一种光学探测器响应时间的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及检测设备技术领域，且公开了一种光学探测器响应时间的测试装置，包括光学探测器本体，所述光学探测器本体的底部搭接有测试工作台，所述测试工作台的顶部设置有测试装置，且所述测试工作台的顶部固定连接有透光计时板，所述测试装置包括测试移动光源架，所述移动光源架的顶部电连接有测试LED灯。该光学探测器响应时间的测试装置，通过旋转滑动滑块与透光计时板之间的夹角，可以改变光学探测器本体与光源发射光线的夹角，接着滑动移动光源架可以改变测试LED灯在滑动滑块上的位置，改变光学探测器本体与光源之间的间距，同时在转动和滑动的过程中可以通过刻度尺和量角器读出光源位置准确改变的参数，从而达到精确调节测试光源的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种光学探测器响应时间的测试装置
本技术涉及检测设备
，具体为一种光学探测器响应时间的测试装置。
技术介绍
光学探测器是光电检测仪器中经常使用的核心器件，光电探测器能把光信号转换为电信号，根据器件对辐射响应的方式不同或者说器件工作的机理不同，光电探测器可分为两大类:一类是光子探测器，另一类是热探测器；在光学探测器投入使用前，我们需要对其响应的情况进行测试，尤其是在对光学探测器响应时间进行检测时，需要使用到一种测试装置来帮助我们实现检测的目的。目前市场上针对光学探测器响应时间的测试装置，一般是人工进行移动测试光源来进行测试，这种检测方式在测试的时候就会由于间距角度太过随意导致测试数据不够准确；为此，我们提出了一种光学探测器响应时间的测试装置，用以解决现有光学探测器测试光源不能精准调节的问题。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本技术提供了一种光学探测器响应时间的测试装置，具备精准调节光源位置的优点，解决了上述
技术介绍
中提到的现有光学探测器测试光源不能精准调节的问题。(二)技术方案为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光学探测器响应时间的测试装置，包括光学探测器本体，所述光学探测器本体的底部搭接有测试工作台，所述测试工作台的顶部设置有测试装置，且所述测试工作台的顶部固定连接有透光计时板。所述测试装置包括测试移动光源架，所述移动光源架的顶部电连接有测试LED灯，且所述测试移动光源架的底部滑动连接有滑动滑块，所述测试移动光源架的前端和后端均搭接有固定螺纹杆，且所述固定螺纹杆的靠近滑动滑块的一侧粘连有防滑垫，所述滑动滑块远离透光计时板的一侧插接有固定插接块，所述滑动滑块的背面固定连接有量角器，且所述滑动滑块的顶部固定连接有刻度尺。优选的，所述测试工作台的顶部左侧开设有弧度滑槽，且所述弧度滑槽的内底壁开设有插接固定孔。优选的，所述滑动滑块的内部开设有滑动滑槽，且滑动滑槽的槽壁与移动光源架的底部滑动连接。优选的，所述滑动滑块的左端与透光计时板的右侧转动连接，且所述透光计时板的右侧滑动连接有遮光板。优选的，所述透光计时板的内部开设有透光孔，且所述透光孔与光学探测器本体的几何中心处于同一高度。优选的，所述透光计时板的内部固定连接有光电计时模块，且光电计时模块的启停接收端设置在透光计时板的左右两端。与现有技术相比，本技术提供了一种光学探测器响应时间的测试装置，具备以下有益效果：1、该光学探测器响应时间的测试装置，通过设置有测试LED灯、移动光源架和滑动滑块等装置，具体为通过旋转滑动滑块与透光计时板之间的夹角，可以改变光学探测器本体与光源发射光线的夹角，接着滑动移动光源架可以改变测试LED灯在滑动滑块上的位置，改变光学探测器本体与光源之间的间距，同时在转动和滑动的过程中可以通过刻度尺和量角器读出光源位置准确改变的参数，从而达到精确调节测试光源的效果，解决了上述
技术介绍
中提到的现有光学探测器测试光源不能精准调节的问题。2、该光学探测器响应时间的测试装置，通过设置有光学检测计时模块、遮光板和透光孔灯结构，具体为在打开测试LED灯后，可以将遮光板滑动取下，从而可以做到光学探测器本体接收光源的同时开始计时，接着在光学探测器本体靠近透光计时板的一侧电连接有响应结束灯，从而可以在透光计时板的背面对响应结束灯进行接收，完成计时的过程，达到自动计时的效果，避免人工计时误差过大的问题。附图说明图1为本技术结构正面剖视图；图2为本技术滑动滑块结构俯视图；图3为本技术透光计时板结构立体图。其中：1、光学探测器本体；2、测试工作台；21、弧度滑槽；3、测试装置；31、移动光源架；32、测试LED灯；33、滑动滑块；34、固定螺纹杆；35、防滑垫；36、固定插接块；37、量角器；38、刻度尺；4、透光计时板；41、遮光板；42、透光孔。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，一种光学探测器响应时间的测试装置，包括光学探测器本体1，光学探测器本体1的底部搭接有测试工作台2，测试工作台2的顶部设置有测试装置3，且测试工作台2的顶部固定连接有透光计时板4。通过上述技术方案，测试装置3位于透光计时板4的左侧，且测试装置3可以从测试工作台2顶部拆下，从而在转移测试装置3的时候，可以拆开进行转移，达到便捷转移的效果。测试装置3包括测试移动光源架31，移动光源架31的顶部电连接有测试LED灯32，且测试移动光源架31的底部滑动连接有滑动滑块33，测试移动光源架31的前端和后端均搭接有固定螺纹杆34，且固定螺纹杆34的靠近滑动滑块33的一侧粘连有防滑垫35，滑动滑块33远离透光计时板4的一侧插接有固定插接块36，滑动滑块33的背面固定连接有量角器37，且滑动滑块33的顶部固定连接有刻度尺38。通过上述技术方案，通过旋转滑动滑块33与透光计时板4之间的夹角，可以改变光学探测器本体1与光源发射光线的夹角，接着滑动移动光源架31可以改变测试LED灯32在滑动滑块33上的位置，改变光学探测器本体1与光源之间的间距，同时在转动和滑动的过程中可以通过刻度尺38和量角器37读出光源位置准确改变的参数，从而达到精确调节测试光源的效果，进而确保在测试的时候使得测试数据更加准确。以上提到的光学探测器本体1、量角器37、刻度尺38和测试LED灯32为现有装置，且测试LED灯3的电源为内接电源，在这里就不作过多描述了。具体的，测试工作台2的顶部左侧开设有弧度滑槽21，且弧度滑槽21的内底壁开设有插接固定孔。通过上述技术方案，在转动滑动滑块33可以通过将固定插接块36插接到插接固定孔内部，从而可以使得在将滑动滑块33转动到测试位置后，将滑动滑块33的位置进行固定，从而达到便捷固定效果。具体的，滑动滑块33的内部开设有滑动滑槽，且滑动滑槽的槽壁与移动光源架31的底部滑动连接。通过上述技术方案，通过滑动滑块33的内部开设的滑槽，可以调节移动光源架31与透光计时板4之间的距离，且在调节好后，可以通过旋转固定螺纹杆34将防滑垫35挤压在滑动滑块33的前后两侧，从而将移动光源架31固定在滑动滑块33的顶部。具体的，滑动滑块33的左端与透光计时板4的右侧转动连接，且透光计时板4的右侧滑动连接有遮光板41。通过上述技术方案，透光计时板4内部的计时模块开始接收端与透光孔42的高度一致，这样可以通过遮光板41，使得光学探测器本体1和计时模块的计时开始接收端同步接收光信号。具体的，透光计时板4的内部开设有透光孔42，且透光孔42与光学探测器本体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学探测器响应时间的测试装置，包括光学探测器本体(1)，其特征在于：所述光学探测器本体(1)的底部搭接有测试工作台(2)，所述测试工作台(2)的顶部设置有测试装置(3)，且所述测试工作台(2)的顶部固定连接有透光计时板(4)；/n所述测试装置(3)包括测试移动光源架(31)，所述移动光源架(31)的顶部电连接有测试LED灯(32)，且所述测试移动光源架(31)的底部滑动连接有滑动滑块(33)，所述测试移动光源架(31)的前端和后端均搭接有固定螺纹杆(34)，且所述固定螺纹杆(34)的靠近滑动滑块(33)的一侧粘连有防滑垫(35)，所述滑动滑块(33)远离透光计时板(4)的一侧插接有固定插接块(36)，所述滑动滑块(33)的背面固定连接有量角器(37)，且所述滑动滑块(33)的顶部固定连接有刻度尺(38)。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学探测器响应时间的测试装置，包括光学探测器本体(1)，其特征在于：所述光学探测器本体(1)的底部搭接有测试工作台(2)，所述测试工作台(2)的顶部设置有测试装置(3)，且所述测试工作台(2)的顶部固定连接有透光计时板(4)；
所述测试装置(3)包括测试移动光源架(31)，所述移动光源架(31)的顶部电连接有测试LED灯(32)，且所述测试移动光源架(31)的底部滑动连接有滑动滑块(33)，所述测试移动光源架(31)的前端和后端均搭接有固定螺纹杆(34)，且所述固定螺纹杆(34)的靠近滑动滑块(33)的一侧粘连有防滑垫(35)，所述滑动滑块(33)远离透光计时板(4)的一侧插接有固定插接块(36)，所述滑动滑块(33)的背面固定连接有量角器(37)，且所述滑动滑块(33)的顶部固定连接有刻度尺(38)。


2.根据权利要求1所述的一种光学探测器响应时间的测试装置，其特征在于：所述测试工作台(2)的顶部左侧开设有弧度滑槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙冶，
申请(专利权)人：中科强光天津光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12