一种产品检测方法、系统以及计算机可读存储介质技术方案

本申请公开了一种产品检测方法、系统以及计算机可读存储介质，包括：根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据得到第一地图，其中，至少部分检测点位上设置有待检测产品，且第一地图中包含各个检测点位的第一检测结果，第一检测结果包括良品或不良品或未检测出产品；获取下一个检测仪器根据第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果；响应于未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品或不良品，发出报警警报。通过这样的设计方式，不仅可以防止出现漏检的问题，而且可以更清楚地显示各检测点位的产品的情况，从而提高产品检测的效率。从而提高产品检测的效率。从而提高产品检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种产品检测方法、系统以及计算机可读存储介质


[0001]本申请属于半导体
，具体涉及一种产品检测方法、系统以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在覆晶薄膜制程(COF)中，主项设备如POT/MK/FV工序需要通过CCD视觉检测仪或Sensor图像传感器对产品进行分析对比，以区分该产品为良品或不良品。但是目前这两种检测方式很容易因为影像干扰或识别不到产品而出现漏检产品的问题。
[0003]因此，设计一种高效且准确的产品检测方法及系统是本领域技术人员需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种产品检测方法、系统以及计算机可读存储介质，可以防止出现漏检的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种产品检测方法，包括：根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据得到第一地图，其中，至少部分所述检测点位上设置有待检测产品，且所述第一地图中包含各个所述检测点位的第一检测结果，所述第一检测结果包括良品或不良品或未检测出产品；获取下一个检测仪器根据所述第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果；响应于所述未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品或不良品，发出报警警报。
[0006]其中，所述获取下一个检测仪器根据所述第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果的步骤包括：根据所述下一个检测仪器针对所述第一地图中为良品和未检测出产品的检测点位一并进行检测的数据得到第二地图，其中，所述第二地图包含所述下一个检测仪器所检测的所有检测点位的所述第二检测结果。
[0007]其中，所述根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据以得到第一地图的步骤，包括：获取所述前一个检测仪器对所述检测台上的多个所述检测点位进行检测的数据；响应于所述检测点位的数据为空，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第一标志位；其中，所述第一标志位代表未检测出产品；响应于所述检测点位的数据不为空，且符合第一预设要求，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第二标志位；其中，所述第二标志位代表良品；响应于所述检测点位的数据不为空，且不符合第一预设要求，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第三标志位；其中，所述第三标志位代表不良品。
[0008]其中，所述根据下一个检测仪器针对所述第一地图中为良品和未检测出产品的检测点位一并进行检测的数据得到第二地图的步骤，包括：根据所述前一个检测仪器对所述检测台上的多个所述检测点位进行检测的数据；响应于所述检测点位的数据为空，则在所述第二地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第四标志位；其中，所述第四标志位代
表未检测出产品；响应于所述检测点位的数据不为空，且符合第二预设要求，则在所述第二地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第五标志位；其中，所述第五标志位代表良品；响应于所述检测点位的数据不为空，且不符合第二预设要求，则在所述第二地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第六标志位；其中，所述第六标志位代表不良品。
[0009]其中，所述第一地图和所述第二地图上的同一位置分别对应同一检测点位的所述第一检测结果和所述第二检测结果。
[0010]其中，所述响应于所述未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品或不良品，发出报警警报的步骤，包括：获得所述第一地图中具有所述第一标志位的第一位置；响应于所述第二地图中所述第一位置处的标志位为第五标志位或第六标志位，则发出报警警报。
[0011]其中，所述响应于所述未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品的步骤之后，还包括：获取所述前一个检测仪器对所述未检测出产品的检测点位重新进行检测的数据，并更新所述第一地图。
[0012]其中，所述第一标志位与所述第四标志位相同，所述第二标志位与所述第五标志位相同，所述第三标志位与所述第六标志位不同；且代表不良品的标志位的优先级大于代表良品以及代表未检测产品的标志位的优先级；所述更新所述第一地图的步骤之后，还包括：将所述第一地图和所述第二地图进行汇总得到第三地图，其中，所述第一地图、所述第二地图和所述第三地图上的同一位置分别对应同一检测点位，且所述第三地图上的标志位为同一位置处的所述第一地图和所述第二地图中优先级最高的标志位。
[0013]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种产品检测系统，包括：处理器、与所述处理器耦接的第一检测仪器和第二检测仪器；其中，所述处理器、所述第一检测仪器和所述第二检测仪器相互配合以实现上述任一实施例所提及的产品检测方法。
[0014]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于实现上述任一实施例所提及的产品检测方法。
[0015]本申请的有益效果是：本申请中根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据得到第一地图，第一地图中包含各个检测点位的第一检测结果，第一检测结果包括良品或不良品或未检测出产品，获取下一个检测仪器根据第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果，当未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品或不良品时，发出报警警报。通过这样的设计方式，通过这样的设计方式，不仅可以防止出现漏检的问题，而且可以更清楚地显示各检测点位的产品的情况，从而提高产品检测的效率。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
[0017]图1是本申请产品检测方法一实施方式的流程示意图；
[0018]图2是图1中步骤S1的第一地图一实施方式的示意图；
[0019]图3是图1中步骤S1一实施方式的流程示意图；
[0020]图4是图1中步骤S2一实施方式的流程示意图；
[0021]图5是图4中步骤S20的第二地图一实施方式的示意图；
[0022]图6是图4中步骤S20一实施方式的流程示意图；
[0023]图7是图1中步骤S3一实施方式的流程示意图；
[0024]图8是图2和图5汇总后第三地图一实施方式的示意图；
[0025]图9是本申请产品检测系统一实施方式的框架示意图；
[0026]图10是本申请计算机可读存储介质一实施方式的框架示意图。
具体实施方式
[0027]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0028本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品检测方法，其特征在于，包括：根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据得到第一地图，其中，至少部分所述检测点位上设置有待检测产品，且所述第一地图中包含各个所述检测点位的第一检测结果，所述第一检测结果包括良品或不良品或未检测出产品；获取下一个检测仪器根据所述第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果；响应于所述未检测出产品的检测点位的第二检测结果为良品或不良品，发出报警警报。2.根据权利要求1所述的产品检测方法，其特征在于，所述获取下一个检测仪器根据所述第一地图对未检测出产品的检测点位进行检测的第二检测结果的步骤包括：根据所述下一个检测仪器针对所述第一地图中为良品和未检测出产品的检测点位一并进行检测的数据得到第二地图，其中，所述第二地图包含所述下一个检测仪器所检测的所有检测点位的所述第二检测结果。3.根据权利要求2所述的产品检测方法，其特征在于，所述根据前一个检测仪器对检测台上的多个检测点位进行检测的数据以得到第一地图的步骤，包括：获取所述前一个检测仪器对所述检测台上的多个所述检测点位进行检测的数据；响应于所述检测点位的数据为空，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第一标志位；其中，所述第一标志位代表未检测出产品；响应于所述检测点位的数据不为空，且符合第一预设要求，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第二标志位；其中，所述第二标志位代表良品；响应于所述检测点位的数据不为空，且不符合第一预设要求，则在所述第一地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第三标志位；其中，所述第三标志位代表不良品。4.根据权利要求3所述的产品检测方法，其特征在于，所述根据下一个检测仪器针对所述第一地图中为良品和未检测出产品的检测点位一并进行检测的数据得到第二地图的步骤，包括：根据所述前一个检测仪器对所述检测台上的多个所述检测点位进行检测的数据；响应于所述检测点位的数据为空，则在所述第二地图上将与所述检测点位对应的位置设置为第四标志位；其中，所述第四标志位代表未检测出产品；响应于所述检测点位的数据不...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈纬铭，
申请(专利权)人：厦门通富微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：