摄像装置和摄像系统制造方法及图纸

根据本公开的实施例的摄像装置设置有：多个电流源，包括第一组电流源和第二组电流源；以及控制单元，其控制第一组电流源的驱动以产生具有第一相位的斜坡电压，并且控制第一组电流源和的驱动第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生具有第二相位的斜坡电压。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】摄像装置和摄像系统
本公开涉及摄像装置和摄像系统。
技术介绍
安装在图像传感器上的ADC(模数转换器)包括单斜率ADC。该单斜率ADC通常使用DAC(数模转换器)作为斜坡电压发生器。DAC体系结构的示例包括分段电流型DAC，该分段电流型DAC具有数百个电流源。在分段电流型DAC中，通过对数百个电流源执行选择性接通/断开控制而产生的电流流过电阻器，从而提供斜坡电压(参见专利文献1)。引用列表专利文献专利文献1：日本未审查专利申请公开第2012-39299号
技术实现思路
在不允许DAC出现故障的使用情况下，需要进行测试以确定数百个电流源各自是否有故障。通常，这些测试是在图像传感器出厂时进行的。过去这些测试是通过将从各个电流源获得的电压输入到外部检查设备来进行的。然而，在将从各个电流源获得的电压输入到外部检查设备的情况下，寄生RC的影响、用于提高测量精度的处理等会增加测试时间。因此，期望提供一种使得能够缩短测试时间的摄像装置和摄像系统。根据本公开的实施例的摄像装置包括：多个电流源，其包括第一组电流源和第二组电流源；以及控制单元，其控制所述第一组电流源的驱动以产生第一相位斜坡电压，并且控制所述第一组电流源和所述第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生第二相位斜坡电压。在根据本公开的实施例的摄像装置中，控制第一组电流源的驱动以产生第一相位斜坡电压。控制第一组电流源和第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生第二相位斜坡电压。这使得能够例如基于第一相位斜坡电压和第二相位斜坡电压来检测第二组电流源中的至少一个电流源的故障。结果，即使不使用外部检查设备，也可以检测摄像装置的故障。此外，无需使用外部检查设备。这也使得能够排除寄生RC的影响、用于提高测量精度的处理等。根据本公开的实施例的摄像系统包括：多个电流源，其包括第一组电流源和第二组电流源；控制单元，其控制所述第一组电流源的驱动以产生第一相位斜坡电压，并且控制所述第一组电流源和所述第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生第二相位斜坡电压。所述摄像系统还包括故障检测单元，其基于所述第一相位斜坡电压和所述第二相位斜坡电压来检测所述第二组电流源中的至少一个电流源的故障。根据本公开的实施例的摄像系统设置有故障检测单元，其基于第一相位斜坡电压和第二相位斜坡电压来检测第二组电流源中的至少一个电流源的故障。这使得即使不使用外部检查设备也可以检测摄像装置的故障。此外，无需使用外部检查设备。这也使得能够排除寄生RC的影响、用于提高测量精度的处理等。附图说明图1是示出根据本公开的实施例的摄像装置的电路构造示例的图。图2是示出图1中的摄像装置包括层叠的三个基板的示例的图。图3是示出图2中的传感器像素的电路配置示例的图。图4是示出图1中的DAC的电路构造示例的图。图5是示出图4中的DAC的输出波形示例的图。图6是示出图4中的第一移位寄存器的电路构造示例的图。图7是示出图6中包括第一移位寄存器的DAC的输出波形示例的图。图8是示出图4中的第一移位寄存器的电路构造示例的图。图9是示出图8中包括第一移位寄存器的DAC的输出波形示例的图。图10是示出由图4中的DAC进行的故障确定过程的示例的图。图11是示出图1中的摄像装置的电路构造的变形例的图。图12是示出包括根据上述实施例及其变形例中的任一个的摄像装置的摄像系统的示意性构造的示例的图。图13是示出包括根据上述实施例及其变形例中的任一个的摄像装置的摄像系统的示意性构造的示例的图。图14是示出由图12和图13中的摄像系统进行的摄像过程的示例的图。图15是示出车辆控制系统的示意性构造的示例的框图。图16是辅助说明车外信息检测部和摄像部的安装位置的示例的图。具体实施方式下面参考附图详细描述用于实施本公开的形式。要注意的是，将以下面的顺序进行描述。1.实施例(摄像装置)…图1至图102.变形例(摄像装置)…图113.应用示例(摄像系统)…图12至图144.实际应用示例(移动体)…图15和图16<1.实施例>[构造]现在说明根据本公开的实施例的摄像装置1。图1示出了摄像装置1的电路构造示例。图2示出了摄像装置1包括层叠的三个基板的示例。根据本变形例的摄像装置1是安装有列并行ADC的CMOS图像传感器。摄像装置1包括像素阵列单元10，该像素阵列单元10包括以二维方式布置在矩阵(矩阵形状)中的多个传感器像素11。多个传感器像素11均包括光电转换元件。例如，如图2和图3所示，每个传感器像素11包括像素电路112和读出电路122。像素电路112包括例如光电二极管PD、传输晶体管TR和浮动扩散部FD。传输晶体管TR电连接至光电二极管PD。浮动扩散部FD临时保持经由传输晶体管TR从光电二极管PD输出的电荷。光电二极管PD执行光电转换以产生与接收的光量相对应的电荷。光电二极管PD的阴极连接到传输晶体管TR的源极。光电二极管PD的阳极连接到参考电位线(例如，接地)。传输晶体管TR的漏极连接到浮动扩散部FD。传输晶体管TR的栅极连接到像素驱动线12。在每个像素电路112中，浮动扩散部FD连接到相应的读出电路122的输入端。读出电路122包括例如复位晶体管RST、选择晶体管SEL和放大晶体管AMP。复位晶体管RST的源极(读出电路122的输入端)连接到浮动扩散部FD，并且复位晶体管RST的漏极连接到电源线VDD和放大晶体管AMP的漏极。复位晶体管RST的栅极连接至像素驱动线12。放大晶体管AMP的源极连接至选择晶体管SEL的漏极，并且放大晶体管AMP的栅极连接至复位晶体管RST的源极。选择晶体管SEL的源极(读出电路122的输出端)连接至垂直信号线13，并且选择晶体管SEL的栅极连接至像素驱动线12。在传输晶体管TR导通的情况下，传输晶体管TR将光电二极管PD的电荷传输到浮动扩散部FD。复位晶体管RST将浮动扩散部FD的电位复位为预定电位。在复位晶体管RST导通的情况下，复位晶体管RST将浮动扩散部FD的电位复位为电源线VDD的电位。选择晶体管SEL控制来自读出电路122的像素信号的输出时序。放大晶体管AMP生成具有与浮动扩散部FD中保持的电荷的电平相对应的电压的信号作为像素信号。换句话说，放大晶体管AMP产生具有与传感器像素11接收的光量相对应的电压的信号作为像素信号。放大晶体管AMP被包括在源极跟随器型的放大器中。放大晶体管AMP输出具有与光电二极管PD中产生的电荷的电平相对应的电压的像素信号。在选择晶体管SEL导通的情况下，放大晶体管AMP放大浮动扩散部FD的电位，并且经由垂直信号线13将与该电位相对应的电压输出到列信号处理电路40。注意，选择晶体管SEL可以设置在电源线VDD和放大晶体管AMP之间。在这种情况下，复位晶体管RST的漏极连接到电源线VDD和选择晶体管SEL的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种摄像装置，其包括：/n多个电流源，其包括第一组电流源和第二组电流源；以及/n控制单元，其控制所述第一组电流源的驱动以产生第一相位斜坡电压，并且控制所述第一组电流源和所述第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生第二相位斜坡电压。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20190115 JP 2019-0041681.一种摄像装置，其包括：
多个电流源，其包括第一组电流源和第二组电流源；以及
控制单元，其控制所述第一组电流源的驱动以产生第一相位斜坡电压，并且控制所述第一组电流源和所述第二组电流源中的至少一个电流源的驱动以产生第二相位斜坡电压。


2.根据权利要求1所述的摄像装置，还包括：
切换单元，其在摄像模式中将像素信号切换为与传感器像素接收的光量相对应的值，并在故障检测模式中将像素信号切换为固定值；以及
输出单元，在所述故障检测模式中，所述输出单元将所述像素信号和所述第一组电流源产生的斜坡电压进行比较，并将所述像素信号和所述第二组电流源产生的斜坡电压进行比较，并输出这些比较结果。


3.根据权利要求2所述的摄像装置，还包括故障检测单元，其在所述故障检测模式中基于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：渡边智希，竹中恭一，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP