一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质，该方法包括：在光模块上电后，通过光模块的MCU监控los信号是否发生振荡；在监控到所述los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺。采用MCU的D触发器来处理光模块的los A信号，保证了信号质量，同时也消除了由于los输出信号振荡而引起的时序不满足MSA协议要求，降低了系统的误码率，保证了高的通信质量。质量。质量。

【技术实现步骤摘要】
一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质


[0001]本专利技术涉及SFP光模块产品
，特别涉及一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在SFP光模块产品的应用中，对los信号的处理比较简单，一般直接连接金手指输出，未重视los信号质量。对于光模块来说本身存在DDM上报异常的弊端，一旦los电平突变，出现系统误码率，影响通信质量。
[0003]以往的规避los glitch(los信号毛刺)的方法，均是从芯片选型上规避，导致芯片选型面窄，成本高。而且很多厂家对los信号质量不重视，出现模块与设备的兼容性问题，导致由于此问题丢失很多客户。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提出一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质，以实现输出信号质量更稳定，降低系统的误码率，保证高的通信质量。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种信号监测方法，包括以下步骤：
[0006]在光模块上电后，通过所述光模块的MCU监控los信号是否发生振荡；
[0007]在监控到所述los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺。
[0008]其中，所述通过光模块的MCU监控los信号是否发生振荡包括：
[0009]通过所述光模块的MCU监控los A输出引脚电平是否发生跳变，若是，则监控到所述los信号发生振荡。
[0010]其中，若所述los A输出引脚上升高电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：
[0011]在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳定的高电平脉冲信号，作为输入控制信号来作为D触发器的输入，以使所述D触发器输出稳定的高电平脉冲信号；
[0012]根据D触发器特性，信号输出次态与输入一致，通过控制所述高电平脉冲信号的宽度大于los毛刺持续的时间，让los稳定高电平，消除los信号毛刺。
[0013]其中，若所述los A输出引脚上升低电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：
[0014]在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳定的低电平脉冲信号，作为输入控制信号来作为D触发器的输入，以使所述D触发器输出稳定的低电平脉冲信号；
[0015]根据D触发器特性，信号输出次态与输入一致，通过控制所述低电平脉冲信号的宽度大于los毛刺持续的时间，让los稳定低电平，消除los信号毛刺。
[0016]其中，所述方法还包括：
[0017]通过预设方式对所述光模块的消除los信号毛刺的方案进行测试验证，确定最佳脉冲周期时间。
[0018]本专利技术还提出一种光模块，包括：接收端驱动芯片TIA、MCU、金手指los引脚，其中：
[0019]所述TIA的硬件los引脚与MCU相连，通过MCU的PLA输出端口，再与所述光模块的金手指los引脚相连；
[0020]所述MCU，用于在光模块上电后，监控los信号是否发生振荡；在监控到所述los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺。
[0021]本专利技术还提出一种信号监测装置，所述装置包括存储器、处理器，以及存储在所述存储器上的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器调用时实现如上所述的信号监测方法。
[0022]本专利技术还提出一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器调用时实现如上所述的信号监测方法。
[0023]本专利技术的有益效果是：提供一种信号监测方法、装置、光模块及存储介质，采用MCU的D触发器来处理光模块的los A信号，保证了信号质量，同时也消除了由于los输出信号振荡而引起的时序不满足MSA协议要求，降低了系统的误码率，保证了高的通信质量。与现有技术相比，本专利技术方案利用MCU的D触发器来处理los A信号，效率更高，光突变los振荡时，输出信号质量更稳定，降低了系统误码率，保证良好通信质量。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0025]图1为本专利技术信号监测方法的流程示意图；
[0026]图2为los A振荡时波形展示图；
[0027]图3为本专利技术消除los振荡时波形展示图；
[0028]图4为本专利技术实验设备搭建框图。
[0029]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]请参照图1至图4，本专利技术提出一种信号监测方法，包括以下步骤：
[0032]步骤S1，在光模块上电后，通过所述光模块的MCU监控los信号是否发生振荡；
[0033]具体通过所述光模块的MCU监控los A输出引脚电平是否发生跳变，若是，则监控
到所述los信号发生振荡。
[0034]步骤S2，在监控到所述los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺。
[0035]其中，若所述los A输出引脚上升高电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：
[0036]在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳定的高电平脉冲信号，作为输入控制信号来作为D触发器的输入，以使所述D触发器输出稳定的高电平脉冲信号；
[0037]根据D触发器特性，信号输出次态与输入一致，通过控制所述高电平脉冲信号的宽度大于los毛刺持续的时间，让los稳定高电平，消除los信号毛刺。
[0038]若所述los A输出引脚上升低电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：
[0039]在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳定的低电平脉冲信号，作为输入控制信号来作为D触发器的输入，以使所述D触发器输出稳定的低电平脉冲信号；
[0040]根据D触发器特性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号监测方法，其特征在于，包括以下步骤：在光模块上电后，通过所述光模块的MCU监控los信号是否发生振荡；在监控到所述los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过光模块的MCU监控los信号是否发生振荡包括：通过所述光模块的MCU监控los A输出引脚电平是否发生跳变，若是，则监控到所述los信号发生振荡。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，若所述los A输出引脚上升高电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳定的高电平脉冲信号，作为输入控制信号来作为D触发器的输入，以使所述D触发器输出稳定的高电平脉冲信号；根据D触发器特性，信号输出次态与输入一致，通过控制所述高电平脉冲信号的宽度大于los毛刺持续的时间，让los稳定高电平，消除los信号毛刺。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，若所述los A输出引脚上升低电平导致los信号发生振荡，所述在监控到los信号发生振荡时，利用所述MCU的定时器的脉冲信号作为D触发器的输入，来消除los信号毛刺的步骤包括：在监控到所述los信号发生振荡时，产生一个稳...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈飞，陈麒兆，
申请(专利权)人：深圳市极致兴通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：