本实用新型专利技术涉及测试设备技术领域，且公开了一种涉密硬盘的存储芯片测试设备，包括测试设备，所述测试设备的左右两侧均设置有除尘装置，测试设备的后端设置有散热机构，除尘装置分为两组，分别固定安装在测试设备的上下两侧，凹槽板固定安装在测试设备的左右两侧，凹槽板与测试设备的前后两端垂直固定，凹槽板的四组内壁均开设有凹槽，凹槽不完全开设，除尘杆滑动安装在凹槽内。本实用新型专利技术中，除尘装置有两组且分别设置在检测设备的左右两侧，当检测设备上具有灰尘时，两组除尘杆将来回运动，清扫检测设备表面的灰尘，并且为防止检测设备静电，在清扫时将电离子转移到散热机构的内部，减少因静电对检测设备的影响。减少因静电对检测设备的影响。减少因静电对检测设备的影响。
【技术实现步骤摘要】
一种涉密硬盘的存储芯片测试设备
[0001]本技术涉及测试设备
，尤其涉及一种涉密硬盘的存储芯片测试设备。
技术介绍
[0002]芯片设计公司通常会使用半导体测试设备对晶圆或芯片样品进行测试，以验证芯片样品功能和性能的有效性，并指导芯片设计，对每一颗芯片进行电参数性能测试，保证出厂的每颗集成电路的功能和性能指标能够达到设计规范要求，成品测试的目的是把好的和坏的芯片分别挑出来，只有好的芯片才会被销售给终端客户，以保证芯片出货时的良率。
[0003]目前市场上已有的检测设备体积较小，容易长期运转使设备产生高温，从而影响测试的准确性，长期高温容易造成设备损坏，维修费用较高，另外设备容易产生静电，导致检测设备表面容易吸附灰尘，打破检测数据的平衡性，不容易清扫，浪费时间和人力。为此，我们提出一种涉密硬盘的存储芯片测试设备。
技术实现思路
[0004]本技术主要是解决上述现有技术所存在的技术问题，提供一种涉密硬盘的存储芯片测试设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案，一种涉密硬盘的存储芯片测试设备。包括测试设备，所述测试设备的左右两侧均设置有除尘装置，测试设备的后端设置有散热机构，除尘装置包括凹槽板、凹槽和除尘杆，散热机构包括固定板、框架、纱网、固定架、散热风扇、滑槽板、滑槽、滑块、连接块、收灰盒和控制按钮，固定板的一端与测试设备固定连接，另一端与框架固定连接，框架为方形中空架，固定架固定安装在框架的内部，固定架的中间固定安装有散热风扇，散热风扇分为四组，均匀安装在框架的内部，散热风扇的两边外侧均固定安装有纱网，纱网为圆形贴合散热风扇的外侧，滑槽板固定安装在框架的两端，滑槽板分为两组，分别固定在框架的左右两端。
[0006]作为优选，所述除尘装置分为两组，分别固定安装在测试设备的上下两侧，凹槽板固定安装在测试设备的左右两侧，凹槽板为方形长板且与测试设备的前后两端垂直固定。
[0007]作为优选，所述凹槽板的四组内壁均开设有凹槽，凹槽不完全开设，除尘杆滑动安装在凹槽内，除尘杆为方形长杆且安装方向与凹槽板相垂直。
[0008]作为优选，所述框架的底部固定安装有连接块，连接块的下端固定连接收灰盒，收灰盒为方形空心盒且大小与框架厚度一致。控制按钮固定安装在框架的右侧。
[0009]作为优选，所述滑槽板的内部开设有滑槽,滑槽不完全开设，滑槽的内部滑动安装有滑块，滑块位于左右滑槽的中间位置且与滑槽相垂直。
[0010]有益效果
[0011]本技术提供了一种涉密硬盘的存储芯片测试设备。具备以下有益效果：
[0012](1)、该一种涉密硬盘的存储芯片测试设备，在使用时，除尘装置有两组且分别设
置在检测设备的左右两侧，能够全方位除尘，当检测设备上具有灰尘时，两组除尘杆将来回运动，清扫检测设备表面的灰尘，节省人力清扫成本，并且为防止检测设备静电，在清扫时将电离子转移到散热机构的内部，减少因静电对检测设备的影响，提高检测设备的准确度。
[0013](2)、该一种涉密硬盘的存储芯片测试设备，当连接电源时，检测设备开始工作，打开控制按钮时，散热风扇开始运转，四组扇热风扇的风吹向检测设备，防止检测设备的温度过高，节约维修成本，提高检测设备的使用成本，纱网固定安装在散热风扇的外侧，纱网可以阻挡附着在散热风扇扇叶上的灰尘，并且吸附因静电带来的灰尘，保证散热风扇的正常工作，当纱网上聚集灰尘的时候，滑槽内的滑块可以上下移动，除去纱网上的灰尘，保证散热机构的正常运转，延长检测设备的使用寿命，提高检测设备的准确度，收灰盒固定安装在框架的下端，用于收集纱网被滑块除去的灰尘。
附图说明
[0014]图1为本技术测试设备的整体立体示意图；
[0015]图2为本技术测试设备除尘装置的立体示意图；
[0016]图3为本技术测试设备散热机构的平面示意图。
[0017]图例说明：
[0018]1测试设备、2除尘装置、201凹槽板、202凹槽、203除尘杆3散热机构、 301固定板、302框架、303纱网、304固定架、305散热风扇、306滑槽板、307 滑槽、308滑块、309连接块、310收灰盒、311控制按钮。
具体实施方式
[0019]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0020]实施例：一种涉密硬盘的存储芯片测试设备，如图1
‑
图3所示，包括测试设备1，所述测试设备1的左右两侧均设置有除尘装置2，测试设备1的后端设置有散热机构3。
[0021]除尘装置2包括凹槽板201、凹槽202和除尘杆203，除尘装置2分为两组，分别固定安装在测试设备1的上下两侧，凹槽板201固定安装在测试设备1的左右两侧，凹槽板201为方形长板且与测试设备1的前后两端垂直固定，凹槽板201的四组内壁均开设有凹槽202，凹槽202不完全开设，除尘杆203滑动安装在凹槽202内，除尘杆203为方形长杆且安装方向与凹槽板201相垂直。
[0022]散热机构3包括固定板301、框架302、纱网303、固定架304、散热风扇 305、滑槽板306、滑槽307、滑块308、连接块309、收灰盒310和控制按钮311，固定板301的一端与测试设备1固定连接，另一端与框架302固定连接，框架 302为方形中空架，固定架304固定安装在框架302的内部，固定架304的中间固定安装有散热风扇305，散热风扇305分为四组，均匀安装在框架302的内部，散热风扇305的两边外侧均固定安装有纱网303，纱网303为圆形贴合散热风扇 305的外侧，滑槽板306固定安装在框架302的两端，滑槽板306分为两组，分别固定在框架302的左右两端，滑槽板306的内部开设有滑槽307,滑槽307不完全开设，滑槽307的内部滑动安装有滑块308，滑块308位于左右滑槽307的中间位置且与滑槽307相垂直，框架302的底部固定安装有连接块309，连接块 309的下端固定连接收灰盒310，收灰盒310为
方形空心盒且大小与框架厚度一致。控制按钮311固定安装在框架302的右侧。
[0023]本技术的工作原理：
[0024]在使用时，除尘装置2有两组且分别设置在检测设备1的左右两侧，当检测设备1上具有灰尘时，两组除尘杆203将来回运动，清扫检测设备1表面的灰尘，并且为防止检测设备1静电，在清扫时将电离子转移到散热机构3的内部，减少因静电对检测设备1的影响。
[0025]当连接电源时，检测设备1开始工作，打开控制按钮311时，散热风扇305 开始运转，四组扇热风扇305的风吹向检测设备，防止检测设备1的温度过高，纱网固定安装在散热风扇305的外侧，纱网303可以阻挡附着在散热风扇305 扇叶上的灰尘，并且吸附因静电带来的灰尘，保证散热风扇305的正常工作，当纱网303上聚集灰尘的时候，滑槽306内的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种涉密硬盘的存储芯片测试设备，包括测试设备(1)，其特征在于：所述测试设备(1)的左右两侧均设置有除尘装置(2)，测试设备(1)的后端设置有散热机构(3),散热机构(3)包括固定板(301)、框架(302)、纱网(303)、固定架(304)、散热风扇(305)、滑槽板(306)、滑槽(307)、滑块(308)、连接块(309)、收灰盒(310)和控制按钮(311),固定板(301)的一端与测试设备(1)固定连接，另一端与框架(302)固定连接，框架(302)为方形中空架，固定架(304)固定安装在框架(302)的内部，固定架(304)的中间固定安装有散热风扇(305)，散热风扇(305)分为四组，均匀安装在框架(302)的内部，散热风扇(305)的两边外侧均固定安装有纱网(303)，纱网(303)为圆形贴合散热风扇(305)的外侧,滑槽板(306)固定安装在框架(302)的两端，滑槽板(306)分为两组，分别固定在框架(302)的左右两端，滑槽板(306)的内部开设有滑槽(307),滑槽(307)不完全开设，滑槽(307)的内部滑动...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡雪飞，
申请(专利权)人：津融票号天津互联网科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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