试样容器保持具制造技术

本发明专利技术提供一种不管试样容器的全长如何，都可将所述试样容器以相对于水平方向倾斜的状态稳定地保持的试样容器保持具。试样容器保持具(1)用以保持在电子天平(10)的计量中所使用的试样容器(9)。试样容器保持具(1)包括：基座构件(2)；第一保持构件(3)，自基座构件(2)向上方侧延伸，在其上端部(311)保持试样容器(9)的第一部分；以及第二保持构件(4)，自基座构件(2)向上方侧延伸，并且与第一保持构件(3)隔开间隔而配置，在其上端部(41)保持试样容器(9)的第二部分。第一保持构件(3)包括沿上下方向伸缩的伸缩机构部(5)。

【技术实现步骤摘要】
试样容器保持具
本专利技术涉及一种试样容器保持具。
技术介绍
在测量例如药剂等试样的重量时，可使用电子天平。作为电子天平，已知有如下电子天平，包括：称量皿，供收纳试样的试样容器载置；以及挡风壳体，连同称量皿一起覆盖称量皿上的试样容器(例如，参照专利文献1)。另外，关于电子天平，还已知有在称量皿上使用试样容器保持具的电子天平，所述试样容器保持具保持试样容器相对于垂直方向倾斜的状态。[现有技术文献][专利文献][专利文献1]日本专利特开2017-58204号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]然而，根据试样容器的全长，特别是在高度大的情况下，试样容器保持具无法完全保持试样容器的倾斜状态，而存在试样容器会倒下，试样自试样容器中流出的问题。本专利技术的目的在于提供一种不管试样容器的全长如何，都可将所述试样容器以相对于垂直方向倾斜的状态稳定地保持的试样容器保持具。[解决问题的技术手段]本专利技术的形态涉及一种试样容器保持具，其用以保持在电子天平的计量中所使用的试样容器，且所述试样容器保持具包括：基座构件；第一保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，在其前端边缘保持所述试样容器的第一部分；以及第二保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，并且与所述第一保持构件隔开间隔而配置，在其前端边缘保持所述试样容器的第二部分，并且所述第一保持构件包括沿上下方向伸缩的伸缩机构部。[专利技术的效果]根据本专利技术，可根据试样容器的全长来调整第一保持构件的高度(全长)。由此，即使是试样容器相对于垂直方向倾斜的状态，不管试样容器的全长如何，也可将处于所述倾斜状态的试样容器稳定地保持。附图说明图1是表示本专利技术的试样容器保持具(第一实施方式)的使用状态的一例的垂直剖面图。图2是表示本专利技术的试样容器保持具(第一实施方式)的使用状态的一例的垂直剖面图。图3是自图1中的箭头A方向观察的图(正面图)。图4是表示本专利技术的试样容器保持具(第二实施方式)的使用状态的一例的垂直剖面图。图5是表示本专利技术的试样容器保持具(第二实施方式)的使用状态的一例的垂直剖面图。图6是表示本专利技术的试样容器保持具(第二实施方式)的使用状态的一例的垂直剖面图。图7是表示本专利技术的试样容器保持具的第三实施方式的正面图。图8是表示本专利技术的试样容器保持具的第四实施方式的正面图。图9是表示使用本专利技术的试样容器保持具的电子天平的一例的立体图。符号的说明1：试样容器保持具(保持具)2：基座构件3：第一保持构件31：上侧构件311：上端部(前端边缘)312：弯曲部313：倾斜部314：下端部32：下侧构件33：长孔34、34A、34B：内螺纹35：凹部36：凸部37：板簧部38：凸部391：凹部(纵槽)392：凹部(横槽)4、4A、4B、4C：第二保持构件41：上端部(前端边缘)5：伸缩机构部51：螺栓9、9A、9B：试样容器91：颈部911：口部912：外周部92：主体部921：底部10：电子天平100：显示部101：本体102：除静电装置103：称量皿104：下部壳体105：背面壳体106：挡风壳体107：称量室108：开闭门109：顶板L3：长度(高度)L33：全长L4：长度(高度)L9：全长O9：中心轴P34：中心间距离Q：试样θ9：倾斜角度具体实施方式以下，基于随附图式所示的适宜实施方式对本专利技术的试样容器保持具进行详细说明。＜第一实施方式＞以下，参照图1～图3及图9对本专利技术的试样容器保持具的第一实施方式进行说明。再者，以下，为了便于说明，在图1～图3及图9中(图4～图8也相同)，设定相互正交的X轴、Y轴、Z轴，XY平面与水平面平行，Z轴方向与铅垂方向平行。另外，有时将图1～图3及图9中(图4～图8也相同)的上侧称为“上(或上方)”、将下侧称为“下(或下方)”。另外，有时将X轴方向正侧称为“前”、将X轴方向负侧称为“后”。图1及图2所示的试样容器保持具(以下简称为“保持具”)1是将呈有底筒状的试样容器9以其中心轴O9相对于水平方向即XY平面倾斜倾斜角度θ9的状态保持的构件。在试样容器9的内部可收纳例如药剂等试样Q。而且，可利用保持具1来保持收纳有试样Q的状态的试样容器9，例如使用电子天平10来测量试样Q的重量。再者，在本实施方式中，试样容器9成为具有颈部91与主体部92的结构，但并不限定于此。颈部91是内径沿着中心轴O9而为一定的部分。在颈部91的上端开口有口部911。主体部92是设置于颈部91的下方且内径及外径大于颈部91的带圆弧的部分。主体部92的下端成为平坦的底部921。首先，在对保持具1进行说明之前，对与保持具1一起使用的电子天平10进行说明。再者，保持具1并不限定于与电子天平10一起使用。图9所示的电子天平10例如是电磁平衡式的电子天平，可以0.1mg以下的最小显示进行计量。再者，作为电子天平10，并不限定于电磁平衡式的电子天平，例如可使用负荷传感器(loadcell)式等其他任意方式的电子天平。电子天平10包括本体101、除静电装置102及称量皿103。本体101构成电子天平10的框体，在内部形成有称量室107。本体101包括下部壳体104、背面壳体105及挡风壳体106。下部壳体104设置于本体101的下部(底部)。背面壳体105载置于下部壳体104的后部。背面壳体105形成为沿上下方向延伸的长方体状。挡风壳体106载置于下部壳体104的中央部，且配置于背面壳体105的近前侧。挡风壳体106形成为下方开放的中空状的长方体形状。挡风壳体106例如包含玻璃材料，且为透明或半透明。挡风壳体106的后端部抵接于背面壳体105的前端部。挡风壳体106的下端部抵接于下部壳体104的上端部。通过此种结构，在本体101内，由下部壳体104、背面壳体105及挡风壳体106形成称量室107。除静电装置102设置于背面壳体105。除静电装置102的前表面自背面壳体105中露出，且与称量室107相向。除静电装置102构成为向称量室107的中央供给离子。在于计量时显示于显示部100的数值发生变动的情况下，可判断为在称量室107内产生了静电。所述情况下，用户可通过使除静电装置102运行来进行除静电。称量皿103设置于称量室107内。具体而言，在称量室107内，称量皿103设置于前后方向中央部附近且为宽度方向中央部。称量皿103例如包含金属材料，适宜的是形成为圆板状/方形/三角形。称量皿103本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种试样容器保持具，用以保持在电子天平的计量中所使用的试样容器，其中，所述试样容器保持具包括：/n基座构件；/n第一保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，在其前端边缘保持所述试样容器的第一部分；以及/n第二保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，并且与所述第一保持构件隔开间隔而配置，在其前端边缘保持所述试样容器的第二部分，并且/n所述第一保持构件包括沿上下方向伸缩的伸缩机构部。/n

【技术特征摘要】
20200212 JP 2020-0213011.一种试样容器保持具，用以保持在电子天平的计量中所使用的试样容器，其中，所述试样容器保持具包括：
基座构件；
第一保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，在其前端边缘保持所述试样容器的第一部分；以及
第二保持构件，自所述基座构件向上方侧延伸，并且与所述第一保持构件隔开间隔而配置，在其前端边缘保持所述试样容器的第二部分，并且
所述第一保持构件包括沿上下方向伸缩的伸缩机构部。


2.根据权利要求1所述的试样容器保持具，其中，所述第一保持构件具有与所述试样容器的外周部相接的上侧构件、及位于较所述上侧构件更靠下侧并固定于所述基座构件的下侧构件，
所述上侧构件与所述下侧构件在上下方向上的位置关系变更后，所述伸缩机构部构成为维持所述变更后的状态。


3.根据权利要求2所述的试样容器保持具，其中，所述伸缩机构部包括：长孔，在所述上侧构件及所述下侧构件中的一构件上沿着上下方向形成；内螺纹，形成于另一构件；以及螺栓，具有在插通所述长孔的状态下与所述内螺...

【专利技术属性】
技术研发人员：河合正幸，饭塚淳史，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP