用于预测电气元件的老化特性的影响的方法和用于仿真此特性的仿真模型技术

本发明专利技术公开了用于预测连接器元件的老化特性的影响的方法，其借助于至少一个电阻器元件和电压源、以及执行所述方法的计算机程序、包括所述计算机程序的计算机可读介质、和用于仿真退化的连接器元件的仿真模型来仿真由连接器元件的老化导致的退化状态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于预测电气元件，特别是连接器元件的老化特性的 影响的方法，用于使用所述方法来计算老化特性的影响的计算机程序， 包括所述计算机程序的计算机可读介质，以及用于仿真电气元件的老 化特性的仿真模型。
技术介绍
通常，电连接器元件由两个金属表面组成，它们被压在一起以使 电流能够在它们之间浮动(float)。即使连接器元件的绝对清洁的金属 表面也不是理想地平的，而是表现出微观观察的隆起和凹入。当将这 两个金属表面压在一起时，不能在整个表面上获得电气接触，而是只 能在表面不规则的相互达到的隆起(接触点)处建立接触。如果金属表面不是绝对清洁 一 这是通常的情况，因为污染物、 氧化物等的表面膜 一 电子将只能在接触力能擦去或划破表面膜处通 过。这导致一定的接触电阻。数个老化机制随时间改变了接触情况。例如，由于机械松弛，接 触力可降低且因此不再足以划破或擦去表面膜。另一方面，分别由于 一般氧化和污染物的积聚，表面膜的厚度或氧化物/污染物的量可增加。另一个问题是接触表面因为热膨胀或振动而相对运动，这导致摩 擦。由于磨损、疲劳破坏、塑性变形或磨擦腐蚀，摩擦转而又导致接 触表面退化。作为上述机制的结果，导电的接触区域进一步减少，这将导致接 触电阻的增加。最终，退化的接触变得不稳定，带有高的或波动的接 触电阻。该不稳定性转而又对包括退化的连接器元件的系统、子系统或电 路有影响，这不仅可以导致例如错误指示的故障，而且在最坏的情况 下可以导致系统、子系统或电路的完全失效。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用于预测退化的连接器元件对系 统、子系统或电路的影响的方法。此目的通过根据权利要求l所述的方法、根据权利要求ll所述的计 算机程序、根据权利要求13所述的计算机可读介质和根据权利要求14 所述的仿真模型来解决。在工作接触中，上述不稳定性的结果可检测为间歇或断开的接触、 温度的升高、电磁辐射的增加等。因此，本专利技术的方法使用至少一个电阻器元件和电压源作为主元 件，用于仿真退化的连接器元件的不同的接触电阻特性。将电压源包 括在仿真模型自身内的优点是电压源可以用来模拟伽伐尼电压(galvanic voltage)或由于退化状态而由接触获取的其他电压。这样的 电压可以由腐蚀或其他退化状态导致且可以对所传递的信号有显著影 响。基于所仿真的不同接触电阻，所述方法可以计算退化的连接器元 件对系统、子系统或电路的影响。这意味着可以设计针对连接器元件 老化的耐用电路。由于单独地检测电阻的增加可以是不稳定的，因为当将接触点移 动到绝缘区域时移动本身可以导致接触电阻的迅速增加，然后当将接 触点进一步移动到导电区域时具有良好的导电，所以退化的连接器元 件对系统、子系统或电路的影响的计算是必要的。此外，由于接触经常设计为带有数个并联的连接器元件且每个连 接器元件包括数个接触点(构成了冗余系统)的事实，所以电气性能 不需要立即受退化机制影响。本专利技术的主要优点是本专利技术的方法能预测退化的连接器元件对系 统或子系统的影响，这转而又使例如使用者能够区分由于例如移动而 断开的连接器和由于退化而断开的连接器对系统的影响。本专利技术的方法因此可以用来在系统级别上预测接触退化的影响。 将本专利技术的方法在电路仿真内合并数次，每次例如带有其自身的参数 设定，提供了发现接触退化对大型系统的功能性的综合及相互作用的 影响的可能性。这样的影响不能由从现有技术中已知的其他方法预测。优选地，所述方法借助于至少一个可变调节的电阻器来执行，其 仿真了电连接器元件的退化状态。这意味着对于具有可调节长度的选 定时间段，电阻可以增加。这仿真了不同的退化状态。例如，略微增 加的电阻可以对应于表面膜厚度的增加或污染物/氧化物的量的增加。 在种情况下，连接器元件仍闭合但连接电阻增加了，这也可以导致温 度的升高。然而，此温度升高可以不同于由断开的连接器元件导致的 温度升高，并因此对系统的影响不同。在本专利技术的其他优选实施例中，所述方法借助于用于仿真电感的 电感器元件，和/或用于仿真两个接触表面之间的电容的电容器元件， 和/或用于选择两个电阻器元件的一个的开关，和/或用于控制开关的脉 冲源来进一步执行。借助于这些元件，可以精细地调整对退化状态的仿真。进一步优选的是，所述方法由计算机执行，且如另一个实施例所 示，诸如电阻器或电感器的元件的特性实际上由相应的计算机程序仿 真且可以由例如数/模设备转换为模拟信号。在从属权利要求中限定了进一步的优点和优选实施例。附图说明参考如下对附图的详细描述可更清楚地理解本专利技术。然而，描述 和附图仅图示了优选实施例且并不意图于将本专利技术限制于此。图l是用于实施根据本专利技术的用于仿真退化的电连接器元件的方 法的第一优选实施例的示意性仿真模型；并且图2是用于实施根据本专利技术的用于仿真退化的电连接器元件的方 法的第二优选实施例的示意性仿真模型。具体实施例方式图l示意性地示出了用于执行本专利技术的用于预测退化的电连接器 对系统、子系统或电路的影响的方法的仿真模型的优选实施例。模型可以包含六个主要零件，其中可以使用所有六个或其有限集。 如图1所示，该模型分别包含电压源2以仿真伽伐尼电压的特性，两个 串联电阻器4、 6以仿真连接器元件的特性，特别是在瞬间间断(micro break)期间的串联电阻和接触电阻。该模型进一步包括开关8以仿真瞬 间间断的特性，电感器10以仿真电感，电容器12以仿真电容，和用于 控制开关的脉冲源14。瞬间间断是在连接器元件的连接中的短时中断(short interruption)，它特别地由移动导致，当将接触点移动到绝缘区域时，这可以导致接触电阻迅速升高，然后当将接触点进一步移动到导电区 域时具有良好的导电。连接器元件的此短时中断或断开状态可能持续 十分之一微秒，但可以对系统有很大的影响，例如可以干扰数字通讯。电压源2仿真了恒压源。所仿真的电压源可以是对应于在物理接触 元件内出现的伽伐尼电压的参数化的电压。伽伐尼电压一般出现在两 个金属之间且其大小可以受接触元件表面上的污染物或氧化物的增加/降低量影响。电阻器4、 6仿真了连接器元件中的典型电阻。该电阻被参数化以 能够调节到物理接触元件。在由于例如表面膜的厚度增加或由于磨损 引起的接触表面的平面度的恶化而电阻增加的情况下，可以使用单个 电阻器4，该电阻适用于所增加/降低的连接器电阻。在电阻器意图仿真瞬间间断的情况中，优选的是具有不同电阻的 至少两个电阻器。如图1所示，进一步存在开关8，用于选择电阻器4或 6。通过在两个电阻器4和6之间切换且因此在两个电阻大小之间切换， 可以仿真连接器的良好连接的状态和几乎断开的状态。该良好连接由 非常低的电阻来仿真。也可以由在无电阻器(非常良好的连接)的无 电阻状态和有电阻状态之间切换的单个电阻器来仿真瞬间间断。然而， 由于闭合连接的仿真的无电阻不可调节，此仿真模型未考虑由于连接 元件的老化引起的连接恶化。开关8可以由脉冲源14控制，其可以是随机的、周期的或具有任何 其他类型的相关定时特性。脉冲源14可以是自治元件或可以被包括在 执行用于控制仿真的程序的计算机中。也可能将电阻器和开关结合成晶体管。电感器10仿真了连接器元件中的串联电感，且电容器12仿真了连接器的两个接触表本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于预测电气元件、特别是连接器元件的老化特性的影响的方法，其特征在于，　所述方法借助于至少一个电阻器元件和电压源来仿真由所述连接器元件的老化导致的退化状态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾勒特约翰逊，拉尔斯马特松，
申请(专利权)人：沃尔沃技术公司，
类型：发明
国别省市：SE[瑞典]