【技术实现步骤摘要】
用于空中测试电子设备的系统和方法
本专利技术涉及一种用于空中测试电子设备、尤其被测设备(DeviceUnderTest,DUT)的系统和方法。
技术介绍
许多电子设备在其生命周期中在首次制造时或之后进行测试。该测试可以包括功能测试、性能测试或校准检查。以这种方式测试的设备称为被测设备(DUT)。用于无线通信、雷达应用或卫星通信的许多设备具有集成天线,尤其是射频(RadioFrequency,RF)天线。这些设备的测试通常包括RF性能测试,该测试在空中(OverTheAir,OTA)进行。为了确保在OTA期间不干扰其它信号,OTA测试系统可以被RF反射器包围。特别地,该设备可以被放置在特殊的OTA室中,该OTA室屏蔽外部RF源。然而,这类反射器或OTA室在测试设施中可能需要很大空间且导致成本增加。
技术实现思路
因此,目的是提供一种用于空中测试电子设备的改进系统和改进方法,该改进系统和改进方法避免了上述缺点。特别地,目的是提供一种不需要额外的屏蔽室或OTA室的空中测试的系统和方法。本专利技术的目的通过所附独立权利要求中提供的方案来实现。从属权利要求中进一步定义了本专利技术的有利实现。根据第一方面,本专利技术涉及一种用于空中测试电子设备、尤其是DUT的系统,包括:支撑表面,其中,所述电子设备被布置在所述支撑表面上;测试设备,所述测试设备包括收发器单元和RF波束形成器,其中,所述收发器单元被配置成发射RF测试信号,其中,所述RF波束形成器被配置成将所述RF测试信号对准在所 ...
【技术保护点】
1.一种用于空中测试电子设备(101)、尤其是被测设备的系统(100),包括:/n支撑表面(103),其中,所述电子设备(101)被布置在所述支撑表面(103)上,/n测试设备(105),所述测试设备(105)包括收发器单元(107)和RF波束形成器(109),/n其中,所述收发器单元(107)被配置成发射RF测试信号,/n其中,所述RF波束形成器(109)被配置成将所述RF测试信号对准在所述电子设备(101)的方向上,/n其中,所述收发器单元(107)被配置成接收来自所述电子设备(101)的RF响应信号,以及/n其中,所述测试设备(105)被配置成基于所述RF响应信号评估所述电子设备(101)。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于空中测试电子设备(101)、尤其是被测设备的系统(100),包括:
支撑表面(103),其中,所述电子设备(101)被布置在所述支撑表面(103)上,
测试设备(105),所述测试设备(105)包括收发器单元(107)和RF波束形成器(109),
其中,所述收发器单元(107)被配置成发射RF测试信号,
其中,所述RF波束形成器(109)被配置成将所述RF测试信号对准在所述电子设备(101)的方向上,
其中,所述收发器单元(107)被配置成接收来自所述电子设备(101)的RF响应信号,以及
其中,所述测试设备(105)被配置成基于所述RF响应信号评估所述电子设备(101)。
2.根据权利要求1所述的系统(100),其中,所述RF波束形成器(109)被配置成选择性地接收来自所述电子设备(101)的所述RF响应信号并将接收到的所述RF响应信号转发至所述收发器单元(107)。
3.根据权利要求2所述的系统(100),其中,所述RF波束形成器(109)被配置成通过限制所述RF波束形成器(109)朝向所述电子设备(101)的接收方向来选择性地接收所述RF响应信号。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统(100),其中,所述RF波束形成器(109)包括相控阵天线。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统(100),其中,所述RF波束形成器(109)包括芯片组,所述芯片组具有至少一个集成天线、尤其是封装天线。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统(100),其中,所述支撑表面(103)包括传送带(111),所述传送带(111)被配置成使所述电子设备(101)相对于所述RF波束形成器(109)移动。
7.根据权利要求6所述的系统(100),其中,所述RF波束形成器(109)被配置成主动适应所述RF测试信号的对准以补偿所述电子设备(101)的移动。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统(100),其中,所述支撑表面(103)包括保持装置(201),所述保持装置(201)具有被设计成容纳所述电子设备(101)的至少一个固定件(203,203a-203e)。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统(100),其中,所述系统(100)还包括被配置成吸收RF信号的吸收单元,其中,所述吸收单元至...
【专利技术属性】
技术研发人员:马库斯·罗尔纳,
申请(专利权)人:罗德施瓦兹两合股份有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。