IC卡处理装置制造方法及图纸

技术编号:2932304 阅读:168 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供可以判断被插入的物体是否是IC卡的一种IC卡处理装置。按照与从插入口(1b)被插入的接触式IC卡(21)的设置了IC触点(21a)的表面相对面那样,在通道(1c)的上侧设置霍尔元件(4a),按照与接触式IC卡(21)的背面相对面那样,在通道(1c)的下侧设置发生磁场的电磁铁(4b)。IC卡(21)从插入口(1b)被插入后,由含有磁性体的IC芯片(21z)或者IC触点(21a)扰乱电磁铁(4b)的磁场,使霍尔元件(4a)的输出电压降低,因此检测到IC芯片或者IC触点的存在,判断被插入的物体是IC卡。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对具有IC芯片的IC卡进行信息处理的IC卡处理装置
技术介绍
IC卡处理装置中,有例如只以接触式IC卡作为信息处理对象那样的专用型IC卡读卡器。另外还有,例如,即可以分别从接触式IC卡和非接触式IC卡两者中读取信息,或者分别从IC卡和磁卡两者中读取信息那样的,以多种类型的卡作为信息处理对象的复合型IC卡读卡器。而且还有,例如,从在IC芯片和磁条两者中存储信息的混合型IC卡中将IC芯片的信息和磁条的信息分别读出的复合型的IC卡读卡器。在上述的IC卡读卡器中,以往,例如通过接触到卡表面的IC触点读取信息的时候,将该卡判断为接触式IC卡,在用磁头读取信息时,就判断该卡为磁卡。但是,象这样,通过进行信息的读取处理判断卡的类型,在例如IC卡以外的卡或异物插入时,也要驱动IC触点,也要进行和这些IC卡以外的卡或异物的表面接触并与其通信的通电,因此会出现这样的问题缩短IC触点和驱动IC触点的电路的寿命,或磨损IC触点。这里,为了解决这样的问题,在下述的专利文献1~7中记载了这样的技术在不进行信息读取处理的情况下判断被插入的卡等是否是IC卡,或与此关联的技术。在专利文献1中,利用由设置在插入口的金属检测传感器组成的IC卡识别传感器,检测被插入的卡是否具有引线等金属的IC或者外部端子。不过,在本文献中金属检测传感器的具体构成没有任何记载。在专利文献2中,根据在卡通过设置在卡通道中的电容器电极板之间时电极板之间的静电电容的变化,检测卡中是否具有IC芯片。在专利文献3中,在距卡通道规定距离的位置设置间歇振荡器的检测线圈,根据检测线圈和卡的金属IC触点之间的电磁耦合,停止间歇振荡器的振荡,由此检测被插入IC卡的适当位置上是否存在IC。不过在该方法中虽然可以判断是否是接触式IC卡,但不能判断是否是非接触式IC卡。在专利文献4中,根据电磁感应对非接触式IC卡供电的时候,用探查线圈检测由卡的IC芯片发射出的微弱电波,根据检测的微弱电波的电场强度判断非接触式IC的表背。不过在该方法中虽然能判断是否是非接触式IC卡,但是不能判断是否是接触式IC卡。在专利文献5中,受光元件接受从发光元件向卡发射出的光的反射光,根据从该受光元件输出的信号强度,检测卡上是否含有金属的IC端子,或者根据处理LC振荡电路的振荡输出,或用CCD传感器阵列取得卡的图像,检测卡上是否具有IC部。不过在这些方法中虽然可以判断是否是接触式IC卡,但是不能判断是否是非接触式IC卡,另外,在采用光和图像的方法中,卡如果脏或变色的话,甚至连接触式IC都变得不能判断。进一步,在专利文献5中记载了,通过在卡通道中发生磁场,而用MR传感器检测来自卡的磁反应,这样检测在卡上有无含有金属的IC部。在专利文献6中,在卡通道中用磁铁产生磁场,根据霍尔元件的输出电压检测该磁场随磁卡厚度的变化,判断被插入的卡的张数和种类。不过该方法中,由于认为IC卡对磁场几乎没有影响,只不过将不能判断为磁卡的卡判断为IC卡,因此实质上并不能判断是否是IC卡。对于专利文献7来说,与专利文献6一样,判断被插入卡的张数和种类。专利文献1特开平6-266910号公报;专利文献2特开昭64-37687号公报;专利文献3特开平10-21353号公报;专利文献4特开2000-306047号公报;专利文献5特开2001-101357号公报;专利文献6特许第2753672号公报;专利文献7特开平8-30736号公报。
技术实现思路
作为本专利技术所要解决的课题是提供一种可以判断被插入的物体是否是IC卡的IC卡处理装置。本专利技术提供一种IC卡处理装置,具备将在从插入口插入的IC卡中记录的信息读出的读取机构,设置处在与从插入口插入的卡对面的位置上发生磁场的磁场发生机构、和输出与该磁场发生机构的磁场对应的电压的霍尔元件;在物体从插入口插入时,根据霍尔元件输出电压的变化,检测IC卡的IC芯片和/或IC触点的有无。按照上述那样,因为非接触式或接触式IC卡所具备的IC芯片或IC触点中含有金属等磁性体,所以在IC卡从插入口插入的时候,由IC芯片或者IC触点扰乱磁场发生机构发生的磁场,使霍尔元件的输出电压比插入前低,可以检测具有IC芯片或IC触点。而且,作为使上述磁场发生扰乱的磁性体有,例如铁、镍等强磁体、和铝、铂、铜、金等弱磁性体。另外,在IC卡以外的卡或异物从插入口被插入的时候,不会象IC卡插入时那样扰乱磁场发生机构发生的磁场,霍尔元件的输出电压不会变化,所以可以检测没有IC芯片和IC触点的情况。因而,如上述那样可以检测到IC芯片或IC触点的存在,由此判断插入的物体是IC卡,另外,可以检测到IC芯片和IC触点不存在的情况,可以判断插入的物体不是IC卡。在本专利技术的实施方式中,读取机构,根据IC卡的IC芯片和/或IC触点被检测到的事件,对IC卡进行信息读取。这样,在IC卡以外的卡等被插入时,因为没有必要驱动读取机构,所以不会象以往那样缩短读取机构的寿命。在本专利技术的实施方式中,在与从插入口插入的卡的表面或背面中的一面相对面的位置上设置霍尔元件,而在与另一面相对面的位置上设置磁场发生机构。这样,在IC卡从插入口插入的时候,由IC芯片或IC触点所遮挡的磁场发生机构的磁力线数量增多,使霍尔元件的输出电压比IC卡没有被插入时明显降低等而产生电压变化,根据这样可以检测出IC芯片或者IC触点的有无。另外,除了电压变化之外,根据频率或者相位的变化也可以检测出IC芯片或者IC触点的有无。在本专利技术的另一实施方式中,插入口在由不具有磁性的材料构成的插入部中形成;磁场发生机构,在不具有的材料介于中间的状态下,设置在与从插入口插入的卡相对面的位置上。这样,磁场发生机构不与从插入口插入的卡接触,所以不会对磁场发生机构带来损伤或附着灰尘等。另外,霍尔元件也同样,在不具有磁性的材料介于中间的状态下,设置在与从插入口插入的卡相对面的位置上,由于不与插入口插入的卡接触,所以不会对霍尔元件带来损伤或附着灰尘等。在本专利技术的另一实施方式中,磁场发生机构,设置在所发生的磁场不会对用于读取在磁卡的磁条中记录的信息的磁头给予影响的位置上。这样,磁头不会由于磁场发生机构发生的磁场而引起误动作。在本专利技术的另一实施方式中,磁场发生机构磁场变化的周期,要比用于读取在磁卡的磁条中记录的信息的磁头的读取周期短。当磁场发生机构用电磁铁构成时,发生的磁场强度以规定周期变化,如上所述,磁头不会由于磁场发生机构的磁场而引起误动作,可以从磁卡的磁条中正确读取信息。在本专利技术的另一实施方式中,包括宽度检测机构,其检测是否在插入口中插入了规定宽度的物体;磁场发生机构和霍尔元件,根据宽度检测机构检测到有规定宽度物体插入的事件而动作。这样,由于在卡从插入口插入之前,在磁场发生机构中不通入磁场发生用的电流,并且在霍尔元件上也不通入电压输出用的电流,所以可以降低电能消耗。在本专利技术的另一实施方式中,磁场发生机构由天线所构成,该天线发生用于与非接触式IC卡进行非接触通信的磁场。这样,作为磁场发生机构不需设置电磁铁或磁铁,由天线和霍尔元件就可以检测IC卡的IC芯片或者IC触点的有无。另外,在插入的卡中检测到存在IC芯片或者IC触点,判断为IC卡之后,由天线检测该IC卡有无非接触IC芯片,这样就可以判断它是非接触本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种IC卡处理装置,具备将在从插入口插入的IC卡中记录的信息读出的读取机构,其特征在于,包括:处在与从插入口插入的卡对面的位置上发生磁场的磁场发生机构、和输出与该磁场发生机构的磁场对应的电压的霍尔元件;在物体从插入口插入时, 根据所述霍尔元件输出电压的变化,检测IC卡的IC芯片和/或IC触点的有无。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:忠政明博
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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