一种双滑台质量质心偏心测试仪制造技术

技术编号:29271397 阅读:13 留言:0更新日期:2021-07-13 17:58
本实用新型专利技术公开了一种双滑台质量质心偏心测试仪,包括基准尺、滑台机构、测试台、两组传感器模块、两组测试架;滑台机构设置于测试台的顶部,基准尺设置于测试台的一端,两组传感器模块均设于滑台机构上,两组测试架分别设于两组传感器模块上,所述基准尺包括靠栅、滑板、两块滑块Ⅰ、导轨、两件数显尺支撑架、数显尺和整体支撑架;整体支撑架固定在测试台的一端,导轨设置在整体支撑架的顶部,两块滑块Ⅰ滑动均设于导轨内,滑板固定在两块滑块Ⅰ的顶部,靠栅设置在滑板的外侧,两件数显尺支撑架对称设置在整体支撑架顶部两侧,数显尺设置在两件数显尺支撑架顶部之间,本实用新型专利技术,具有测试精度好,重复性高,被测产品安装方便。

【技术实现步骤摘要】
一种双滑台质量质心偏心测试仪
本技术涉及一种用于测定回转体质量质心偏心的技术,具体为一种双滑台质量质心偏心测试仪。
技术介绍
导弹、火箭、炮弹等国防装备在发射过程中,其飞行运动轨迹与其自身的质量特性参数具有紧密的联系,质量特性参数的测量对于研究与控制该类产品的的运动过程具有重要的意义。质量特性参数是指反映产品形状、质量及其分布特性的一系列参数的总称,通常反映了产品的质量、质心、偏心、转动惯量及动不平衡度等性能参数。在国防及民用工业领域,质量特性参数对产品的性能质量具有重要的意义,直接关系到产品设计的成败。质量、质心参数是所有工业产品设计分析的基础,是开展动力学、运动学理论研究的前提,也是通常检验产品性能的重要参数。在国防军工领域,质量、质心参数是弹箭产品开展理论设计、仿真分析、虚拟实验等现代设计方法和手段的基本参数,对于绕几何轴线旋转的弹箭产品而言,由于质量质心位置的偏离将导致弹体旋转过程中受到离心力的作用,从而对弹体运动造成扰动。因此质量、质心参数的高精度测量是其他参数准确测量的前提,该参数能否准确测量,对弹体的发射动力学理论研究、对弹体发射后的运动姿态和轨迹、飞行稳定性、操纵性具有较大影响,并将直接影响弹箭产品飞行控制精度。而在民用工业中,质量质心参数是研究产品动力学性能与动力装备振动性能的基础。通常获取产品质量参数的方法有2个基本途径:计算机方法和试验测试方法。计算机方法根据产品图纸所给定的密度分布和几何形状尺寸,按照定义的计算公式计算。对于复杂的零件则应用计算机模拟方法采用的模型有点、杆、板和实体块等多种形式,计算机精度取决于模型对实物模拟的逼真程度。随着CAD技术的发展,可以大大提高计算机的效率和精度。计算机模拟方法对于真实结构存在不可忽略的误差,其原因主要有:密度的差异和材料的非均质,加工和装配误差,非固体材料的影响难以精确计算等。该类产品在设计、生产、定型的过程中,由于设计中零部件的质量分布不均匀、生产加工误差、材料不均匀、装配误差因素,以至于往往并不能依靠产品理论模型的质量特性参数来表征产品的实际的质量特性。必须通过对实际产品的质量特性参数的测量,才能为进一步的产品的设计研究提供理论分析基础,校核检验产品设计、生产及装配的优劣。在质量质心测试领域,传统的“托架式”质量质心测试技术、“倾斜式”质量质心测试技术、“三点式”质量质心测试技术、“刀口式”偏心测试技术测量过程繁琐、精度低、重复性差、安全可靠性低、设备过于笨重。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种双滑台质量质心偏心测试仪,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为了解决上述技术问题,本技术提供如下技术方案:一种双滑台质量质心偏心测试仪,包括基准尺、滑台机构、测试台、两组传感器模块、两组测试架;滑台机构设置于测试台的顶部,基准尺设置于测试台的一端,两组传感器模块均设于滑台机构上,两组测试架分别设于两组传感器模块上。进一步的,所述基准尺包括靠栅、滑板、两块滑块Ⅰ、导轨、两件数显尺支撑架、数显尺和整体支撑架;整体支撑架固定在测试台的一端,导轨设置在整体支撑架的顶部,两块滑块Ⅰ滑动均设于导轨内,滑板固定在两块滑块Ⅰ的顶部,靠栅设置在滑板的外侧,两件数显尺支撑架对称设置在整体支撑架顶部两侧,数显尺设置在两件数显尺支撑架顶部之间。进一步的,所述滑台机构包括两块滑台、两根直线滑轨和八个滑块Ⅱ;两根直线滑轨相互平行固定在测试台上,两块滑台设于两根直线滑轨的上方,每块滑台通过四个滑块Ⅱ滑动设于两根直线滑轨上,两组传感器模块分别固定在两个滑台顶面中心。进一步的,传感器模块包括两块上连接块、两件传感器、两块下连接块;两块下连接块对称设置在滑台顶部上方,两件传感器分别设置在两块下连接块的外侧,两块上连接块对称设置在两件传感器的顶部外侧。进一步的,测试架包括翻转架、两组滚轮架、测试板、支脚;翻转架设置在测试板一侧下方,且翻转架底端与靠近其底端一侧的上连接块连接固定,支脚设置在测试板远离翻转架的底部一侧,且支脚底端与靠近其底端一侧的上连接块浮动连接,两组滚轮架对称设置在测试板顶部上方。进一步的,所述测试台包括测试底台和多个可调地脚;测试底台的一端与整体支撑架固定连接,两根直线滑轨与测试台上顶部固定连接,多个可调地脚均匀分布在测试底台底面,可调地脚用于对测试底台水平高度进行调节。与现有技术相比,本技术所达到的有益效果是:1.本装置无托架方式,附载重量大大减轻、结构简单,操作使用十分方便;2.采用回转法代替传统的刀口法,安全可靠,测试精度好、重复性高;3.滚轮架为开放式夹具结构,被测回转体产品安装测试方便。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本技术的实施例一起用于解释本技术,并不构成对本技术的限制。在附图中:图1是本技术的整体结构示意图。图2是本技术的整体结构侧视图。图3是本技术的基准尺结构示意图。图4是本技术的滑台机构结构示意图。图5是本技术的传感器模块结构示意图。图6是本技术的测试架结构示意图。图7是本技术的测量原理图;图8是本技术的测量原理图;图9是本技术的传感器排布示意图;图中:1、基准尺;11、靠栅;12、滑板;13、滑块Ⅰ;14、导轨;15、显尺支撑架;16、数显尺;17、整体支撑架;2、滑台机构;21、滑块Ⅱ;22、滑台;23、直线滑轨;3、测试台;31、测试底台;32、可调地脚;4、传感器模块;41、上连接块;42、传感器;43、下连接块;5、测试架;51、翻转架;52、滚轮架;53、测试板;54、支脚。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1和2,本技术提供技术方案:一种双滑台质量质心偏心测试仪,包括基准尺1、滑台机构2、测试台3、两组传感器模块4、两组测试架5;滑台机构2设置于测试台3的顶部,基准尺1设置于测试台3的一端,两组传感器模块4均设于滑台机构2上,两组测试架5分别设于两组传感器模块4上。请参阅图3,基准尺1包括靠栅11、滑板12、两块滑块Ⅰ13、导轨14、两件数显尺支撑架15、数显尺16和整体支撑架17;整体支撑架17固定在测试台3的一端,导轨14设置在整体支撑架17的顶部,两块滑块Ⅰ13滑动均设于导轨14内,滑板12固定在两块滑块Ⅰ13的顶部,靠栅11设置在滑板12的外侧,两件数显尺支撑架15对称设置在整体支撑架17顶部两侧,数显尺16设置在两件数显尺支撑架15顶部之间,数显尺16上的滑尺与滑板12固定连接,移动数显尺16上的滑尺可带动滑板12移动,从而带本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种双滑台质量质心偏心测试仪,其特征在于:包括基准尺、滑台机构、测试台、两组传感器模块、两组测试架;/n滑台机构设置于测试台的顶部,/n基准尺设置于测试台的一端,/n两组传感器模块均设于滑台机构上,/n两组测试架分别设于两组传感器模块上。/n

【技术特征摘要】
1.一种双滑台质量质心偏心测试仪,其特征在于:包括基准尺、滑台机构、测试台、两组传感器模块、两组测试架;
滑台机构设置于测试台的顶部,
基准尺设置于测试台的一端,
两组传感器模块均设于滑台机构上,
两组测试架分别设于两组传感器模块上。


2.根据权利要求1所述的一种双滑台质量质心偏心测试仪,其特征在于:所述基准尺包括靠栅、滑板、两块滑块Ⅰ、导轨、两件数显尺支撑架、数显尺和整体支撑架;
整体支撑架固定在测试台的一端,
导轨设置在整体支撑架的顶部,
两块滑块Ⅰ滑动均设于导轨内,
滑板固定在两块滑块Ⅰ的顶部,
靠栅设置在滑板的外侧,
两件数显尺支撑架对称设置在整体支撑架顶部两侧,
数显尺设置在两件数显尺支撑架顶部之间。


3.根据权利要求2所述的一种双滑台质量质心偏心测试仪,其特征在于:所述滑台机构包括两块滑台、两根直线滑轨和八个滑块Ⅱ;
两根直线滑轨相互平行固定在测试台上,
两块滑台设于两根直线滑轨的上方,每块滑块Ⅱ通过四个滑块滑动设于两根直线滑轨上,<...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔丹群鞠鹏李俊王骏
申请(专利权)人:南京乾利合科技有限责任公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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