一种用于激光惯组接插件电气检测的工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，包括：测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、转接盒壳体、插头测试孔、插座、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ；测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ分别设置在转接盒壳体侧面；插头测试孔和插座设置在转接盒壳体的面板上；其中，插头测试孔和插座用于实现同点位的连接与断开功能；插座分别对测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ上的每一个点位进行引出。本实用新型专利技术能够实现对激光惯组接插件每一点位电气性能的独立检测，方便各个点位的调试及排故工作。

【技术实现步骤摘要】
一种用于激光惯组接插件电气检测的工装
本技术属于激光惯组
，尤其涉及一种用于激光惯组接插件电气检测的工装。
技术介绍
在激光惯组的生产过程中，产品调试及排故等过程中可能需要对接插件每个点的电气性能进行检测，例如导通、阻值、绝缘、信号等检测。现有激光惯组在产品调试及排故等过程中，使用表笔笔尖直接对需要电气测量的接插件点位进行触碰，该方法容易造成接插件点位误触，误测情况，尤其是对点位过多的接插件或者点位密集的接插件进行测量时，费时不易测量。另外表笔笔尖直接触碰接插件还容易造成缩针、歪针等接插件损伤。
技术实现思路
本技术的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，能够实现对激光惯组接插件每一点位电气性能的独立检测，方便各个点位的调试及排故工作。为了解决上述技术问题，本技术公开了一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，包括：测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、转接盒壳体、插头测试孔、插座、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ；测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ分别设置在转接盒壳体侧面；插头测试孔和插座设置在转接盒壳体的面板上；其中，插头测试孔和插座用于实现同点位的连接与断开功能；插座分别对测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ上的每一个点位进行引出。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，测试接插件Ⅰ和测试接插件Ⅱ为：41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，测试接插件Ⅲ和测试接插件Ⅳ为：66针测试接插件J599/20FF35PN-H。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ为：55针测试接插件Y11X-2255ZJ10-2。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，插头测试孔为：2mm香蕉插头测试孔。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，插座为：2mm香蕉插座。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，插座的数量为2N；其中，N表示：测试接插件Ⅰ、测试接插件Ⅱ、测试接插件Ⅲ、测试接插件Ⅳ、测试接插件Ⅴ和测试接插件Ⅵ中针数最多的测试插接件的针数。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，2N个插座共分为N组，每组下包括一个A类件和一个B类件。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，插头测试孔的数量为N，各插头测试孔用于同点位A类件和B类件的连接。在上述用于激光惯组接插件电气检测的工装中，在使用时，所述用于激光惯组接插件电气检测的工装置于待检测的激光惯组接插件与检测设备之间，并通过电缆进行电气连接后，待检测的激光惯组接插件的每一点被引出至转接盒壳体的面板上。本技术具有以下优点：本技术公开了一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，通过将激光惯组接插件点位逐一引出到插座，方便各个点位的调试及排故工作；与此同时，插头测试孔对插座的插拔实现了同点位的连接与断开功能，能够做到各个点位连通时测量和断开时单独调试排故。附图说明图1是本技术实施例中一种用于激光惯组接插件电气检测的工装的结构示意图；图2是本技术实施例中一种用于激光惯组接插件电气检测的工装的电路结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术公开的实施方式作进一步详细描述。如图1和图2，在本实施例中，该用于激光惯组接插件电气检测的工装，包括：测试接插件Ⅰ101、测试接插件Ⅱ102、转接盒壳体2、插头测试孔3、插座4、测试接插件Ⅲ501、测试接插件Ⅳ502、测试接插件Ⅴ601和测试接插件Ⅵ602。其中，测试接插件Ⅰ101、测试接插件Ⅱ102、测试接插件Ⅲ501、测试接插件Ⅳ502、测试接插件Ⅴ601和测试接插件Ⅵ602分别设置在转接盒壳体2侧面；插头测试孔3和插座4设置在转接盒壳体2的面板上，插头测试孔3和插座4用于实现同点位的连接与断开功能；插座4分别对测试接插件Ⅰ101、测试接插件Ⅱ102、测试接插件Ⅲ501、测试接插件Ⅳ502、测试接插件Ⅴ601和测试接插件Ⅵ602上的每一个点位进行引出。在本实施例中，测试接插件Ⅰ101和测试接插件Ⅱ102可以为：41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2；测试接插件Ⅲ501和测试接插件Ⅳ502可以为：66针测试接插件J599/20FF35PN-H；测试接插件Ⅴ601和测试接插件Ⅵ602可以为：55针测试接插件Y11X-2255ZJ10-2。其中，41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2、66针测试接插件J599/20FF35PN-H和55针测试接插件Y11X-2255ZJ10-2可以对应匹配激光惯组上的几类常用接插件，能够满足绝大多数的激光惯组接插件的电气检测需求。在本实施例中，插头测试孔3可以为2mm香蕉插头测试孔，插座4可以为2mm香蕉插座，2mm香蕉插头测试孔和2mm香蕉插座的设置便于表笔轻松测量。在本实施例中，插座4的数量为2N；其中，N表示：测试接插件Ⅰ101、测试接插件Ⅱ102、测试接插件Ⅲ501、测试接插件Ⅳ502、测试接插件Ⅴ601和测试接插件Ⅵ602中针数最多的测试插接件的针数。以前述的41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2、66针测试接插件J599/20FF35PN-H和55针测试接插件Y11X-2255ZJ10-2为例，则N的取值为66。优选的，2N个插座4共分为N组，每组下包括一个A类件和一个B类件。如图1，2*66＝132个2mm香蕉插座分为A、B两类，每一类66个，分别为A1、B1、A2、B2……A65、B65、A66、B66。进一步的，插头测试孔3的数量为N，各插头测试孔3用于同点位A类件和B类件的连接。如图1，66个2mm香蕉插头测试孔用于同点位2mm香蕉插座A1与B1、A2与B2、A3与B3……A66与B66的连接，2mm香蕉插头测试孔的插拔可实现接插件同点位的2mm香蕉插座连接与断开功能。在本实施例中，如图2，进行41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2、55针测试接插件Y11X-2255ZJ10-2、66针测试接插件J599/20FF35PN-H上所有点位与2mm香蕉插座之间的电路焊接。A类测试接插件与A类2mm香蕉插座进行对应焊接，B类测试接插件与B类2mm香蕉插座进行对应焊接。其中，激光惯组接插件电气检测的工装置于待检测的激光惯组接插件与检测设备之间，如想实现激光惯组接插件与检测设备间各个点连通时测量和断开时单独调试排故等不同需求，则需将激光惯组接插件中每个点位“输入”到激光惯组接插件电气检测的工装上，再从激光惯组接插件电气检测的工装上对应“输出”到检测设备中。为此我们将激光惯组接插件电气检测的工装上与激光惯组接插件对接时起“输入”作用的测试接插件定义为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，其特征在于，包括：测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、转接盒壳体(2)、插头测试孔(3)、插座(4)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)；/n测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)分别设置在转接盒壳体(2)侧面；/n插头测试孔(3)和插座(4)设置在转接盒壳体(2)的面板上；其中，插头测试孔(3)和插座(4)用于实现同点位的连接与断开功能；/n插座(4)分别对测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)上的每一个点位进行引出。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于激光惯组接插件电气检测的工装，其特征在于，包括：测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、转接盒壳体(2)、插头测试孔(3)、插座(4)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)；
测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)分别设置在转接盒壳体(2)侧面；
插头测试孔(3)和插座(4)设置在转接盒壳体(2)的面板上；其中，插头测试孔(3)和插座(4)用于实现同点位的连接与断开功能；
插座(4)分别对测试接插件Ⅰ(101)、测试接插件Ⅱ(102)、测试接插件Ⅲ(501)、测试接插件Ⅳ(502)、测试接插件Ⅴ(601)和测试接插件Ⅵ(602)上的每一个点位进行引出。


2.根据权利要求1所述的用于激光惯组接插件电气检测的工装，其特征在于，测试接插件Ⅰ(101)和测试接插件Ⅱ(102)为：41针测试接插件Y11X-2041ZJ10-2。


3.根据权利要求1所述的用于激光惯组接插件电气检测的工装，其特征在于，测试接插件Ⅲ(501)和测试接插件Ⅳ(502)为：66针测试接插件J599/20FF35PN-H。


4.根据权利要求1所述的用于激光惯组接插件电气检测的工装，其特征在于，测试接插件Ⅴ(...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄振，隋一哲，赵伟，
申请(专利权)人：北京航天时代激光导航技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京;11