静位移校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种静位移校正方法及装置，该方法包括：对原始视电阻率进行滤波得到第二视电阻率；利用相对误差不小于预设相对误差阈值的第二视电阻率中的视电阻率替换原始视电阻率的视电阻率得到第三视电阻率数据体；确定第三视电阻率数据体中第四视电阻率；对第四视电阻率进行滤波得到滤波结果第六视电阻率；根据第四视电阻率与对应第六视电阻率，第二视电阻率数据体，确定静校正后的第四视电阻率数据体。本发明专利技术能够消除视电阻率中的畸变点，提高静位移校正效果；同时基于相对误差消除畸变点，无需其它处理即可消除视电阻率中的畸变点，提高静位移校正效率。提高静位移校正效率。提高静位移校正效率。

Static displacement correction method and device

【技术实现步骤摘要】
静位移校正方法及装置


[0001]本专利技术涉及地球物理勘探
，尤其涉及静位移校正方法及装置。

技术介绍

[0002]本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术实施例提供背景或上下文。此处的描述不因 为包括在本部分中就承认是现有技术。
[0003]在大地电磁探测勘探中，当近地表存在局部电性不均匀体时，在外电场的作用下电性 不均匀体表面会产生积累电荷，由此产生一个附加电场，导致观测电场产生畸变，该畸变 几乎与频率无关。造成实测视电阻率发生畸变，主要表现为在双对数坐标系中单点曲线整 体沿电阻率轴向上或者向下平移了一个固定值，而在剖面等值线中具体表现为横向间隔等 值线密集分布的挂面条现象，而相位数据不受影响，这种现象通常称为静态效应或者静位 移。
[0004]静位移现象在大地电磁勘探中普遍存在，并将会对数据处理、反演及解释结果的精度 或者准确性产生严重影响。为了消除这种影响必须进行静位移校正处理。目前国内外静位 移校正主要是有曲线平面法、空间滤波法及阻抗张量分解法、瞬变电磁校正发及相位校正 法等等。然而，这些方法主要应用于二维大地电磁勘探中，在三维大地电磁勘探中较少应 用。而应用于三维大地电磁的静位移校正方法，不仅存在校正效果差的问题，同时还存在 校正效率低的问题。
[0005]因此，现有的静位移校正存在校正效果差及校正效率低的问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术实施例提供一种静位移校正方法，用以提高静位移校正效果及静位移校正效 率，该方法包括：
[0007]确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率数据体中每个原始视电阻率； 原始视电阻率为原始视电阻率数据体中每个测点中与预设频率邻近的预设多个中频段频 率的视电阻率的平均视电阻率；
[0008]对每个原始视电阻率进行滤波，得到每个原始视电阻率在原始位置的每个第二视电阻 率；
[0009]根据每个原始视电阻率与每个第二视电阻率中每个对应位置的视电阻率的相对误差， 利用相对误差不小于预设相对误差阈值的每个第二视电阻率中的视电阻率替换每个原始 视电阻率中对应位置的视电阻率，得到每个第三视电阻率；视电阻率的相对误差反映视电 阻率的畸变程度；
[0010]确定第三视电阻率数据体中每个第四视电阻率；第三视电阻率数据体为每个原始视电 阻率与对应每个第三视电阻率中每个对应测点之间的差值形成的第二视电阻率数据体，与 原始视电阻率数据体中每个对应测点的视电阻率相加得到的；每个第四视电阻率为第三视 电阻率数据体中每个测点中多个预设高频段频率号的视电阻率的平均视电阻率；
[0011]对每个第四视电阻率进行滤波，得到每个第四视电阻率在原始位置的滤波结果每个第 六视电阻率；
[0012]根据每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率，及第二视电阻率数据体，确定对原 始视电阻率数据体静校正后的第四视电阻率数据体。
[0013]本专利技术实施例还提供一种静位移校正装置，用以提高静位移校正效果及静位移校正效 率，该装置包括：
[0014]原始视电阻率确定模块，用于确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率 数据体中每个原始视电阻率；原始视电阻率为原始视电阻率数据体中每个测点中与预设频 率邻近的预设多个中频段频率的视电阻率的平均视电阻率；
[0015]第一滤波模块，用于对每个原始视电阻率进行滤波，得到每个原始视电阻率在原始位 置的每个第二视电阻率；
[0016]替换模块，用于根据每个原始视电阻率与每个第二视电阻率中每个对应位置的视电阻 率的相对误差，利用相对误差不小于预设相对误差阈值的每个第二视电阻率中的视电阻率 替换每个原始视电阻率中对应位置的视电阻率，得到每个第三视电阻率；视电阻率的相对 误差反映视电阻率的畸变程度；
[0017]第四视电阻率确定模块，用于确定第三视电阻率数据体中每个第四视电阻率；第三视 电阻率数据体为每个原始视电阻率与对应每个第三视电阻率中每个对应测点之间的差值 形成的第二视电阻率数据体，与原始视电阻率数据体中每个对应测点的视电阻率相加得到 的；每个第四视电阻率为第三视电阻率数据体中每个测点中多个预设高频段频率号的视电 阻率的平均视电阻率；
[0018]第二滤波模块，用于对每个第四视电阻率进行滤波，得到每个第四视电阻率在原始位 置的滤波结果每个第六视电阻率；
[0019]校正结果获得模块，用于根据每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率，及第二视 电阻率数据体，确定对原始视电阻率数据体静校正后的第四视电阻率数据体。
[0020]本专利技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在 处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述静位移校正方 法。
[0021]本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行 上述静位移校正方法的计算机程序。
[0022]本专利技术实施例中，利用相对误差不小于预设相对误差阈值的第二视电阻率中的视电阻 率替换原始视电阻率中对应位置的视电阻率，能够基于相对误差消除视电阻率的畸变点， 从而提高对视电阻率的静位移校正效果。另外，本专利技术实施例只需根据视电阻率的相对误 差，即可消除视电阻率中的畸变点，无需其它额外的处理即可快速消除畸变点，能够提高 静位移校正的效率。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技 术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术 的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可
以根 据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0024]图1为本专利技术实施例提供的静位移校正方法的实现流程图；
[0025]图2为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤101的实现流程图；
[0026]图3为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤102的实现流程图；
[0027]图4为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤103的实现流程图；
[0028]图5为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤104的实现流程图；
[0029]图6为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤105的实现流程图；
[0030]图7为本专利技术实施例提供的静位移校正方法中步骤106的实现流程图；
[0031]图8为本专利技术实施例提供的静位移校正方法的另一实现流程图；
[0032]图9为本专利技术实施例提供的静位移校正装置的功能模块图；
[0033]图10为本专利技术实施例提供的静位移校正装置中原始视电阻率确定模块901的结构框 图；
[0034]图11为本专利技术实施例提供的静位移校正装置中第一滤波模块902的结构框图；
[0035]图12为本专利技术实施例提供的静位移校正装置中替换模块903的结构框图；
[0036]图13为本专利技术实施例提供的静位移校正装置中第四视电阻率确定模本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种静位移校正方法，其特征在于，包括：确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率数据体中每个原始视电阻率；原始视电阻率为原始视电阻率数据体中每个测点中与预设频率邻近的预设多个中频段频率的视电阻率的平均视电阻率；对每个原始视电阻率进行滤波，得到每个原始视电阻率在原始位置的每个第二视电阻率；根据每个原始视电阻率与每个第二视电阻率中每个对应位置的视电阻率的相对误差，利用相对误差不小于预设相对误差阈值的每个第二视电阻率中的视电阻率替换每个原始视电阻率中对应位置的视电阻率，得到每个第三视电阻率；视电阻率的相对误差反映视电阻率的畸变程度；确定第三视电阻率数据体中每个第四视电阻率；第三视电阻率数据体为每个原始视电阻率与对应每个第三视电阻率中每个对应测点之间的差值形成的第二视电阻率数据体，与原始视电阻率数据体中每个对应测点的视电阻率相加得到的；每个第四视电阻率为第三视电阻率数据体中每个测点中多个预设高频段频率号的视电阻率的平均视电阻率；对每个第四视电阻率进行滤波，得到每个第四视电阻率在原始位置的滤波结果每个第六视电阻率；根据每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率，及第二视电阻率数据体，确定对原始视电阻率数据体静校正后的第四视电阻率数据体。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率数据体中每个原始视电阻率，包括：获取原始视电阻率数据体中每个测点中与预设频率邻近的预设多个中频段频率的视电阻率；将每个测点中与预设频率邻近的预设多个中频段频率的视电阻率的平均视电阻率作为每个原始视电阻率。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对每个原始视电阻率进行滤波，得到每个原始视电阻率在原始位置的每个第二视电阻率，包括：采用规则插值网格对每个原始视电阻率进行克里金插值，得到每个第一插值视电阻率；规则插值网格的网格间隔与原始视电阻率的数据间隔的比值为预设倍数区间内的任一倍数；采用第一滤波窗口对每个第一插值视电阻率进行滑动平均滤波，得到每个第一视电阻率；第一滤波窗口的中心位置数据不参与滤波；对每个第一视电阻率进行反插值，得到每个原始视电阻率在原始位置的滤波结果每个第二视电阻率。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据每个原始视电阻率与每个第二视电阻率中每个对应位置的视电阻率的相对误差，利用相对误差不小于预设相对误差阈值的每个第二视电阻率中的视电阻率替换每个原始视电阻率中对应位置的视电阻率，得到每个第三视电阻率，包括：确定每个原始视电阻率与对应每个第二视电阻率中每个对应位置的视电阻率的相对误差；
在每个对应位置的视电阻率的相对误差小于预设相对误差阈值时，将每个原始视电阻率中对应位置的视电阻率作为每个第三视电阻率对应位置的视电阻率；在每个对应位置的视电阻率的相对误差不小于预设相对误差阈值时，将每个第二视电阻率中对应位置的视电阻率作为每个第三视电阻率对应位置的视电阻率。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，确定第三视电阻率数据体中每个第四视电阻率，包括：确定每个原始视电阻率与对应每个第三视电阻率中每个对应测点之间的差值，形成第二视电阻率数据体；将原始视电阻率数据体与第二视电阻率数据体中每个对应测点的视电阻率相加，得到第三视电阻率数据体；确定第三视电阻率数据体中每个测点中多个预设高频段频率号的视电阻率；将每个测点中多个预设高频段频率号的视电阻率的平均视电阻率作为每个第四视电阻率。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对每个第四视电阻率进行滤波，得到每个第四视电阻率在原始位置的滤波结果每个第六视电阻率，包括：采用规则插值网格对每个第四视电阻率进行克里金插值，得到每个第二插值视电阻率；规则插值网格的网格间隔与第四视电阻率的数据间隔的比值为预设倍数区间内的任一倍数；采用第二滤波窗口对每个第二插值视电阻率进行高斯低通滤波，得到每个第五视电阻率；对每个第五视电阻率进行反插值，得到每个第四视电阻率在原始位置的滤波结果每个第六视电阻率。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率，及第二视电阻率数据体，确定对原始视电阻率数据体静校正后的第四视电阻率数据体，包括：确定每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率中每个对应测点之间的差值，形成第三视电阻率数据体；将第二视电阻率数据体与第三视电阻率数据体中每个对应测点的视电阻率相加，得到第四视电阻率数据体。8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率数据体中每个原始视电阻率之前，还包括：对原始视电阻率数据体取以预设数值为底的对数，得到第一视电阻率数据体；相应的，确定包括预设方向上所有视电阻率数据的原始视电阻率数据体中每个原始视电阻率，包括：确定包括预设方向上所有视电阻率数据的第一视电阻率数据体中每个原始视电阻率。9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，在根据每个第四视电阻率与对应每个第六视电阻率，及第二视电阻率数据体，确定对原始视电阻率数据体静校正后的第四视电阻率数据体之后，还包括：对第四视电阻率数据体进行反对数运算，确定原始视电阻率数据体校正后的第五视电
阻率数据体。10.一种静位移校正装置，其特征在于，包括：原始视电阻率确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶德强，
申请(专利权)人：中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司，
类型：发明
国别省市：