高精度弹性体材料厚度测量装置制造方法及图纸

技术编号:29167186 阅读:33 留言:0更新日期:2021-07-06 23:14
本实用新型专利技术公开了一种高精度弹性体材料厚度测量装置,它包括支撑平台和控制装置,所述支撑平台上表面放置有待测弹性体,所述待测弹性体上表面设置有导电薄片,所述导电薄片上方设置有上下伸缩的测量探针,所述控制装置通过行程控制线分别与导电薄片和测量探针相连。本实用新型专利技术结构、原理简单,通过电信号控制测量探针上下位移,使得测量时待测弹性体不发生变形,测量读数准确,精度高。精度高。精度高。

【技术实现步骤摘要】
高精度弹性体材料厚度测量装置


[0001]本技术涉及厚度测量装置,具体涉及一种高精度弹性体材料厚度测量装置。

技术介绍

[0002]目前测量弹性体材料厚度一般采用符合GB/T 6342

1996 ISO 1923-1981《泡沫塑料和橡胶—线性尺寸测定》中所规定的材料厚度测量仪;但使用该类设备在测量时同样是以两块面积较大的片材对待测材料进行包夹后进行读数,测量精度可达到0.05mm,但在测量时不可避免的会造成弹性材料变形,这样就会导致读数不准确。且当待测材料的厚度大于10mm时就无法使用该类测量设备进行测量,只能使用游标卡尺或者千分尺进行测量,测量精度仅仅只能达到0.1mm,并且待测材料厚度测量时所发生的变形量将会更大,所造成的测量误差同样非常之大。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供了一种高精度弹性体材料厚度测量装置,其用于规则的弹性体厚度测量,具有结构简单、操作便利、测量精度高的特点。
[0004]为实现上述目的,本技术所设计一种高精度弹性体材料厚度测量装置,它包括支撑平台和控制装置,所述支撑平台上表面放置有待测弹性体,所述待测弹性体上表面设置有导电薄片,所述导电薄片上方设置有上下伸缩的测量探针,所述控制装置通过行程控制线分别与导电薄片和测量探针相连。
[0005]进一步地,所述支撑平台上设置有安装测量探针的安装支架,所述安装支架包括固定支架,所述固定支架上设置有探针安装杆,所述探针安装杆的杆壁上设置有表盘;所述探针安装杆底端设置有上下伸缩的测量探针。
[0006]再进一步地,所述控制装置包括位移装置,所述位移装置包括设置在支撑平台上的位移座,所述位移座一侧设置有用于固定位移座的固定夹具,所述位移座上竖直设置有丝杆,所述位移座顶部设置有与丝杆连接的步进电机,所述丝杆上设置有上下滑动的滑块,所述滑块上水平设置有连杆,所述连杆另一端连接有测量探针。
[0007]再进一步地,所述控制装置包括控制箱,所述控制箱的箱壁上设置有控制面板;所述控制箱通过行程控制线分别与导电薄片和测量探针相连。
[0008]本技术的工作过程:
[0009]1.启动控制箱上控制面板后,位移装置将控制滑块向下发生位移,在测量探针下移接触到导电薄片(导电薄片重量不超过5g,基本不会对弹性体发生压缩变形)后,行程开关线将会发生连通,控制箱将会输出停止信号,当位移装置接受到控制箱所给出的停止信号后,位移装置中步进电机将立刻停止工作,同时将带动滑块及测量探针停止向下发生位移;
[0010]2.位移装置接收到停止信号后,可在表盘上读取当前待测弹性体实时厚度,其中,本装置可测量厚度在0~35mm的弹性体材料;
[0011]3.继续启动控制箱的控制面板,位移装置将控制滑块带动测量探针进行复位,回到初始零位。
[0012]本技术的有益效果:
[0013]1.本技术结构、原理简单,通过电信号控制测量探针上下位移,使得测量时待测弹性体不发生变形,测量读数准确,精度高。
[0014]2.本技术的位移精度能够达到0.01mm。
附图说明
[0015]图1为高精度弹性体材料厚度测量装置的整机示意图;
[0016]图2为高精度弹性体材料厚度测量装置中位移装置局部零部件示意图;
[0017]图中,支撑平台1、控制装置2、控制箱2.1、控制面板2.2、导电薄片3、测量探针4、行程控制线5、安装支架6、固定支架6.1、探针移动杆6.2、表盘6.3、位移装置7、位移座7.1、固定夹具7.2、丝杆7.3、步进电机7.4、滑块7.5、连杆7.6、待测弹性体8。
具体实施方式
[0018]下面结合具体实施例对本技术作进一步的详细描述,以便本领域技术人员理解。
[0019]如图1~2所示的高精度弹性体材料厚度测量装置,它包括支撑平台1和控制装置2,支撑平台1上表面放置有待测弹性体,待测弹性体上表面设置有导电薄片3,
[0020]支撑平台1上设置有安装测量探针4的安装支架6,安装支架6包括固定支架6.1,固定支架6.1上设置有探针安装杆6.2,探针安装杆6.2的杆壁上设置有表盘6.3;探针安装杆6.2底端设置有上下伸缩的测量探针4,
[0021]控制装置2包括控制箱2.1和位移装置7,控制箱2.1的箱壁上设置有控制面板2.2;
[0022]位移装置7包括设置在支撑平台1上的位移座7.1,位移座7.1一侧设置有用于固定位移座7.1的固定夹具7.2,位移座7.1上竖直设置有丝杆7.3,位移座7.1顶部设置有与丝杆7.3连接的步进电机7.4,丝杆7.3上设置有上下滑动的滑块7.5,滑块7.5上水平设置有连杆7.6,连杆7.6另一端连接有测量探针4;
[0023]测量探针4设置在导电薄片3上,控制箱2.1通过行程控制线5分别与导电薄片3和测量探针4相连。
[0024]上述控制箱2.1内控制程序属于现有技术,购于市面。
[0025]上述高精度弹性体材料厚度测量装置的工作过程:
[0026]1.启动控制箱2.1上控制面板2.2后,位移装置7将控制滑块7.5向下发生位移,在测量探针4下移接触到导电薄片3后,行程开关线6将会发生连通,控制箱2.1将会输出停止信号,当位移装置7接受到控制箱2.1所给出的停止信号后,位移装置7中步进电机7.4将立刻停止工作,同时将带动滑块7.5及测量探针4停止向下发生位移;
[0027]2.位移装置7接收到停止信号后,可在表盘6.3上读取当前待测弹性体8实时厚度;
[0028]3.继续启动控制箱2.1的控制面板2.2,位移装置7将控制滑块7.5带动测量探针4进行复位,回到初始零位。
[0029]其它未详细说明的部分均为现有技术。尽管上述实施例对本技术做出了详尽
的描述,但它仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部实施例,人们还可以根据本实施例在不经创造性前提下获得其他实施例,这些实施例都属于本技术保护范围。
本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度弹性体材料厚度测量装置,其特征在于:它包括支撑平台(1)和控制装置(2),所述支撑平台(1)上表面放置有待测弹性体,所述待测弹性体上表面设置有导电薄片(3),所述导电薄片(3)上方设置有上下伸缩的测量探针(4),所述控制装置(2)通过行程控制线(5)分别与导电薄片(3)和测量探针(4)相连。2.根据权利要求1所述高精度弹性体材料厚度测量装置,其特征在于:所述支撑平台(1)上设置有安装测量探针(4)的安装支架(6),所述安装支架(6)包括固定支架(6.1),所述固定支架(6.1)上设置有探针安装杆(6.2),所述探针安装杆(6.2)的杆壁上设置有表盘(6.3);所述探针安装杆(6.2)底端设置有上下伸缩的测量探针(4)。3.根据权利要求1所述高精度弹性体材料厚度测量装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈福成夏熙明朱玉明汪磊万琪
申请(专利权)人:武汉维斯第医用科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1