一种晶体测试安装座制造技术

本实用新型专利技术提出一种晶体测试安装座，所述晶体测试安装座包括：主体、探测板；所述主体包括：放置部、安装板、第一板和第二板，所述安装板固定安装在所述主体上，所述放置部与所述主体固定连接，所述放置部上设有放置槽；所述第一板与所述第二板垂直设置，所述第一板与所述第二板固定连接，所述第一板与所述安装板活动连接，所述探测板放置在所述第二板上并与所述第二板固定连接，所述探测板还包括第一探头、第二探头；第一板与座体上的安装板活动连接，第二板与探测板固定连接，第一探头、第二探头与探测板固定连接，使晶体测试安装座的结构更加简单，安装精度更加低。安装精度更加低。安装精度更加低。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体测试安装座


[0001]本技术涉及测试装备领域，尤其是一种晶体测试安装座。

技术介绍

[0002]随着电子设备的普及，晶体常常被作为电极用于电路板上，由于晶体十分小人体肉眼检测十分困难，同时现有的晶体测试仪器安装非常复杂，安装时需要很高的精度，现在急需一种结构简单且便于安装的晶体测试安装座。

技术实现思路

[0003]为了解决上述问题，本技术提出一种晶体测试安装座。
[0004]本技术通过以下技术方案实现的：
[0005]本技术提出一种晶体测试安装座，所述晶体测试安装座包括：主体、探测板；
[0006]所述主体包括：放置部、安装板、第一板和第二板，所述安装板固定安装在所述主体上，所述放置部与所述主体固定连接，所述放置部上设有放置槽；
[0007]所述第一板与所述第二板垂直设置，所述第一板与所述第二板固定连接，所述第一板与所述安装板活动连接，所述探测板放置在所述第二板上并与所述第二板固定连接，所述探测板还包括第一探头、第二探头，所述第一探头、所述第二探头均位于所述放置槽上方，所述第一探头、所述第二探头均贯穿所述探测板并与所述探测板固定连接；
[0008]所述第一板能够相对于所述安装板在竖直方向滑动，带动所述探测板在竖直方向滑动。
[0009]进一步的，所述探测板部分放置在所述第二板上，所述第一探头、所述第二探头均安装在所述探测板伸出所述第二板的位置上。
[0010]进一步的，所述晶体测试安装座还包括两个固定柱，所述固定柱一端与所述第二板固定连接，所述固定柱另一端贯穿所述探测板，两个所述固定柱对称设置在所述第二板上。
[0011]进一步的，所述第一板还包括抓手杆，所述抓手杆设置在所述第一板远离所述第一探头一侧上，所述抓手杆一端与所述第一板固定连接。
[0012]进一步的，所述第一探头、所述第二探头均与所述探测板电连接。
[0013]本技术的有益效果：
[0014]本技术提出一种晶体测试安装座的座体与放置部固定连接，第一板与座体上的安装板活动连接，第二板与探测板固定连接，第一探头、第二探头与探测板固定连接，使晶体测试安装座的结构更加简单，安装精度更加低。
附图说明
[0015]图1为本技术的晶体测试安装座的立体图。
具体实施方式
[0016]为了更加清楚、完整的说明本技术的技术方案，下面结合附图对本技术作进一步说明。
[0017]请参考图1，本技术提出一种晶体测试安装座，所述晶体测试安装座包括：主体10、探测板14；
[0018]所述主体10包括：放置部11、安装板12、第一板131和第二板132，所述安装板12固定安装在所述主体10上，所述放置部11与所述主体10固定连接，所述放置部11上设有放置槽111；
[0019]所述第一板131与所述第二板132垂直设置，所述第一板131与所述第二板132固定连接，所述第一板131与所述安装板12活动连接，所述探测板14 放置在所述第二板132上并与所述第二板132固定连接，所述探测板14还包括第一探头141、第二探头142，所述第一探头141、所述第二探头142均位于所述放置槽111上方，所述第一探头141、所述第二探头142均贯穿所述探测板 14并与所述探测板14固定连接；
[0020]所述第一板131能够相对于所述安装板12在竖直方向滑动，带动所述探测板14在竖直方向滑动。
[0021]在本实施方式中，所述安装板12固定安装在所述主体10上，所述第一板131与所述第二板132固定连接，所述第一板131与所述安装板12活动连接，所述探测板14放置在所述第二板132上并与所述第二板132固定连接，所述探测板14还包括第一探头141、第二探头142，所述第一探头141、所述第二探头 142均位于所述放置槽111上方，所述第一探头141、所述第二探头142均贯穿所述探测板14并与所述探测板14固定连接，所述晶体测试安装座的结构更加简单，安装精度更加低。
[0022]进一步的，所述探测板14部分放置在所述第二板132上，所述第一探头141、所述第二探头142均安装在所述探测板14伸出所述第二板132的位置上。
[0023]在本实施方式中，所述探测板14上的所述第一探头141、所述第二探头142 用于测试晶体。
[0024]进一步的，所述晶体测试安装座还包括两个固定柱15，所述固定柱15一端与所述第二板132固定连接，所述固定柱15另一端贯穿所述探测板14，两个所述固定柱15对称设置在所述第二板132上。
[0025]在本实施方式中，通过所述固定柱15将所述探测板14安装在所述第二板132上，使所述晶体测试安装座的安装精度更加低。
[0026]进一步的，所述第一板131还包括抓手杆133，所述抓手杆133设置在所述第一板131远离所述第一探头141一侧上，所述抓手杆133一端与所述第一板 131固定连接；所述第一探头141、所述第二探头142均与所述探测板14电连接。
[0027]在本实施方式中，所述第一探头141、所述第二探头142均与所述探测板 14电连接，所述探测板14与外部电源电连接，所述第一探头141、所述第二探头142安装在所述探测板14上，所述探测板14与所述第二板132固定连接，所述第二板132与所述第一板131固定连接，通过所述抓手杆133使所述第一板131相对于所述安装板12滑动，从而带动所述第二板132、所述探测板14相对于所述安装板12活动，使所述晶体测试安装座的结构更加简单，安装精度更加低，使用时，将晶体放置在所述放置槽111内，通过所述抓手杆133使所述第一板
131向靠近晶体的方向移动，从而使所述第一探头141、所述第二探头 142均与晶体抵接用于测试晶体。
[0028]当然，本技术还可有其它多种实施方式，基于本实施方式，本领域的普通技术人员在没有做出任何创造性劳动的前提下所获得其他实施方式，都属于本技术所保护的范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体测试安装座，其特征在于，所述晶体测试安装座包括：主体、探测板；所述主体包括：放置部、安装板、第一板和第二板，所述安装板固定安装在所述主体上，所述放置部与所述主体固定连接，所述放置部上设有放置槽；所述第一板与所述第二板垂直设置，所述第一板与所述第二板固定连接，所述第一板与所述安装板活动连接，所述探测板放置在所述第二板上并与所述第二板固定连接，所述探测板还包括第一探头、第二探头，所述第一探头、所述第二探头均位于所述放置槽上方，所述第一探头、所述第二探头均贯穿所述探测板并与所述探测板固定连接；所述第一板能够相对于所述安装板在竖直方向滑动，带动所述探测板在竖直方向滑动。2.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄卫龙，罗俊强，戴文杰，杨瑞，徐仙，
申请(专利权)人：深圳市聚强晶体有限公司，
类型：新型
国别省市：