一种针对电子元件的检测装置及其使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种针对电子元件的检测装置及其使用方法，包括用于测值电子元件的测值针和用于带动测值针上下调节的测值针上下电机以及检测测值针定位的相机，测值针上端固定部分通过左右调节丝杠连接轴承安装座，轴承安装座一端安装有左右测值针电机，轴承安装座后端连接有测值针上下滑动座，测值针上下滑动座通过丝杠连接测值针滑轨安装板。本发明专利技术利用测值针的底面平面，方便测针与电子元件快速接触，从而提高测值效率，同时利用收缩提醒，避免电子元件的刚性接触，保护电子元件，利用上下调节配合左右调节，同时利用相机进行检测，提高测值的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种针对电子元件的检测装置及其使用方法
本专利技术涉及电子元件PCBA测值领域，特别是涉及一种针对电子元件的检测装置及其使用方法。
技术介绍
印刷电路板，又称印制电路板，印刷线路板，常使用英文缩写PCB，是重要的电子部件，是电子元件的支撑体，是电子元器件线路连接的提供者。也就是说PCB空板经过SMT上件，或经过DIP插件的整个制程。目前，PCBA组装有通过表面封装工艺的电子器件的线路板)的批量生产过程中，由于设备和生产操作者的各自制程等因素，可能会出现批量的生产异常事故，从而生产出批量的不良品，为了杜绝此类生产事故，在PCBA量产前都会对第一片PCBA进行检测(也叫首件检测)，确认OK后再继续生产。目前市场上绝大多数的首件检测都是人工或者机器通过探针接触元件两端进行通电测试，此方式对设备精度要求非常高，实际测试过程中极不稳定而且误报率高，尤其在元件小型化的趋势下，市场上的此类设备误报率更高，本专利技术的优势在于通过探针底面快速接触元件表面的两端进行通电测试，对设备精度要求不高，但是测试效率提高基本，而且误报率低。
技术实现思路
本专利技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种针对电子元件的检测装置及其使用方法。本专利技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种针对电子元件的检测装置，包括用于测值电子元件的测值针和用于带动所述测值针上下调节的测值针上下电机以及检测所述测值针定位的相机，所述测值针上端固定部分通过左右调节丝杠连接轴承安装座，所述轴承安装座一端安装有左右测值针电机，所述轴承安装座后端连接有测值针上下滑动座，所述测值针上下滑动座通过丝杠连接测值针滑轨安装板，所述测值针滑轨安装板上端连接有旋转臂，所述旋转臂后侧设置有所述测值针上下电机，所述旋转臂前端连接旋转轴模块，所述旋转轴模块上端安装有旋转轴电机，所述旋转轴模块上安装有相机安装座，所述相机安装座下端连接有所述相机，所述相机外部安装有环形光源。优选的：所述测值针上端连接测值针安装滑动座，所述测值针安装滑动座外部设置有弹簧，所述测值针安装滑动座上端连接滑动座定位座，所述滑动座定位座通过绝缘块连接第一滑动座安装臂，所述第一滑动座安装臂后端连接有安装臂滑块，所述安装臂滑块连接在所述左右调节丝杠上，所述左右调节丝杠一端连接所述左右测值针电机，所述测值针上下滑动座上连接有上下调节丝杆，所述上下调节丝杆通过第一轴承安装座连接所述测值针滑轨安装板，所述上下调节丝杆上端连接有升降同步轮，另一个升降同步轮安装在所述测值针上下电机上，所述测值针上下电机上端通过电机安装座连接所述测值针滑轨安装板，两个升降同步轮之间通过升降同步带连接；所述测值针下端设置有测值针平面，所述测值针前端成型有光学定位边，所述测值针上端设置有固定安装位。如此设置，所述测值针平面用于测值电子元件，所述光学定位边用于辅助所述相机进行定位。优选的：所述测值针上端连接测值针安装臂，所述测值针安装臂后端连接安装臂安装座，所述安装臂安装座安装在第二滑动座安装臂前端，所述第二滑动座安装臂连接在所述左右调节丝杠上，所述左右调节丝杠一端连接有左右同步轮，另一个所述左右同步轮安装在所述左右测值针电机上，两个所述左右同步轮之间通过左右同步带连接，所述左右调节丝杠通过所述轴承安装座连接所述测值针上下滑动座，所述测值针上下滑动座后端安装有两个所述丝杠，所述测值针上下滑动座上端通过上下调节丝杆连接连轴器，所述连轴器通过第二轴承安装座连接所述测值针滑轨安装板，所述连轴器上端连接所述测值针上下电机，所述旋转轴模块上端安装有四个电机安装杆，所述电机安装杆上端安装有所述旋转轴电机；所述测值针包括测值针圆头、伸缩杆、固定安装位，所述测值针圆头上端连接所述伸缩杆，所述伸缩杆上端连接有所述固定安装位，所述固定安装位内部和所述伸缩杆配合之间设置有缓冲弹簧。如此设置，所述伸缩杆和所述固定安装位配合，能够使所述测值针圆头不会对电子元件发生刚性冲击。优选的：所述环形光源通过螺钉连接所述相机，所述相机轴心位于两个所述测值针之间的中心上。如此设置，所述环形光源用于辅助照明。优选的：所述测值针通过螺钉连接所述测值针安装滑动座，所述测值针安装滑动座滑动连接所述滑动座定位座。如此设置，通过滑动连接避免刚性冲击，保护电子元件。优选的：所述固定安装位通过螺钉连接所述测值针安装臂，所述测值针安装臂和所述安装臂安装座一体成型。如此设置，所述测值针安装臂用于安装。一种针对电子元件的检测装置的使用方法，包括以下几个步骤：a、将测值针通过固定安装位或固定安装位安装在测值针安装滑动座或测值针安装臂上，将两个测值针之间的定位面同平面，且中心位对准相机的轴心；b、利用安装臂滑块或第二滑动座安装臂配合左右调节丝杠进行所述测值针的左右调节，使测值针能够保证定位；c、启动测值针上下电机，转动上下调节丝杆，利用测值针上下滑动座配合上下调节丝杆使得测值针能够上下调节；d、继而当电子元件传输到测值针下端面时，利用相机检测测值针之间的间距同时调整间距，再控制测值针下降，使得测值针插在电子元件上的电子元件的缝隙内，对电子元件进行准确测量，同时利用测值针安装滑动座和第一滑动座安装臂之间通过绝缘块连接或利用伸缩杆和固定安装位之间的滑动连接，从而使得电子元件不会受到刚性冲击，保证了电子元件的安全性。与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：1、利用测值针的底面平面，方便测针与电子元件快速接触，从而提高测值效率，同时利用收缩提醒，避免电子元件的刚性接触，保护电子元件；2、利用上下调节配合左右调节，同时利用相机实时补偿位置以及进行检测，提高测值的准确度以及核对丝印物料的效率附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例1结构示意图；图2是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例1测值针左视图；图3是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例1测值针结构示意图；图4是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例1测值针工作时结构示意图；图5是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例2结构示意图；图6是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例2测值针主视图；图7是本专利技术所述一种针对电子元件的检测装置的实施例2测值针结构示意图。附图标记说明如下：1、测值针；2、轴承安装座；3、左右调节丝杠；4、测值针上下滑动座；5、测值针滑轨安装板；6、旋转臂；7、测值针上下电机；8、旋转轴电机；9、旋转轴模块；10、相机安装座；11、左右测值针电机；12、相机；13、环形光源；14、丝杠；101、测值针安装滑动座；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对电子元件的检测装置，其特征在于：包括用于测值电子元件的测值针(1)和用于带动所述测值针(1)上下调节的测值针上下电机(7)以及检测所述测值针(1)定位的相机(12)，所述测值针(1)上端固定部分通过左右调节丝杠(3)连接轴承安装座(2)，所述轴承安装座(2)一端安装有左右测值针电机(11)，所述轴承安装座(2)后端连接有测值针上下滑动座(4)，所述测值针上下滑动座(4)通过丝杠(14)连接测值针滑轨安装板(5)，所述测值针滑轨安装板(5)上端连接有旋转臂(6)，所述旋转臂(6)后侧设置有所述测值针上下电机(7)，所述旋转臂(6)前端连接旋转轴模块(9)，所述旋转轴模块(9)上端安装有旋转轴电机(8)，所述旋转轴模块(9)上安装有相机安装座(10)，所述相机安装座(10)下端连接有所述相机(12)，所述相机(12)外部安装有环形光源(13)。/n

【技术特征摘要】
1.一种针对电子元件的检测装置，其特征在于：包括用于测值电子元件的测值针(1)和用于带动所述测值针(1)上下调节的测值针上下电机(7)以及检测所述测值针(1)定位的相机(12)，所述测值针(1)上端固定部分通过左右调节丝杠(3)连接轴承安装座(2)，所述轴承安装座(2)一端安装有左右测值针电机(11)，所述轴承安装座(2)后端连接有测值针上下滑动座(4)，所述测值针上下滑动座(4)通过丝杠(14)连接测值针滑轨安装板(5)，所述测值针滑轨安装板(5)上端连接有旋转臂(6)，所述旋转臂(6)后侧设置有所述测值针上下电机(7)，所述旋转臂(6)前端连接旋转轴模块(9)，所述旋转轴模块(9)上端安装有旋转轴电机(8)，所述旋转轴模块(9)上安装有相机安装座(10)，所述相机安装座(10)下端连接有所述相机(12)，所述相机(12)外部安装有环形光源(13)。


2.根据权利要求1所述的一种针对电子元件的检测装置，其特征在于：所述测值针(1)上端连接测值针安装滑动座(101)，所述测值针安装滑动座(101)外部设置有弹簧(102)，所述测值针安装滑动座(101)上端连接滑动座定位座(104)，所述滑动座定位座(104)通过绝缘块(103)连接第一滑动座安装臂(105)，所述第一滑动座安装臂(105)后端连接有安装臂滑块(106)，所述安装臂滑块(106)连接在所述左右调节丝杠(3)上，所述左右调节丝杠(3)一端连接所述左右测值针电机(11)，所述测值针上下滑动座(4)上连接有上下调节丝杆(107)，所述上下调节丝杆(107)通过第一轴承安装座(108)连接所述测值针滑轨安装板(5)，所述上下调节丝杆(107)上端连接有升降同步轮(111)，另一个升降同步轮(111)安装在所述测值针上下电机(7)上，所述测值针上下电机(7)上端通过电机安装座(109)连接所述测值针滑轨安装板(5)，两个升降同步轮(111)之间通过升降同步带(110)连接；
所述测值针(1)下端设置有测值针平面(1001)，所述测值针(1)前端成型有光学定位边(1002)，所述测值针(1)上端设置有固定安装位(1003)。


3.根据权利要求1所述的一种针对电子元件的检测装置，其特征在于：所述测值针(1)上端连接测值针安装臂(201)，所述测值针安装臂(201)后端连接安装臂安装座(202)，所述安装臂安装座(202)安装在第二滑动座安装臂(203)前端，所述第二滑动座安装臂(203)连接在所述左右调节丝杠(3)上，所述左右调节丝杠(3)一端连接有左右同步轮(207)，另一个所述左右同步轮(207)安装在所述左右测值针电机(11)上，两个所述左右同步轮(207)之间通过左右同步带(208)连接，所述左右调节丝杠(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：柯晓庆，黎育明，
申请(专利权)人：东莞市冠菱精密设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44