用于分析数字图像纹理结构的方法技术

提供一种用于通过得到两个图像之间的匹配度量评价两个任意数字图像的纹理结构相似性的数字图像纹理结构分析方法，该方法包括步骤：（ａ）使用具有不同定向和比例系数的预定滤波器获得关于两个任意图像的滤波图像；和（ｂ）通过计算关于一个任意滤波图像和由具有与用于滤波该任意图像的滤波器不同的定向和比例系数的滤波器滤波的图像的像素值的平均值和方差之间的绝对差值的和的最小值获得一个匹配度量。该纹理结构分析方法允许更为准确地分析和比较图像纹理结构。此外，根据数字图像纹理结构分析方法，当仅相对另一个图像旋转，放大或缩小一个图像时，分析两个图像的纹理结构相似性，即，可执行准确分析。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种分析数字图像纹理结构的方法，特别涉及一种使用纹理结构描述符分析数字图像纹理结构的方法。本申请要求1999年10月1日申请的、标题为“静止图像纹理结构的分析方法”，临时申请序号No.60/157,077的优先权。
技术介绍
图1示出一种常规的数字图像纹理结构分析方法。参照图1，通过执行一个预定滤波方法得到滤波图像，并且将滤波图像的像素值的平均值和方差用作图像的纹理结构描述符。该纹理结构描述符表示图像纹理结构的分析结果。然而，根据常规的数字图像纹理结构分析方法，在一个图像相对另一个图像旋转、放大或缩小的情况下，即使当图像的纹理结构与另一个图像的纹理结构类似时，分析两个图像的纹理结构的结果也不同。
技术实现思路
本专利技术的第一目的是提供一种更为准确地分析和比较图像纹理结构的数字图像纹理结构分析方法。本专利技术的第二目的是提供一种计算机可读记录介质，该介质用于存储执行实现本专利技术第一目的的数字图像纹理结构分析方法的程序码。本专利技术的第三目的是提供一种用于执行实现本专利技术第一目的的数字图像纹理结构分析方法的数字图像纹理结构分析装置。本专利技术的第四目的是提供一种用于使用实现本专利技术第一目的的数字图像纹理结构分析方法所指出的纹理结构描述符查找一个图像的数字图像查找方法。本专利技术的第五目的是提供一种用于准确分析两个图像纹理结构的相似性的数字图像纹理结构分析方法。本专利技术的第六目的是提供一种计算机可读记录介质，该介质用于存储执行实现本专利技术第五目的的数字图像纹理结构分析方法的程序码。本专利技术的第七目的是提供一种用于执行实现本专利技术第五目的的数字图像纹理结构分析方法的数字图像纹理结构分析装置。本专利技术的第八目的是提供一种用于即使当一个图像相对另一个图像旋转时更为准确地分析两个图像的纹理结构是相似的数字图像纹理结构分析方法。本专利技术的第九目的是提供一种计算机可读记录介质，该介质用于存储执行实现本专利技术第八目的的数字图像纹理结构分析方法的程序码。本专利技术的第十目的是提供一种用于执行实现本专利技术第八目的的数字图像纹理结构分析方法的数字图像纹理结构分析装置。本专利技术的第十一目的是提供一种用于即使当一个图像相对另一个图像放大或缩小时也能准确地分析两个图像的纹理结构是相似的数字图像纹理结构分析方法。本专利技术的第十二目的是提供一种计算机可读记录介质，该介质用于存储执行实现本专利技术第十一目的的数字图像纹理结构分析方法的程序码。本专利技术的第十三目的是提供一种用于执行实现本专利技术第十一目的的数字图像纹理结构分析方法的数字图像纹理结构分析装置。本专利技术的第十四目的是提供一种用于即使当一个图像相对另一个图像旋转、放大或缩小时更为准确地分析两个图像的纹理结构是相似的数字图像纹理结构分析方法。因此，为实现第一目的，提供一种包括获得纹理结构描述符步骤的数字图像纹理结构分析方法，该纹理结构描述符包括作为一个纹理结构特征的原始图像的像素平均值。这里，纹理结构特征可以进一步包括原始图像的像素值的方差。此外，数字图像纹理结构分析方法包括获得纹理结构描述符的步骤，该纹理结构描述符包括作为一个纹理结构特征的原始图像的像素值的方差。根据本专利技术的另一个方面，提供一种数字图像纹理结构分析方法，该方法包括步骤(a)获得原始图像像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)，(b)通过使用预定滤波器滤波原始图像得到m×n个滤波图像，每个滤波器具有m个标度(scale)之一和n个定向(orientation)之一的唯一组合，其中m和n为预定的正整数，(c)计算各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)，和(d)获得具有在步骤(a)得到的原始图像的像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)以及在步骤(c)得到的各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)的纹理结构描述符作为纹理结构特征。为实现本专利技术的第二目的，提供一个用于存储执行数字图像纹理结构分析方法的程序码的计算机可读记录介质，该方法包括步骤(a)获得原始图像像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)，(b)通过使用预定滤波器滤波原始图像得到m×n个滤波图像，每个滤波器具有m个标度之一和n个定向之一的唯一组合，其中m和n为预定的正整数，(c)计算各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)，和(d)获得具有在步骤(a)得到的原始图像的像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)以及在步骤(c)得到的各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)的纹理结构描述符作为纹理结构特征。为实现本专利技术的第三目的，提供一个数字图像纹理结构分析装置，包括一个用于计算原始图像像素值的平均值和方差的平均值/方差计算单元，以及一个用于将平均值和方差设定为纹理结构描述符的纹理结构描述符设定单元。此外，该装置还包括一个用于使用预定的滤波器滤波原始图像以得到m×n个滤波图像的滤波单元，每个滤波器具有m个标度之一和n个定向之一的唯一组合，其中m和n为预定的正整数，其中平均值/方差计算单元获得原始图像像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)以及各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)，以及其中纹理结构描述符设定单元获得具有原始图像的像素值的平均值(μ0)和方差(σ0)和各个滤波图像的平均值(μ11，μ21，…，μmn)和方差(σ11，σ21，…，σmn)的纹理结构描述符作为纹理结构特征。为实现本专利技术的第四目的，提供一种数字图像查找方法，该方法包括使用具有原始图像的平均值和方差作为纹理结构特征的一个纹理结构描述符查找一个具有与查询图像类似的纹理结构的图像的步骤。为实现本专利技术的第五目的，提供一个用于通过得到两个图像之间的匹配度量(matching metric)评价两个任意数字图像的纹理结构相似性的数字图像纹理结构分析方法，该方法包括计算包含两个任意数字图像的像素值的平均值之间的绝对差值的匹配度量的步骤。此外，匹配度量还包括原始图像的像素值的方差之间的绝对差值。根据本专利技术的另一个方面，提供一种用于通过得到两个图像之间的匹配度量评价两个任意数字图像的纹理结构相似性的数字图像纹理结构分析方法，该方法包括计算包括两个任意数字图像的像素值的方差之间的绝对差值的匹配度量的步骤。作为一种替换，该数字图像纹理结构分析方法还包括步骤(a)使用预定滤波器获得关于两个任意图像的m×n个滤波图像，其中每个滤波器具有m个标度之一和n个定向之一的唯一组合，这里m和n是预定的正整数，和(b)计算由d(i,j)=Σm,ndm,n(i,j)+b]]>定义的关于原始图像和m×n个滤波图像的匹配度量，这里各个图像的像素值的平均值和方差是μ和σ，原始图像的像素值的平均值和方差是μ0和σ0，b=|μ0(i)-μ0(j)α(μ0)|+|σ0(i)-σ0(j)α(σ0)|,]]>dm,n(i,j)=|μm,n(i)-μm,n(j)j&a本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于通过得到两个图像之间的匹配度量评价两个任意数字图像的纹理结构相似性的数字图像纹理结构分析方法，该方法包括步骤：（ａ）使用具有不同定向和比例系数的预定滤波器获得关于两个任意图像的滤波图像；和（ｂ）通过计算关于一个任意滤 波图像和由具有与用于滤波该任意图像的滤波器不同的定向和比例系数的滤波器滤波的图像的像素值的平均值和方差之间的绝对差值的和的最小值获得一个匹配度量。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：申铉枓，崔良林，BS曼朱纳斯，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，加利福尼亚大学董事会，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]