生的重离子为辐照能源，用重离子加速器将重离子加速至其能量达到80MeV以上，以能穿透塑料薄膜为准，在重离子的通道上安装有成像模具，使成像后的重离子束辐照在塑料薄膜上，辐照时间为0.5—2秒，较佳为0.8—1秒，然后用NaOH溶液对薄膜进行蚀刻显像处理1小时以上，以干燥后能显出清晰的图像为准，最后用水清洗并将其干燥。在本方法1中所用的重离子的能量没有严格的限制，但一般应在80MeV以上，最好在130MeV以上，这要取决于所用塑料薄膜的品种和厚度，重离子的能量以能够穿透被辐照的薄膜为准。薄膜的厚度以5—30μm为宜，较佳为8—20μm，如果厚度小于5μm，则在将商标从商品上取下时易于把薄膜撕破，这样就达不到鉴别真伪的目的。如果薄膜厚于30μm，则要求重离子具有较高的能量才能穿透薄膜，这样在经济上不可取。但在必要的情况下，也可以使薄膜更厚些。辐照薄膜时的时间长短没有严格限制，只要能在薄膜上成象即可，对于较薄的薄膜，只需0.5秒或1秒即能成像，但时间长些也不影响质量。在蚀刻步骤中，对NaOH溶液的浓度没有严格的要求，只是NaOH溶液较稀时，蚀刻时间相应要长些。在一般情况下，NaOH溶液浓度以10—50重量％(以溶液重量为基准)为宜，较佳为20—40重量％。蚀刻时间没有严格限制，以图象能清晰地显示出来为准。本专利技术的方法2是利用裂变碎片成象法来制造防伪商标或标志，其特征是利用厚度为5—30μm，较佳为8—20μm的透明塑料薄膜为原材料，利用原子反应堆产生的中子为初级能源，使中子束轰击235U靶子以使其放出裂变碎片，使这些裂变碎片通过成像模具后辐照在塑料薄膜上，辐照时间为10—20分钟，接着用NaOH溶液对薄膜进行蚀刻显像处理1小时以上，以干燥后能显出清晰的图像为准，最后用水清洗并将其干燥。在方法2中，由于从235U靶子放出的裂变碎片的能量平均已达到80MeV以上，因此通常不需要进一步提高其能量。但由于裂变碎片的粒子密度小于方法1中的重离子粒子密度，因此成像时间要长些，但是在辐照时，可以在235U靶子的周围设置很多片薄膜，这样就弥补了其成象时间较长的不足。在方法2中对薄膜厚度、NaOH浓度以及对除了辐照时间以外的其他条件的掌握皆与上述的方法1相同。用本专利技术方法制成的商标或标志，其防伪效果明显优于常见的防伪商标。消费者只需将商标或标志从商品上取下来，用手指蘸水后涂抹于乳白色的区域，看其是否透水，或用吸烟时产生的烟雾吹喷，看其是否透气，凡是不能透水、透气者必为假冒商标无疑。另外，利用本专利技术的方法制造防伪商标或标志，成本低廉，生产率高，易于自动化。再有是用本专利技术方法制造的商标，仿造困难，即使有人仿造，也容易查出仿造者。因此本专利技术的方法与现有技术的方法相比，具有突出的实质性特点和显著的进步。下面举出本专利技术的较佳实施例，但本专利技术并不受这些实施例的限制。实施例1在中国原子能科学研究院的串列加速器上，以负离子源产生S-1离子，在将其加速后再将其剥离成11个正电荷态的S+11离子，使加速器头部高压为10MeV，经加速后产生能量为120MeV的硫离子束，束流强度为40毫微安，在左10度管道上通过成象模具辐射在厚度为12±1μm的聚碳酸酯薄膜上，照射时间为0.8秒，然后在25重量％(以溶液重量为基准)的NaOH溶液中蚀刻2小时，再用自来水清洗并在40℃下烘干。结果获得了一种在透明薄膜上具有鲜明对比度的乳白色花纹图案。这种带乳白色图案的塑料薄膜可直接作为商标贴于商品上。如果商品包装的底色也是乳白色的，则可在商标薄膜下面衬上一层深色薄膜，这样仍可获得图案鲜明的效果。实施例2在中国原子能科学研究院的重水反应堆上，利用热中子束来照射235U靶子，使靶子上产生的裂变碎片通过成像模具辐照在厚度为12±1μm的聚碳酸酯薄膜上，照射时间为15分钟，然后在25重量％(以溶液重量为基础)的NaOH溶液中蚀刻2小时，再用自来水清洗并在40℃下烘干。结果获得了与实施例1相同的具有鲜明对比度的乳白色花纹图案。上面已通过实施例详细地解释了本专利技术，本
的普通技术人员可以在本专利技术的基本构思上作出各种改进或变化，然而只要不背离本专利技术的基本构思和实质，所有的变化或改进都应被认为属于本专利技术的范围。权利要求1.一种利用重离子成像来制造防伪商标或标志的方法，其特征在于，利用厚度为5—30μm的透明塑料薄膜为原材料，利用重离子发生器产生的重离子为辐照能源，用重离子加速器将重离子加速至其能量达到80MeV以上，以能穿透塑料薄膜为准，在重离子的通道上安装有成像模具，使成像后的重离子束辐照在塑料薄膜上，辐照时间为0.5—2秒，然后用NaOH溶液对薄膜进行蚀刻显像处理1小时以上，以干燥后能显出清晰的图像为准，最后用水清洗并将其干燥。2.如权利要本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用重离子成像来制造防伪商标或标志的方法，其特征在于，利用厚度为５－３０μｍ的透明塑料薄膜为原材料，利用重离子发生器产生的重离子为辐照能源，用重离子加速器将重离子加速至其能量达到８０ＭｅＶ以上，以能穿透塑料薄膜为准，在重离子的通道上安装有成像模具，使成像后的重离子束辐照在塑料薄膜上，辐照时间为０．５－２秒，然后用ＮａＯＨ溶液对薄膜进行蚀刻显像处理１小时以上，以干燥后能显出清晰的图像为准，最后用水清洗并将其干燥。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄正德，刘永辉，侯龙，杨毅，
申请(专利权)人：黄正德，刘永晖，侯龙，杨毅，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]