测量灵敏度分布的测量方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种测量装置，该测量装置测量一个光电传感器的灵敏度分布和光电地探测一种物质，该光电传感器包括一个用于从外部投射探测光的投光器元件和一个用于接收从外部反射的探测光的感光器元件。该测量装置包括一个测试面板，该测试面板具有一个形成在它表面上并至少呈两种颜色的测试图案，用于为了检查通过光电传感器被光电地读取。一种移动机构相对于光电传感器以常规速度移动测试面板。一个控制器激励移动机构，并估算来自感光器元件的输出，以便根据其来确定光电传感器的灵敏度分布。光电传感器的灵敏度分布最初以二维方式表示。而且，根据获得的多个灵敏度分布确定以三维方式表示的光电传感器的灵敏度分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量灵敏度分布的测量方法和装置。更具体地说，本专利技术涉及一种以高精度和极简单的方式测量光电传感器灵敏度分布的测量方法和装置。
技术介绍
例如在JP-A 2001-312688中公开了一种反射式光电传感器。该光电传感器包括投光器和感光器。投光器投射光或光束用于光电探测。感光器接收和探测从投光器发射后由被探测物质反射的光。光电传感器用作阅读器，来读取形成在卷绕器芯(winder core)的信息代码，该卷绕器芯作为滚筒芯(core of a roll)用于照片打印机中。如果使用光电传感器，为了优化光的灵敏度，需要调整安装中的定位、输出的电修正和其他校准。由于调整和修正需要另外复杂的操作，所以加工费用可能会更高。为了解决这样一个问题，在JP-A 2001-175799中介绍了一种光探测装置，包括放大器、A/D转换器、微处理器和电阻电路。放大器放大感光器的输出。A/D转换器将放大器的输出转换为数字信号。微处理器根据数字信号数据改变感光器的输出标准。电阻电路由微处理器控制，用于在放大器之前将感光器的输出变换成某一点标准输出。而且，例如U.S.P 5,473,167(对应于JP-A8-050094)公开了一种光电传感器灵敏度的测试。尽管根据JP-A 2001-175799可以提高光电传感器的信噪比S/N，但不能详细地探知光电传感器的特性。可以在光电传感器灵敏度不是很高的情况下使用光探测装置。这种结构不适合用于更高精度的探测。
技术实现思路
考虑到前述问题，本专利技术的一个目的是提供一种以高精度和极简单的方式测量光电传感器灵敏度分布的测量方法和装置。为了实现这个专利技术上述的和其他的目的和进步，本专利技术提供了一种测量光电传感器灵敏度分布的测量方法，其中光电传感器具有一个布置在传感器表面上的投光器和一个布置在该传感器表面上的感光器。布置光电传感器使该传感器表面与一测试面板相对，该测试面板具有一个形成在它表面上的测试图案。转动地并逐步地移动所述光电传感器，同时使所述传感器表面与所述测试面板相对。所述测试面板在每次所述光电传感器的旋转移位时相对于所述光电传感器移动。所述测试面板相对地移动时，所述感光器的输出被监控和接收。根据感光器的输出确定以二维方式表示的灵敏度分布。在每次的旋转移位中综合以二维方式表示的灵敏度分布，来确定以三维方式表示的灵敏度分布。测试面板以常规的速度相对于光电传感器移动。至少有两种颜色的测试图案包含一个高反射比区域和形成在其中并具有低反射比的参考部分。具有低反射比的参考部分包含一条参考线。进一步地，具有一个根据在具有低反射比的参考线通道上获得的输出和位置，来获得光电传感器灵敏带和最高灵敏度点的步骤，所述最高灵敏度点是传感器表面上灵敏度最高的点，以便确定以二维方式表示的灵敏度分布。在一个优选实施例中，具有低反射比的参考部分包含一条参考线和一个低反射比区域。进一步地，根据在具有低反射比的参考线通道上获得的输出和定位，在传感器表面上获得最高灵敏度点，在该点上灵敏度最高。根据在低反射比区域的通道上获得的输出和定位，获得光电传感器的灵敏带，以便确定以二维方式表示的灵敏度分布。测试面板包含一个沿着其中心旋转的测试圆盘，和沿着一个圆周的一段圆弧延伸的所述参考线，该圆周与测试圆盘同心。低反射比区域被定义，并被一轮廓线围绕，该轮廓线的至少一部分沿着与测试盘同心的一个圆的一段圆弧延伸。在另一个优选实施例中，测试面板以这样一种循环移动顺序移动，该顺序在完成移动测试面板后以初始的方式开始。移动顺序包括穿过第N个截面沿着第N个移动方向的移动，和穿过在第N个截面的末端开始的第N+1个截面并且沿着不同于第N个移动方向的第N+1个移动方向的移动。所述参考线沿着在移动顺序中预先确定的多个移动方向中的至少一个方向延伸。在又一个优选实施例中，具有低反射比的参考部分包含一个参考圆点。进一步地，光电传感器以三维方式表示的灵敏度分布被显示。高反射比区域是白色的，具有低反射比的参考部分是黑色的。根据本专利技术的一个方面，测量包括有从外部投射探测光的投光器元件和接收从外部反射的探测光的感光器元件的光电传感器的测量装置包括一个测试面板，该测试面板具有形成在它的表面上的并且具有至少两种颜色的测试图案，由光电传感器光电读取以便检测。一个移动机构相对于光电传感器以常规速度移动所述测试面板。一个控制器激励所述移动机构，并估计感光器元件的输出，为了确定光电传感器的灵敏度分布。进一步地，一个移位机构以逐步的方式多次改变光电传感器的传感器表面和测试图案的定位，定义在投光器元件和感光器元件上的传感器表面。在每次移位机构移位和改变定位时，所述控制器驱动移动机构，根据在移位机构移位中感光器元件的输出，确定以二维方式表示的光电传感器的灵敏度分布，并且综合多个获得的灵敏度分布，来确定以三维方式表示的光电传感器的灵敏度分布。特别地，一个第一确定单元在所述测试面板相对移动时根据所述感光器的输出确定以二维方式表示的所述灵敏度的分布。一个第二确定单元综合在每次旋转移位中以二维方式表示的所述灵敏度分布，来确定以三维方式表示的灵敏度分布。所述测试面板是可旋转的，其表面具有白色。所述测试图案具有一个相对于测试面板的旋转中心偏心的圆周和一条黑线。该圆周具有第一和第二半圆，第一半圆具有一条黑色轮廓线和定义在该轮廓线内的白色区域，第二半圆具有黑色，并且该线由第一和第二半圆之间的边界线的延长线形成。测试面板是一个测试圆盘，并且所述线朝着测试圆盘的外围延伸。第一确定单元确定了一个点，在该点上根据在经过所述光电传感器之前的所述轮廓线或所述线区间的感光器的输出和旋转移位，光电传感器的灵敏度被最大化。根据在经过光电传感器之前的第二半圆区间的感光器的输出和旋转移位，来确定光电传感器的灵敏带。一个具有一个在最大灵敏度点上的顶点和一条沿着灵敏带的基线的三角形区域被确定，来定义以二维方式表示的灵敏度分布。所述测试面板的所述表面具有白色，所述测试图案具有一条黑线。第一确定单元根据在经过所述光电传感器之前的所述线区间的感光器的输出和旋转移位，确定一个点和光电传感器的一个灵敏带，在该点上光电传感器的灵敏度被最大化。一个具有一个在最大灵敏度点的顶点和一条沿着灵敏带的基线的三角形区域被确定，来定义以二维方式表示的灵敏度分布。在一个优选实施例中，光电传感器相对于固定的测试面板移动。测试面板的表面具有白色，测试图案具有一个基本上呈四边形形状的黑色区域和一条从黑色区域的一侧延伸的黑线。在另一个优选实施例中，测试面板的表面具有一种白色，测试图案具有至少一个黑色圆点。因此，可以以高精度和极简单的方式测量光电传感器的灵敏度分布，因为有效使用了测试面板上具有简化结构的测试图案。附图说明结合附图阅读下列详细描述，本专利技术的上述目的和优势将会更加明显，其中图1为一种测量装置的透视图；图2为一种测试圆盘的正视图； 图3为一种光电传感器的带有轨迹的测试圆盘的表面的正视图；图4为测试圆盘旋转一周感光器元件输出波的波形曲线图。图5为测试圆盘表面的正视图，其中表示出Lmax，Lmin1和Lmin2。图6为感光器元件输出的第二个半波的波形曲线图，具有以二维方式表示的灵敏度分布。图7是以三维方式表示的灵敏度分布的曲线图；图8为测量灵敏度修正本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量光电传感器灵敏度分布的测量方法，其中所述光电传感器具有一个布置在传感器表面上的投光器和一个布置在所述传感器表面上的感光器，所述测量方法包含下列步骤：布置所述光电传感器，使传感器的表面与测试面板相对，该测试面板具有一个形成在它 的表面上的测试图案；当所述传感器表面与所述测试面板相对时，旋转地并逐步地移位所述光电传感器；在每次旋转移位所述光电传感器时，相对于所述光电传感器移动所述测试面板；当所述测试面板相对地移动时，监控和接收所述感光器的输出 ；根据所述感光器的所述输出确定以二维方式表示的所述灵敏度分布；和综合每次所述旋转移位时以二维方式表示的所述灵敏度分布，来确定以三维方式表示的灵敏度分布。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：宇都宫大介，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]