一种检测用探针及检测装置制造方法及图纸

一种检测用探针，包括第一连接件、第二连接件及弹性件，第一连接件在第一方向上靠近第二连接件的端部上设有限定孔，第二连接件在第一方向上靠近第一连接件的端部设有沿第一方向延伸的第一连接臂及第二连接臂，第一连接臂的一端设有第二接触部，第二接触部抵接在所述第一连接件在第三方向上的侧面上。本实用新型专利技术通过在相互分离设置的第二连接件上的限定部及第一连接件上的限定孔，且限定部部分收容于限定孔内，对第一连接件及第二连接件的相对移动起到限定作用，并且配合第二接触部抵接在第一连接件的侧面上，以便即使第一连接件与第二连接件相对移动，仍然可以使得两者稳定的接触，以实现大电流的传输。

【技术实现步骤摘要】
一种检测用探针及检测装置
本技术涉及检测
，尤其是涉及检测用探针及检测装置。
技术介绍
目前，在对IC芯片进行检测时经常使用探针，在检测时，将探针放置在电路板与需要检测的IC芯片之间且分别与其电接触，以便将IC芯片的检测信号经过探针传输至电路板上。然而，IC芯片在检测的过程中，其与电路板之间的距离不是不变的，即IC芯片与电路板之间的距离会变大或变小，当IC芯片与电路板之间的距离较小时，IC芯片与电路板容易将两者之间的探针压弯，对探针造成损坏，而当IC芯片与电路板之间的距离较大时，探针与IC芯片及电路板容易接触不良，影响检测的完成，无法满足现有的检测的需求。因此，需要提供一种新的技术方案解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术要解决的问题是提供可以有效解决上述技术问题的检测用探针及检测装置。为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种检测用探针，所述检测用探针包括相互分离设置的第一连接件、第二连接件及设置于所述第一连接件与所述第二连接件之间的弹性件，所述第一连接件在第一方向上靠近所述第二连接件的端部上设有限定孔，所述第二连接件在第一方向上靠近所述第一连接件的端部设有沿第一方向延伸的第一连接臂及第二连接臂，所述第一连接臂与所述第二连接臂在第三方向上分别位于所述第一连接件的两侧，所述第一连接臂的一端设有第二接触部，所述第二接触部抵接在所述第一连接件在第三方向上的侧面上，所述第二连接臂的端部设有限定部，所述限定部部分收容于所述限定孔内且与所述限定孔的内表面滑动接触。优选地，所述第一连接臂的长度大于所述第二连接臂的长度。优选地，所述第一连接件上设有在第二方向上位于其两侧的第一突出部，所述第一突出部与所述第一连接件固定连接。优选地，所述第二连接件包括设置于所述第一连接臂上的第二突出部，所述第二突出部在第三方向上位于所述第一连接臂背离所述第二连接臂的一侧，所述第二突出部与所述第一连接臂固定连接。优选地，所述第二连接件还包括设置于所述第二连接臂上的第二突出部，所述第二突出部在第三方向上位于所述第二连接臂上背离所述第一连接臂的一侧，所述第二突出部与所述第二连接臂固定连接。优选地，所述第一连接件在第一方向上背离所述第二连接件的一端设有第一接触部，所述第一接触部自所述第一连接件的端面向第二连接件的方向凹陷，所述第一接触部呈“V”字形。优选地，所述第二连接件在第一方向上背离所述第一连接件的一端设有第二接触部，所述第二接触部自所述第二连接件的端面向背离所述第一连接件的方向延伸，所述第二接触部呈“V”字形。优选地，所述弹性件套在所述第一连接件、第一连接臂及第二连接臂上，所述弹性件抵接于所述第一突出部与所述第二突出部上。一种检测装置，包括探针，所述检测装置还包括主体、设置于所述主体下方的电路板，所述主体上设有若干依次排列的容置孔，所述探针收容于所述容置孔内，所述探针的第二连接件背离所述第一连接件的一端穿过所述容置孔的下端开口且与所述电路板上的第一接触点电接触，所述第一连接件背离所述第二连接件的一端穿过所述容置孔的上端开口且用于与IC芯片的第二接触点电接触。优选地，所述容置孔的上端开口及下端开口的直径小于其中间部分的直径。采用上述技术方案后，本技术具有如下优点：本技术检测用探针通过设置相互分离且可以相互移动的第一连接件及第二连接件，从而可以适应不同距离大小的IC芯片及电路板的检测需求，即分离设置的第一连接件与第二连接件的相互移动以使得本技术检测用探针的长度与电路板及IC芯片之间的距离相等，实现探针与电路板及IC芯片之间稳定的接触，进而可以实现大电流的传输，同时可以防止电路板与IC芯片之间距离缩小将探针压弯，方便了IC芯片的检测，适应范围广；同时通过设置第二连接件上的限定部及第一连接件上的限定孔，通过限定部部分收容于限定孔内，对第一连接件及第二连接件的相对移动起到限定作用，并且配合第二连接臂上的第二接触部，使得第二接触部抵接在第一连接件的侧面上，以便保证即使第一连接件与第二连接件相对移动，仍然可以使得两者稳定的接触，有利于大电流的传输，且防止接触不良的现象发生，实现检测的准确性及稳定性；并且第一接触部呈凹陷的V字形及第二接触部呈突出的V字形可以分别与IC芯片的第二接触点及电路板的第一接触点稳定的电接触，保证电连接及信号传输的稳定性以及大电流的传输；弹性件的设置可以对第一连接件及第二连接件起到稳定的支撑作用。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明：图1为本技术检测用探针的一个方向的示意图；图2为图1所示本技术检测用探针的另一个方向的示意图；图3为本技术检测用探针的一个方向的立体图；图4为图3所示本技术检测用探针的另一个方向的立体图；图5为图3所示本技术检测用探针的第一连接件的立体图；图6为图3所示本技术检测用探针的第二连接件的立体图；图7为本技术检测装置的结构示意图。1-第一连接件；11-第一突出部；12-限定孔；13-第一接触部；2-第二连接件；21-第一连接臂；211-第二接触部；22-第二连接臂；221-限定部；23-第二突出部；24-第三接触部；3-弹性件；10-探针；20-主体部；201-通孔；30-电路板；301-第一接触点；40-IC芯片；401-第二接触点。具体实施方式下面结合附图对本技术检测用探针及检测装置作出清楚完整的说明。如图1至图6所示，本技术检测用探针10包括第一连接件1、与所述第一连接件1连接的第二连接件2及设置于所述第一连接件1与所述第二连接件2上的弹性件3。如图1至图6所示，所述第一连接件1用于与IC芯片40电接触，所述第一连接件1沿第一方向延伸，即沿所述第一连接件1的长度方向延伸，如图4中的x方向，所述第一连接件1包括在第一方向上位于其一端的第一接触部13、位于其另一端的限定孔12，所述第一接触部13优选的为凹陷状，即沿第一方向，所述第一接触部13自所述第一连接件1的端面朝向限定孔12的方向凹陷形成，进一步的，所述第一接触部13优选为V字形，在其他实施例中，所述第一接触部13亦可以为圆弧形，或者其他形状，所述第一接触部13的形状可以根据需要设置，通过将第一接触部13设计成凹陷状，方便使得IC芯片40的第二接触点401部分收容于所述第一接触部13内，使第一接触部13与所述第二接触点401可以充分接触，防止接触不良，保证检测的准确性及稳定性。所述限定孔12沿第一方向延伸设置，所述限定孔12沿第三方向贯穿所述第一连接件1的两侧面，所述第三方向与所述第一方向相垂直，所述第三方向为图4中的z方向，在本实施例中，所述限定孔12为长方体状，在其他实施例中，所述限定孔12亦可以为其他几何状，优选的，所述限定孔12为沿第一方向的长条状。如图1至图6所示，所述第一连接件1还包括沿第二方向位于其两侧的第一突出部11本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测用探针，其特征在于，所述检测用探针包括相互分离设置的第一连接件、第二连接件及设置于所述第一连接件与所述第二连接件之间的弹性件，所述第一连接件在第一方向上靠近所述第二连接件的端部上设有限定孔，所述第二连接件在第一方向上靠近所述第一连接件的端部设有沿第一方向延伸的第一连接臂及第二连接臂，所述第一连接臂与所述第二连接臂在第三方向上分别位于所述第一连接件的两侧，所述第一连接臂的一端设有第二接触部，所述第二接触部抵接在所述第一连接件在第三方向上的侧面上，所述第二连接臂的端部设有限定部，所述限定部部分收容于所述限定孔内且与所述限定孔的内表面滑动接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测用探针，其特征在于，所述检测用探针包括相互分离设置的第一连接件、第二连接件及设置于所述第一连接件与所述第二连接件之间的弹性件，所述第一连接件在第一方向上靠近所述第二连接件的端部上设有限定孔，所述第二连接件在第一方向上靠近所述第一连接件的端部设有沿第一方向延伸的第一连接臂及第二连接臂，所述第一连接臂与所述第二连接臂在第三方向上分别位于所述第一连接件的两侧，所述第一连接臂的一端设有第二接触部，所述第二接触部抵接在所述第一连接件在第三方向上的侧面上，所述第二连接臂的端部设有限定部，所述限定部部分收容于所述限定孔内且与所述限定孔的内表面滑动接触。


2.如权利要求1所述的检测用探针，其特征在于：所述第一连接臂的长度大于所述第二连接臂的长度。


3.如权利要求2所述的检测用探针，其特征在于：所述第一连接件上设有在第二方向上位于其两侧的第一突出部，所述第一突出部与所述第一连接件固定连接。


4.如权利要求3所述的检测用探针，其特征在于：所述第二连接件包括设置于所述第一连接臂上的第二突出部，所述第二突出部在第三方向上位于所述第一连接臂背离所述第二连接臂的一侧，所述第二突出部与所述第一连接臂固定连接。


5.如权利要求3所述的检测用探针，其特征在于：所述第二连接件还包括设置于所述第二连接臂上的第二突出部，所述第二突出部在第三方向上位于所述第二连...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵成兵，
申请(专利权)人：苏州格巨电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32