一种便于检测的电源柜制造技术

技术编号:29729898 阅读:20 留言:0更新日期:2021-08-17 15:23
本实用新型专利技术公开了一种便于检测的电源柜,包括检修过道以及位于所述检修过道两侧的柜架,所述柜架装设有真空接触器和二次元件安装室,所述真空接触器位于所述检修过道和所述二次元件安装室之间,所述二次元件安装室开设有检测窗口,所述检测窗口和所述检修过道均可实现对所述真空接触器的检测,所述真空接触器具有可供检测的硅芯阻值测量点。上述便于检测的电源柜,不仅可在检修过道进行检测,还可在检测窗口进行检测,提高了检测的便捷性和安全性。

【技术实现步骤摘要】
一种便于检测的电源柜
本技术涉及电源柜
,特别涉及一种便于检测的电源柜。
技术介绍
随着社会的发展,电能的需求量不断提高,新能源成为市场首选,多晶硅材料市场需求不断增加,多晶硅电源柜系统在市场上的需求量也不断增加。多晶硅电源柜系统复杂,为确保多晶硅还原炉的顺利启动,每次启动之前,均需做每一相的硅芯阻值检测,检测其是否正常。每次检测的时候,需把相应的检测设备连接在相应的启动真空接触器的出线端(其与硅芯相连接,其与硅芯属于等电位);每次检测需到检修过道去连接相应的检测点,为了节省设备的占地面积,检修通道空间比较狭窄,不仅不便于穿行,检测困难,而且因安装的元器件较多,容易发生安装隐患。因此,如何能够提供一种提高检测的便捷性和安全性的便于检测的电源柜是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种便于检测的电源柜,不仅可在检修过道进行检测,还可在检测窗口进行检测,提高了检测的便捷性和安全性。为实现上述目的,本技术提供一种便于检测的电源柜,包括检修过道以及位于所述检修过道两侧的柜架,所述柜架装设有真空接触器和二次元件安装室,所述真空接触器位于所述检修过道和所述二次元件安装室之间,所述二次元件安装室开设有检测窗口,所述检测窗口和所述检修过道均可实现对所述真空接触器的检测,所述真空接触器具有可供检测的硅芯阻值测量点。优选地,所述检测窗口连接有检测窗口挡板,所述检测窗口挡板用于在非检测时段封闭所述检测窗口。优选地,所述窗口挡板与所述检测窗口滑动连接以实现所述窗口挡板的滑动开合。优选地,所述窗口挡板与所述检测窗口转动连接以实现所述窗口挡板的旋转开合。优选地,所述窗口挡板与所述检测窗口通过螺纹连接件可拆卸连接以实现所述窗口挡板的拆装开合。优选地,所述窗口挡板与所述检测窗口卡扣连接以实现所述窗口挡板的拆装开合。相对于上述
技术介绍
,本技术所提供的便于检测的电源柜包括检修过道和柜架,柜架位于检修过道的两侧,柜架装设有二次元件安装室和真空接触器,真空接触器位于检修过道和二次元件安装室之间,二次元件安装室开设有检测窗口,检测窗口和检修过道均通向真空接触器,真空接触器具有硅芯阻值测量点;该便于检测的电源柜在二次元件安装室开设检测窗口,通过检测窗口可将检测设备连接至真空接触器的硅芯阻值测量点,从而实现对真空接触器的检测,也就是说,在检修过道的基础上额外增加了一种检测方式,多样的检测方式提高了检测的便捷性,检测窗口的检测方式可以规避检修过道的检测方式中过道狭小导致的检测不便和存在隐患的问题,提高了检测的安全性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的便于检测的电源柜的正视图;图2为图1的侧视图;图3为现有技术中电源柜的正视图。其中:1-二次元件安装室、11-检测窗口、12-检测窗口挡板、13-真空接触器、131-硅芯阻值测量点、2-检修过道。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。为了使本
的技术人员更好地理解本技术方案,下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步的详细说明。请参考图1至图3,其中,图1为本技术实施例提供的便于检测的电源柜的正视图,图2为图1的侧视图,图3为现有技术中电源柜的正视图。在第一种具体的实施方式中,本技术所提供的便于检测的电源柜包括检修过道2和柜架,柜架位于检修过道2的两侧,柜架装载有大量的元器件和设备,在柜架的同一个安装层中装设有真空接触器13和二次元件安装室1,真空接触器13的数量为多个,真空接触器13位于检修过道2和二次元件安装室1之间,二次元件安装室1开设有检测窗口11,真空接触器13具有可供检测的硅芯阻值测量点131,在检测时,将检测设备的连线穿过检测窗口11并与真空接触器13的硅芯阻值测量点131连接。相较于现有技术中的电源柜而言,现有的二次元件安装室1没有检测窗口11,取而代之的是一块封闭的背板,也就是说,对于真空接触器13的检测只能在检修过道2这一侧进行,因检修过道2的过道狭小,导致检测不便和存在安全隐患;而本实施例在此基础上,在二次元件安装室1开设检测窗口11,检测窗口11为原有的背板所开设的开口,通过检测窗口11可将检测设备连接至真空接触器13的硅芯阻值测量点131,从而实现对真空接触器13的检测;本实施例既保留了原有的检修过道2这一侧的检测方式,还额外增加了二次元件安装室1这一侧的检测方式,多样的检测方式提高了检测的便捷性,检测窗口11的检测方式可以规避检修过道2的检测方式中过道狭小导致的检测不便和存在隐患的问题,提高了检测的安全性。在一种具体的实施方式中,若检测窗口11长期处于开启状态,不利于维护柜架内设备的可靠性和稳定性,尤其是会导致灰尘等杂质进入;因此,检测窗口11连接有检测窗口挡板12,检测窗口挡板12用于在非检测时段封闭检测窗口11,从而起到隔绝内外空间、避免干扰与污染的作用。需要说明的是,检测窗口挡板12具有多种形式结构,包括但不限于滑动开合式、旋转开合式、拆装开合式等。示例性的,当检测窗口挡板12采用滑动开合式时,窗口挡板12与检测窗口11滑动连接;其中,在检测窗口挡板12与检测窗口11的连接面设置滑动结构,如滑块与滑道、滑轨与滑槽等;更具体的,在检测窗口挡板12处设置滑轨,检测窗口11处设置滑槽,滑轨滑动装配于滑槽,进而实现检测窗口挡板12相对检测窗口11的滑动开合,滑动开合的方向包括上下滑动、左右滑动以及弧度开合,同应属于本实施例的说明范围。示例性的,当检测窗口挡板12采用旋转开合式时,窗口挡板12与检测窗口11转动连接;其中,在检测窗口挡板12与检测窗口11的连接点设置转动结构,如铰轴、枢轴等;更具体的,在检测窗口挡板12处设置旋转轴,检测窗口11处设置旋转孔,旋转轴转动装配于旋转孔,进而实现检测窗口挡板12相对检测窗口11的转动开合,转动开合的角度包括任意角度、转动开合的方向包括任意方向,同应属于本实施例的说明范围。示例性的,当检测窗口挡板12采用拆装开合式时,检测窗口挡板12安装或拆卸于检测窗口11,拆装方式包括但不限于螺纹连接和卡扣连接,同应属于本实施例的说明范围。具体而言,当检测窗口挡板12与检测窗口11通过螺纹连接件可拆卸连接时,检测窗口挡板12与检测窗口11设置螺纹孔或安装孔,本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种便于检测的电源柜,其特征在于,包括检修过道(2)以及位于所述检修过道(2)两侧的柜架,所述柜架装设有真空接触器(13)和二次元件安装室(1),所述真空接触器(13)位于所述检修过道(2)和所述二次元件安装室(1)之间,所述二次元件安装室(1)开设有检测窗口(11),所述检测窗口(11)和所述检修过道(2)均可实现对所述真空接触器(13)的检测,所述真空接触器(13)具有可供检测的硅芯阻值测量点(131)。/n

【技术特征摘要】
1.一种便于检测的电源柜,其特征在于,包括检修过道(2)以及位于所述检修过道(2)两侧的柜架,所述柜架装设有真空接触器(13)和二次元件安装室(1),所述真空接触器(13)位于所述检修过道(2)和所述二次元件安装室(1)之间,所述二次元件安装室(1)开设有检测窗口(11),所述检测窗口(11)和所述检修过道(2)均可实现对所述真空接触器(13)的检测,所述真空接触器(13)具有可供检测的硅芯阻值测量点(131)。


2.根据权利要求1所述的便于检测的电源柜,其特征在于,所述检测窗口(11)连接有检测窗口挡板(12),所述检测窗口挡板(12)用于在非检测时段封闭所述检测窗口(11)。


3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘华友
申请(专利权)人:重庆大全泰来电气有限公司
类型:新型
国别省市:重庆;50

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