半导体制冷实验装置制造方法及图纸

技术编号:2993219 阅读:268 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷实验装置。本实用新型专利技术既能定性观察实验现象,又能通过测量仪表定量测量。其半导体制冷装置中的支架的上端设置导热铜板,导热铜板的上面设置半导体制冷片,半导体制冷片的上面连接在传热铝板上,导热铜板的下面设置散热铜片,散热铜片的下面设置风扇,支架的基部固定在基体上,基体的另一侧设置温度调节器。传热铝板上面还设置有铝加热器,铝加热器的外围设置加热器罩。装置中半导体制冷片(帕尔帖)作为热泵来演示热泵工作原理,观察制冷片冷端结冰全过程,演示验证帕尔帖效应;半导体制冷片(帕尔帖)亦可作为热机来演示热机工作原理,发出稳定直流电,驱动直流小电机转动和LED,演示验证塞贝克效应。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种半导体制冷实验装置,包括基体(9),其特征是在所述基体(9)上设置半导体制冷装置,所述半导体制冷装置包括支架(10),支架(10)的上端设置导热铜板(3),导热铜板(3)的上面设置半导体制冷片(2),半导体制冷片(2)的上面连接在传热铝板(1)上,导热铜板(3)的下面设置散热铜片(4),散热铜片(4)的下面设置风扇(5),支架(8)的基部固定在基体(9)上,基体(9)的另一侧设置温度调节器(6)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:卢开伟魏文超宋进朝
申请(专利权)人:浙江天煌科技实业有限公司
类型:实用新型
国别省市:86[中国|杭州]

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