一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪制造技术

技术编号:29288255 阅读:20 留言:0更新日期:2021-07-17 00:10
本实用新型专利技术公开了一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,涉及检测技术领域,包括测试仪本体,所述测试仪本体的正面活动连接有开关,所述测试仪本体的正面远离开关的右侧固定连接有显示屏。本实用新型专利技术通过采用伸缩杆、旋转杆、固定块、固定板和移动轮的组合设置,对测试仪进行移动时,握住伸缩杆转动,使得可以调节伸缩杆的长度,再拉动固定块,使得移动轮带动测试仪移动,避免了在使用电阻测试仪之前,需要将测试仪移动到发热基片的旁边,现有的测试仪由于体积比较重,需要手提式或者怀抱式将测试仪进行移动,大大地增加了测试仪使用的不便性的问题,达到了轻松地就可以移动测试仪,提高了测试仪使用的便捷性。提高了测试仪使用的便捷性。提高了测试仪使用的便捷性。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪


[0001]本技术涉及一种电阻测试仪,涉及测试仪
,具体涉及一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪。

技术介绍

[0002]电阻测试仪,是电气安全检查与接地工程竣工验收不可缺少的工具,包括接地电阻测试仪、绝缘电阻测试仪、接地电阻测试仪、直流电阻测量仪、表面电阻测试仪以及回路电阻测试仪。针对现有技术存在以下问题:
[0003]1、在使用电阻测试仪之前,需要将测试仪移动到发热基片的旁边,现有的测试仪由于体积比较重,需要手提式或者怀抱式将测试仪进行移动,大大地增加了测试仪使用的不便性的问题;
[0004]2、电阻测试仪对发热基片进行检测时,需要对发热基片进行通电,发热基片通电时会产生高温,使得在长时间检测时,检测头会被高温灼伤,导致检测头损坏无法使用的问题。

技术实现思路

[0005]本技术需要解决的技术问题是提供一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,其中一种目的是为了具备可移动的测试仪,解决在使用电阻测试仪之前,需要将测试仪移动到发热基片的旁边,现有的测试仪由于体积比较重,需要手提式或者怀抱式将测试仪进行移动,大大地增加了测试仪使用的不便性的问题;其中另一种目的是为了解决电阻测试仪对发热基片进行检测时,需要对发热基片进行通电,发热基片通电时会产生高温,使得在长时间检测时,检测头会被高温灼伤,导致检测头损坏无法使用的问题,以达到对发热基片检测时可以快速降低检测头的温度效果,其中再一种目的是为了具备有移动箱,方便对检测杆进行储存和保护,解决了在不使用检测仪时,检测头长时间暴露在外面,使得检测头表面沾染大量的灰尘,导致测试仪在使用时由于大量的灰尘干扰了测试,使得测试的数据存在误差的问题。
[0006]为解决上述技术问题,本技术所采用的技术方案是:
[0007]一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,包括测试仪本体,所述测试仪本体的正面活动连接有开关,所述测试仪本体的正面远离开关的右侧固定连接有显示屏,所述测试仪本体的侧面固定连接有固定板,所述固定板的一侧固定连接有旋转杆,所述旋转杆的内部螺纹连接有伸缩杆,所述伸缩杆的一端固定连接有固定块,所述测试仪本体的另一侧固定连接有一号接口。
[0008]本技术技术方案的进一步改进在于:所述测试仪本体的顶部固定连接有装置箱,所述装置箱的正面活动套接有移动箱,所述移动箱的正面固定连接有固定杆,所述移动箱的一侧固定连接有连接板,所述连接板的底部固定连接有连接杆,所述连接杆内壁的两侧固定连接有转轴,所述转轴的外壁活动套接有滚轮,所述滚轮的底部搭接有限位槽。
[0009]本技术技术方案的进一步改进在于:所述一号接口的内部活动套接有接头,所述接头的数量为两个,两个所述接头之间固定连接有导线。
[0010]本技术技术方案的进一步改进在于:所述接头另一端的外壁活动套接有二号接口,所述二号接口的外部固定套接有检测杆,所述检测杆内壁的底部固定连接有水箱,所述水箱的内部固定套接有吸水管,所述吸水管的顶部固定连接有水泵,所述水泵的顶部固定连接有导管,所述导管的数量为两个,另一个所述导管的底部固定连接在水箱的顶部,两个所述导管之间固定连接有连接管,所述连接管的外壁固定套接有铜丝圈。
[0011]本技术技术方案的进一步改进在于:所述检测杆的外壁固定连接有橡胶板,所述橡胶板的顶部固定连接有把手,所述检测杆的顶部开设有散热口。
[0012]本技术技术方案的进一步改进在于:所述检测杆的一侧固定连接有检测头,所述检测头的一侧固定连接有导热板。
[0013]本技术技术方案的进一步改进在于:所述测试仪本体的底部固定连接有减震板,所述减震板的底部固定连接有移动轮。
[0014]由于采用了上述技术方案,本技术相对现有技术来说,取得的技术进步是:
[0015]1、本技术提供一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,通过采用伸缩杆、旋转杆、固定块、固定板和移动轮的组合设置,对测试仪进行移动时,握住伸缩杆转动,使得可以调节伸缩杆的长度,再拉动固定块,使得移动轮带动测试仪移动,避免了在使用电阻测试仪之前,需要将测试仪移动到发热基片的旁边,现有的测试仪由于体积比较重,需要手提式或者怀抱式将测试仪进行移动,大大地增加了测试仪使用的不便性的问题,达到了轻松地就可以移动测试仪,提高了测试仪使用的便捷性。
[0016]2、本技术提供一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,通过采用检测头、水箱、吸水管、水泵、导管、连接管和铜丝圈的组合设置,对电阻进行测试,检测时,需要对发热基片进行通电,发热基片通电时会产生高温,高温产生的热量会通过检测头和导热板散发到检测杆的内部,这时铜丝圈会吸收导热板散发的热量,同时水泵将水箱内的水吸入导管内,使得快速冷却铜丝圈表面的热量,同时降低了检测头的温度,避免了电阻测试仪对发热基片进行检测时,发热基片通电时会产生高温,使得在长时间检测时,检测头会被高温灼伤,导致检测头损坏无法使用的问题,以达到对发热基片检测时可以快速降低检测头温度的效果。
[0017]3、本技术提供一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,通过采用装置箱、移动箱和固定杆的组合设置,需要对检测头进行储存时,拉动把手,使得移动箱移动出装置箱的内部,再将检测杆放入移动箱的内部,再以同样的方式将移动箱移动到装置箱的内部,避免了在不使用检测仪时,检测头长时间暴露在外面,使得检测头表面沾染大量的灰尘,导致测试仪在使用时由于大量的灰尘干扰了测试,使得测试的数据存在误差的问题,使得方便对检测杆进行储存和保护,提升了检测头测试数据的准确性。
附图说明
[0018]图1为本技术的结构示意图;
[0019]图2为本技术检测杆的结构示意图;
[0020]图3为本技术装置箱局部的结构示意图;
[0021]图4为本技术散热装置的结构示意图;
[0022]图5为本技术导线的结构示意图。
[0023]图中:1、测试仪本体;2、检测杆;3、装置箱;4、伸缩杆;5、固定块;6、固定板;7、减震板;8、移动轮;9、一号接口;10、开关;11、显示屏;12、导线;13、接头;14、旋转杆;
[0024]21、检测头;22、导热板;23、水箱;24、把手;25、橡胶板;26、二号接口;27、散热口;
[0025]31、移动箱;32、固定杆;33、连接板;34、连接杆;35、转轴;36、滚轮;37、限位槽;
[0026]231、吸水管;232、水泵;233、导管;234、连接管;235、铜丝圈。
具体实施方式
[0027]下面结合实施例对本技术做进一步详细说明:
[0028]实施例1
[0029]如图1

5所示,本技术提供了一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,包括测试仪本体1,测试仪本体1的正面活动连接有开关10,测试仪本体1的正面远离开关10的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,包括测试仪本体(1),其特征在于:所述测试仪本体(1)的正面活动连接有开关(10),所述测试仪本体(1)的正面远离开关(10)的右侧固定连接有显示屏(11),所述测试仪本体(1)的侧面固定连接有固定板(6),所述固定板(6)的一侧固定连接有旋转杆(14),所述旋转杆(14)的内部螺纹连接有伸缩杆(4),所述伸缩杆(4)的一端固定连接有固定块(5),所述测试仪本体(1)的另一侧固定连接有一号接口(9)。2.根据权利要求1所述的一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,其特征在于:所述测试仪本体(1)的顶部固定连接有装置箱(3),所述装置箱(3)的正面活动套接有移动箱(31),所述移动箱(31)的正面固定连接有固定杆(32),所述移动箱(31)的一侧固定连接有连接板(33),所述连接板(33)的底部固定连接有连接杆(34),所述连接杆(34)内壁的两侧固定连接有转轴(35),所述转轴(35)的外壁活动套接有滚轮(36),所述滚轮(36)的底部搭接有限位槽(37)。3.根据权利要求1所述的一种应用于发热基片加工检测的电阻测试仪,其特征在于:所述一号接口(9)的内部活动套接有接头(13),所述接头(13)的数量为两个,两个所述接头(13)之间固定连接有导线(12)。4.根据权利要求3所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:申茂林邓小军刘跃雷申晓刚张晓明
申请(专利权)人:郑州嵩鑫电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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