轴承外圈外倒角测量表具制造技术

本发明专利技术涉及一种待测轴承外圈外倒角测量表具，包括：基座；测量组件，设置在基座上，用以测量待测轴承的外倒角；测量组件具有用以容置待测轴承的容置空间，至少部分测量组件可相对于基座移动，以调节容置空间继而与待测轴承适配；以及千分表，与至少部分测量组件连接；千分表被配置为通过至少部分测量组件读取待测轴承的外倒角的尺寸。通过在基座上设置测量组件和与测量组件连接的千分表，并且至少部分测量组件可相对于基座移动，以调节测量组件与待测轴承适配，从而千分表通过测量组件读取待测轴承的外倒角的尺寸，其操作简单、测量精度误差小，并且该测量表具可以放置在施工现场的机器上使用，增加了产能和产品的合格率。增加了产能和产品的合格率。增加了产能和产品的合格率。

【技术实现步骤摘要】
轴承外圈外倒角测量表具


[0001]本专利技术涉及一种轴承外圈外倒角测量表具。

技术介绍

[0002]在机械加工行业中，对轴承的外倒角加工是一种常见的加工工艺。为了保证外倒角的加工准确度，轴承的外倒角在加工后，通常需要对外倒角的尺寸进行测量。目前测量外倒角的方法主要有两种：倒角规和投影仪。倒角规在测试外倒角时采用对比法，其测量过程为定性测量，无法读取倒角数值，测量精度比较低。投影仪相对于倒角规来说，其通过采集外倒角部位的投影来计算外倒角，在测量时，需要选取不同位置的点进行测量，其测量方法效率低，人为测量精度误差大，并且投影仪测量外倒角不能放置在加工现场。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种操作简单、效率高、测量精度误差小，且能在加工现场使用的轴承外圈外倒角测量表具。
[0004]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种待测轴承外圈外倒角测量表具，包括：
[0005]基座；
[0006]测量组件，设置在所述基座上，用以测量待测轴承的外倒角；所述测量组件具有用以容置所述待测轴承的容置空间，至少部分所述测量组件可相对于所述基座移动，以调节所述容置空间继而与所述待测轴承适配；以及
[0007]千分表，与至少部分所述测量组件连接；所述千分表被配置为通过至少部分所述测量组件读取所述待测轴承的外倒角的尺寸。
[0008]进一步地，所述测量组件包括第一测杆和与所述第一测杆连接的第一测头，所述第一测头用以与所述待测轴承的外倒角抵持。
[0009]进一步地，所述第一测头具有与所述待测轴承的外倒角接触的接触面，所述接触面与所述待测轴承的外倒角适配。
[0010]进一步地，所述接触面为斜面或弧面。
[0011]进一步地，所述测量组件还包括与所述第一测杆相对设置的第二测杆及与所述第二测杆连接的第二测头，所述第二测头用以与所述待测轴承的外倒角抵持，所述千分表与所述第一测杆和/或第二测杆对接；
[0012]其中，所述容置空间为所述第一测头与所述第二测头之间的间距。
[0013]进一步地，所述基座上设置有用以放置所述待测轴承的支撑座；
[0014]其中，所述测头还具有与所述支撑座抵持的抵持面。
[0015]进一步地，所述支撑座上还设置有用以放置所述待测轴承的定位槽。
[0016]进一步地，所述测量表具还包括与所述支撑座连接的调节组件，所述调节组件用以调节所述支撑座相对于所述基座的高度。
[0017]进一步地，所述调节组件包括与所述基座固定连接的固定件、及套设在所述固定件上且可相对于所述固定件升降的升降杆。
[0018]进一步地，所述升降杆与所述支撑座转动连接，以使得所述支撑座可相对于所述升降杆转动。
[0019]本专利技术的有益效果在于：通过在基座上设置测量组件和与测量组件连接的千分表，并且至少部分测量组件可相对于基座移动，以调节测量组件与待测轴承适配，从而千分表通过测量组件读取待测轴承的外倒角的尺寸，其操作简单、测量精度误差小，并且该测量表具可以放置在施工现场的机器上使用，增加了产能和产品的合格率。
[0020]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0021]图1为本专利技术的轴承外圈外倒角测量表具的整体结构示意图；
[0022]图2为图1中的轴承外圈外倒角测量表具的剖面图；
[0023]图3为图2中的轴承外圈外倒角测量表具的部分放大图。
具体实施方式
[0024]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0026]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0027]此外，下面所描述的本专利技术不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。在本专利技术描述中，轴线方向与高度方向一致。
[0028]请参见图1，本专利技术一较佳实施例所示的轴承外圈外倒角测量表具100用于测量待测轴承5的外倒角51的尺寸，该测量表具100包括基座1、设置在基座1上的测量组件2、以及与至少部分测量组件2连接的千分表4。其中，测量组件2用以与待测轴承5接触以测量待测轴承5的外倒角51，千分表4被配置为通过至少部分测量组件2读取待测轴承5的外倒角51的尺寸。需要说明的是，本实施例中，待测轴承5的外倒角51的尺寸与标准轴承5的外倒角51的尺寸误差范围在
‑
30～+30um。在其他实施例中，还可以使用其他可以读取轴承5的外倒角51尺寸的部件，例如，深度百分表。另外，千分表为本领域的常规结构，因此在此不做赘述。
[0029]测量表具100还包括设置在基座1上的支撑座11，该支撑座11用以放置待测轴承5。具体的，支撑座11上还开设有定位槽(未图示)，待测轴承5放置在定位槽内，以防止测量组件2与待测轴承5接触时发生偏移，同时还可以达到对待测轴承5快速定位的效果。
[0030]请参见图1和图2，测量组件2包括第一测杆21、与第一测杆21连接的第一测头22和与第一测杆21相对设置的第二测杆24、与第二测杆24连接的第二测头25。其中，千分表4与第一测杆21连接，第一测头22和第二测头25用以与待测轴承5的外倒角51表面抵持，以实现千分表4读取待测轴承5外倒角51的尺寸。本实施例中，第一测头22与第二测头25之间还形成有容置空间23，该容置空间23用以放置待测轴承5，且位于定位槽的上方。
[0031]为了方便工作人员调节控制第一测头22、第二测头25与待测轴承5外倒角51之间的距离，第一测杆21和第二测杆24的其中之一个设置为可相对于基座1移动。在本实施例中，第一测杆21设置为可相对于基座1移动，第二测杆24与基座1固定连接。具体的，基座1上设置有螺栓(未标号)，该螺栓用以将第一测杆21与基座1固定或将第一测杆21与基座1活动连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种待测轴承外圈外倒角测量表具，其特征在于，包括：基座；测量组件，设置在所述基座上，用以测量待测轴承的外倒角；所述测量组件具有用以容置所述待测轴承的容置空间，至少部分所述测量组件可相对于所述基座移动，以调节所述容置空间继而与所述待测轴承适配；以及千分表，与至少部分所述测量组件连接；所述千分表被配置为通过至少部分所述测量组件读取所述待测轴承的外倒角的尺寸。2.如权利要求1所述的轴承外圈外倒角测量表具，其特征在于，所述测量组件包括第一测杆和与所述第一测杆连接的第一测头，所述第一测头用以与所述待测轴承的外倒角抵持。3.如权利要求2所述的轴承外圈外倒角测量表具，其特征在于，所述第一测头具有与所述待测轴承的外倒角接触的接触面，所述接触面与所述待测轴承的外倒角适配。4.如权利要求3所述的轴承外圈外倒角测量表具，其特征在于，所述接触面为斜面或弧面。5.如权利要求2所述的轴承外圈外倒角测量表具，其特征在于，所述测量组件还包括与所述第一测杆相对设置的第二测杆及与所述第二测杆连接的第二测头，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张华，吴雄，朱秦叶，
申请(专利权)人：苏州铁近机电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：