一种薄膜晶体管阵列基板，其适用于电子墨水显示装置。此薄膜晶体管阵列基板主要包括基板、多条扫描配线、多条数据配线、多个薄膜晶体管、多个像素电极与多条检测信号线。数据配线与扫描配线设置于基板上，并在基板上划分出多个像素区域，而薄膜晶体管分别设置于像素区域内，以通过扫描配线与数据配线驱动。像素电极分别设置于像素区域内，并电连接至其所对应的薄膜晶体管。另外，检测信号线串接扫描配线与／或数据配线。本发明专利技术的电子墨水显示装置与其薄膜晶体管阵列基板通过检测线路的设计来提高测试的准确性，进而提高生产合格率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种主动元件阵列基板与显示装置，且特别涉及一种薄膜晶体管阵列基板与电子墨水显示装置。
技术介绍
电子墨水显示装置最初发展于1970年代，其特色是包含带电荷的小球，其中球的一面是白色，另一面是黑色，当电场改变时，球会上下转动，而呈现不同颜色。第二代的电子墨水显示装置是发展于1990年代，其特色是以微胶囊代替传统的小球，并且在胶囊内填充彩色的油(oil)与带电荷的白色颗粒。通过外在电场的控制使白色颗粒往上或是往下移动，其中当白色颗粒往上(接近阅读者方向时)则显示出白色，当白色颗粒往下时(远离读者方向时)则显示出油的颜色。一般而言，目前常见的电子墨水显示装置包括前面板(frontplanelaminate，FPL)以及薄膜晶体管阵列基板。前面板通常包括透明盖板、透明电极层与电子墨水材料层。电子墨水材料层中包含电子墨水以及承载液体。当薄膜晶体管阵列基板的各像素电极与前面板的透明电极层之间的电场改变时，电子墨水便会根据电场方向而向上或向下移动，进而使各像素呈现出不同的光学特性。公知在薄膜晶体管阵列基板与前面板组装完成后，会对薄膜晶体管阵列基板上的配线以及像素进行光电特性测试，以确保电子墨水显示装置的生产合格率。在驱动电路尚未完成时，传统的电子墨水显示器是采用导电压条(shorting bar)的方式进行像素的测试。测试时一端以栅极导电压条同时接触所有的扫描配线，对每一条扫描配线施加同一栅极测试信号，在同一时间开启连接于每一条扫描配线上的像素内的所有薄膜晶体管。此时另一端以源极导电压条同时接触所有的数据配线，并通过此源极导电压条输入一共同测试信号至数据配线上，以将显示数据输入每一个像素中，用以观察整个显示画面的显示情形。采用此导电压条的测试方法，所有薄膜晶体管与像素电极均接收并反映同一信号，任何电路中的开路(断路)都会使元件接收不到预定的信号而显示出与正常元件(像素)不同的电气与光学特性，测试者即可据此观察而知缺陷的所在。然而，由于上述的公知的检测方法是通过导电压条同时对所有像素输入相同的检测信号，因此仅能检出电子墨水显示装置显示特定画面的异常情形，并无法辨别其他例如局部的亮、暗点(bright and darkpoint)等像素瑕疵(defect)。举例而言，当两相邻像素的像素电极之间有铟锡氧化物(Indium Tin Oxide，ITO)残留而误导通时，则由于输入的检测信号相同，将无法辨别此ITO残留所造成的像素瑕疵。如此一来，会导致后续生产成本提高以及合格率低等问题。此外，采用导电压条的测试方法在执行时也会产生其他问题。一般而言，导电压条压着时的精密度较低，所以压条长度必须比实际压着区域更长，才能确保所有信号线均保有接触而能收到信号。但便携式产品的可利用区域因需求面的影响而受到限制，常常有许多线路集聚在甚小的面积内；为避免发生不允许的短路现象，往往必须限制导电压条的长度，此时可能会有部分信号线在压着误差的影响下失去接触而无法接收信号，成了测试漏失。再则，导电压条的压着接触效果易受到压条材料、形状与压力的影响，容易有部分信号线路因压力不均匀而出现信号强弱不一的现象，影响测试正确性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种薄膜晶体管阵列基板，其具有特殊检测线路的设计，提高测试的准确性，进而提高生产合格率。本专利技术的另一目的是提供一种电子墨水显示装置，其通过薄膜晶体管阵列基板上的检测线路的设计来提高测试的准确性，进而提高生产合格率。为达上述或是其他目的，本专利技术提出一种薄膜晶体管阵列基板，其适用于电子墨水显示装置。此薄膜晶体管阵列基板主要包括基板、多条扫描配线、多条数据配线、多个薄膜晶体管、多个像素电极、多条检测信号线、多个检测开关元件以及检测控制线。数据配线与扫描配线设置于基板上，并在基板上划分出多个像素区域，而薄膜晶体管分别设置于像素区域内，以通过扫描配线与数据配线驱动。此外，像素电极分别设置于像素区域内，并电连接至其所对应的薄膜晶体管。另外，检测信号线串接扫描配线与/或数据配线，且每一条检测信号线连接至少一个检测信号输入端口。检测开关元件连接于检测信号线与扫描配线或数据配线之间，而检测控制线串接检测开关元件，用以控制检测开关元件的开启或关闭，且检测控制线连接至少一个控制信号输入端口。本专利技术还提出一种电子墨水显示装置，其主要包括上述的薄膜晶体管阵列基板、电子墨水材料层、透明盖板以及透明电极层。电子墨水材料层是设置于薄膜晶体管阵列基板的像素电极上，而透明盖板是设置于电子墨水材料层上。此外，透明电极层是设置于透明盖板与电子墨水材料层之间。在一实施例中，上述的检测控制线连接至足以使检测开关元件关闭的负电压电源信号输入端口。在一实施例中，上述的检测开关元件例如是晶体管。在一实施例中，扫描配线与/或上述这些数据配线分为多个配线组，而检测信号线分别串接配线组，且每一个配线组内的扫描配线或数据配线互不相邻。在一实施例中，检测信号线包括扫描检测信号线以及数据检测信号线，扫描检测信号线串接所有扫描配线，而数据检测信号线串接所有数据配线。在一实施例中，检测信号线包括扫描检测信号线以及多条数据检测信号线，其中扫描检测信号线串接所有扫描配线，数据检测信号线串接所有数据配线，且每一条数据检测信号线所串接的数据配线互不相邻。举例而言，检测信号线包括扫描检测信号线、第一数据检测信号线以及第二数据检测信号线，扫描检测信号线串接所有扫描配线，第一数据检测信号线串接第2N-1条数据配线，而第二数据检测信号线串接第2N条数据配线，N为正整数。此外，检测信号线还可以包括扫描检测信号线、第一数据检测信号线、第二数据检测信号线以及第三数据检测信号线，扫描检测信号线串接所有扫描配线，第一数据检测信号线串接第3N-2条数据配线，第二数据检测信号线串接第3N-1条数据配线，而第三数据检测信号线串接第3N条数据配线，N为正整数。在一实施例中，检测信号线包括数据检测信号线以及多条扫描检测信号线，数据检测信号线串接所有数据配线，扫描检测信号线串接所有扫描配线，且每一条扫描检测信号线所串接的扫描配线互不相邻。举例而言，检测信号线包括第一扫描检测信号线、第二扫描检测信号线以及数据检测信号线，第一扫描检测信号线串接第2N-1条扫描配线，第二扫描检测信号线串接第2N条扫描配线，而数据检测信号线串接所有数据配线，N为正整数。在一实施例中，像素电极的材质例如是透明导电材质或金属材质。基于上述，本专利技术通过多条检测信号来对薄膜晶体管阵列基板上的配线以及像素进行光电特性测试，因此有助于提高测试准确性。此外，本专利技术还可将扫描配线与/或数据配线分组，并以不同的检测信号线串接，如此便可通过不同的检测信号线输入不同的测试信号至像素上，以辨别相邻像素之间可能产生的像素瑕疵。因此，本专利技术有助于提高薄膜晶体管阵列基板与电子墨水显示装置的生产合格率，并可进一步降低生产成本。为让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。附图说明图1为本专利技术之较佳实施例的一种电子墨水显示装置的剖视图。图2为图1的电子墨水显示装置的俯视图。图3为本专利技术另一实施例的电子墨水显示装置的俯视图。图4为一般电子墨水显示装置中可能产生的像素瑕疵的示意本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子墨水显示装置，其特征是包括：薄膜晶体管阵列基板，包括：基板；多条扫描配线，设置于该基板上；多条数据配线，设置于该基板上，并与该扫描配线在该基板上划分出多个像素区域；多个薄膜晶体管，分别设置于上 述这些像素区域内，以通过上述这些扫描配线与上述这些数据配线驱动；多个像素电极，分别设置于上述这些像素区域内，并电连接至其所对应的上述这些薄膜晶体管；多条检测信号线，串接上述这些扫描配线与／或上述这些数据配线，且每一条检测信号 线连接至少一个检测信号输入端口；多个检测开关元件，连接于上述这些检测信号线与上述这些扫描配线或上述这些数据配线之间；检测控制线，串接上述这些检测开关元件，用以控制上述这些检测开关元件的开启或关闭，且该检测控制线连接至少一个控 制信号输入端口；电子墨水材料层，设置于该薄膜晶体管阵列基板的上述这些像素电极上；透明盖板，设置于该电子墨水材料层上；以及透明电极层，设置于该透明盖板与该电子墨水材料层之间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：许育祯，刘全丰，郭家豪，
申请(专利权)人：元太科技工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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