用于确定是否对存储器系统进行信号训练的选择裕度测试技术方案

提供了用于基于与第一存储器存储相关联的第一信号的子集来执行对该第一存储器存储的裕度测试的技术的方法、系统和设备。此种技术基于裕度测试来确定指示第一存储器存储是否遵照一个或多个电气约束的第一裕度数据。此种技术基于该第一裕度数据来确定是否执行信号训练过程。号训练过程。号训练过程。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于确定是否对存储器系统进行信号训练的选择裕度测试


[0001]实施例总体上涉及存储器管理。更具体地，实施例涉及准确的存储器控制和设计。

技术介绍

[0002]可训练计算系统(例如，服务器、蜂窝设备等)以有效地利用存储器模块(例如，双列直插存储器模块，其可被称为DIMM)。例如，计算系统可经受信号训练以实现稳定的存储器环境。信号训练可包括标识存储器模块的控制、命令和数据信号的适当的电压、定时和/或电气特性以避免存储器损失和/或故障。信号训练的总等待时间取决于安装在系统上的存储器模块(例如，DIMM)的数量。也就是说，随着DIMM数量增加，执行信号训练所需要的时间增加。此外，计算系统可在该计算系统的引导过程期间执行信号训练，以在引导过程之后提供稳定的操作系统环境。由此，在一些情况下，出于稳定性目的，信号训练是必要的，但其增加了引导过程期间的等待时间。
附图说明
[0003]通过阅读以下说明书和所附权利要求并通过参考以下附图，实施例的各种优势对本领域技术人员将变得显而易见，其中：
[0004]图1图示出根据实施例的通过测试存储器块的子集来重新训练存储器信号的过程的示例；
[0005]图2是根据实施例的信号训练的方法的示例的流程图；
[0006]图3是根据实施例的稳定存储器使用的方法的示例的流程图；
[0007]图4图示出根据实施例的通过测试存储器块来重新训练存储器信号的过程的示例；
[0008]图5是根据实施例的计算系统的示例的框图；
[0009]图6是根据实施例的半导体设备的示例的图示；
[0010]图7是根据实施例的处理器的示例的框图；以及
[0011]图8是根据实施例的基于多处理器的计算系统的示例的框图。
具体实施方式
[0012]图1图示出用于以功率高效和低等待时间的方式增强存储器可靠性和使用的过程100。过程100可在当前引导过程期间发生，该当前引导过程包括低等待时间“快速引导”模式。例如，引导过程固件(例如，基本输入输出系统或统一可扩展固件接口)可对在先前的引导过程的全信号训练模式期间被标识的先前标识的信号值(例如，定时和/或电压)进行高速缓存。在快速引导模式下，引导过程固件可在不进行任何信号训练的情况下将所标识的信号值直接应用于系统。例如，存储器控制器102可基于所标识的信号值来控制第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114。存储器控制器102可使用第一信号104、第二信号106和第三信号108来与第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114交互。
存储器控制器102可使用第一信号104、第二信号106和第三信号108将数据编程到(例如，写入)第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114中和/或从第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114检取(例如，读取)数据。例如，存储器控制器102可传送第一信号104、第二信号106和第三信号108，以编程指令并将指令发送至第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114。例如，第三信号108可包括控制、命令和数据信号。例如，存储器控制器102可以是处理器，并且第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114可以是存储器存储。
[0013]在先前引导过程和当前引导过程之间，外部环境可能改变。此类外部环境改变可导致温度、湿度或电子噪声等的改变。例如，存储器控制器102、第一存储器块110、第二存储器块112、以及第三存储器块114可以是同一计算系统的部分。计算系统可从低纬度区域(例如，温暖区域)被运输到高纬度区域(例如，寒冷区域)。外部环境的改变可能导致信号特性的移位。在一些情况下，计算系统无法通过信号补偿电路来补偿该移位，并且先前标识的信号值可能不是可信的(例如，导致系统不稳定性)。
[0014]一些实施例可在增强系统稳定性和安全性的同时提供低等待时间引导过程。详细地说，引导过程固件可采用存储器测试器116基于第三信号108(其在测试期间被输出并被接收)测试第三存储器块114，以诊断存储器信号裕度并标识是否执行信号重新训练过程。通过基于第一信号104、第二信号106和第三信号108的子集仅测试第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114的子集，减少了测试过程等待时间。由于过程100可基于存储器测试器116的结果来准确地确定何时进行重新训练，因此还可以增加可靠性。由此，由于测试等待时间减少，因此过程100可在包括第一存储器块110、第二存储器块112和第三存储器块114的计算系统的每个引导过程期间执行，以增强系统可靠性和性能。
[0015]例如，存储器测试器116可执行裕度测试(margin testing)，以有意识地改变系统参数(例如，将电压电平修改为更高或更低以针对故障和/或误读进行测试、修改温度等)，从而将存储器控制器102和第三存储器块114暴露于揭示未通过条件和通过条件的状况。在一些实施例中，测试的结果可包括通过/未通过电平、存储器控制器102的电压电平输出(例如，高或低)、第三存储器块104的电压电平读取(例如，高或低)、第三存储器块114在预期的时钟周期期间是否接收到第三信号108、以及预期的电压值等。可将裕度测试的结果存储为指示裕度质量的裕度数据。
[0016]例如，存储器测试器116可确定第三存储器块114并非正在通过第三信号108接收来自存储器控制器102的命令，和/或正在读取导致潜在不安全的计算环境的不恰当的电压电平。例如，存储器控制器102可输出第三信号108中将处于高电压的一个信号，但是第三存储器块114可能不恰当地将这一个信号读取为低。存储器测试器116可标识第三存储器块114在存储器控制器102实际输出高电压时读取低电压，并且由此存储器测试器116确定已经发生测试未通过。
[0017]作为另一示例，存储器测试器116可标识存储器控制器102向第三存储器块传送的命令和数据，并且存储器测试器116可读取第三存储器块114以确定第三存储器块114是否接收到正确的命令和数据。例如，存储器测试器116可读取第三存储器块114，以基于第三信号108确定正确的数据正在被存储和检取。在一些实施例中，存储器测试器116可将当前引导过程测试数据与上一全信号测试过程期间生成的测试数据进行比较。上一全信号测试过
程可能已经在先前引导过程期间发生。如果当前引导过程的测试数据与先前引导过程的测试数据的差大于特定阈值，则第一至第三信号104、106、108可能经受全信号训练过程。
[0018]由此，存储器测试器116可在由先前标识的信号值标识的定时时检查第三信号108的裕度质量。如果存储器测试器116确定裕度质量是不可接受的，则另一信号训练过程可被执行，以修改第一信号104、第二信号106和第三信号108的电气和/或定时特性。在一些实施例中，存储器测试器116可以是引导过程固件的部分，并且包括用于基于第三信号108来执行对第三存储器块114的裕度测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种计算设备，包括：主机处理器；以及多个存储器存储，耦合至所述主机处理器并包括第一存储器存储，所述多个存储器存储包括可执行程序指令，所述可执行程序指令在由所述主机处理器执行时，使得所述主机处理器用于：基于与所述第一存储器存储相关联的第一信号的子集来执行对所述第一存储器存储的裕度测试；基于所述裕度测试来确定指示所述第一存储器存储是否遵照一个或多个电气约束的第一裕度数据；以及基于所述第一裕度数据来确定是否执行信号训练过程。2.如权利要求1所述的计算设备，其中，所述可执行程序指令在由所述主机处理器执行时使得所述主机处理器用于：在所述计算设备的当前引导过程期间执行所述裕度测试、确定所述第一裕度数据以及是否执行所述信号训练过程。3.如权利要求2所述的计算设备，其中，所述可执行程序指令在由所述主机处理器执行时使得所述主机处理器用于：在所述计算设备的先前引导序列期间，对所述第一存储器存储执行另一裕度测试；在所述先前引导序列期间并且基于所述另一裕度测试，确定指示所述第一存储器存储是否遵照所述一个或多个电气约束的第二裕度数据；以及基于所述第一裕度数据与所述第二裕度数据的比较来确定是否执行所述信号训练过程。4.如权利要求1所述的计算设备，其中，所述第一信号与所述第一存储器存储的读取以及向所述第一存储器存储的写入相关联。5.如权利要求4所述的计算设备，其中，所述可执行程序指令在由所述主机处理器执行时使得所述主机处理器用于：基于所述第一裕度数据确定所述信号训练过程要被执行；执行所述计算设备的重新引导过程；以及在所述重新引导过程期间执行所述信号训练过程，以调整与至少一个第二信号相关联的电气特性或定时特性中的一者或多者，所述至少一个第二信号不同于所述第一信号的所述子集。6.如权利要求5所述的计算设备，其中，所述至少一个第二信号与所述多个存储器存储中的第二存储器存储相关联。7.一种半导体设备，包括：一个或多个衬底；以及逻辑，所述逻辑耦合至所述一个或多个衬底，其中，所述逻辑采用能配置的逻辑或固定功能逻辑硬件中的一者或多者来实现，耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于：基于与第一存储器存储相关联的第一信号的子集来执行对所述第一存储器存储的裕度测试；基于所述裕度测试来确定指示所述第一存储器存储是否遵照一个或多个电气约束的第一裕度数据；以及
基于所述第一裕度数据来确定是否执行信号训练过程。8.如权利要求7所述的半导体设备，其中：所述逻辑用于在计算设备的当前引导期间执行所述裕度测试，确定所述第一裕度数据，并且确定是否执行所述信号训练过程；并且所述计算设备包括所述第一存储器存储。9.如权利要求8所述的半导体设备，其中，耦合至所述一个或多个衬底的所述逻辑用于：在先前引导序列期间，对所述第一存储器存储执行另一裕度测试；在所述先前引导序列期间并且基于所述另一裕度测试，确定指示所述第一存储器存储是否遵照所述一个或多个电气约束的第二裕度数据；以及基于所述第一裕度数据与所述第二裕度数据的比较来确定是否执行所述信号训练过程。10.如权利要求7所述的半导体设备，所述第一信号与...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴都健，葛士建，卜道成，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：