元件的检测方法和装置制造方法及图纸

一种元件检测方法和装置，存在辉度数据储存装置中的辉度数据按其增加顺序重新安排。通过二次微分相对辉度数据数据号的辉度轮廓的辉度数据形成辉度数据二次微分表。在零交叉点的数据号从该微分表可检测到，在零交叉点，二次微分数据在通过零的正负之间变化。根据对应零交叉点的数据号的辉度轮廓的辉度数据确定阈值。即使被识别元件是脏的或本底辉度或多或少变化时，该方法和装置也能从有适当阈值的本底检测出元件图象。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及从具有阈值的本底上检测出元件的图象的元件的检测的方法和装置。该元件的检测方法在电子元件安装装置中执行，该安装装置具有吸住电子元件的吸嘴，它用以吸住电子元件和将吸住的电子元件安装到电路板上的安装位置上，该方法还用以对由吸嘴吸住的电子元件的图象通过数字图象处理作出规定。也就是在数字图象处理中的阈值是在例如电子元件和本底的诸如要识别的物体和非物体的明亮部分和阴暗部分间进行识别的值。正如公知的电子元件安装装置自动地将电子元件安装在电路板上的安装位置。在这样的电子元件安装装置中，要安装的电子元件由装置包含的吸嘴吸住和移动吸有电子元件的吸嘴朝向安装位置以执行安装操作。在这个安装操作过程中，吸住的电子元件能准确地安装在安装位置上，这是通过使得吸嘴移动一个转移距离，以致该吸嘴的吸口的中心部位吻合在安装位置上。然而，当吸嘴吸住电子元件时，吸嘴的吸口的中心部位不总是位于电子元件的中心位置。另外，吸住的电子元件的姿态在平面上相对吸住的电子元件的正确姿态是倾斜的，图30中的实线表示倾斜的姿态、虚线表示正确的姿态。因此，为了补偿吸住的电子元件的中心位置和姿态的偏差，必须计算吸住的电子元件的中心位置和倾斜，以及然后根据计算结果，纠正转移的距离和吸住的电子元件的姿态。为了执行该纠正，在安装吸住的电子元件到电路板上以前，执行由吸嘴吸住的电子元件的中心位置以及其姿态的检测。在检测中，首先光照吸住的电子元件，然后由图象拾取装置检测由吸住的电子元件反射的光。由图象拾取装置输出的图象信号表示灰度图象，它包括电子元件的图象信号和本底的图象信号，然后将其数字化。所以必须从数字信号中选择电子元件的图象信号。有关的该选择的方法，正如所知，使用将电子元件的图象信号与本底的图象信号区别开来的阈值。在普通技术中，灰度图象的图象处理中使用阈值检测元件的方法将参照图24和图25予以说明。图25所示的灰度图象图形102包括要识别的物体的灰度图象图形100和本底的灰度图象图形101。该物体是电子元件。根据通常的阈值计算方法，当通过取样灰度图象图形102和读取取样的灰度图象图形102的辉度数据形成辉度直方图时，由每个取样数据形成的辉度直方图具有图26所示的图形，其中，被识别的物体的明亮辉度区的峰值与本底的阴暗的辉度区的峰值区别开。因此，在图26中，通过获得一个点，在该点每个取样数据的累积区达到相对来自较明亮的辉度侧的辉度直方图和在作为阈值的点处的预定的辉度的总区域的一个指定的比率(为统计地确定，例如15％)，很容易得到表示要被识别的物体的明亮的辉度区域与本底的灰暗的辉度区域间的边界的阈值THL1。然而，根据前面叙述的普通技术的构造，从灰度图象图形得到的辉度的阈值变得不适当。因此，当使用阈值时，将产生定位误差的缺点，该定位误差意味着在物体和本底的图象中占有的物体的区域不能正确地识别，这出现在图象处理中。上述的原因将结合图27进行描述。图27表示了灰度图象图形112，该图形112是由要被识别的物体的灰度图象图形110和本底的灰度图象图形111所构成。与前述的图25的区别在于要识别的物体的表面是脏的，以致使从要识别的物体反射的光减少，这就导致了要识别的物体的灰度图象图形110的低辉度。因此，当通过取样包括要识别的具有灰暗辉度的物体的灰度图象图形110的灰度图象图形112形成辉度直方图以及读取取样的灰度图象图形112的辉度数据时，辉度直方图如图28所示。当得到一点，即在该点每个取样数据的累积区相对来自较明亮辉度侧的辉度直方图的总面积达到一规定的比率(例如15％)以及假定在该点处的辉度数据是阈值THL2时，在阈值THL2的辉度数据超出了要识别的物体的辉度范围和进入本底的辉度范围。因此，获得的阈值是5.0，它比图26情形的阈值THL1＝7.5低2.5。用这种方法，当阈值太低时，物体周围的本底错误地检测为要识别的物体的一部分。如图29所示，用虚线110表示要识别的物体实际上被识别在由实线表示的稍微位移位置110a中。本专利技术的目的在于提供一种元件检测的方法和装置，甚至当来自要识别物体的反射光由于物体的脏污而减小，或者本底的辉度的变化或多或少取决于实现高速处理和高精度的识别所需的照明条件时，它能够从具有适当的阈值的本底检测元件的图象。在完成该目的中，根据本专利技术的第一方面，提供了一种从具有阈值的本底检测元件的图象的方法，该方法包括数字化要识别的元件的图象信号和把作为由辉度信号组成的两维图象数据的数字化图象信号存储到图象数据存储部分的图象数据化处理；在取样两维图象数据中的辉度数据和存储取样的数据到辉度数据存储部分的辉度数据取样区中取样辉度数据的辉度数据取样处理；形成通过按照辉度数据的值的增加顺序重新安排存储在辉度数据存储部分中的辉度数据所得到的辉度轮廓的辉度轮廓形成处理；通过二次微分在相对于对应辉度数据的数据号n的辉度轮廓中的辉度数据(IP(n))形成辉度数据二次微分表的辉度轮廓二次微分处理；零交叉点检测处理，它从辉度数据二次微分表检测对应于零交叉点的数据号，在该零交叉点通过二次微分辉度数据(IP(n))得到的相邻的二次微分数据是在通过零的正与负之间变化；和根据对应零交叉点的数据号的辉度数据确定阈值的阈值计算处理，以致从具有计算阈值的本底检测元件的图象。根据本专利技术的第二方面，提供了一种元件检测方法，它用以从具有的阈值的本底检测元件的图象，所说的阈值是在本专利技术的第一方面中定义的，此外还包括在辉度数据取样处理和辉度轮廓形成处理间提供的辉度数据表压缩处理，其中在辉度数据表压缩处理中，当存储在辉度数据存储部分中的辉度数据的总数不小于预定的规定值时，辉度数据的每两个相邻的辉度数据彼此之间顺序比较，通过舍弃比较的辉度数据的较小的一个和采用比较的辉度数据的较大的一个所得到的压缩辉度数据存储在辉度数据存储部分中，压缩的辉度数据于是用于辉度轮廓形成处理以后的处理。根据本专利技术的第三方面，这里提供了一种从具有本专利技术第一方面定义的阈值的本底检测元件的图象的元件检测方法，在这里替代辉度数据取样处理和辉度轮廓形成处理，通过在两维图象数据上设置的辉度数据取样区取样辉度数据以形成辉度直方图的辉度直方图形成处理；在压缩辉度直方图成为具有最大的数据号为NLIM的压缩辉度直方图中计算数据压缩率R的数据压缩率计算处理，这是根据方程(1)得到的，R＝+1……………………………………(1)其中N是辉度数据号是除法的计算结果的最大的整数；和压缩辉度轮廓形成处理，它用以通过以下过程形成压缩辉度轮廓从i的初始值顺序读取辉度直方图中的第i个频率H(i)(其中i是辉度数据号)，根据方程(2)顺序计算频率H(i)的累积值S(i+1)＝S(i)+H(i)(其中S(0)＝0)……(2)，确定S(i+1)是否每次方程(2)计算值都小于R，和如果S(i+1)不小于R，计算方程(3)，直到S(i+1)小于RS(i+1)←S(i+1)-RIP(n)＝in←n+1 ……(3)以及在辉度轮廓二次微分处理后的处理中使用压缩辉度轮廓。根据本专利技术的第四方面，提供了一种从具有如本专利技术第一至第三方面定义的阈值的本底检测元件的图象的元件检测方法，其中根据对应小于预置的参考值的负二次微分数据的数据号的辉度数据计算阈值。根据本专利技术的第五方本文档来自技高网...

【技术保护点】
从具有阈值的本底检测元件的图象的元件检测方法，该方法包括：数字化要识别的元件的图象信号并把作为由辉度信号组成的两维图象数据的数字化图象信号存储到图象数据存储部分的图象数据化处理；在取样两维图象数据中的辉度数据和存储取样的数据到辉度数据存储部分的辉度数据取样区中取样辉度数据的辉度数据取样处理；形成通过按辉度数据值的增加顺序重新安排存储在辉度数据存储部分中的辉度数据所得到的辉度轮廓的辉度轮廓形成处理；通过二次微分在相对于对应辉度数据的数据号ｎ的辉度轮廓中的辉度数据（ＩＰ（ｎ））形成辉度数据二次微分表的辉度轮廓二次微分处理；零交叉点检测处理，它从辉度数据二次微分表检测对应零交叉点的数据号，在该零交叉点通过二次微分辉度数据（ＩＰ（ｎ））得到的相邻接的二次微分数据是在通过零的正与负之间变化；和根据对应零交叉点的数据号的辉度值确定阈值的阈值计算处理，以致从具有计算的阈值的本底检测元件的图象。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：森本正通，O博兹马，秦纯一，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]