【技术实现步骤摘要】
一种钢轨表面加工质量的定量测量方法
本专利技术属于钢轨打磨
,尤其是涉及一种钢轨表面加工质量的定量测量方法。
技术介绍
钢厂生产的钢轨标准长度为25米或100米,标准长度的钢轨运输至钢轨焊接基地后,将钢轨焊接连成500米长的无缝钢轨,再运输到铁路线上进行铺设,铁路线现场铺设时再用专用设备将500米长钢轨依次焊接连成500米长钢轨依次焊接连成全线无缝钢轨,钢轨任何位置都不能存在机械连接的狭缝,列车运行时才能平稳。钢轨在焊轨基地焊接时,每两根钢轨焊接处形成焊缝,焊缝厚度高于钢轨表面形成突出于钢轨表面的焊瘤,焊瘤必须打磨掉,形成平滑的焊缝,使焊缝及焊缝左右钢轨都达到行业标准要求的平顺过渡才能形成合格的焊缝,保障列车运行平稳和安全。随着钢轨平温性的要求不断提高,而钢轨焊接定量是影响其平顺性的重要因素之一。过大的错边量会造成列车运行不平稳,影响列车的行车安全、乘车舒适度以及钢轨的寿命。焊接错边量的检测标准是测量焊缝中心两侧15mm~25mm的位置高度差,其测量值不能超过标准中的允许值,当焊接接头的错边量超标时,必须将焊接接头锯下来重焊。目前对于钢轨错边量采用的主要还是手工测量,误差大,效率低。
技术实现思路
第一方面,一种复杂曲面构件的打磨方法,该方法的打磨对象为具有复杂曲面的构件,该构件的表面由平面、竖直面和圆弧柱面相连而成的复杂曲面,圆弧面至少有两个,且两个圆弧面的半径不同;该方法分为横向打磨和纵向修磨,横向是指沿垂直于平面的高度方向,纵向是指沿平行于圆弧柱面轴向的长度方向;先用张 ...
【技术保护点】
1.一种钢轨表面质量的定量测量方法,其特征在于:该方法通过激光器向钢轨表面照射直线光条,相机获取钢轨和光条的钢轨-光条图像,从钢轨-光条图像中分割出光条,沿着X向对光条离散取点,提取出各离散点的光条中心像素坐标,寻找纵坐标最小的光条中心点作为特征点,从特征点分别向左右两边搜索光条曲线的二阶导数的最小值点,将特征点左右两边的二阶导数最小值点判定为钢轨焊缝边界特征点,以钢轨焊缝边界内的特征点和钢轨焊缝边界外的特征点在y轴的差值作为打磨后轨底焊筋高度。/n
【技术特征摘要】
20200529 CN 2020104749541;20201014 CN 2020110986631.一种钢轨表面质量的定量测量方法,其特征在于:该方法通过激光器向钢轨表面照射直线光条,相机获取钢轨和光条的钢轨-光条图像,从钢轨-光条图像中分割出光条,沿着X向对光条离散取点,提取出各离散点的光条中心像素坐标,寻找纵坐标最小的光条中心点作为特征点,从特征点分别向左右两边搜索光条曲线的二阶导数的最小值点,将特征点左右两边的二阶导数最小值点判定为钢轨焊缝边界特征点,以钢轨焊缝边界内的特征点和钢轨焊缝边界外的特征点在y轴的差值作为打磨后轨底焊筋高度。
2.如权利要求1所述的钢轨表面加工质量的定量测量方法,其特征在于:提取光条中心点像素坐标的可选的方法为:以图像中光条上任意一像素点(x0,y0)处的法线方向的向量记为(nx,ny),获得光条中心的像素坐标为(x0+tnx,y0+tny),其中,
记数字图像的二维灰度分布函数为I(x,y)。如此,利用光条的灰度分布特性,抗干扰能力强,且提取精度高,能够实现光条的亚像素级别的提取。
3.如权利要求2所述的钢轨表面加工质量的定量测量方法,其特征在于:在计算光条中心点的坐标之前,利用阈值法对钢轨-光条图像的光条边界进行粗提取,然后通过粗提取的光条边界计算光条宽度w并生成对应宽度的高斯卷积核,最后再利用该高斯卷积核对光条内部区域使用上述公式计算进行光条中心的精确提取,从而得到光条中心坐标;记第i个光条中心的像素坐标为(xi,yi),光条中心点的水平像素坐标为xi,寻找光条中心点纵坐标最小的点作为特征点C;然后分别对各个光条中心点进行微分计算与高斯滤波处理得到滤波后的一阶导数ki,然后再对滤波后的一阶导数进行微分计算与高斯滤波处理,得到滤波后的二阶导数Di,最后从特征点C分别向左右两侧搜索二阶导数的最小值来确定钢轨焊缝边界的特征点;以钢轨焊缝边界内的特征点和钢轨焊缝边界外的特征点在y轴的差值作为打磨后轨底焊筋高度。
4.如权利要求1所述的钢轨表面加工质量的定量测量方法,其特征在于:光条中心坐标提取方法的流程如下:
Step1:设置阈值th,输入待处理的钢轨-光条图像I。
Step2:对钢轨-光条图像I进行预处理。
Step3:对所有列像素进行顺序扫描,得到该列上第一个大于th的像素坐标和最后一个大于th的像素坐标,分别记为(B1,col),(B2,col),该坐标即为粗提取得到光条边界的坐标。
Step4:利用粗提取得到的光条边界计算每一列上的光条宽度,记第i列的光条宽度为wi=|B1-B2|,则最大光条宽度为wmax=max{wi|N≥i≥1},其中N为图像的列数。
Step5:以10为公差生成等差数组M={10,20,…,wmax}。利用数组中的元素mi构造长度和宽度为的高斯卷积核及其对应的一阶和二阶偏导卷积核。
Step6:对图像中第i列像素,选择Step5生成的数组M中最接近wi的元素mi所构造的卷积核计算第i列像素上行坐标在区间内的像素点的法线方向的向量(nx,ny)。
Step7:将Step5中计算得到的特征向量代入式(3-21)计算t,当|tnx|≤0.5且|tny|≤0.5时,光条中心处于当前像素内。最终求解得光条中心的像素坐标为(x0+tnx,y0+tny)。
Step8:对每一列重复Step6至Step7,最终可提取得到所有光...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹衍龙,唐铭,黄芳,刘文渊,陈景曦,丁斌杰,
申请(专利权)人:浙江大学,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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