【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】多模式放射设备和方法相关申请的交叉引用本申请要求以下11件美国临时专利申请的权益,该11件美国临时专利申请包括:2018年11月30日提交的序列号为62/773,712的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04001);2018年11月30日提交的序列号为62/773,700的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04002);2019年1月25日提交的序列号为62/796,831的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04004);2019年2月1日提交的序列号为62/800,287的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04003);2019年2月5日提交的序列号为62/801,260的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04006);2019年3月4日提交的序列号为62/813,335的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04007);2019年3月20日提交的序列号为62/821,116的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04009);2019年4月19日提交的序列号为62/836,357的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04016);2019年4月19日提交的序列号为62/836,352的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04017);2019年5月6日提交的序列号为62/843,796的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04005);以及2019年7月25日提交的序列号为62/878,364的美国临时专利申请(代理人案卷号为38935/04008) ...
【技术保护点】
1.一种多模式成像设备,包括:/n可旋转的门架系统,其被定位成至少部分地围绕患者支撑物;/n第一放射源,其耦接到所述可旋转的门架系统,所述第一放射源被配置用于成像放射;/n第二放射源,其耦接到所述可旋转的门架系统,所述第二放射源被配置用于成像放射或治疗性放射中的至少一个,其中,所述第二放射源具有超过所述第一放射源的能量水平;以及/n第一放射检测器,其耦接到所述可旋转的门架系统,并且被定位成从所述第一放射源或所述第二放射源中的至少一个接收放射;/n其中,来自所述第一放射源的第一测得的投射数据比来自所述第二放射源的第二测得的投射数据具有更大的衰减,并且其中,与所述第一测得的投射数据相关联的第一衰减估计基于所述第二测得的投射数据。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181130 US 62/773,712;20181130 US 62/773,700;20191.一种多模式成像设备,包括:
可旋转的门架系统,其被定位成至少部分地围绕患者支撑物;
第一放射源,其耦接到所述可旋转的门架系统,所述第一放射源被配置用于成像放射;
第二放射源,其耦接到所述可旋转的门架系统,所述第二放射源被配置用于成像放射或治疗性放射中的至少一个,其中,所述第二放射源具有超过所述第一放射源的能量水平;以及
第一放射检测器,其耦接到所述可旋转的门架系统,并且被定位成从所述第一放射源或所述第二放射源中的至少一个接收放射;
其中,来自所述第一放射源的第一测得的投射数据比来自所述第二放射源的第二测得的投射数据具有更大的衰减,并且其中,与所述第一测得的投射数据相关联的第一衰减估计基于所述第二测得的投射数据。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一放射源包括高达150keV的千电子伏特峰值光子能量keV,并且所述第二放射源包括1MeV或更大的兆电子伏特峰值光子能量MeV。
3.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第二放射源包括3MeV的峰值能量和约1MeV的平均能量。
4.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一测得的投射数据和所述第二测得的投射数据是同时获取的或者是在彼此相差约50ms内获取的。
5.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第二测得的投射数据包括稀疏投射数据。
6.根据权利要求1所述的设备,其中,在螺旋扫描期间测量所述第一测得的投射数据或所述第二测得的投射数据。
7.根据权利要求1所述的设备,其中,在圆形扫描期间测量所述第一测得的投射数据或所述第二测得的投射数据。
8.根据权利要求1所述的设备,还包括至少一个射束成形器,其被配置为调整由所述第一放射源或所述第二放射源发出的放射射束的形状。
9.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一放射源或所述第二放射源中的至少一个被配置为产生扇形射束形状。
10.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一放射源或所述第二放射源中的至少一个被配置为产生锥形射束形状。
11.根据权利要求1所述的设备,还包括重建处理器,其被配置为基于所述第一衰减估计和所述第一测得的投射数据来产生重建图像。
12.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一测得的投射数据比所述第二测得的投射数据具有更大的散射,并且其中,与所述第一测得的投射数据相关联的第一散射估计基于所述第二测得的投射数据。
13.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一测得的投射数据是以第一频率测量的,所述第二测得的投射数据是以第二频率测量的,所述第一频率小于所述第二频率,并且其中,所述第一测得的投射数据的插值基于所述第二测得的投射数据。
14.根据权利要求1所述的设备,其中,所述第一测得的投射数据是以第一频率测量的,所述第二测得的投射数据是以第二频率测量的,所述第一频率小于所述第二频率,并且其中,所述第一测得的投射数据的运动估计基于所述第二测得的投射数...
【专利技术属性】
技术研发人员:J·谢伊,B·弗雷德里克,丹尼尔·加农,艾里克·斯楚纳尔,
申请(专利权)人:爱可瑞公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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