一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，属于医疗器械技术领域，以解决现有的老化试验箱在对电子元件进行测试时，盛放电子元件的托盘一般放置在老化试验箱的靠内侧，在检测完成后，往外拿取装有电子元件的托盘不方便的问题，包括试验箱外壳；所述试验箱外壳转动连接有一组试验箱门；所述试验箱外壳内侧后方活动连接有一组推板；所述推板下方滑动连接有两组传动滑块；所述传动滑块滑动连接在试验箱外壳内部；所述试验箱外壳内部转动连接有一组传动轴；所述试验箱外壳内部转动连接有一组连接轴，本实用新型专利技术通过转动试验箱门，实现对托盘的推出，方便操作人员拿取，在推出托盘后，通过复位弹簧，实现推板的复位。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
本技术属于医疗器械
，更具体地说，特别涉及一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱。
技术介绍
电子元件在加工过程中，需要进行不同环境的老化性能试验后，才能出厂使用，在进行老化试验时需要采用uv紫外线老化试验箱进行检测，紫外线老化试验机采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果。基于上述，现有的老化试验箱在对电子元件进行测试时，盛放电子元件的托盘一般放置在老化试验箱的靠内侧，在检测完成后，往外拿取装有电子元件的托盘不方便。于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，以期达到更具有更加实用价值性的目的。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，以解决现有的老化试验箱在对电子元件进行测试时，盛放电子元件的托盘一般放置在老化试验箱的靠内侧，在检测完成后，往外拿取装有电子元件的托盘不方便的问题。本技术一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，包括试验箱外壳；所述试验箱外壳转动连接有一组试验箱门；所述试验箱外壳内侧上方固定连接有紫外灯；所述试验箱外壳内侧活动连接有一组托盘；所述试验箱外壳右侧固定连接有一组控制面板；所述试验箱外壳内侧后方活动连接有一组推板；所述推板下方滑动连接有两组传动滑块；所述传动滑块滑动连接在试验箱外壳内部；所述试验箱外壳内部转动连接有一组传动轴；所述试验箱外壳内部转动连接有一组连接轴。进一步的，所述试验箱门还包括有传动链轮，试验箱门下方固定连接有一组传动链轮，连接轴还包括有从动链轮，连接轴下方固定连接有一组从动链轮，传动链轮与从动链轮构成带传动。进一步的，所述连接轴还包括有下传动外棘轮，连接轴上方固定连接有一组下传动外棘轮，传动轴还包括有从动内棘轮，传动轴下方固定连接有一组从动内棘轮，下传动外棘轮与从动内棘轮啮合构成棘轮传动。进一步的，所述传动轴还包括有上传动外棘轮和传动内棘轮，传动轴上方固定连接有一组传动内棘轮，传动内棘轮外侧啮合有一组上传动外棘轮构成棘轮传动，传动滑块还包括有从动齿条，每组传动滑块固定连接有一组从动齿条，上传动外棘轮与从动齿条啮合构成齿轮齿条传动，传动滑块与推板滑动连接。进一步的，所述试验箱外壳还包括有复位弹簧，试验箱外壳后方内侧固定连接有两组复位弹簧，复位弹簧与推板弹性连接。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：本技术在打开试验箱门后，通过传动链轮与从动链轮构成带传动，带动连接轴转动，连接轴反转时，下传动外棘轮自转，连接轴正转时，连接轴通过下传动外棘轮与从动内棘轮构成棘轮传动，带动传动轴转动，传动轴正转时，通过传动内棘轮与上传动外棘轮啮合构成棘轮传动，带动上传动外棘轮转动，通过上传动外棘轮与从动齿条啮合构成齿轮齿条传动，带动两组传动滑块移动，通过传动滑块与推板滑动连接，带动推板向前移动，将放置有电子元件的托盘推出，方便拿取装有电子元件的托盘，在将托盘推出后，推板通过复位弹簧与推板弹性连接，实现推板的复位，综上所述，通过转动试验箱门，实现对托盘的推出，方便操作人员拿取，在推出托盘后，通过复位弹簧，实现推板的复位。附图说明图1是本技术的轴侧结构示意图。图2是本技术的下方结构示意图。图3是本技术的试验箱外壳内部结构示意图。图4是本技术的传动滑块安装结构示意图。图5是本技术的传动轴安装结构示意图。图中，部件名称与附图编号的对应关系为：1、试验箱外壳；101、复位弹簧；2、试验箱门；201、传动链轮；3、托盘；4、控制面板；5、紫外灯；6、推板；7、传动滑块；701、从动齿条；8、传动轴；801、上传动外棘轮；802、传动内棘轮；803、从动内棘轮；9、连接轴；901、下传动外棘轮；902、从动链轮。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不能用来限制本技术的范围。在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。实施例：如附图1至附图5所示：本技术提供一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，包括试验箱外壳1；所述试验箱外壳1转动连接有一组试验箱门2；所述试验箱外壳1内侧上方固定连接有紫外灯5；所述试验箱外壳1内侧活动连接有一组托盘3；所述试验箱外壳1右侧固定连接有一组控制面板4；所述试验箱外壳1内侧后方活动连接有一组推板6；所述推板6下方滑动连接有两组传动滑块7；所述传动滑块7滑动连接在试验箱外壳1内部；所述试验箱外壳1内部转动连接有一组传动轴8；所述试验箱外壳1内部转动连接有一组连接轴9。其中，所述试验箱门2还包括有传动链轮201，试验箱门2下方固定连接有一组传动链轮201，连接轴9还包括有从动链轮902，连接轴9下方固定连接有一组从动链轮902，传动链轮201与从动链轮902构成带传动，在使用中，当打开试验箱门2时，通过传动链轮201与从动链轮902构成带传动，带动连接轴9转动。其中，所述连接轴9还包括有下传动外棘轮901，连接轴9上方固定连接有一组下传动外棘轮901，传动轴8还包括有从动内棘轮803，传动轴8下方固定连接有一组从动内棘轮803，下传动外棘轮901与从动内棘轮803啮合构成棘轮传动，在使用中，当连接轴9反转时，下传动外棘轮901自转，当连接轴9正转时，通过下传动外棘轮901与从动内棘轮803构成棘轮传动，带动传动轴8转动。其中，所述传动轴8还包括有上传动外棘轮801和传动内棘轮802，传动轴8上方固定连接有一组传动内棘轮802，传动内棘轮802外侧啮合有一组上传动外棘轮801构成棘轮传动，传动滑块7还包括有从动齿条701，每组传动滑块7固定连接有一组从动齿条701，上传动外棘轮801与从动齿条701啮合构成齿轮齿条传动，传动滑块7与推板6滑本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，其特征在于：该一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱包括试验箱外壳(1)；所述试验箱外壳(1)转动连接有一组试验箱门(2)；所述试验箱外壳(1)内侧上方固定连接有紫外灯(5)；所述试验箱外壳(1)内侧活动连接有一组托盘(3)；所述试验箱外壳(1)右侧固定连接有一组控制面板(4)；所述试验箱外壳(1)内侧后方活动连接有一组推板(6)；所述推板(6)下方滑动连接有两组传动滑块(7)；所述传动滑块(7)滑动连接在试验箱外壳(1)内部；所述试验箱外壳(1)内部转动连接有一组传动轴(8)；所述试验箱外壳(1)内部转动连接有一组连接轴(9)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，其特征在于：该一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱包括试验箱外壳(1)；所述试验箱外壳(1)转动连接有一组试验箱门(2)；所述试验箱外壳(1)内侧上方固定连接有紫外灯(5)；所述试验箱外壳(1)内侧活动连接有一组托盘(3)；所述试验箱外壳(1)右侧固定连接有一组控制面板(4)；所述试验箱外壳(1)内侧后方活动连接有一组推板(6)；所述推板(6)下方滑动连接有两组传动滑块(7)；所述传动滑块(7)滑动连接在试验箱外壳(1)内部；所述试验箱外壳(1)内部转动连接有一组传动轴(8)；所述试验箱外壳(1)内部转动连接有一组连接轴(9)。


2.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，其特征在于：所述试验箱门(2)还包括有传动链轮(201)，试验箱门(2)下方固定连接有一组传动链轮(201)，连接轴(9)还包括有从动链轮(902)，连接轴(9)下方固定连接有一组从动链轮(902)，传动链轮(201)与从动链轮(902)构成带传动。


3.如权利要求1所述一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔森，
申请(专利权)人：森诺检测认证技术服务深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44