卡片真伪识别装置制造方法及图纸

一种卡片真伪识别装置，包括：对于设置在卡片（１）上所定位置的全息图（２），将测定光束（Ｐ）从所定的方向朝全息图（２）投影的测定光投影系统（２３）；对基于由全息图（２）反射的测定光束（Ｐ）的反射衍射光（Ｒ１）、（Ｒ２）、（Ｒ３）受光的受光元件（２４ｂ）；使测定光束（Ｐ）对于全息图（２）的照射位置变化，以在受光元件（２４ｂ）的光量分布特性对应的受光信号平均化的平均装置（２５）；将平均化装置（２５）的输出与容许值比较，识别卡片的真伪的识别装置（２６）。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有全息图的卡片的真伪识别装置。
技术介绍
以往知道，如附图说明图1所示，在如信用记录卡等的卡片1中设置全息图密封2的卡片，在该全息图密封2中形成基于光栅图形3的图像4。以往，是由目视识别卡片1的真伪。可是，由于图像4随光线入射方向变化，或卡片1受到损伤，使得肉眼目视在全息图密封2里形成的图像，以客观的判断、识别卡片1的真伪是困难的。近来，为了客观识别卡片1的真伪，正在开发将测定光束投射到全息图密封，由受光元件对基于由全息图密封反射的测定光束的反射衍射光受光，再根据反射衍射光的光量分布的峰值强度、重心位置、扩散幅度、峰值的个数进行卡片真伪识别的卡片真伪识别装置。(如，参照专利申请特原2000-118067号)可是，在全息图密封2里，如图2所示，有将具有所定间距Q1的衍射光栅3’的光栅图形5，和其衍射光栅的排列方向是同方向、且具有不同的所定间Q2、Q3的衍射光栅3’的光栅图形6、7按一定周期交错排列的图形。这里，设定Q1＞Q3＞Q2。如图3所示，将从测定光投影系统8形成的平行光束的测定光束P投影到这种全息图密封2，则全息图2产生基于该测定光束的反射衍射光R1、R2、R3。这里，反射衍射光R1是基于光栅图形5反射，反射衍射光R2是基于光栅图形6反射，反射衍射光R3是基于光栅图形7反射的。各反射衍射光R1、R2、R3是使用作为受光元件的系列传感器10通过傅里叶变换透镜9检测的。若根据系列传感器10的各元件的受光输出，用运算装置(图示略)求得有无各反射衍射光R1、R2、R3的光量分布，光量分布的峰值强度，扩散宽度，就能识别卡片的真伪。图3中，符号8a是半导体激光器。符号8b是将半导体激光器8a发射的发散光束变换成平行光束的视准透镜。如注视这种全息图密封2上的测定光束P的光点S，则未必限于测定光束P跨越3个光栅图形5、6、7投影。即，如图2(a)所示，测定光束P跨越光栅图形6、7投影时，如图4所示，系列传感器10上得到与光栅图形6对应的反射衍射光R2的光量分布R2’和与光栅图形7对应的反射衍射光R3的光量分布R3’，而不能得到与光栅图形5对应的反射衍射光R1的光量分布R1’。而且，基于测定光束P对于光栅图形6的照射面积与光栅图形7的照射面积的不同，光量分布R2’的峰值Pe和光量分布R3’的峰值Pe不同。一方面，例如，如图2的符号(b)所示那样，测定光束P跨越3个光栅图形5、6、7投影，而测定光束P对光栅图形6的照射面积大时，则如图5所示，系列传感器10上得到分别与光栅图形5、6、7对应的反射衍射光R1、R2、R3的光量分布R1’、R2’、R3’。但相对基于光栅图形6的光量分布R2’的峰值Pe，基于其余光栅图形7、5的光量分布R3’、R1’的峰值Pe极低。又，如图2的符号(c)所示，测定光束P投影跨越光栅图形5、6时，则如图6所示，系列传感器10上得到光栅图形5、6对应的反射衍射光R1、R2的光量分布R1’、R2’，不能得到光栅图形7对应的反射衍射光R3的光量分布R3’。从而，将测定光束P投影到这种全息图密封2，反射衍射光的光量分布也随着对光栅图形5、6、7的照射位置不同而变化，导致不能客观识别卡片的真伪。本专利技术鉴于所述缘故而进行了研究，本专利技术的目的是提供一种卡片的真伪识别装置，所述装置对于即使是具有所定间距的衍射光栅的光栅图形，和具有排列方向与所述光栅图形的衍射光栅的排列方向相同、且具有与其光栅图形的衍射光栅的所定间距不同的衍射光栅的光栅图形，按一定周期交错排列的全息图密封的卡片，也能够客观识别其真伪。
技术实现思路
权利要求1所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，所述卡片真伪识别装置包括对于设置在卡片上的所定位置的全息图，将测定光束从所定方向向全息图投影的测定光投影系统；对基于由所述全息图反射的所述测定光束的反射衍射光受光的受光元件；使所述测定光束对于所述全息图的照射位置变化，使对应于受光元件上的光量分布特性对应的受光信号平均化的平均化装置(手段)；将所述平均化装置的输出与容许值比较，以识别所述卡片的真伪的识别装置(手段)。权利要求2所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，所述信号平均化装置由对所述受光信号进行累计的累计运算装置(手段)组成。权利要求3所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，所述卡片真伪识别装置具有卡片的输送装置，所述平均化装置根据所述卡片输送中的所述受光元件的受光信号，使所述受光信号平均化。权利要求4所述的卡片真伪识别装置，其特征在于，所述卡片真伪识别装置系对下述全息图密封卡片的真伪进行识别所述卡片具有按所定间距的衍射光栅的光栅图形；以及排列方向与所述图形的衍射光栅的排列方向是同一方向，和具有排列方向与所述光栅图形的衍射光栅的排列方向相同、且具有与其光栅图形的衍射光栅的所定间距不同的衍射光栅的光栅图形，按一定周期交错排列。权利要求5所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，所述卡片真伪识别装置系对下述全息图密封卡片的真伪进行识别所述卡片具有按所定间距的衍射光栅的光栅图形；以及排列方向与所述图形的衍射光栅的排列方向是同一方向，和具有排列方向与所述光栅图形的衍射光栅的排列方向相同、且具有与其光栅图形的衍射光栅的所定间距不同的衍射光栅的光栅图形，按一定周期交错排列；为进行上述的识别，所述卡片的真伪识别装置包括具有发生激光的半导体激光器，和将所述激光变换成平行光束，使测定光束向所述全息图密封投影的视准透镜的测定光投影系统；用于检测由所述全息图密封反射的反射衍射光的反射衍射光检测系统，所述反射衍射光检测系统包括对所述全息图密封反射的反射衍射光受光的系列传感器，和位于所述卡片与所述系列传感器之间的傅里叶变换透镜；照射位置变化装置(手段)，所述照射位置变化装置系为使基于所述系列传感器上的所述的光栅图形的反射衍射光的各光量分布特性平均化，而使所述测定光束对于所述全息图密封的照射位置变化；将所述系列传感器的各元件的受光信号输入，对各元件的受光信号分别累计的累计运算装置(手段)；将所述累计运算装置的输出与容许值比较，对所述卡片的真伪进行识别的识别装置(手段)。权利要求6所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，在权利要求5所述的装置中，所述光栅图形的排列形成于所述系列传感器的延伸方向。权利要求7所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，在权利要求6所述的装置中，形成于所述系列传感器的延伸方向的光栅图形的排列，是在与所述系列传感器的延伸方向正交的方向，并且与该系列传感器的延伸方向相互对应的各光栅图形的形成位置被错开，而形成多个。权利要求8所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，在权利要求7所述的装置中，所述照射位置变化装置是将所述卡片在与所述系列传感器的延伸方向正交的方向输送的输送装置(手段)。权利要求9所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，在权利要求7所述的装置中，所述照射位置变化装置是使所述测定光投影系统和所述反射衍射光检测系统在所述系列传感器的延伸方向移动的移动装置(手段)。权利要求10所述的卡片的真伪识别装置，其特征在于，在权利要求8所述的装置中，所述累计运算装置是对所述卡片的输送中得到的各器件的受光输出分别累计，使与各光栅图形对应的光量分布特性平均化。附图的简单说明图1是具有全密封息图的卡片一例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种卡片真伪识别装置，其特征在于，所述卡片真伪识别装置包括：对于设置在卡片上的所定位置的全息图，将测定光束从所定方向向全息图投影的测定光投影系统；对基于由所述全息图反射的所述测定光束的反射衍射光受光的受光元件；使所述测定光束对于 所述全息图的照射位置变化，使对应于受光元件上的光量分布特性对应的受光信号平均化的平均化装置；将所述平均化装置的输出与容许值比较，以识别所述卡片的真伪的识别装置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：堀信男，永野繁宪，
申请(专利权)人：株式会社拓普康，
类型：发明
国别省市：JP[日本]