一种开关柜触头监测方法技术

技术编号:29939497 阅读:15 留言:0更新日期:2021-09-04 19:22
本发明专利技术公开了一种开关柜触头监测方法,涉及用电安全技术领域。该开关柜触头监测方法包括:获取开关柜中载流回路的实时电流以及开关柜内的环境温度;根据实时电流和环境温度计算得到触头与铜排连接处的理论温度;获取触头与铜排连接处的实测温度;将实测温度和理论温度进行比对,若实测温度大于理论温度,则判断触头与铜排之间接触不良。与现有技术相比,本发明专利技术提供的开关柜触头监测方法由于采用了将实际获取的实测温度与计算得出的理论温度进行比对的步骤,所以能够监测触头与铜排之间是否接触不良,避免引起过热和载流故障,安全性强。安全性强。安全性强。

【技术实现步骤摘要】
一种开关柜触头监测方法


[0001]本专利技术涉及用电安全
,具体而言,涉及一种开关柜触头监测方法。

技术介绍

[0002]开关柜是重要的电力设备,在电力系统中起到接收与分配电能的作用,得益于高压断路器的发展,运维便捷、占地面积小的金属封闭式手车开关柜成为主流。目前,随着智能化和小型化研究的推进,开关柜内部结构愈发紧凑、内部空间愈发狭小,但是这样一来,由于开关柜直接承担用户负荷,且散热性差,所以开关柜在内部零件(例如触头与铜排)接触不良的情况下容易引发过热,从而导致载流故障,甚至造成安全事故。
[0003]有鉴于此,设计出一种能够监测是否接触不良的开关柜触头监测方法特别是在开关柜应用中显得尤为重要。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种开关柜触头监测方法,能够监测触头与铜排之间是否接触不良,避免引起过热和载流故障,安全性强。
[0005]本专利技术是采用以下的技术方案来实现的。
[0006]一种开关柜触头监测方法,用于监测开关柜的触头与铜排之间是否接触不良,开关柜触头监测方法包括:获取开关柜中载流回路的实时电流以及开关柜内的环境温度;根据实时电流和环境温度计算得到触头与铜排连接处的理论温度;获取触头与铜排连接处的实测温度;将实测温度和理论温度进行比对,若实测温度大于理论温度,则判断触头与铜排之间接触不良。
[0007]可选地,获取开关柜中载流回路的实时电流以及开关柜内的环境温度的步骤包括:获取由电流表测量得到的载流回路的实时电流;获取由温度计测量得到的开关柜内的环境温度。
[0008]可选地,根据实时电流和环境温度计算得到触头与铜排连接处的理论温度的步骤包括:根据实时电流计算得出温升系数;根据实时电流计算得出标准温度;根据温升系数、标准温度和环境温度计算得出理论温度。
[0009]可选地,根据实时电流计算得出温升系数的步骤包括:利用第一计算公式计算得出温升系数;其中,第一计算公式为:k=

0.0004I+1.0283;式中,k为温升系数,I为实时电流。
[0010]可选地,根据实时电流计算得出标准温度的步骤包括:利用第二计算公式计算得出标准温度:其中,第二计算公式为:T1=0.0957I

9.1113;式中,T1为标准温度,I为实时电流。
[0011]可选地,根据温升系数、标准温度和环境温度计算得出理论温度的步骤包括:利用第三计算公式计算得出理论温度:其中,第三计算公式为:T3=k*T2+T1;式中,T3为理论温度,k为温升系数,T2为环境温度,T1为标准温度。
[0012]可选地,理论温度的范围为60摄氏度至110摄氏度。
[0013]可选地,获取触头与铜排连接处的实测温度的步骤包括:利用红外摄像头对用于容置触头和铜排的触头盒的顶端进行扫描,以得到实测温度。
[0014]可选地,在实测温度大于理论温度的情况下,开关柜触头监测方法还包括:发出警报,以警示用户触头的温度异常。
[0015]可选地,在实测温度大于理论温度的情况下,开关柜触头监测方法还包括:显示实测温度,并根据实测温度判断触头与铜排之间的接触情况。
[0016]本专利技术提供的开关柜触头监测方法具有以下有益效果:
[0017]本专利技术提供的开关柜触头监测方法,获取开关柜中载流回路的实时电流以及开关柜内的环境温度;根据实时电流和环境温度计算得到触头与铜排连接处的理论温度;获取触头与铜排连接处的实测温度;将实测温度和理论温度进行比对,若实测温度大于理论温度,则判断触头与铜排之间接触不良。与现有技术相比,本专利技术提供的开关柜触头监测方法由于采用了将实际获取的实测温度与计算得出的理论温度进行比对的步骤,所以能够监测触头与铜排之间是否接触不良,避免引起过热和载流故障,安全性强。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1为本专利技术实施例提供的开关柜触头监测方法应用的开关柜的结构示意图;
[0020]图2为本专利技术实施例提供的开关柜触头监测方法的步骤框图。
[0021]图标:100

开关柜;110

触头;120

触头盒;121

顶端;130

铜排。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0023]因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0024]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0025]在本专利技术的描述中,需要说明的是,术语“内”、“外”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此
外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0026]在本专利技术的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“相连”、“安装”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0027]下面结合附图,对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例中的特征可以相互组合。
[0028]请结合参照图1和图2,本专利技术实施例提供了一种开关柜触头监测方法,用于监测开关柜100内是否发生接触不良的情况。其能够监测触头110与铜排130之间是否接触不良,避免引起过热和载流故障,安全性强。
[0029]需要说明的是,开关柜触头监测方法应用于开关柜100中,开关柜100包括触头110、触头盒120和铜排130。其中,触头110安装于触头盒120本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关柜触头监测方法,用于监测开关柜的触头与铜排之间是否接触不良,其特征在于,所述开关柜触头监测方法包括:获取所述开关柜中载流回路的实时电流以及所述开关柜内的环境温度;根据所述实时电流和所述环境温度计算得到所述触头与所述铜排连接处的理论温度;获取所述触头与所述铜排连接处的实测温度;将所述实测温度和所述理论温度进行比对,若所述实测温度大于所述理论温度,则判断所述触头与所述铜排之间接触不良。2.根据权利要求1所述的开关柜触头监测方法,其特征在于,所述获取所述开关柜中载流回路的实时电流以及所述开关柜内的环境温度的步骤包括:获取由电流表测量得到的所述载流回路的所述实时电流;获取由温度计测量得到的所述开关柜内的所述环境温度。3.根据权利要求1所述的开关柜触头监测方法,其特征在于,所述根据所述实时电流和所述环境温度计算得到所述触头与所述铜排连接处的理论温度的步骤包括:根据所述实时电流计算得出温升系数;根据所述实时电流计算得出标准温度;根据所述温升系数、所述标准温度和所述环境温度计算得出所述理论温度。4.根据权利要求3所述的开关柜触头监测方法,其特征在于,所述根据所述实时电流计算得出温升系数的步骤包括:利用第一计算公式计算得出所述温升系数;其中,所述第一计算公式为:k=

0.0004I+1.0283;式中,k为所述温升系数,I为所述实时电流。5.根据权利要求3所述的开关柜触头监测方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:乔峰吕志盛陈锽镁钮恒黄潺凯
申请(专利权)人:厦门尚为科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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