一种防误触方法、可穿戴设备及存储介质技术

本申请公开了一种防误触方法，应用于可穿戴设备，可穿戴设备包括触控结构和电容式触摸传感器，电容式触摸传感器用于采集至少两个触摸通道的电容值，至少两个触摸通道分别与触控结构的距离不相等，防误触方法包括：当检测到触发触控结构的事件时，获取电容式触摸传感器采集的每一触摸通道的电容值；判断所有触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态；其中，预设电容值分布状态为非误触条件下触控结构被触发时所有触摸通道的电容值的分布状态；若否，则判定触控结构被误触，不响应触发触控结构的事件。本申请能够检测多种场景下的误触现象，提高了识别误触的准确率。本申请还公开了一种可穿戴设备及一种存储介质，具有以上有益效果。益效果。益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种防误触方法、可穿戴设备及存储介质


[0001]本申请涉及设备控制
，特别涉及一种防误触方法、一种可穿戴设备及一种存储介质。

技术介绍

[0002]随着智能可穿戴技术的发展，智能手表、智能手环等可穿戴设备已经被普遍使用。可穿戴设备上通常设置按键、滚轮、旋钮、旋转表冠等触控结构，用户通过按压或旋转触控结构实现与可穿戴设备的人机交互。
[0003]在实际应用中，常常存在由于用户误操作导致的触控结构误触，如手撑桌子时智能手表的大面积外壳都会有皮肤接触与压迫，此时产生表冠误触。本领域中主要通过分析用户状态(如是否抬腕、是否睡眠等)来判断是否存在误触现象，但是根据用户状态分析误触所覆盖的场景范围较少，无法准确识别误触现象。
[0004]因此，如何提高识别误触的准确率是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本申请的目的是提供一种防误触方法、一种可穿戴设备及一种存储介质，能够提高识别误触的准确率。
[0006]为解决上述技术问题，本申请提供一种防误触方法，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括触控结构和电容式触摸传感器，所述电容式触摸传感器用于采集至少两个触摸通道的电容值，至少两个所述触摸通道分别与所述触控结构的距离不相等，所述防误触方法包括：
[0007]当检测到触发所述触控结构的事件时，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值；
[0008]判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态；其中，所述预设电容值分布状态为非误触条件下所述触控结构被触发时所有所述触摸通道的电容值的分布状态；
[0009]若否，则判定所述触控结构被误触，不响应触发所述触控结构的事件。
[0010]可选的，在获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值之前，还包括：
[0011]对所述可穿戴设备进行佩戴检测；
[0012]若所述可穿戴设备处于佩戴状态，则进入获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值的步骤。
[0013]可选的，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值包括：
[0014]利用所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的通道值；
[0015]根据每一所述触摸通道的通道值区间和通道值进行拟合，得到每一所述触摸通道对应的电容值；其中，所述触摸通道的通道值区间包括最大通道值和最小通道值。
[0016]可选的，在判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态之前，还包括：
[0017]采集用户在非误触条件下触发所述触控结构时每一所述触摸通道的参考电容值；
[0018]根据所有所述触摸通道的参考电容值设置所述预设电容值分布状态。
[0019]本申请还提供了一种可穿戴设备，包括：触控结构、电容式触摸传感器和主控芯片；
[0020]其中，所述电容式触摸传感器用于采集至少两个触摸通道的电容值，至少两个所述触摸通道分别与所述触控结构的距离不相等，所述主控芯片用于当检测到触发所述触控结构的事件时，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值；还用于判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态；其中，所述预设电容值分布状态为非误触条件下所述触控结构被触发时所有所述触摸通道的电容值的分布状态；若否，则判定所述触控结构被误触，不响应触发所述触控结构的事件。
[0021]可选的，所述触控结构包括设置于所述可穿戴设备的外壳侧壁的滚轮，至少两个所述触摸通道分别设置于所述外壳侧壁。
[0022]可选的，所述触控结构包括设置于所述可穿戴设备的外壳侧壁的滚轮和按键，至少三个所述触摸通道分别设置于所述外壳侧壁，且所述滚轮和所述按键之间设置有至少一个所述触摸通道。
[0023]可选的，所述按键上设置有所述触摸通道。
[0024]可选的，所有的触摸通道设置于同一FPC板上，所述FPC板设置于所述可穿戴设备的外壳侧壁。
[0025]本申请还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现上述防误触方法执行的步骤。
[0026]本申请提供了一种防误触方法，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括触控结构和电容式触摸传感器，所述电容式触摸传感器用于采集至少两个触摸通道的电容值，至少两个所述触摸通道分别与所述触控结构的距离不相等，所述防误触方法包括：当检测到触发所述触控结构的事件时，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值；判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态；其中，所述预设电容值分布状态为非误触条件下所述触控结构被触发时所有所述触摸通道的电容值的分布状态；若否，则判定所述触控结构被误触，不响应触发所述触控结构的事件。
[0027]本申请中的可穿戴设备包括触控结构和电容式触摸传感器，电容式触摸传感器能够采集至少两个触摸通道的电容值，上述至少两个触摸通道分别与触控结构之间的距离不相等，用户在靠近触摸通道时将会影响触摸通道的电荷量，因此在不存在误触的情况下触控结构被用户触发时，用户对于两个触摸通道的电容值的影响不同，进而可以基于所有触摸通道的电容值的分布状态实现误触识别。当检测到触发所述触控结构的事件时，电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值，并判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态，若不符合，则说明检测到触控结构被误触，不对触发所述触控结构的事件进行响应。本申请的防误触方案能够检测多种场景下的误触现象，提高了识别误触的准确率。本申请同时还提供了一种可穿戴设备和一种存储介质，具有上述有益效果，在此不再赘述。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1为本申请实施例所提供的一种防误触方法的流程图；
[0030]图2为本申请实施例所提供的一种可穿戴设备的架构示意图；
[0031]图3为本申请实施例所提供的第一种触摸通道位置示意图；
[0032]图4为本申请实施例所提供的一种触摸通道的FPC布局示意图；
[0033]图5为本申请实施例所提供的一种用户触发触控结构的示意图；
[0034]图6为本申请实施例所提供的第二种触摸通道位置示意图。
具体实施方式
[0035]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0036]随着智能可穿戴技术的发展，常规的物理按键方式逐渐无法满足用户的需求本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种防误触方法，其特征在于，应用于可穿戴设备，所述可穿戴设备包括触控结构和电容式触摸传感器，所述电容式触摸传感器用于采集至少两个触摸通道的电容值，至少两个所述触摸通道分别与所述触控结构的距离不相等，所述防误触方法包括：当检测到触发所述触控结构的事件时，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值；判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态；其中，所述预设电容值分布状态为非误触条件下所述触控结构被触发时所有所述触摸通道的电容值的分布状态；若否，则判定所述触控结构被误触，不响应触发所述触控结构的事件。2.根据权利要求1所述防误触方法，其特征在于，在获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值之前，还包括：对所述可穿戴设备进行佩戴检测；若所述可穿戴设备处于佩戴状态，则进入获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值的步骤。3.根据权利要求1所述防误触方法，其特征在于，获取所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的电容值包括：利用所述电容式触摸传感器采集的每一所述触摸通道的通道值；根据每一所述触摸通道的通道值区间和通道值进行拟合，得到每一所述触摸通道对应的电容值；其中，所述触摸通道的通道值区间包括最大通道值和最小通道值。4.根据权利要求1所述防误触方法，其特征在于，在判断所有所述触摸通道的电容值是否符合预设电容值分布状态之前，还包括：采集用户在非误触条件下触发所述触控结构时每一所述触摸通道的参考电容值；根据所有所述触摸通道的参考电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宗旭，隋涛，曹桂明，李树鹏，谭树民，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：